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公報発行日 2022年12月27
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2022-190829 ログイン済みの方はこのURLへ
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【課題】欠陥検査装置で検査することなく基板処理後の基板が不良品であるか否かを推定する基板処理装置及び情報処理システムを提供する。
【解決手段】基板の研磨中及び/又は洗浄中及び/又は乾燥中において対象の物理量を検出する少なくとも一つのセンサと、学習済みの機械学習モデルに対して、センサが検出する研磨中及び/又は洗浄中及び/又は乾燥中のセンサ値を処理ステップ毎に特徴量に変換する変換部と、特徴量を含む対象データを前記モデルに入力することで、対象の基板の欠陥の数、欠陥のサイズ及び欠陥の位置のうち少なくとも一つの予測値を出力する推論部と、を備える。機械学習モデルは、対象の生産ライン若しくは同種の生産ラインにおいて検出されたセンサ値が処理ステップ毎に変換された特徴量を含む入力データとし、且つ、基板の欠陥の数、欠陥のサイズ、欠陥の位置を少なくとも一つを出力データとする学習データセットを用いて学習される。
【選択図】図2
本発明の一態様によれば、欠陥検査装置で検査することなく基板処理後の基板の欠陥の数、欠陥のサイズ、欠陥の位置のうち少なくとも一つの予測値が得られるので、欠陥検査装置で検査することなく基板処理後の基板が不良品であるか否かを推定することができる。
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