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特開2022-27075磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2022027075
(43)【公開日】2022-02-10
(54)【発明の名称】磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置
(51)【国際特許分類】
G11B 5/70 20060101AFI20220203BHJP
G11B 5/735 20060101ALI20220203BHJP
G11B 5/71 20060101ALI20220203BHJP
G11B 5/78 20060101ALI20220203BHJP
G11B 5/738 20060101ALI20220203BHJP
G11B 5/584 20060101ALI20220203BHJP
G11B 23/107 20060101ALI20220203BHJP
【ＦＩ】
G11B5/70
G11B5/735
G11B5/71
G11B5/78
G11B5/738
G11B5/584
G11B23/107
【審査請求】未請求
【請求項の数】14
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2020130864
(22)【出願日】2020-07-31
(71)【出願人】
【識別番号】306037311
【氏名又は名称】富士フイルム株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110000109
【氏名又は名称】特許業務法人特許事務所サイクス
(72)【発明者】
【氏名】辻本 真志
【テーマコード（参考）】
5D006
【Ｆターム（参考）】
5D006BA09
5D006BA19
5D006CC02
5D006CC03
5D006EA01
5D006FA05
5D006FA09
(57)【要約】
【課題】高温環境で走行を繰り返しても電磁変換特性の低下が少ない磁気テープの提供。
【解決手段】磁気テープの長手方向の一部に亘る領域に磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが異なるエリアＡ、エリアＢをそれぞれ１か所以上含み、エリアＡとエリアＢの磁性層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をそれぞれＡＭａｇ、ＢＭａｇとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが１．２０以上１０．００以下であり、かつエリアＢのバックコート層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選ばれる成分の単位面積あたりの抽出量をＢＢａｃｋとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが２．０以上である磁気テープ。この磁気テープを含む磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置。
【選択図】なし
【解決手段】磁気テープの長手方向の一部に亘る領域に磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが異なるエリアＡ、エリアＢをそれぞれ１か所以上含み、エリアＡとエリアＢの磁性層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をそれぞれＡＭａｇ、ＢＭａｇとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが１．２０以上１０．００以下であり、かつエリアＢのバックコート層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選ばれる成分の単位面積あたりの抽出量をＢＢａｃｋとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが２．０以上である磁気テープ。この磁気テープを含む磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置。
【選択図】なし
【特許請求の範囲】
【請求項1】
非磁性支持体と、強磁性粉末を含む磁性層と、を有し、
前記非磁性支持体の前記磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末を含むバックコート層を有する磁気テープであって、
磁気テープの長手方向の一部に亘る領域にエリアＡを１か所以上含み、他の一部に亘る領域にエリアＢを１か所以上含み、
前記エリアＡは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ未満の領域であり、
前記エリアＢは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ以上１０．０ｎｍ以下の領域であり、
前記エリアＡと前記エリアＢの磁性層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をそれぞれＡＭａｇ、ＢＭａｇとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが１．２０以上１０．００以下であり、かつ
前記エリアＢのバックコート層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をＢＢａｃｋとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが２．０以上である磁気テープ。
前記非磁性支持体の前記磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末を含むバックコート層を有する磁気テープであって、
磁気テープの長手方向の一部に亘る領域にエリアＡを１か所以上含み、他の一部に亘る領域にエリアＢを１か所以上含み、
前記エリアＡは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ未満の領域であり、
前記エリアＢは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ以上１０．０ｎｍ以下の領域であり、
前記エリアＡと前記エリアＢの磁性層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をそれぞれＡＭａｇ、ＢＭａｇとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが１．２０以上１０．００以下であり、かつ
前記エリアＢのバックコート層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をＢＢａｃｋとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが２．０以上である磁気テープ。
【請求項2】
前記比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが１．８０以上５．００以下である、請求項１に記載の磁気テープ。
【請求項3】
前記比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが７．０以上である、請求項１または２に記載の磁気テープ。
【請求項4】
前記エリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積は１×１０－７ｍｍ３以上１×１０－４ｍｍ３以下である、請求項１～３のいずれか１項に記載の磁気テープ。
【請求項5】
前記エリアＡの面積をＳＡとし、前記エリアＢの面積をＳＢとしたとき、ＳＡとＳＢとの合計に対するＳＢの割合、（ＳＢ／（ＳＡ＋ＳＢ））×１００、が０．１５％以上５０．００％以下である、請求項１～４のいずれか１項に記載の磁気テープ。
【請求項6】
前記エリアＢを２か所以上含む、請求項１～５のいずれか１項に記載の磁気テープ。
【請求項7】
前記非磁性支持体と前記磁性層との間に、非磁性粉末を含む非磁性層を更に有する、請求項１～６のいずれか１項に記載の磁気テープ。
【請求項8】
磁性層の少なくとも一部にサーボパターンを有する、請求項１～７のいずれか１項に記載の磁気テープ。
【請求項9】
前記サーボパターンを、少なくとも前記エリアＡの磁性層に有する、請求項８に記載の磁気テープ。
【請求項10】
前記サーボパターンを、前記エリアＢの磁性層に更に有する、請求項９に記載の磁気テープ。
【請求項11】
請求項１～１０のいずれか１項に記載の磁気テープを含む磁気テープカートリッジ。
【請求項12】
請求項１～１０のいずれか１項に記載の磁気テープと、磁気ヘッドと、を含む磁気テープ装置。
【請求項13】
前記磁気ヘッドがデータを記録する領域は、少なくとも前記エリアＡに含まれる、請求項１２に記載の磁気テープ装置。
【請求項14】
前記エリアＡにおけるデータの記録再生品質に関する測定結果に応じて、前記エリアＢの走行条件を制御する、請求項１３に記載の磁気テープ装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、磁気テープ、磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置に関する。
【背景技術】
【0002】
磁気記録媒体にはテープ状のものとディスク状のものがあり、データバックアップ、アーカイブ等のデータストレージ用途には、テープ状の磁気記録媒体、即ち磁気テープが主に用いられている（例えば特許文献１参照）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【特許文献1】特開２００２－３６７１４２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
磁気テープには、優れた電磁変換特性を発揮できることが求められる。
【0005】
一方、近年、データストレージ用途に用いられる磁気テープは、温度管理されたデータセンターで使用されることがある。一方、データセンターではコスト低減のために省電力化が求められている。省電力化のためには、データセンターにおける温度管理条件を現在より緩和できるか、または管理を不要にできることが望ましい。しかし、温度管理条件を緩和し、または管理を行わないと、磁気テープが、高温に晒されることが想定される。
【0006】
以上の点に関して、本発明者らの検討により、高温環境（例えば６０℃以上の過酷な高温環境）では、磁気テープを繰り返し走行させて磁気テープへのデータの記録および／または磁気テープに記録されたデータの再生を行うと、電磁変換特性が低下し易い傾向があることが明らかとなった。
【0007】
本発明の一態様は、高温環境で走行を繰り返しても電磁変換特性の低下が少ない磁気テープを提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0008】
本発明の一態様は、
非磁性支持体と、強磁性粉末を含む磁性層と、を有し、
上記非磁性支持体の上記磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末を含むバックコート層を有する磁気テープであって、
磁気テープの長手方向の一部に亘る領域にエリアＡを１か所以上含み、他の一部に亘る領域にエリアＢを１か所以上含み、
上記エリアＡは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ未満の領域であり、
上記エリアＢは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ以上１０．０ｎｍ以下の領域であり、
上記エリアＡと上記エリアＢの磁性層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をそれぞれＡＭａｇ、ＢＭａｇとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが１．２０以上１０．００以下であり、かつ
上記エリアＢのバックコート層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選ばれる成分の単位面積あたりの抽出量をＢＢａｃｋとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが２．０以上である磁気テープ、
に関する。
非磁性支持体と、強磁性粉末を含む磁性層と、を有し、
上記非磁性支持体の上記磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末を含むバックコート層を有する磁気テープであって、
磁気テープの長手方向の一部に亘る領域にエリアＡを１か所以上含み、他の一部に亘る領域にエリアＢを１か所以上含み、
上記エリアＡは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ未満の領域であり、
上記エリアＢは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ以上１０．０ｎｍ以下の領域であり、
上記エリアＡと上記エリアＢの磁性層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をそれぞれＡＭａｇ、ＢＭａｇとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが１．２０以上１０．００以下であり、かつ
上記エリアＢのバックコート層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選ばれる成分の単位面積あたりの抽出量をＢＢａｃｋとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが２．０以上である磁気テープ、
に関する。
【0009】
一形態では、上記比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇは、１．８０以上５．００以下であることができる。
【0010】
一形態では、上記比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋは、７．０以上であることができる。
【0011】
一形態では、上記エリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積は、１×１０－７ｍｍ３以上１×１０－４ｍｍ３以下であることができる。
【0012】
一形態では、上記エリアＡの面積をＳＡとし、上記エリアＢの面積をＳＢとしたとき、ＳＡとＳＢとの合計に対するＳＢの割合、（ＳＢ／（ＳＡ＋ＳＢ））×１００、は０．１５％以上５０．００％以下であることができる。以下において、上記割合を、「エリアＢの面積割合」とも呼ぶ。
【0013】
一形態では、上記磁気テープは、上記エリアＢを２か所以上含むことができる。
【0014】
一形態では、上記磁気テープは、上記非磁性支持体と上記磁性層との間に、非磁性粉末を含む非磁性層を更に有することができる。
【0015】
一形態では、上記磁気テープは、磁性層の少なくとも一部にサーボパターンを有することができる。
【0016】
一形態では、上記磁気テープは、上記サーボパターンを、少なくとも上記エリアＡの磁性層に有することができる。
【0017】
一形態では、上記磁気テープは、上記サーボパターンを、上記エリアＢの磁性層に更に有することができる。
【0018】
本発明の一態様は、上記磁気テープを含む磁気テープカートリッジに関する。
【0019】
本発明の一態様は、上記磁気テープと、磁気ヘッドと、を含む磁気テープ装置に関する。
【0020】
一形態では、上記磁気ヘッドがデータを記録する領域は、少なくとも上記エリアＡに含まれることができる。
【0021】
一形態では、上記磁気テープ装置は、上記エリアＡにおけるデータの記録再生品質に関する測定結果に応じて、上記エリアＢの走行条件を制御することができる。
【発明の効果】
【0022】
本発明の一態様によれば、高温環境で走行を繰り返しても電磁変換特性の低下が少ない磁気テープ、ならびに、この磁気テープを含む磁気テープカートリッジおよび磁気テープ装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【0023】
【図1】データバンドおよびサーボバンドの配置例を示す。
【図2】ＬＴＯ（Ｌｉｎｅａｒ Ｔａｐｅ－Ｏｐｅｎ） Ｕｌｔｒｉｕｍフォーマットテープのサーボパターン配置例を示す。
【図3】磁気テープにおけるエリアＡおよびエリアＢの配置例を示す。
【発明を実施するための形態】
【0024】
［磁気テープ］
本発明の一態様は、非磁性支持体と、強磁性粉末を含む磁性層と、を有し、上記非磁性支持体の上記磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末を含むバックコート層を有する磁気テープに関する。上記磁気テープは、磁気テープの長手方向の一部に亘る領域にエリアＡを１か所以上含み、他の一部に亘る領域にエリアＢを１か所以上含む。上記エリアＡは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ未満の領域であり、上記エリアＢは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ以上１０．０ｎｍ以下の領域である。上記エリアＡと上記エリアＢの磁性層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をそれぞれＡＭａｇ、ＢＭａｇとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇは１．２０以上１０．００以下であり、かつ上記エリアＢのバックコート層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をＢＢａｃｋとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋは２．０以上である。尚、「Ｍａｇ」は、磁性層（Ｍａｇｎｅｔｉｃ ｌａｙｅｒ）の略称、「Ｂａｃｋ」は、バックコート層（Ｂａｃｋｃｏａｔｉｎｇ ｌａｙｅｒ）の略称である。
本発明の一態様は、非磁性支持体と、強磁性粉末を含む磁性層と、を有し、上記非磁性支持体の上記磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末を含むバックコート層を有する磁気テープに関する。上記磁気テープは、磁気テープの長手方向の一部に亘る領域にエリアＡを１か所以上含み、他の一部に亘る領域にエリアＢを１か所以上含む。上記エリアＡは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ未満の領域であり、上記エリアＢは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ以上１０．０ｎｍ以下の領域である。上記エリアＡと上記エリアＢの磁性層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をそれぞれＡＭａｇ、ＢＭａｇとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇは１．２０以上１０．００以下であり、かつ上記エリアＢのバックコート層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量をＢＢａｃｋとしたとき、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋは２．０以上である。尚、「Ｍａｇ」は、磁性層（Ｍａｇｎｅｔｉｃ ｌａｙｅｒ）の略称、「Ｂａｃｋ」は、バックコート層（Ｂａｃｋｃｏａｔｉｎｇ ｌａｙｅｒ）の略称である。
【0025】
本発明および本明細書において、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａは、原子間力顕微鏡（Ａｔｏｍｉｃ Ｆｏｒｃｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ；ＡＦＭ）により磁性層表面の無作為に選択した面積４０μｍ×４０μｍの領域において測定される値とする。後述する非磁性支持体の表面において測定される中心線平均表面粗さＲａも、非磁性支持体の表面について同様に測定される値とする。
測定条件の一例としては、下記の測定条件を挙げることができる。後述の実施例に示す中心線平均表面粗さＲａは、下記測定条件下での測定によって求められた値である。
ＡＦＭ（Ｖｅｅｃｏ社製Ｎａｎｏｓｃｏｐｅ４）をタッピングモードで用いて磁気テープの磁性層の表面の面積４０μｍ×４０μｍの領域を測定する。探針としてはＢＲＵＫＥＲ社製ＲＴＥＳＰ－３００を使用し、分解能は５１２ｐｉｘｅｌ×５１２ｐｉｘｅｌとし、スキャン速度は１画面（５１２ｐｉｘｅｌ×５１２ｐｉｘｅｌ）を３４１秒で測定する速度とする。
以下では、エリアＡの磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａを「エリアＡの磁性層表面Ｒａ」とも呼び、エリアＢの磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａを「エリアＢの磁性層表面Ｒａ」とも呼ぶ。上記磁気テープがエリアＡを２か所以上含む場合、それらエリアＡの磁性層表面Ｒａは、一形態では同じ値であることができ、他の一形態では異なる値であることができる。この点は、エリアＢの磁性層表面Ｒａについても同様である。本発明および本明細書において、磁気テープの「磁性層（の）表面」とは、磁気テープの磁性層側表面と同義である。
測定条件の一例としては、下記の測定条件を挙げることができる。後述の実施例に示す中心線平均表面粗さＲａは、下記測定条件下での測定によって求められた値である。
ＡＦＭ（Ｖｅｅｃｏ社製Ｎａｎｏｓｃｏｐｅ４）をタッピングモードで用いて磁気テープの磁性層の表面の面積４０μｍ×４０μｍの領域を測定する。探針としてはＢＲＵＫＥＲ社製ＲＴＥＳＰ－３００を使用し、分解能は５１２ｐｉｘｅｌ×５１２ｐｉｘｅｌとし、スキャン速度は１画面（５１２ｐｉｘｅｌ×５１２ｐｉｘｅｌ）を３４１秒で測定する速度とする。
以下では、エリアＡの磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａを「エリアＡの磁性層表面Ｒａ」とも呼び、エリアＢの磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａを「エリアＢの磁性層表面Ｒａ」とも呼ぶ。上記磁気テープがエリアＡを２か所以上含む場合、それらエリアＡの磁性層表面Ｒａは、一形態では同じ値であることができ、他の一形態では異なる値であることができる。この点は、エリアＢの磁性層表面Ｒａについても同様である。本発明および本明細書において、磁気テープの「磁性層（の）表面」とは、磁気テープの磁性層側表面と同義である。
【0026】
本発明および本明細書において、エリアＡの磁性層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量ＡＭａｇは、以下の方法によって求められる値である。以下において、脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分を「潤滑剤」とも呼び、かかる成分の単位面積あたりの抽出量を「潤滑剤抽出量」とも呼ぶ。
エリアＡの長手方向の任意の位置から長さ５ｃｍのテープ試料を切り出す。切り出し前または切り出し後、公知の方法でバックコート層を除去する。バックコート層除去後のテープ試料を、液温６０℃のメタノール３０ｍｌに３時間浸漬する。こうしてテープ試料からメタノール中に抽出された成分を、必要に応じてメタノールの一部または全部を蒸発させた後、ガスクロマトグラフ法によって定性分析および定量分析する。こうして得られた分析結果から、テープ試料から抽出された脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の抽出量を求める。求められた抽出量を、テープ試料の片面の面積で除することによって、単位面積あたりの抽出量ＡＭａｇを算出する。テープ試料の片面の面積とは、「テープ試料の長さ×幅」として算出される値である。磁気テープのテープ幅は、磁気テープが適用される磁気テープ装置（一般に「ドライブ」と呼ばれる。）の規格に定められている。例えば、規格に定められているテープ幅は、１／２インチであり、１／２インチ＝０．０１２７ｍである。テープ試料の幅としては、このテープ試料が切り出される磁気テープについて規格に定められているテープ幅を採用できる。
エリアＡは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ未満の領域である。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＡの数が１つの場合には、そのエリアＡの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって求められた単位面積あたりの抽出量ＡＭａｇの算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＡのＡＭａｇとする。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＡの数が２つ以上の場合には、各エリアＡについて、そのエリアＡの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって単位面積あたりの抽出量ＡＭａｇを求める。したがって、１つのエリアＡについて算出値が２つ得られる。すべてのエリアＡについて得られた算出値の算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＡのＡＭａｇとする。
ただし、エリアＡとなるテープ片が切り出される磁気テープ（以下、「エリアＡ用磁気テープ」と呼ぶ。）を入手可能ならば、そのエリアＡ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて求められた値を、測定対象の磁気テープのエリアＡに関する各種物性値（ＡＭａｇ、エリアＡの磁性層表面Ｒａ等）として採用することができる。また、同じエリアＡ用磁気テープから切り出した複数のテープ片を用いて複数のエリアＡを含む磁気テープが作製される場合、そのエリアＡ用磁気テープを入手可能ならば、こうして作製された磁気テープのエリアＡに関する各種物性値（ＡＭａｇ、エリアＡの磁性層表面Ｒａ、異方性磁界Ｈｋ等）としては、上記エリアＡ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて求められた値を採用でき、こうして求められた値を、複数のエリアＡのそれぞれにおける各種物性値として採用できる。この場合、磁気テープに含まれるエリアＡの数が１つの場合と同様に各種物性値を求めることができる。即ち、例えばＡＭａｇについては、エリアＡ用磁気テープから２つのテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって求められた単位面積あたりの抽出量ＡＭａｇの算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＡのＡＭａｇとすることができる。
エリアＡの長手方向の任意の位置から長さ５ｃｍのテープ試料を切り出す。切り出し前または切り出し後、公知の方法でバックコート層を除去する。バックコート層除去後のテープ試料を、液温６０℃のメタノール３０ｍｌに３時間浸漬する。こうしてテープ試料からメタノール中に抽出された成分を、必要に応じてメタノールの一部または全部を蒸発させた後、ガスクロマトグラフ法によって定性分析および定量分析する。こうして得られた分析結果から、テープ試料から抽出された脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の抽出量を求める。求められた抽出量を、テープ試料の片面の面積で除することによって、単位面積あたりの抽出量ＡＭａｇを算出する。テープ試料の片面の面積とは、「テープ試料の長さ×幅」として算出される値である。磁気テープのテープ幅は、磁気テープが適用される磁気テープ装置（一般に「ドライブ」と呼ばれる。）の規格に定められている。例えば、規格に定められているテープ幅は、１／２インチであり、１／２インチ＝０．０１２７ｍである。テープ試料の幅としては、このテープ試料が切り出される磁気テープについて規格に定められているテープ幅を採用できる。
エリアＡは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ未満の領域である。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＡの数が１つの場合には、そのエリアＡの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって求められた単位面積あたりの抽出量ＡＭａｇの算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＡのＡＭａｇとする。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＡの数が２つ以上の場合には、各エリアＡについて、そのエリアＡの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって単位面積あたりの抽出量ＡＭａｇを求める。したがって、１つのエリアＡについて算出値が２つ得られる。すべてのエリアＡについて得られた算出値の算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＡのＡＭａｇとする。
ただし、エリアＡとなるテープ片が切り出される磁気テープ（以下、「エリアＡ用磁気テープ」と呼ぶ。）を入手可能ならば、そのエリアＡ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて求められた値を、測定対象の磁気テープのエリアＡに関する各種物性値（ＡＭａｇ、エリアＡの磁性層表面Ｒａ等）として採用することができる。また、同じエリアＡ用磁気テープから切り出した複数のテープ片を用いて複数のエリアＡを含む磁気テープが作製される場合、そのエリアＡ用磁気テープを入手可能ならば、こうして作製された磁気テープのエリアＡに関する各種物性値（ＡＭａｇ、エリアＡの磁性層表面Ｒａ、異方性磁界Ｈｋ等）としては、上記エリアＡ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて求められた値を採用でき、こうして求められた値を、複数のエリアＡのそれぞれにおける各種物性値として採用できる。この場合、磁気テープに含まれるエリアＡの数が１つの場合と同様に各種物性値を求めることができる。即ち、例えばＡＭａｇについては、エリアＡ用磁気テープから２つのテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって求められた単位面積あたりの抽出量ＡＭａｇの算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＡのＡＭａｇとすることができる。
【0027】
本発明および本明細書において、エリアＢの磁性層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量ＢＭａｇは、以下の方法によって求められる値である。
エリアＢの長手方向の任意の位置から長さ５ｃｍのテープ試料を切り出す。このテープ試料について、上記の抽出量ＡＭａｇを求めるための方法と同様の方法で測定および算出を行い、単位面積あたりの抽出量ＢＭａｇを算出する。
エリアＢは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ以上１０．０ｎｍ以下の領域である。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が１つの場合には、そのエリアＢの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって求められた単位面積あたりの抽出量ＢＭａｇの算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＢのＢＭａｇとする。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合には、各エリアＢについて、そのエリアＢの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって単位面積あたりの抽出量ＢＭａｇを求める。したがって、１つのエリアＢについて算出値が２つ得られる。すべてのエリアＢについて得られた算出値の算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＢのＢＭａｇとする。
ただし、エリアＢとなるテープ片が切り出される磁気テープ（以下、「エリアＢ用磁気テープ」と呼ぶ。）を入手可能ならば、そのエリアＢ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて求められた値を、測定対象の磁気テープのエリアＢに関する各種物性値（ＢＭａｇ、ＢＢａｃｋ、エリアＢの磁性層表面Ｒａ、エリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積、異方性磁界Ｈｋ等）として採用することができる。また、同じエリアＢ用磁気テープから切り出した複数のテープ片を用いて複数のエリアＢを含む磁気テープが作製される場合、そのエリアＢ用磁気テープを入手可能ならば、こうして作製された磁気テープのエリアＢに関する各種物性値（ＢＭａｇ、ＢＢａｃｋ、エリアＢの磁性層表面Ｒａ、エリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積、異方性磁界Ｈｋ等）としては、上記エリアＢ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて求められた値を採用でき、こうして求められた値を、複数のエリアＡのそれぞれにおける各種物性値として採用できる。この場合、磁気テープに含まれるエリアＢの数が１つの場合と同様に各種物性値を求めることができる。即ち、例えばＢＭａｇについては、エリアＢ用磁気テープから２つのテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって求められた単位面積あたりの抽出量ＢＭａｇの算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＢのＢＭａｇとすることができる。
エリアＢの長手方向の任意の位置から長さ５ｃｍのテープ試料を切り出す。このテープ試料について、上記の抽出量ＡＭａｇを求めるための方法と同様の方法で測定および算出を行い、単位面積あたりの抽出量ＢＭａｇを算出する。
エリアＢは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ以上１０．０ｎｍ以下の領域である。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が１つの場合には、そのエリアＢの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって求められた単位面積あたりの抽出量ＢＭａｇの算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＢのＢＭａｇとする。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合には、各エリアＢについて、そのエリアＢの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって単位面積あたりの抽出量ＢＭａｇを求める。したがって、１つのエリアＢについて算出値が２つ得られる。すべてのエリアＢについて得られた算出値の算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＢのＢＭａｇとする。
ただし、エリアＢとなるテープ片が切り出される磁気テープ（以下、「エリアＢ用磁気テープ」と呼ぶ。）を入手可能ならば、そのエリアＢ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて求められた値を、測定対象の磁気テープのエリアＢに関する各種物性値（ＢＭａｇ、ＢＢａｃｋ、エリアＢの磁性層表面Ｒａ、エリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積、異方性磁界Ｈｋ等）として採用することができる。また、同じエリアＢ用磁気テープから切り出した複数のテープ片を用いて複数のエリアＢを含む磁気テープが作製される場合、そのエリアＢ用磁気テープを入手可能ならば、こうして作製された磁気テープのエリアＢに関する各種物性値（ＢＭａｇ、ＢＢａｃｋ、エリアＢの磁性層表面Ｒａ、エリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積、異方性磁界Ｈｋ等）としては、上記エリアＢ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて求められた値を採用でき、こうして求められた値を、複数のエリアＡのそれぞれにおける各種物性値として採用できる。この場合、磁気テープに含まれるエリアＢの数が１つの場合と同様に各種物性値を求めることができる。即ち、例えばＢＭａｇについては、エリアＢ用磁気テープから２つのテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって求められた単位面積あたりの抽出量ＢＭａｇの算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＢのＢＭａｇとすることができる。
【0028】
本発明および本明細書において、エリアＢのバックコート層側から抽出される脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の単位面積あたりの抽出量Ｂｂａｃｋは、以下の方法によって求められる値である。
エリアＢの長手方向の任意の位置（但し、ＢＭａｇを求めるためのテープ試料を切り出した位置とは異なる位置）から長さ５ｃｍのテープ試料を切り出す。このテープ試料について、バックコート層を除去しない点以外は上記の抽出量ＡＭａｇを求めるための方法と同様の方法で測定および算出を行い、単位面積あたりの抽出量を求める。ここで求められる単位面積あたりの抽出量をＢＴｏｔａｌと表記する。
測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が１つの場合には、そのエリアＢの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって求められた単位面積あたりの抽出量ＢＴｏｔａｌの算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＢのＢＴｏｔａｌとする。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合には、各エリアＢについて、そのエリアＢの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって単位面積あたりの抽出量ＢＴｏｔａｌを求める。したがって、１つのエリアＢについて算出値が２つ得られる。すべてのエリアＢについて得られた算出値の算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＢのＢＴｏｔａｌとする。
測定対象の磁気テープのＢＢａｃｋは、こうして測定対象の磁気テープについて求められたＢＴｏｔａｌと先に記載したように測定対象の磁気テープについて求められたＢＭａｇとから、「ＢＴｏｔａｌ－ＢＭａｇ」として算出される値である。
エリアＢの長手方向の任意の位置（但し、ＢＭａｇを求めるためのテープ試料を切り出した位置とは異なる位置）から長さ５ｃｍのテープ試料を切り出す。このテープ試料について、バックコート層を除去しない点以外は上記の抽出量ＡＭａｇを求めるための方法と同様の方法で測定および算出を行い、単位面積あたりの抽出量を求める。ここで求められる単位面積あたりの抽出量をＢＴｏｔａｌと表記する。
測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が１つの場合には、そのエリアＢの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって求められた単位面積あたりの抽出量ＢＴｏｔａｌの算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＢのＢＴｏｔａｌとする。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合には、各エリアＢについて、そのエリアＢの異なる２つの位置からテープ試料を切り出し、それら２つのテープ試料について上記方法によって単位面積あたりの抽出量ＢＴｏｔａｌを求める。したがって、１つのエリアＢについて算出値が２つ得られる。すべてのエリアＢについて得られた算出値の算術平均を、測定対象の磁気テープのエリアＢのＢＴｏｔａｌとする。
測定対象の磁気テープのＢＢａｃｋは、こうして測定対象の磁気テープについて求められたＢＴｏｔａｌと先に記載したように測定対象の磁気テープについて求められたＢＭａｇとから、「ＢＴｏｔａｌ－ＢＭａｇ」として算出される値である。
【0029】
上記磁気テープは、エリアＡとエリアＢとを含む。このことが、上記磁気テープの走行を高温環境下で繰り返しても電磁変換特性の低下を抑制できることに寄与し得ると本発明者は考えている。この点について、以下に更に説明する。
磁気テープへのデータの記録および記録されたデータの再生は、通常、磁性層表面と磁気ヘッドとを接触させて摺動させることによって行われる。この摺動において、脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分は、潤滑剤として機能して磁気ヘッドと磁性層表面との間でスティックスリップ（ｓｔｉｃｋ ｓｌｉｐ）が発生することを抑制することに寄与し得ると考えられる。しかし、高温環境において、中でも６０℃以上の過酷な高温環境においては、磁気ヘッドとの摺動および／または高温環境へのばく露によって、磁性層表面の潤滑剤が枯渇し、磁気ヘッドと磁性層表面との間でスティックスリップが発生してしまうと考えられる。このスティックスリップによってスペーシング変動が生じてしまうことが、高温環境での繰り返し走行において電磁変換特性が低下する原因と推察される。例えば、スペーシング変動が生じてしまうことによって磁性層の深部までの記録が困難となることが、上記の電磁変換特性低下の要因になり得ると本発明者は考えている。
ただし、上記磁気テープのように潤滑剤を多く含む領域を部分的に設けるのではなく、磁気テープ全体にわたり磁性層の潤滑剤量を増量してしまうと、磁性層が可塑化することによって耐久性が劣化するか、および／または、バックコート層の表面形状が磁性層表面に転写され易くなり電磁変換特性が低下してしまうと考えられる。
これに対し、上記磁気テープは、エリアＡに加えて、エリアＡよりも多くの潤滑剤を含むエリアＢを有する。これにより、エリアＢの磁性層表面との摺動によって磁気ヘッドに潤滑剤を供給することが可能となり、その結果、高温環境での繰り返し走行において電磁変換特性が低下することを抑制できると本発明者は推察している。
ただし、上記には本発明者の推察が含まれる。本発明は、本明細書に記載の推察に限定されるものではない。
磁気テープへのデータの記録および記録されたデータの再生は、通常、磁性層表面と磁気ヘッドとを接触させて摺動させることによって行われる。この摺動において、脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分は、潤滑剤として機能して磁気ヘッドと磁性層表面との間でスティックスリップ（ｓｔｉｃｋ ｓｌｉｐ）が発生することを抑制することに寄与し得ると考えられる。しかし、高温環境において、中でも６０℃以上の過酷な高温環境においては、磁気ヘッドとの摺動および／または高温環境へのばく露によって、磁性層表面の潤滑剤が枯渇し、磁気ヘッドと磁性層表面との間でスティックスリップが発生してしまうと考えられる。このスティックスリップによってスペーシング変動が生じてしまうことが、高温環境での繰り返し走行において電磁変換特性が低下する原因と推察される。例えば、スペーシング変動が生じてしまうことによって磁性層の深部までの記録が困難となることが、上記の電磁変換特性低下の要因になり得ると本発明者は考えている。
ただし、上記磁気テープのように潤滑剤を多く含む領域を部分的に設けるのではなく、磁気テープ全体にわたり磁性層の潤滑剤量を増量してしまうと、磁性層が可塑化することによって耐久性が劣化するか、および／または、バックコート層の表面形状が磁性層表面に転写され易くなり電磁変換特性が低下してしまうと考えられる。
これに対し、上記磁気テープは、エリアＡに加えて、エリアＡよりも多くの潤滑剤を含むエリアＢを有する。これにより、エリアＢの磁性層表面との摺動によって磁気ヘッドに潤滑剤を供給することが可能となり、その結果、高温環境での繰り返し走行において電磁変換特性が低下することを抑制できると本発明者は推察している。
ただし、上記には本発明者の推察が含まれる。本発明は、本明細書に記載の推察に限定されるものではない。
【0030】
以下、上記磁気テープについて、更に詳細に説明する。
【0031】
＜比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇ＞
上記磁気テープにおいて、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇは、１．２０以上１０．００以下である。上記磁気テープにおいて比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが１．２０以上であることにより、磁性層表面と磁気ヘッドとの摺動時、潤滑剤を多く含むエリアＢから磁気ヘッドへ潤滑剤を適宜供給することができ、その結果、過酷な高温環境でも潤滑剤の枯渇が生じ難くなると推察される。このことが、高温環境での繰り返し走行における電磁変換特性低下を抑制することに寄与すると考えられる。上記観点から、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇは１．２０以上であり、１．４０以上であることが好ましく、１．６０以上であることがより好ましく、１．８０以上であることが更に好ましい。
一方、上記磁気テープにおいて比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが１０．００以下であることによって、磁気ヘッドとの間に潤滑剤のメニスカスが形成されてしまうことを抑制することができると推察される。このことが、スティックスリップの発生および／または磁気ヘッド貼りつきの発生を抑制することに寄与すると考えられる。上記観点から、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇは１０．００以下であり、９．００以下であることが好ましく、８．００以下であることがより好ましく、７．００以下であることが更に好ましく、６．００以下であることが一層好ましく、５．００以下であることがより一層好ましい。
上記磁気テープにおいて、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇは、１．２０以上１０．００以下である。上記磁気テープにおいて比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが１．２０以上であることにより、磁性層表面と磁気ヘッドとの摺動時、潤滑剤を多く含むエリアＢから磁気ヘッドへ潤滑剤を適宜供給することができ、その結果、過酷な高温環境でも潤滑剤の枯渇が生じ難くなると推察される。このことが、高温環境での繰り返し走行における電磁変換特性低下を抑制することに寄与すると考えられる。上記観点から、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇは１．２０以上であり、１．４０以上であることが好ましく、１．６０以上であることがより好ましく、１．８０以上であることが更に好ましい。
一方、上記磁気テープにおいて比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが１０．００以下であることによって、磁気ヘッドとの間に潤滑剤のメニスカスが形成されてしまうことを抑制することができると推察される。このことが、スティックスリップの発生および／または磁気ヘッド貼りつきの発生を抑制することに寄与すると考えられる。上記観点から、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇは１０．００以下であり、９．００以下であることが好ましく、８．００以下であることがより好ましく、７．００以下であることが更に好ましく、６．００以下であることが一層好ましく、５．００以下であることがより一層好ましい。
【0032】
＜比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋ＞
上記磁気テープでは、エリアＢにおいて比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋは２．０以上であり、３．０以上であることが好ましく、４．０以上であることがより好ましく、５．０以上であることが更に好ましく、６．０以上であることが一層好ましく、７．０以上であることがより一層好ましい。
エリアＢにおいて比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが上記範囲であることは、以下のように、高温環境での繰り返し走行における電磁変換特性の低下を抑制することに寄与し得ると本発明者は推察している。
磁気テープがリールに巻取られた状態において、磁性層表面はバックコート層表面と接触している。脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分（潤滑剤）は一般に低分子量の成分であるため、磁性層表面とバックコート層表面とが接触した状態で磁性層とバックコート層との間で移動し得る。ただし、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが２．０以上であるエリアＢでは、磁性層側からバックコート層側への潤滑剤の移動を抑制することができるか、または移動量を少なくすることができると推察される。これにより、エリアＢの磁性層側の潤滑剤を潤沢にでき、その結果、エリアＢの磁性層側からの磁気ヘッドへの潤滑剤供給能を高くできることが、高温環境での繰り返し走行における電磁変換特性の低下を抑制できることにつながると考えられる。
比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋは、例えば、４０．０以下、３５．０以下、３０．０以下または２５．０以下であることができ、ここに例示した値を上回ることもできる。上記のように、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋの値が大きいことは、高温環境での繰り返し走行における電磁変換特性の低下を抑制する観点から好ましい。
上記磁気テープでは、エリアＢにおいて比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋは２．０以上であり、３．０以上であることが好ましく、４．０以上であることがより好ましく、５．０以上であることが更に好ましく、６．０以上であることが一層好ましく、７．０以上であることがより一層好ましい。
エリアＢにおいて比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが上記範囲であることは、以下のように、高温環境での繰り返し走行における電磁変換特性の低下を抑制することに寄与し得ると本発明者は推察している。
磁気テープがリールに巻取られた状態において、磁性層表面はバックコート層表面と接触している。脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分（潤滑剤）は一般に低分子量の成分であるため、磁性層表面とバックコート層表面とが接触した状態で磁性層とバックコート層との間で移動し得る。ただし、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが２．０以上であるエリアＢでは、磁性層側からバックコート層側への潤滑剤の移動を抑制することができるか、または移動量を少なくすることができると推察される。これにより、エリアＢの磁性層側の潤滑剤を潤沢にでき、その結果、エリアＢの磁性層側からの磁気ヘッドへの潤滑剤供給能を高くできることが、高温環境での繰り返し走行における電磁変換特性の低下を抑制できることにつながると考えられる。
比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋは、例えば、４０．０以下、３５．０以下、３０．０以下または２５．０以下であることができ、ここに例示した値を上回ることもできる。上記のように、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋの値が大きいことは、高温環境での繰り返し走行における電磁変換特性の低下を抑制する観点から好ましい。
【0033】
＜エリアＢの面積割合＞
上記磁気テープにおいて、エリアＡの面積をＳＡとし、エリアＢの面積をＳＢとしたとき、ＳＡとＳＢとの合計に対するＳＢの割合（エリアＢの面積割合）は、「（ＳＢ／（ＳＡ＋ＳＢ））×１００」として算出される。上記磁気テープにエリアＡが２か所以上含まれる場合、エリアＡの面積ＳＡは、それら２か所以上のエリアＡの面積の合計である。エリアＢについても、上記磁気テープにエリアＢが２か所以上含まれる場合、エリアＢの面積ＳＢは、それら２か所以上のエリアＢの面積の合計である。エリアＢの面積割合は、０．１０％以上であることが好ましく、０．１５％以上であることがより好ましい。また、エリアＢの面積割合は、６０．００％以下であることが好ましく、５５．００％以下であることがより好ましく、５０．００％以下であることが更に好ましい。エリアＢの面積割合が上記範囲であることは、摺動時、磁気ヘッドへ適量の潤滑剤を供給する観点から好ましい。
上記磁気テープにおいて、エリアＡの面積をＳＡとし、エリアＢの面積をＳＢとしたとき、ＳＡとＳＢとの合計に対するＳＢの割合（エリアＢの面積割合）は、「（ＳＢ／（ＳＡ＋ＳＢ））×１００」として算出される。上記磁気テープにエリアＡが２か所以上含まれる場合、エリアＡの面積ＳＡは、それら２か所以上のエリアＡの面積の合計である。エリアＢについても、上記磁気テープにエリアＢが２か所以上含まれる場合、エリアＢの面積ＳＢは、それら２か所以上のエリアＢの面積の合計である。エリアＢの面積割合は、０．１０％以上であることが好ましく、０．１５％以上であることがより好ましい。また、エリアＢの面積割合は、６０．００％以下であることが好ましく、５５．００％以下であることがより好ましく、５０．００％以下であることが更に好ましい。エリアＢの面積割合が上記範囲であることは、摺動時、磁気ヘッドへ適量の潤滑剤を供給する観点から好ましい。
【0034】
以下、エリアＡおよびエリアＢについて、更に説明する。
【0035】
＜エリアＡ＞
エリアＡは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ未満であって、上記磁気テープでは、先に記載した方法によってエリアＡについて求められるＡＭａｇが、１．２０以上１０．００以下の比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇを満たす。上記磁気テープにおいて、エリアＡは、エリアＢと比べて、磁性層表面で測定される中心線平均表面粗さＲａの値が小さい（即ち磁性層表面平滑性が高い）領域であり、磁性層側からの潤滑剤抽出量が少ない領域であることができる。
エリアＡは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ未満であって、上記磁気テープでは、先に記載した方法によってエリアＡについて求められるＡＭａｇが、１．２０以上１０．００以下の比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇを満たす。上記磁気テープにおいて、エリアＡは、エリアＢと比べて、磁性層表面で測定される中心線平均表面粗さＲａの値が小さい（即ち磁性層表面平滑性が高い）領域であり、磁性層側からの潤滑剤抽出量が少ない領域であることができる。
【0036】
エリアＡの磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａ（磁性層表面Ｒａ）は２．５ｎｍ未満である。エリアＡは後述するようにデータ記録領域となり得る領域であるため、エリアＡの磁性層表面の平滑性が高いことは電磁変換特性向上の観点から好ましい。この観点から、エリアＡの磁性層表面Ｒａは、２．４ｎｍ以下であることが好ましく、２．３ｎｍ以下であることがより好ましく、２．２ｎｍ以下であることが更に好ましく、２．１ｎｍ以下であることが一層好ましく、２．０ｎｍ以下であることがより一層好ましい。エリアＡの磁性層表面Ｒａは、例えば、１．２ｎｍ以上、１．３ｎｍ以上または１．４ｎｍ以上であることができ、ここに例示した値を下回ることもできる。
エリアＡの磁性層表面Ｒａは、公知の方法で制御することができる。例えば、エリアＡの磁性層表面Ｒａは、非磁性支持体の磁性層が設けられる側の表面の表面形状（例えば中心線平均表面粗さＲａ）、エリアＡの磁性層成分として使用する粉末の粒子サイズ等によって制御できる。この点は、エリアＢの磁性層表面Ｒａについても同様である。
エリアＡの磁性層表面Ｒａは、公知の方法で制御することができる。例えば、エリアＡの磁性層表面Ｒａは、非磁性支持体の磁性層が設けられる側の表面の表面形状（例えば中心線平均表面粗さＲａ）、エリアＡの磁性層成分として使用する粉末の粒子サイズ等によって制御できる。この点は、エリアＢの磁性層表面Ｒａについても同様である。
【0037】
上記磁気テープについて先に記載の方法によって求められるＡＭａｇは、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが先に記載した範囲である限り、特に限定されるものではない。一形態では、かかるＡＭａｇは、２０．０ｍｇ／ｍ２以上または２５．０ｍｇ／ｍ２以上であることができ、また、４０．０ｍｇ／ｍ２以下または３５．０ｍｇ／ｍ２以下であることができる。また、上記磁気テープに含まれるエリアＡの数が２つ以上の場合、一形態では一部のエリアＡについて、他の一形態ではすべてのエリアＡについて、各エリアＡから切り出した２つのテープ試料について先に記載の方法によって得られた値の算術平均として求められるＡＭａｇが上記範囲であることができる。
【0038】
エリアＡは、上記磁気テープに１か所以上含まれ、２か所以上含まれることもできる。上記磁気テープに含まれるエリアＡの数は、例えば、５以下、４以下もしくは３以下であることができ、または、ここに例示した数を超える数のエリアＡが上記磁気テープに含まれることもできる。エリアＡの全長（複数のエリアＡが含まれる場合はそれらの長さの合計）は、例えば、１００～１０，０００ｍの範囲であることができ、または１００～１，８００ｍの範囲であることもできる。また、１つのエリアＡの長さは、例えば、１０～１，５００ｍの範囲であることができる。上記磁気テープにエリアＡが複数含まれる場合、それら複数のエリアＡの層構成、各種層の成分、厚み等は、一形態では同じであることができ、他の一形態では異なることができる。
【0039】
＜エリアＢ＞
エリアＢは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ以上１０．０ｎｍ以下であって、上記磁気テープでは、先に記載した方法によってエリアＡについて求められるＢＭａｇが、１．２０以上１０．００以下の比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇを満たす。上記磁気テープにおいて、エリアＢは、エリアＡと比べて、磁性層表面で測定される中心線平均表面粗さＲａの値が大きい（即ち磁性層表面平滑性が低い）領域であり、磁性層側からの潤滑剤抽出量が多い領域であることができる。
エリアＢは、磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａが２．５ｎｍ以上１０．０ｎｍ以下であって、上記磁気テープでは、先に記載した方法によってエリアＡについて求められるＢＭａｇが、１．２０以上１０．００以下の比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇを満たす。上記磁気テープにおいて、エリアＢは、エリアＡと比べて、磁性層表面で測定される中心線平均表面粗さＲａの値が大きい（即ち磁性層表面平滑性が低い）領域であり、磁性層側からの潤滑剤抽出量が多い領域であることができる。
【0040】
エリアＢの磁性層表面において測定される中心線平均表面粗さＲａ（磁性層表面Ｒａ）は、２．５ｎｍ以上１０．０ｎｍ以下である。エリアＢの磁性層表面Ｒａが上記範囲であることは、エリアＢから磁気ヘッドへ適量の潤滑剤を供給することに寄与し得ると本発明者は推察している。上記の観点から、エリアＢの磁性層表面Ｒａは、２．６ｎｍ以上であることが好ましく、２．８ｎｍ以上であることがより好ましく、３．０ｎｍ以上であることが更に好ましい。また、上記の観点から、エリアＢの磁性層表面Ｒａは、９．０ｎｍ以下であることが好ましく、８．５ｎｍ以下であることがより好ましく、８．０ｎｍ以下であることが更に好ましく、７．５ｎｍ以下であることが一層好ましく、７．０ｎｍ以下であることがより好ましく、６．５ｎｍ以下であることが更に一層好ましく、６．０ｎｍ以下であることが更により一層好ましい。
【0041】
上記磁気テープについて先に記載の方法によって求められるＢＭａｇは、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇが先に記載した範囲である限り、特に限定されるものではない。一形態では、かかるＢＭａｇは、２０．０ｍｇ／ｍ２以上、２５．０ｍｇ／ｍ２以上または３０．０ｍｇ／ｍ２以上であることができ、また、４００．０ｍｇ／ｍ２以下、３５０．０ｍｇ／ｍ２以下または３００．０ｍｇ／ｍ２以下であることができる。また、上記磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合、一形態では一部のエリアＢについて、他の一形態ではすべてのエリアＢについて、各エリアＢから切り出した２つのテープ試料について先に記載の方法によって得られた値の算術平均として求められるＢＭａｇが上記範囲であることができる。
【0042】
上記磁気テープについて先に記載の方法によって求められるＢＢａｃｋは、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋが先に記載した範囲である限り、特に限定されるものではない。一形態では、かかるＢＢａｃｋは、１．０ｍｇ／ｍ２以上、２．０ｍｇ／ｍ２以上または３．０ｍｇ／ｍ２以上であることができ、また、５０．０ｍｇ／ｍ２以下、４５．０ｍｇ／ｍ２以下または４０．０ｍｇ／ｍ２以下であることができる。また、上記磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合、一形態では一部のエリアＢについて、他の一形態ではすべてのエリアＢについて、各エリアＢから切り出した２つのテープ試料について先に記載の方法によって得られた値の算術平均として求められるＢＴｏｔａｌと、各エリアＢから切り出した２つのテープ試料について先に記載の方法によって得られた値の算術平均として求められるＢＭａｇと、から「ＢＴｏｔａｌ－ＢＭａｇ」として算出される値としてのＢＢａｃｋが上記範囲であることができる。
【0043】
エリアＢは、上記磁気テープに１か所以上含まれ、エリアＢから磁気ヘッドへの潤滑剤の供給頻度を増やす観点から２か所以上含まれることが好ましい。上記磁気テープに含まれるエリアＢの数は、例えば、５以下、４以下もしくは３以下であることができ、または、ここに例示した数を超える数のエリアＢが上記磁気テープに含まれることもできる。エリアＢの全長（複数のエリアＢが含まれる場合はそれらの長さの合計）は、例えば、１～５，０００ｍの範囲であることができ、または１～９００ｍの範囲であることもできる。また、１つのエリアＢの長さは、例えば、１～２００ｍの範囲であることができる。上記磁気テープにエリアＢが複数含まれる場合、それら複数のエリアＢの層構成、各種層の成分、厚み等は、一形態では同じであることができ、他の一形態では異なることができる。
【0044】
一形態では、上記磁気テープでは、エリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積は、例えば１×１０－８ｍｍ３以上１×１０－３ｍｍ３以下であることができ、１×１０－７ｍｍ３以上１×１０－４ｍｍ３以下であることが好ましい。鋼球摩耗体積が１×１０－７ｍｍ３以上であることは、エリアＢの磁性層表面から適量の潤滑剤を磁気ヘッドに供給するうえで好ましいと推察され、１×１０－４ｍｍ３以下であることは、適度な供給速度で潤滑剤を磁気ヘッドに供給するうえで好ましいと推察される。上記の観点から、エリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積は、１×１０－７ｍｍ３以上であることが好ましく、８×１０－７ｍｍ３以上であることがより好ましく、３×１０－６ｍｍ３以上であることが更に好ましい。また、上記の観点から、エリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積は、１×１０－４ｍｍ３以下であることが好ましく５×１０－５ｍｍ３以下であることがより好ましく、１×１０－５ｍｍ３以下であることが更に好ましい。上記の鋼球摩耗体積は、例えば、磁性層に研磨剤として含有させる非磁性粉末の種類、サイズ、磁性層における含有量等によって制御できる。
【0045】
上記の鋼球摩耗体積は、以下の方法によって求められる値である。
エリアＢの任意の位置から長さ４ｃｍのテープ試料を切り出す。このテープ試料を、光学顕微鏡観察用のスライドガラス上に、テープ試料の４辺のうちの対向する２辺に接着テープを貼り付けて固定する。雰囲気温度２３℃相対湿度５０％の環境において、直径６．２５ｍｍの鋼球を、鋼球に荷重１０ｇを加えた状態で、磁性層表面上で摺動させる。鋼球としては、ＪＩＳ Ｂ １５０１：２００９「転がり軸受－鋼球」の規定にしたがう鋼球を使用する。２５ｍｍの距離を速度２０ｍｍ／秒で１回摺動させた後、磁性層表面の未摺動の別の位置に鋼球を移動させて同様に摺動させることを、磁性層表面の２０か所において実施する。各摺動時、鋼球の同じ位置を磁性層表面と接触させて摺動させる。その後、鋼球の磁性層表面と接触させて摺動させた位置を光学顕微鏡によって倍率４０倍で観察し、摺動によって削れて露出した面の面積を求め、この面積から円相当径を算出する。この円相当径を球の直径として算出される球の体積を、鋼球摩耗体積とする。
測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が１つの場合には、そのエリアＢにおいて上記方法により求められる鋼球摩耗体積を、測定対象の磁気テープにおけるエリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積とする。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合には、各エリアＢにおいて上記方法により鋼球摩耗体積を求め、すべてのエリアＢについてそれぞれ求められた鋼球摩耗体積の算術平均を、測定対象の磁気テープにおけるエリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積とする。上記磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合、一形態では一部のエリアＢについて、他の一形態ではすべてのエリアＢについて、それぞれ上記方法によって求められる鋼球摩耗体積が上記範囲であることができる。
エリアＢの任意の位置から長さ４ｃｍのテープ試料を切り出す。このテープ試料を、光学顕微鏡観察用のスライドガラス上に、テープ試料の４辺のうちの対向する２辺に接着テープを貼り付けて固定する。雰囲気温度２３℃相対湿度５０％の環境において、直径６．２５ｍｍの鋼球を、鋼球に荷重１０ｇを加えた状態で、磁性層表面上で摺動させる。鋼球としては、ＪＩＳ Ｂ １５０１：２００９「転がり軸受－鋼球」の規定にしたがう鋼球を使用する。２５ｍｍの距離を速度２０ｍｍ／秒で１回摺動させた後、磁性層表面の未摺動の別の位置に鋼球を移動させて同様に摺動させることを、磁性層表面の２０か所において実施する。各摺動時、鋼球の同じ位置を磁性層表面と接触させて摺動させる。その後、鋼球の磁性層表面と接触させて摺動させた位置を光学顕微鏡によって倍率４０倍で観察し、摺動によって削れて露出した面の面積を求め、この面積から円相当径を算出する。この円相当径を球の直径として算出される球の体積を、鋼球摩耗体積とする。
測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が１つの場合には、そのエリアＢにおいて上記方法により求められる鋼球摩耗体積を、測定対象の磁気テープにおけるエリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積とする。測定対象の磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合には、各エリアＢにおいて上記方法により鋼球摩耗体積を求め、すべてのエリアＢについてそれぞれ求められた鋼球摩耗体積の算術平均を、測定対象の磁気テープにおけるエリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積とする。上記磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合、一形態では一部のエリアＢについて、他の一形態ではすべてのエリアＢについて、それぞれ上記方法によって求められる鋼球摩耗体積が上記範囲であることができる。
【0046】
エリアＡとエリアＢとは、磁気テープの長手方向に連続して位置する領域であることができる。ここで「連続して位置する領域」とは、それら領域の間に他の領域が存在しないことを意味する。例えば、磁気テープがカートリッジリールに巻取られて磁気テープカートリッジに収容された状態において、カートリッジリールに近い側を内側、遠い側を外側と呼ぶと、外側の末端から内側の末端に向かって、「エリアＢ／エリアＡ／エリアＢ／エリアＡ／エリアＢ」が連続している形態、「エリアＢ／エリアＡ／エリアＢ」が連続している形態、「エリアＡ／エリアＢ／エリアＡ」が連続している形態、「エリアＡ／エリアＢ」が連続している形態、「エリアＢ／エリアＡ」が連続している形態等があり得る。磁気テープの両末端のうち、少なくとも一方の末端がエリアＢの端部であることが好ましく、両末端がそれぞれエリアＢの端部であることがより好ましい。
【0047】
エリアＡおよびエリアＢを含む磁気テープは、一形態では、エリアＡとなる磁気テープとエリアＢとなる磁気テープとを接合させて製造された磁気テープであることができる。接合は、スプライシングテープ等の公知の手段によって行うことができる。他の一形態では、１つの非磁性支持体上に組成および／または製造条件を変更して複数の領域を設けることによって、エリアＡとエリアＢとを有する磁気テープを製造することができる。
【0048】
以下、上記磁気テープの磁性層等について更により詳細に説明する。以下において、特記しない限り、記載されている事項は、エリアＡおよびエリアＢの両エリアについて適用されるものとする。
【0049】
＜磁性層＞
（強磁性粉末）
磁性層に含まれる強磁性粉末としては、各種磁気記録媒体の磁性層において用いられる強磁性粉末として公知の強磁性粉末を１種または２種以上組み合わせて使用することができる。強磁性粉末として平均粒子サイズの小さいものを使用することは記録密度向上の観点から好ましい。この点から、強磁性粉末の平均粒子サイズは５０ｎｍ以下であることが好ましく、４５ｎｍ以下であることがより好ましく、４０ｎｍ以下であることが更に好ましく、３５ｎｍ以下であることが一層好ましく、３０ｎｍ以下であることがより一層好ましく、２５ｎｍ以下であることが更に一層好ましく、２０ｎｍ以下であることがなお一層好ましい。一方、磁化の安定性の観点からは、強磁性粉末の平均粒子サイズは５ｎｍ以上であることが好ましく、８ｎｍ以上であることがより好ましく、１０ｎｍ以上であることが更に好ましく、１５ｎｍ以上であることが一層好ましく、２０ｎｍ以上であることがより一層好ましい。
（強磁性粉末）
磁性層に含まれる強磁性粉末としては、各種磁気記録媒体の磁性層において用いられる強磁性粉末として公知の強磁性粉末を１種または２種以上組み合わせて使用することができる。強磁性粉末として平均粒子サイズの小さいものを使用することは記録密度向上の観点から好ましい。この点から、強磁性粉末の平均粒子サイズは５０ｎｍ以下であることが好ましく、４５ｎｍ以下であることがより好ましく、４０ｎｍ以下であることが更に好ましく、３５ｎｍ以下であることが一層好ましく、３０ｎｍ以下であることがより一層好ましく、２５ｎｍ以下であることが更に一層好ましく、２０ｎｍ以下であることがなお一層好ましい。一方、磁化の安定性の観点からは、強磁性粉末の平均粒子サイズは５ｎｍ以上であることが好ましく、８ｎｍ以上であることがより好ましく、１０ｎｍ以上であることが更に好ましく、１５ｎｍ以上であることが一層好ましく、２０ｎｍ以上であることがより一層好ましい。
【0050】
六方晶フェライト粉末
強磁性粉末の好ましい具体例としては、六方晶フェライト粉末を挙げることができる。六方晶フェライト粉末の詳細については、例えば、特開２０１１－２２５４１７号公報の段落００１２～００３０、特開２０１１－２１６１４９号公報の段落０１３４～０１３６、特開２０１２－２０４７２６号公報の段落００１３～００３０および特開２０１５－１２７９８５号公報の段落００２９～００８４を参照できる。
強磁性粉末の好ましい具体例としては、六方晶フェライト粉末を挙げることができる。六方晶フェライト粉末の詳細については、例えば、特開２０１１－２２５４１７号公報の段落００１２～００３０、特開２０１１－２１６１４９号公報の段落０１３４～０１３６、特開２０１２－２０４７２６号公報の段落００１３～００３０および特開２０１５－１２７９８５号公報の段落００２９～００８４を参照できる。
【0051】
本発明および本明細書において、「六方晶フェライト粉末」とは、Ｘ線回折分析によって、主相として六方晶フェライト型の結晶構造が検出される強磁性粉末をいうものとする。主相とは、Ｘ線回折分析によって得られるＸ線回折スペクトルにおいて最も高強度の回折ピークが帰属する構造をいう。例えば、Ｘ線回折分析によって得られるＸ線回折スペクトルにおいて最も高強度の回折ピークが六方晶フェライト型の結晶構造に帰属される場合、六方晶フェライト型の結晶構造が主相として検出されたと判断するものとする。Ｘ線回折分析によって単一の構造のみが検出された場合には、この検出された構造を主相とする。六方晶フェライト型の結晶構造は、構成原子として、少なくとも鉄原子、二価金属原子および酸素原子を含む。二価金属原子とは、イオンとして二価のカチオンになり得る金属原子であり、ストロンチウム原子、バリウム原子、カルシウム原子等のアルカリ土類金属原子、鉛原子等を挙げることができる。本発明および本明細書において、六方晶ストロンチウムフェライト粉末とは、この粉末に含まれる主な二価金属原子がストロンチウム原子であるものをいい、六方晶バリウムフェライト粉末とは、この粉末に含まれる主な二価金属原子がバリウム原子であるものをいう。主な二価金属原子とは、この粉末に含まれる二価金属原子の中で、原子％基準で最も多くを占める二価金属原子をいうものとする。ただし、上記の二価金属原子には、希土類原子は包含されないものとする。本発明および本明細書における「希土類原子」は、スカンジウム原子（Ｓｃ）、イットリウム原子（Ｙ）、およびランタノイド原子からなる群から選択される。ランタノイド原子は、ランタン原子（Ｌａ）、セリウム原子（Ｃｅ）、プラセオジム原子（Ｐｒ）、ネオジム原子（Ｎｄ）、プロメチウム原子（Ｐｍ）、サマリウム原子（Ｓｍ）、ユウロピウム原子（Ｅｕ）、ガドリニウム原子（Ｇｄ）、テルビウム原子（Ｔｂ）、ジスプロシウム原子（Ｄｙ）、ホルミウム原子（Ｈｏ）、エルビウム原子（Ｅｒ）、ツリウム原子（Ｔｍ）、イッテルビウム原子（Ｙｂ）、およびルテチウム原子（Ｌｕ）からなる群から選択される。
【0052】
以下に、六方晶フェライト粉末の一形態である六方晶ストロンチウムフェライト粉末について、更に詳細に説明する。
【0053】
六方晶ストロンチウムフェライト粉末の活性化体積は、好ましくは８００～１６００ｎｍ３の範囲である。上記範囲の活性化体積を示す微粒子化された六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、優れた電磁変換特性を発揮する磁気テープの作製のために好適である。六方晶ストロンチウムフェライト粉末の活性化体積は、好ましくは８００ｎｍ３以上であり、例えば８５０ｎｍ３以上であることもできる。また、電磁変換特性の更なる向上の観点から、六方晶ストロンチウムフェライト粉末の活性化体積は、１５００ｎｍ３以下であることがより好ましく、１４００ｎｍ３以下であることが更に好ましく、１３００ｎｍ３以下であることが一層好ましく、１２００ｎｍ３以下であることがより一層好ましく、１１００ｎｍ３以下であることが更により一層好ましい。六方晶バリウムフェライト粉末の活性化体積についても、同様である。
【0054】
「活性化体積」とは、磁化反転の単位であって、粒子の磁気的な大きさを示す指標である。本発明および本明細書に記載の活性化体積および後述の異方性定数Ｋｕは、振動試料型磁力計を用いて保磁力Ｈｃ測定部の磁場スイープ速度３分と３０分とで測定し（測定温度：２３℃±１℃）、以下のＨｃと活性化体積Ｖとの関係式から求められる値である。なお異方性定数Ｋｕの単位に関して、１ｅｒｇ／ｃｃ＝１．０×１０－１Ｊ／ｍ３である。
Ｈｃ＝２Ｋｕ／Ｍｓ｛１－［（ｋＴ／ＫｕＶ）ｌｎ（Ａｔ／０．６９３）］１／２｝
［上記式中、Ｋｕ：異方性定数（単位：Ｊ／ｍ３）、Ｍｓ：飽和磁化（単位：ｋＡ／ｍ）、ｋ：ボルツマン定数、Ｔ：絶対温度（単位：Ｋ）、Ｖ：活性化体積（単位：ｃｍ３）、Ａ：スピン歳差周波数（単位：ｓ－１）、ｔ：磁界反転時間（単位：ｓ）］
Ｈｃ＝２Ｋｕ／Ｍｓ｛１－［（ｋＴ／ＫｕＶ）ｌｎ（Ａｔ／０．６９３）］１／２｝
［上記式中、Ｋｕ：異方性定数（単位：Ｊ／ｍ３）、Ｍｓ：飽和磁化（単位：ｋＡ／ｍ）、ｋ：ボルツマン定数、Ｔ：絶対温度（単位：Ｋ）、Ｖ：活性化体積（単位：ｃｍ３）、Ａ：スピン歳差周波数（単位：ｓ－１）、ｔ：磁界反転時間（単位：ｓ）］
【0055】
熱揺らぎの低減、換言すれば熱的安定性の向上の指標としては、異方性定数Ｋｕを挙げることができる。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、好ましくは１．８×１０５Ｊ／ｍ３以上のＫｕを有することができ、より好ましくは２．０×１０５Ｊ／ｍ３以上のＫｕを有することができる。また、六方晶ストロンチウムフェライト粉末のＫｕは、例えば２．５×１０５Ｊ／ｍ３以下であることができる。ただしＫｕが高いほど熱的安定性が高いことを意味し好ましいため、上記例示した値に限定されるものではない。
【0056】
六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、希土類原子を含んでいてもよく、含まなくてもよい。六方晶ストロンチウムフェライト粉末が希土類原子を含む場合、鉄原子１００原子％に対して、０．５～５．０原子％の含有率（バルク含有率）で希土類原子を含むことが好ましい。希土類原子を含む六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、一形態では、希土類原子表層部偏在性を有することができる。本発明および本明細書における「希土類原子表層部偏在性」とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を酸により部分溶解して得られた溶解液中の鉄原子１００原子％に対する希土類原子含有率（以下、「希土類原子表層部含有率」または希土類原子に関して単に「表層部含有率」と記載する。）が、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を酸により全溶解して得られた溶解液中の鉄原子１００原子％に対する希土類原子含有率（以下、「希土類原子バルク含有率」または希土類原子に関して単に「バルク含有率」と記載する。）と、
希土類原子表層部含有率／希土類原子バルク含有率＞１．０
の比率を満たすことを意味する。後述の六方晶ストロンチウムフェライト粉末の希土類原子含有率とは、希土類原子バルク含有率と同義である。これに対し、酸を用いる部分溶解は六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部を溶解するため、部分溶解により得られる溶解液中の希土類原子含有率とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部における希土類原子含有率である。希土類原子表層部含有率が、「希土類原子表層部含有率／希土類原子バルク含有率＞１．０」の比率を満たすことは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子において、希土類原子が表層部に偏在（即ち内部より多く存在）していることを意味する。本発明および本明細書における表層部とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表面から内部に向かう一部領域を意味する。
希土類原子表層部含有率／希土類原子バルク含有率＞１．０
の比率を満たすことを意味する。後述の六方晶ストロンチウムフェライト粉末の希土類原子含有率とは、希土類原子バルク含有率と同義である。これに対し、酸を用いる部分溶解は六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部を溶解するため、部分溶解により得られる溶解液中の希土類原子含有率とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部における希土類原子含有率である。希土類原子表層部含有率が、「希土類原子表層部含有率／希土類原子バルク含有率＞１．０」の比率を満たすことは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子において、希土類原子が表層部に偏在（即ち内部より多く存在）していることを意味する。本発明および本明細書における表層部とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表面から内部に向かう一部領域を意味する。
【0057】
六方晶ストロンチウムフェライト粉末が希土類原子を含む場合、希土類原子含有率（バルク含有率）は、鉄原子１００原子％に対して０．５～５．０原子％の範囲であることが好ましい。上記範囲のバルク含有率で希土類原子を含み、かつ六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に希土類原子が偏在していることは、繰り返し再生における再生出力の低下を抑制することに寄与すると考えられる。これは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末が上記範囲のバルク含有率で希土類原子を含み、かつ六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に希土類原子が偏在していることにより、異方性定数Ｋｕを高めることができるためと推察される。異方性定数Ｋｕは、この値が高いほど、いわゆる熱揺らぎと呼ばれる現象の発生を抑制すること（換言すれば熱的安定性を向上させること）ができる。熱揺らぎの発生が抑制されることにより、繰り返し再生における再生出力の低下を抑制することができる。六方晶ストロンチウムフェライト粉末の粒子表層部に希土類原子が偏在することが、表層部の結晶格子内の鉄（Ｆｅ）のサイトのスピンを安定化することに寄与し、これにより異方性定数Ｋｕが高まるのではないかと推察される。
また、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末を磁性層の強磁性粉末として用いることは、磁気ヘッドとの摺動によって磁性層表面が削れることを抑制することにも寄与すると推察される。即ち、磁気テープの走行耐久性の向上にも、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末が寄与し得ると推察される。これは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表面に希土類原子が偏在することが、粒子表面と磁性層に含まれる有機物質（例えば、結合剤および／または添加剤）との相互作用の向上に寄与し、その結果、磁性層の強度が向上するためではないかと推察される。
繰り返し再生における再生出力の低下をより一層抑制する観点および／または走行耐久性の更なる向上の観点からは、希土類原子含有率（バルク含有率）は、０．５～４．５原子％の範囲であることがより好ましく、１．０～４．５原子％の範囲であることが更に好ましく、１．５～４．５原子％の範囲であることが一層好ましい。
また、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末を磁性層の強磁性粉末として用いることは、磁気ヘッドとの摺動によって磁性層表面が削れることを抑制することにも寄与すると推察される。即ち、磁気テープの走行耐久性の向上にも、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末が寄与し得ると推察される。これは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表面に希土類原子が偏在することが、粒子表面と磁性層に含まれる有機物質（例えば、結合剤および／または添加剤）との相互作用の向上に寄与し、その結果、磁性層の強度が向上するためではないかと推察される。
繰り返し再生における再生出力の低下をより一層抑制する観点および／または走行耐久性の更なる向上の観点からは、希土類原子含有率（バルク含有率）は、０．５～４．５原子％の範囲であることがより好ましく、１．０～４．５原子％の範囲であることが更に好ましく、１．５～４．５原子％の範囲であることが一層好ましい。
【0058】
上記バルク含有率は、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を全溶解して求められる含有率である。なお本発明および本明細書において、特記しない限り、原子について含有率とは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を全溶解して求められるバルク含有率をいうものとする。希土類原子を含む六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、希土類原子として１種の希土類原子のみ含んでもよく、２種以上の希土類原子を含んでもよい。２種以上の希土類原子を含む場合の上記バルク含有率は、２種以上の希土類原子の合計について求められる。この点は、本発明および本明細書における他の成分についても同様である。即ち、特記しない限り、ある成分は、１種のみ用いてもよく、２種以上用いてもよい。２種以上用いられる場合の含有量または含有率とは、２種以上の合計についていうものとする。
【0059】
六方晶ストロンチウムフェライト粉末が希土類原子を含む場合、含まれる希土類原子は、希土類原子のいずれか１種以上であればよい。繰り返し再生における再生出力の低下をより一層抑制する観点から好ましい希土類原子としては、ネオジム原子、サマリウム原子、イットリウム原子およびジスプロシウム原子を挙げることができ、ネオジム原子、サマリウム原子およびイットリウム原子がより好ましく、ネオジム原子が更に好ましい。
【0060】
希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末において、希土類原子は六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に偏在していればよく、偏在の程度は限定されるものではない。例えば、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末について、後述する溶解条件で部分溶解して求められた希土類原子の表層部含有率と後述する溶解条件で全溶解して求められた希土類原子のバルク含有率との比率、「表層部含有率／バルク含有率」は１．０超であり、１．５以上であることができる。「表層部含有率／バルク含有率」が１．０より大きいことは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子において、希土類原子が表層部に偏在（即ち内部より多く存在）していることを意味する。また、後述する溶解条件で部分溶解して求められた希土類原子の表層部含有率と後述する溶解条件で全溶解して求められた希土類原子のバルク含有率との比率、「表層部含有率／バルク含有率」は、例えば、１０．０以下、９．０以下、８．０以下、７．０以下、６．０以下、５．０以下、または４．０以下であることができる。ただし、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末において、希土類原子は六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子の表層部に偏在していればよく、上記の「表層部含有率／バルク含有率」は、例示した上限または下限に限定されるものではない。
【0061】
六方晶ストロンチウムフェライト粉末の部分溶解および全溶解について、以下に説明する。粉末として存在している六方晶ストロンチウムフェライト粉末については、部分溶解および全溶解する試料粉末は、同一ロットの粉末から採取する。一方、磁気テープの磁性層に含まれている六方晶ストロンチウムフェライト粉末については、磁性層から取り出した六方晶ストロンチウムフェライト粉末の一部を部分溶解に付し、他の一部を全溶解に付す。磁性層からの六方晶ストロンチウムフェライト粉末の取り出しは、例えば、特開２０１５－９１７４７号公報の段落００３２に記載の方法によって行うことができる。
上記部分溶解とは、溶解終了時に液中に六方晶ストロンチウムフェライト粉末の残留が目視で確認できる程度に溶解することをいう。例えば、部分溶解により、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子について、粒子全体を１００質量％として１０～２０質量％の領域を溶解することができる。一方、上記全溶解とは、溶解終了時に液中に六方晶ストロンチウムフェライト粉末の残留が目視で確認されない状態まで溶解することをいう。
上記部分溶解および表層部含有率の測定は、例えば、以下の方法により行われる。ただし、下記の試料粉末量等の溶解条件は例示であって、部分溶解および全溶解が可能な溶解条件を任意に採用できる。
試料粉末１２ｍｇおよび１ｍｏｌ／Ｌ塩酸１０ｍＬを入れた容器（例えばビーカー）を、設定温度７０℃のホットプレート上で１時間保持する。得られた溶解液を０．１μｍのメンブレンフィルタでろ過する。こうして得られたろ液の元素分析を誘導結合プラズマ（ＩＣＰ；Ｉｎｄｕｃｔｉｖｅｌｙ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｐｌａｓｍａ）分析装置によって行う。こうして、鉄原子１００原子％に対する希土類原子の表層部含有率を求めることができる。元素分析により複数種の希土類原子が検出された場合には、全希土類原子の合計含有率を、表層部含有率とする。この点は、バルク含有率の測定においても、同様である。
一方、上記全溶解およびバルク含有率の測定は、例えば、以下の方法により行われる。
試料粉末１２ｍｇおよび４ｍｏｌ／Ｌ塩酸１０ｍＬを入れた容器（例えばビーカー）を、設定温度８０℃のホットプレート上で３時間保持する。その後は上記の部分溶解および表層部含有率の測定と同様に行い、鉄原子１００原子％に対するバルク含有率を求めることができる。
上記部分溶解とは、溶解終了時に液中に六方晶ストロンチウムフェライト粉末の残留が目視で確認できる程度に溶解することをいう。例えば、部分溶解により、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を構成する粒子について、粒子全体を１００質量％として１０～２０質量％の領域を溶解することができる。一方、上記全溶解とは、溶解終了時に液中に六方晶ストロンチウムフェライト粉末の残留が目視で確認されない状態まで溶解することをいう。
上記部分溶解および表層部含有率の測定は、例えば、以下の方法により行われる。ただし、下記の試料粉末量等の溶解条件は例示であって、部分溶解および全溶解が可能な溶解条件を任意に採用できる。
試料粉末１２ｍｇおよび１ｍｏｌ／Ｌ塩酸１０ｍＬを入れた容器（例えばビーカー）を、設定温度７０℃のホットプレート上で１時間保持する。得られた溶解液を０．１μｍのメンブレンフィルタでろ過する。こうして得られたろ液の元素分析を誘導結合プラズマ（ＩＣＰ；Ｉｎｄｕｃｔｉｖｅｌｙ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｐｌａｓｍａ）分析装置によって行う。こうして、鉄原子１００原子％に対する希土類原子の表層部含有率を求めることができる。元素分析により複数種の希土類原子が検出された場合には、全希土類原子の合計含有率を、表層部含有率とする。この点は、バルク含有率の測定においても、同様である。
一方、上記全溶解およびバルク含有率の測定は、例えば、以下の方法により行われる。
試料粉末１２ｍｇおよび４ｍｏｌ／Ｌ塩酸１０ｍＬを入れた容器（例えばビーカー）を、設定温度８０℃のホットプレート上で３時間保持する。その後は上記の部分溶解および表層部含有率の測定と同様に行い、鉄原子１００原子％に対するバルク含有率を求めることができる。
【0062】
磁気テープに記録されたデータを再生する際の再生出力を高める観点から、磁気テープに含まれる強磁性粉末の質量磁化σｓが高いことは望ましい。この点に関して、希土類原子を含むものの希土類原子表層部偏在性を持たない六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、希土類原子を含まない六方晶ストロンチウムフェライト粉末と比べてσｓが大きく低下する傾向が見られた。これに対し、そのようなσｓの大きな低下を抑制するうえでも、希土類原子表層部偏在性を有する六方晶ストロンチウムフェライト粉末は好ましいと考えられる。一形態では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末のσｓは、４５Ａ・ｍ２／ｋｇ以上であることができ、４７Ａ・ｍ２／ｋｇ以上であることもできる。一方、σｓは、ノイズ低減の観点からは、８０Ａ・ｍ２／ｋｇ以下であることが好ましく、６０Ａ・ｍ２／ｋｇ以下であることがより好ましい。σｓは、振動試料型磁力計等の磁気特性を測定可能な公知の測定装置を用いて測定することができる。本発明および本明細書において、特記しない限り、質量磁化σｓは、磁場強度１５ｋＯｅで測定される値とする。１［ｋＯｅ］＝１０６／４π［Ａ／ｍ］である。
【0063】
六方晶ストロンチウムフェライト粉末の構成原子の含有率（バルク含有率）に関して、ストロンチウム原子含有率は、鉄原子１００原子％に対して、例えば２．０～１５．０原子％の範囲であることができる。一形態では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、この粉末に含まれる二価金属原子がストロンチウム原子のみであることができる。また他の一形態では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、ストロンチウム原子に加えて１種以上の他の二価金属原子を含むこともできる。例えば、バリウム原子および／またはカルシウム原子を含むことができる。ストロンチウム原子以外の他の二価金属原子が含まれる場合、六方晶ストロンチウムフェライト粉末におけるバリウム原子含有率およびカルシウム原子含有率は、それぞれ、例えば、鉄原子１００原子％に対して、０．０５～５．０原子％の範囲であることができる。
【0064】
六方晶フェライトの結晶構造としては、マグネトプランバイト型（「Ｍ型」とも呼ばれる。）、Ｗ型、Ｙ型およびＺ型が知られている。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、いずれの結晶構造を取るものであってもよい。結晶構造は、Ｘ線回折分析によって確認することができる。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、Ｘ線回折分析によって、単一の結晶構造または２種以上の結晶構造が検出されるものであることができる。例えば一形態では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、Ｘ線回折分析によってＭ型の結晶構造のみが検出されるものであることができる。例えば、Ｍ型の六方晶フェライトは、ＡＦｅ１２Ｏ１９の組成式で表される。ここでＡは二価金属原子を表し、六方晶ストロンチウムフェライト粉末がＭ型である場合、Ａはストロンチウム原子（Ｓｒ）のみであるか、またはＡとして複数の二価金属原子が含まれる場合には、上記の通り原子％基準で最も多くをストロンチウム原子（Ｓｒ）が占める。六方晶ストロンチウムフェライト粉末の二価金属原子含有率は、通常、六方晶フェライトの結晶構造の種類により定まるものであり、特に限定されるものではない。鉄原子含有率および酸素原子含有率についても、同様である。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、少なくとも、鉄原子、ストロンチウム原子および酸素原子を含み、更に希土類原子を含むこともできる。更に、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、これら原子以外の原子を含んでもよく、含まなくてもよい。一例として、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、アルミニウム原子（Ａｌ）を含むものであってもよい。アルミニウム原子の含有率は、鉄原子１００原子％に対して、例えば０．５～１０．０原子％であることができる。繰り返し再生における再生出力低下をより一層抑制する観点からは、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、鉄原子、ストロンチウム原子、酸素原子および希土類原子を含み、これら原子以外の原子の含有率が、鉄原子１００原子％に対して、１０．０原子％以下であることが好ましく、０～５．０原子％の範囲であることがより好ましく、０原子％であってもよい。即ち、一形態では、六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、鉄原子、ストロンチウム原子、酸素原子および希土類原子以外の原子を含まなくてもよい。上記の原子％で表示される含有率は、六方晶ストロンチウムフェライト粉末を全溶解して求められる各原子の含有率（単位：質量％）を、各原子の原子量を用いて原子％表示の値に換算して求められる。また、本発明および本明細書において、ある原子について「含まない」とは、全溶解してＩＣＰ分析装置により測定される含有率が０質量％であることをいう。ＩＣＰ分析装置の検出限界は、通常、質量基準で０．０１ｐｐｍ（ｐａｒｔｓ ｐｅｒ ｍｉｌｌｉｏｎ）以下である。上記の「含まない」とは、ＩＣＰ分析装置の検出限界未満の量で含まれることを包含する意味で用いるものとする。六方晶ストロンチウムフェライト粉末は、一形態では、ビスマス原子（Ｂｉ）を含まないものであることができる。
【0065】
金属粉末
強磁性粉末の好ましい具体例としては、強磁性金属粉末を挙げることもできる。強磁性金属粉末の詳細については、例えば特開２０１１－２１６１４９号公報の段落０１３７～０１４１および特開２００５－２５１３５１号公報の段落０００９～００２３を参照できる。
強磁性粉末の好ましい具体例としては、強磁性金属粉末を挙げることもできる。強磁性金属粉末の詳細については、例えば特開２０１１－２１６１４９号公報の段落０１３７～０１４１および特開２００５－２５１３５１号公報の段落０００９～００２３を参照できる。
【0066】
ε－酸化鉄粉末
強磁性粉末の好ましい具体例としては、ε－酸化鉄粉末を挙げることもできる。本発明および本明細書において、「ε－酸化鉄粉末」とは、Ｘ線回折分析によって、主相としてε－酸化鉄型の結晶構造が検出される強磁性粉末をいうものとする。例えば、Ｘ線回折分析によって得られるＸ線回折スペクトルにおいて最も高強度の回折ピークがε－酸化鉄型の結晶構造に帰属される場合、ε－酸化鉄型の結晶構造が主相として検出されたと判断するものとする。ε－酸化鉄粉末の製造方法としては、ゲーサイトから作製する方法、逆ミセル法等が知られている。上記製造方法は、いずれも公知である。また、Ｆｅの一部がＧａ、Ｃｏ、Ｔｉ、Ａｌ、Ｒｈ等の置換原子によって置換されたε－酸化鉄粉末を製造する方法については、例えば、Ｊ． Ｊｐｎ． Ｓｏｃ． Ｐｏｗｄｅｒ Ｍｅｔａｌｌｕｒｇｙ Ｖｏｌ． ６１ Ｓｕｐｐｌｅｍｅｎｔ， Ｎｏ． Ｓ１， ｐｐ． Ｓ２８０－Ｓ２８４、Ｊ． Ｍａｔｅｒ． Ｃｈｅｍ． Ｃ， ２０１３， １， ｐｐ．５２００－５２０６等を参照できる。ただし、上記磁気テープの磁性層において強磁性粉末として使用可能なε－酸化鉄粉末の製造方法は、ここで挙げた方法に限定されない。
強磁性粉末の好ましい具体例としては、ε－酸化鉄粉末を挙げることもできる。本発明および本明細書において、「ε－酸化鉄粉末」とは、Ｘ線回折分析によって、主相としてε－酸化鉄型の結晶構造が検出される強磁性粉末をいうものとする。例えば、Ｘ線回折分析によって得られるＸ線回折スペクトルにおいて最も高強度の回折ピークがε－酸化鉄型の結晶構造に帰属される場合、ε－酸化鉄型の結晶構造が主相として検出されたと判断するものとする。ε－酸化鉄粉末の製造方法としては、ゲーサイトから作製する方法、逆ミセル法等が知られている。上記製造方法は、いずれも公知である。また、Ｆｅの一部がＧａ、Ｃｏ、Ｔｉ、Ａｌ、Ｒｈ等の置換原子によって置換されたε－酸化鉄粉末を製造する方法については、例えば、Ｊ． Ｊｐｎ． Ｓｏｃ． Ｐｏｗｄｅｒ Ｍｅｔａｌｌｕｒｇｙ Ｖｏｌ． ６１ Ｓｕｐｐｌｅｍｅｎｔ， Ｎｏ． Ｓ１， ｐｐ． Ｓ２８０－Ｓ２８４、Ｊ． Ｍａｔｅｒ． Ｃｈｅｍ． Ｃ， ２０１３， １， ｐｐ．５２００－５２０６等を参照できる。ただし、上記磁気テープの磁性層において強磁性粉末として使用可能なε－酸化鉄粉末の製造方法は、ここで挙げた方法に限定されない。
【0067】
ε－酸化鉄粉末の活性化体積は、好ましくは３００～１５００ｎｍ３の範囲である。上記範囲の活性化体積を示す微粒子化されたε－酸化鉄粉末は、優れた電磁変換特性を発揮する磁気テープの作製のために好適である。ε－酸化鉄粉末の活性化体積は、好ましくは３００ｎｍ３以上であり、例えば５００ｎｍ３以上であることもできる。また、電磁変換特性の更なる向上の観点から、ε－酸化鉄粉末の活性化体積は、１４００ｎｍ３以下であることがより好ましく、１３００ｎｍ３以下であることが更に好ましく、１２００ｎｍ３以下であることが一層好ましく、１１００ｎｍ３以下であることがより一層好ましい。
【0068】
熱揺らぎの低減、換言すれば熱的安定性の向上の指標としては、異方性定数Ｋｕを挙げることができる。ε－酸化鉄粉末は、好ましくは３．０×１０４Ｊ／ｍ３以上のＫｕを有することができ、より好ましくは８．０×１０４Ｊ／ｍ３以上のＫｕを有することができる。また、ε－酸化鉄粉末のＫｕは、例えば３．０×１０５Ｊ／ｍ３以下であることができる。ただしＫｕが高いほど熱的安定性が高いことを意味し、好ましいため、上記例示した値に限定されるものではない。
【0069】
磁気テープに記録されたデータを再生する際の再生出力を高める観点から、磁気テープに含まれる強磁性粉末の質量磁化σｓが高いことは望ましい。この点に関して、一形態では、ε－酸化鉄粉末のσｓは、８Ａ・ｍ２／ｋｇ以上であることができ、１２Ａ・ｍ２／ｋｇ以上であることもできる。一方、ε－酸化鉄粉末のσｓは、ノイズ低減の観点からは、４０Ａ・ｍ２／ｋｇ以下であることが好ましく、３５Ａ・ｍ２／ｋｇ以下であることがより好ましい。
【0070】
本発明および本明細書において、特記しない限り、強磁性粉末等の各種粉末の平均粒子サイズは、透過型電子顕微鏡を用いて、以下の方法により測定される値とする。
粉末を、透過型電子顕微鏡を用いて撮影倍率１０００００倍で撮影し、総倍率５０００００倍になるように印画紙にプリントして粉末を構成する粒子の写真を得る。得られた粒子の写真から目的の粒子を選びデジタイザーで粒子の輪郭をトレースし粒子（一次粒子）のサイズを測定する。一次粒子とは、凝集のない独立した粒子をいう。
以上の測定を、無作為に抽出した５００個の粒子について行う。こうして得られた５００個の粒子の粒子サイズの算術平均を、粉末の平均粒子サイズとする。上記透過型電子顕微鏡としては、例えば日立製透過型電子顕微鏡Ｈ－９０００型を用いることができる。また、粒子サイズの測定は、公知の画像解析ソフト、例えばカールツァイス製画像解析ソフトＫＳ－４００を用いて行うことができる。後述の実施例に示す平均粒子サイズは、特記しない限り、透過型電子顕微鏡として日立製透過型電子顕微鏡Ｈ－９０００型、画像解析ソフトとしてカールツァイス製画像解析ソフトＫＳ－４００を用いて測定された値である。本発明および本明細書において、粉末とは、複数の粒子の集合を意味する。例えば、強磁性粉末とは、複数の強磁性粒子の集合を意味する。また、複数の粒子の集合とは、集合を構成する粒子が直接接触している形態に限定されず、後述する結合剤、添加剤等が、粒子同士の間に介在している形態も包含される。粒子との語が、粉末を表すために用いられることもある。
粉末を、透過型電子顕微鏡を用いて撮影倍率１０００００倍で撮影し、総倍率５０００００倍になるように印画紙にプリントして粉末を構成する粒子の写真を得る。得られた粒子の写真から目的の粒子を選びデジタイザーで粒子の輪郭をトレースし粒子（一次粒子）のサイズを測定する。一次粒子とは、凝集のない独立した粒子をいう。
以上の測定を、無作為に抽出した５００個の粒子について行う。こうして得られた５００個の粒子の粒子サイズの算術平均を、粉末の平均粒子サイズとする。上記透過型電子顕微鏡としては、例えば日立製透過型電子顕微鏡Ｈ－９０００型を用いることができる。また、粒子サイズの測定は、公知の画像解析ソフト、例えばカールツァイス製画像解析ソフトＫＳ－４００を用いて行うことができる。後述の実施例に示す平均粒子サイズは、特記しない限り、透過型電子顕微鏡として日立製透過型電子顕微鏡Ｈ－９０００型、画像解析ソフトとしてカールツァイス製画像解析ソフトＫＳ－４００を用いて測定された値である。本発明および本明細書において、粉末とは、複数の粒子の集合を意味する。例えば、強磁性粉末とは、複数の強磁性粒子の集合を意味する。また、複数の粒子の集合とは、集合を構成する粒子が直接接触している形態に限定されず、後述する結合剤、添加剤等が、粒子同士の間に介在している形態も包含される。粒子との語が、粉末を表すために用いられることもある。
【0071】
粒子サイズ測定のために磁気テープから試料粉末を採取する方法としては、例えば特開２０１１－０４８８７８号公報の段落００１５に記載の方法を採用することができる。
【0072】
本発明および本明細書において、特記しない限り、粉末を構成する粒子のサイズ（粒子サイズ）は、上記の粒子写真において観察される粒子の形状が、
（１）針状、紡錘状、柱状（ただし、高さが底面の最大長径より大きい）等の場合は、粒子を構成する長軸の長さ、即ち長軸長で表され、
（２）板状または柱状（ただし、厚みまたは高さが板面または底面の最大長径より小さい）の場合は、その板面または底面の最大長径で表され、
（３）球形、多面体状、不定形等であって、かつ形状から粒子を構成する長軸を特定できない場合は、円相当径で表される。円相当径とは、円投影法で求められるものを言う。
（１）針状、紡錘状、柱状（ただし、高さが底面の最大長径より大きい）等の場合は、粒子を構成する長軸の長さ、即ち長軸長で表され、
（２）板状または柱状（ただし、厚みまたは高さが板面または底面の最大長径より小さい）の場合は、その板面または底面の最大長径で表され、
（３）球形、多面体状、不定形等であって、かつ形状から粒子を構成する長軸を特定できない場合は、円相当径で表される。円相当径とは、円投影法で求められるものを言う。
【0073】
また、粉末の平均針状比は、上記測定において粒子の短軸の長さ、即ち短軸長を測定し、各粒子の（長軸長／短軸長）の値を求め、上記５００個の粒子について得た値の算術平均を指す。ここで、特記しない限り、短軸長とは、上記粒子サイズの定義で（１）の場合は、粒子を構成する短軸の長さを、同じく（２）の場合は、厚みまたは高さを各々指し、（３）の場合は、長軸と短軸の区別がないから、（長軸長／短軸長）は、便宜上１とみなす。
そして、特記しない限り、粒子の形状が特定の場合、例えば、上記粒子サイズの定義（１）の場合、平均粒子サイズは平均長軸長であり、同定義（２）の場合、平均粒子サイズは平均板径である。同定義（３）の場合、平均粒子サイズは、平均直径（平均粒径、平均粒子径ともいう）である。
そして、特記しない限り、粒子の形状が特定の場合、例えば、上記粒子サイズの定義（１）の場合、平均粒子サイズは平均長軸長であり、同定義（２）の場合、平均粒子サイズは平均板径である。同定義（３）の場合、平均粒子サイズは、平均直径（平均粒径、平均粒子径ともいう）である。
【0074】
磁性層における強磁性粉末の含有量（充填率）は、好ましくは５０～９０質量％の範囲であり、より好ましくは６０～９０質量％の範囲である。磁性層において強磁性粉末の充填率が高いことは、記録密度向上の観点から好ましい。
【0075】
一形態では、上記磁気テープの異方性磁界Ｈｋに関して、少なくともエリアＡについて求められる異方性磁界Ｈｋが、１０ｋＯｅ以上であることが好ましく、１２ｋＯｅ以上であることがより好ましく、１４ｋＯｅ以上であることが更に好ましい。上記磁気テープに含まれるエリアＡの数が２つ以上の場合には、各エリアＡについて求められる異方性磁界Ｈｋの算術平均を、上記磁気テープのエリアＡについて求められる異方性磁界Ｈｋとする。また、上記磁気テープに含まれるエリアＡの数が２つ以上の場合、それらエリアＡについてそれぞれ求められるＨｋは、一形態では同じ値であることができ、他の一形態では異なる値であることができる。以上の点は、上記磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合のエリアＢに関しても同様である。ただし、エリアＡ用磁気テープを入手可能な場合およびエリアＢ用磁気テープを入手可能な場合については、先に記載した通りである。
記録密度向上の観点からは、データが記録される領域において異方性磁界Ｈｋが高いことは好ましい。他方、異方性磁界Ｈｋが高い領域では、スペーシング変動が生じてしまうことによって磁性層の深部までの記録がより困難になる傾向があり、高温環境での繰り返し走行において電磁変換特性低下がより生じ易いと考えられる。これに対し、上記磁気テープでは、エリアＡに加えてエリアＢが含まれることが、そのような電磁変換特性の低下を抑制することに寄与し得る。また、上記磁気テープの異方性磁界Ｈｋに関して、少なくともエリアＡについて求められる異方性磁界Ｈｋが、９０ｋＯｅ以下であることが好ましく、８０ｋＯｅ以下であることがより好ましく、７０ｋＯｅ以下であることが更に好ましい。
上記磁気テープに含まれるエリアＡの数が２つ以上の場合、一形態では一部のエリアＡにおいて、他の一形態ではすべてのエリアＡにおいて、異方性磁界Ｈｋが上記範囲であることができる。
上記磁気テープのエリアＢについて求められる異方性磁界Ｈｋは、一形態では５ｋＯｅ以上であることができ、他の一形態ではエリアＡに関して先に記載した範囲であることができる。上記磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合、一形態では一部のエリアＢにおいて、他の一形態ではすべてのエリアＢにおいて、異方性磁界Ｈｋは、例えば５ｋＯｅ以上であることができ、または、例えばエリアＡに関して先に記載した範囲であることができる。
本発明および本明細書において、上記の「異方性磁界Ｈｋ」は、磁性層の磁化困難軸方向に磁界を印加したときに、磁化が飽和する磁界をいう。異方性磁界Ｈｋは、振動試料型磁力計等の磁気特性を測定可能な公知の測定装置を用いて測定することができる。測定対象の磁気テープの測定対象エリアから測定装置に導入可能なサンプル片を切り出し、２３℃の温度のサンプル片についてＨｋを測定する。サンプル片の周囲の雰囲気温度を２３℃とすることにより、温度平衡が成り立つことによってサンプル片の温度を２３℃とすることができる。例えば、強磁性粉末として六方晶フェライト粉末および／またはε－酸化鉄粉末を含む磁性層において、磁性層の磁化困難軸方向は、面内方向である。単位に関して、１［ｋＯｅ］＝１０６／４π［Ａ／ｍ］である。
記録密度向上の観点からは、データが記録される領域において異方性磁界Ｈｋが高いことは好ましい。他方、異方性磁界Ｈｋが高い領域では、スペーシング変動が生じてしまうことによって磁性層の深部までの記録がより困難になる傾向があり、高温環境での繰り返し走行において電磁変換特性低下がより生じ易いと考えられる。これに対し、上記磁気テープでは、エリアＡに加えてエリアＢが含まれることが、そのような電磁変換特性の低下を抑制することに寄与し得る。また、上記磁気テープの異方性磁界Ｈｋに関して、少なくともエリアＡについて求められる異方性磁界Ｈｋが、９０ｋＯｅ以下であることが好ましく、８０ｋＯｅ以下であることがより好ましく、７０ｋＯｅ以下であることが更に好ましい。
上記磁気テープに含まれるエリアＡの数が２つ以上の場合、一形態では一部のエリアＡにおいて、他の一形態ではすべてのエリアＡにおいて、異方性磁界Ｈｋが上記範囲であることができる。
上記磁気テープのエリアＢについて求められる異方性磁界Ｈｋは、一形態では５ｋＯｅ以上であることができ、他の一形態ではエリアＡに関して先に記載した範囲であることができる。上記磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合、一形態では一部のエリアＢにおいて、他の一形態ではすべてのエリアＢにおいて、異方性磁界Ｈｋは、例えば５ｋＯｅ以上であることができ、または、例えばエリアＡに関して先に記載した範囲であることができる。
本発明および本明細書において、上記の「異方性磁界Ｈｋ」は、磁性層の磁化困難軸方向に磁界を印加したときに、磁化が飽和する磁界をいう。異方性磁界Ｈｋは、振動試料型磁力計等の磁気特性を測定可能な公知の測定装置を用いて測定することができる。測定対象の磁気テープの測定対象エリアから測定装置に導入可能なサンプル片を切り出し、２３℃の温度のサンプル片についてＨｋを測定する。サンプル片の周囲の雰囲気温度を２３℃とすることにより、温度平衡が成り立つことによってサンプル片の温度を２３℃とすることができる。例えば、強磁性粉末として六方晶フェライト粉末および／またはε－酸化鉄粉末を含む磁性層において、磁性層の磁化困難軸方向は、面内方向である。単位に関して、１［ｋＯｅ］＝１０６／４π［Ａ／ｍ］である。
【0076】
（結合剤）
上記磁気テープは塗布型の磁気テープであることができ、磁性層に結合剤を含むことができる。結合剤とは、１種以上の樹脂である。結合剤としては、塗布型磁気記録媒体の結合剤として通常使用される各種樹脂を用いることができる。例えば、結合剤としては、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、塩化ビニル樹脂、スチレン、アクリロニトリル、メチルメタクリレート等を共重合したアクリル樹脂、ニトロセルロース等のセルロース樹脂、エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール、ポリビニルブチラール等のポリビニルアルキラール樹脂等から選ばれる樹脂を単独で用いるか、または複数の樹脂を混合して用いることができる。これらの中で好ましいものはポリウレタン樹脂、アクリル樹脂、セルロース樹脂、および塩化ビニル樹脂である。これらの樹脂は、ホモポリマーでもよく、コポリマー（共重合体）でもよい。これらの樹脂は、後述する非磁性層および／またはバックコート層においても結合剤として使用することができる。
以上の結合剤については、特開２０１０－２４１１３号公報の段落００２８～００３１を参照できる。結合剤として使用される樹脂の平均分子量は、重量平均分子量として、例えば１０，０００以上２００，０００以下であることができる。本発明および本明細書における重量平均分子量とは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）によって、下記測定条件により測定された値をポリスチレン換算して求められる値である。後述の実施例に示す結合剤の重量平均分子量は、下記測定条件によって測定された値をポリスチレン換算して求めた値である。結合剤は、強磁性粉末１００．０質量部に対して、例えば１．０～３０．０質量部の量で使用することができる。
ＧＰＣ装置：ＨＬＣ－８１２０（東ソー社製）
カラム：ＴＳＫ ｇｅｌ Ｍｕｌｔｉｐｏｒｅ ＨＸＬ－Ｍ（東ソー社製、７．８ｍｍＩＤ（Ｉｎｎｅｒ Ｄｉａｍｅｔｅｒ）×３０．０ｃｍ）
溶離液：テトラヒドロフラン（ＴＨＦ）
上記磁気テープは塗布型の磁気テープであることができ、磁性層に結合剤を含むことができる。結合剤とは、１種以上の樹脂である。結合剤としては、塗布型磁気記録媒体の結合剤として通常使用される各種樹脂を用いることができる。例えば、結合剤としては、ポリウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリアミド樹脂、塩化ビニル樹脂、スチレン、アクリロニトリル、メチルメタクリレート等を共重合したアクリル樹脂、ニトロセルロース等のセルロース樹脂、エポキシ樹脂、フェノキシ樹脂、ポリビニルアセタール、ポリビニルブチラール等のポリビニルアルキラール樹脂等から選ばれる樹脂を単独で用いるか、または複数の樹脂を混合して用いることができる。これらの中で好ましいものはポリウレタン樹脂、アクリル樹脂、セルロース樹脂、および塩化ビニル樹脂である。これらの樹脂は、ホモポリマーでもよく、コポリマー（共重合体）でもよい。これらの樹脂は、後述する非磁性層および／またはバックコート層においても結合剤として使用することができる。
以上の結合剤については、特開２０１０－２４１１３号公報の段落００２８～００３１を参照できる。結合剤として使用される樹脂の平均分子量は、重量平均分子量として、例えば１０，０００以上２００，０００以下であることができる。本発明および本明細書における重量平均分子量とは、ゲルパーミエーションクロマトグラフィー（ＧＰＣ）によって、下記測定条件により測定された値をポリスチレン換算して求められる値である。後述の実施例に示す結合剤の重量平均分子量は、下記測定条件によって測定された値をポリスチレン換算して求めた値である。結合剤は、強磁性粉末１００．０質量部に対して、例えば１．０～３０．０質量部の量で使用することができる。
ＧＰＣ装置：ＨＬＣ－８１２０（東ソー社製）
カラム：ＴＳＫ ｇｅｌ Ｍｕｌｔｉｐｏｒｅ ＨＸＬ－Ｍ（東ソー社製、７．８ｍｍＩＤ（Ｉｎｎｅｒ Ｄｉａｍｅｔｅｒ）×３０．０ｃｍ）
溶離液：テトラヒドロフラン（ＴＨＦ）
【0077】
（硬化剤）
結合剤として使用可能な樹脂とともに硬化剤を使用することもできる。硬化剤は、一態様では加熱により硬化反応（架橋反応）が進行する化合物である熱硬化性化合物であることができ、他の一態様では光照射により硬化反応（架橋反応）が進行する光硬化性化合物であることができる。硬化剤は、磁性層形成工程の中で硬化反応が進行することにより、少なくとも一部は、結合剤等の他の成分と反応（架橋）した状態で磁性層に含まれ得る。この点は、他の層を形成するために用いられる組成物が硬化剤を含む場合に、この組成物を用いて形成される層についても同様である。好ましい硬化剤は、熱硬化性化合物であり、ポリイソシアネートが好適である。ポリイソシアネートの詳細については、特開２０１１－２１６１４９号公報の段落０１２４～０１２５を参照できる。硬化剤は、磁性層形成用組成物中に、結合剤１００．０質量部に対して例えば０～８０．０質量部、磁性層の強度向上の観点からは好ましくは５０．０～８０．０質量部の量で使用することができる。
結合剤として使用可能な樹脂とともに硬化剤を使用することもできる。硬化剤は、一態様では加熱により硬化反応（架橋反応）が進行する化合物である熱硬化性化合物であることができ、他の一態様では光照射により硬化反応（架橋反応）が進行する光硬化性化合物であることができる。硬化剤は、磁性層形成工程の中で硬化反応が進行することにより、少なくとも一部は、結合剤等の他の成分と反応（架橋）した状態で磁性層に含まれ得る。この点は、他の層を形成するために用いられる組成物が硬化剤を含む場合に、この組成物を用いて形成される層についても同様である。好ましい硬化剤は、熱硬化性化合物であり、ポリイソシアネートが好適である。ポリイソシアネートの詳細については、特開２０１１－２１６１４９号公報の段落０１２４～０１２５を参照できる。硬化剤は、磁性層形成用組成物中に、結合剤１００．０質量部に対して例えば０～８０．０質量部、磁性層の強度向上の観点からは好ましくは５０．０～８０．０質量部の量で使用することができる。
【0078】
（潤滑剤）
上記磁気テープは、磁性層および／または非磁性層に、脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の１種以上を含むことができる。また、バックコート層にも、脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の１種以上を含むことができる。
脂肪酸としては、例えば、ラウリン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、ステアリン酸、オレイン酸、リノール酸、リノレン酸、ベヘン酸、エルカ酸、エライジン酸等を挙げることができ、ステアリン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸が好ましく、ステアリン酸がより好ましい。脂肪酸は、金属塩等の塩の形態で磁性層に含まれていてもよい。
脂肪酸エステルとしては、例えば、ラウリン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、ステアリン酸、オレイン酸、リノール酸、リノレン酸、ベヘン酸、エルカ酸、エライジン酸等のエステルを挙げることができる。具体例としては、例えば、ミリスチン酸ブチル、パルミチン酸ブチル、ステアリン酸ブチル、ステアリン酸イソヘキサデシル、ネオペンチルグリコールジオレエート、ソルビタンモノステアレート、ソルビタンジステアレート、ソルビタントリステアレート、オレイン酸オレイル、ステアリン酸イソセチル、ステアリン酸イソトリデシル、ステアリン酸オクチル、ステアリン酸イソオクチル、ステアリン酸アミル、ステアリン酸ブトキシエチル等を挙げることができる。
脂肪酸アミドとしては、上記の各種脂肪酸のアミド、例えば、ラウリン酸アミド、ミリスチン酸アミド、パルミチン酸アミド、ステアリン酸アミド等を挙げることができる。
潤滑剤抽出量ＡＭａｇおよびＢＭａｇは、各エリアの磁性層を形成するために使用する組成物および／または非磁性層を形成するために使用する組成物に含まれる潤滑剤量によって調整することができる。
エリアＡを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～５．０質量部であり、好ましくは０．２～３．０質量部であり、より好ましくは０．３～２．０質量部である。エリアＡを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．５～６．０質量部であり、好ましくは１．０～４．０質量部である。エリアＡを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～１．０質量部であり、好ましくは０．２～０．７質量部であり、より好ましくは０．３～０．５質量部である。
エリアＢを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．３～１０．０質量部であり、好ましくは０．５～６．０質量部であり、より好ましくは０．７～３．０質量部である。エリアＢを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．５～１５．０質量部であり、好ましくは１．０～５．０質量部である。エリアＢを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～１．０質量部であり、好ましくは０．２～０．７質量部であり、より好ましくは０．３～０．５質量部である。
また、上記磁気テープがエリアＡにおいて非磁性支持体と磁性層との間に非磁性層を有する場合、エリアＡを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～５．０質量部であり、好ましくは０．３～３．０質量部であり、より好ましくは０．５～２．０質量部である。エリアＡを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．５～６．０質量部であり、好ましくは１．５～４．０質量部である。エリアＡを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～１．０質量部であり、好ましくは０．２～０．６質量部である。
上記磁気テープがエリアＢにおいて非磁性支持体と磁性層との間に非磁性層を有する場合、エリアＢを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．５～１０．０質量部であり、好ましくは０．７～６．０質量部であり、より好ましくは１．０～３．０質量部である。エリアＢを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．５～１５．０質量部であり、好ましくは１．０～５．０質量部である。エリアＢを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～１．０質量部であり、好ましくは０．２～０．６質量部である。
本発明および本明細書において、特記しない限り、ある成分は、１種のみ用いてもよく２種以上用いてもよい。ある成分が２種以上用いられる場合の含有量とは、これら２種以上の合計含有量をいうものとする。
上記磁気テープは、磁性層および／または非磁性層に、脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の１種以上を含むことができる。また、バックコート層にも、脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の１種以上を含むことができる。
脂肪酸としては、例えば、ラウリン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、ステアリン酸、オレイン酸、リノール酸、リノレン酸、ベヘン酸、エルカ酸、エライジン酸等を挙げることができ、ステアリン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸が好ましく、ステアリン酸がより好ましい。脂肪酸は、金属塩等の塩の形態で磁性層に含まれていてもよい。
脂肪酸エステルとしては、例えば、ラウリン酸、ミリスチン酸、パルミチン酸、ステアリン酸、オレイン酸、リノール酸、リノレン酸、ベヘン酸、エルカ酸、エライジン酸等のエステルを挙げることができる。具体例としては、例えば、ミリスチン酸ブチル、パルミチン酸ブチル、ステアリン酸ブチル、ステアリン酸イソヘキサデシル、ネオペンチルグリコールジオレエート、ソルビタンモノステアレート、ソルビタンジステアレート、ソルビタントリステアレート、オレイン酸オレイル、ステアリン酸イソセチル、ステアリン酸イソトリデシル、ステアリン酸オクチル、ステアリン酸イソオクチル、ステアリン酸アミル、ステアリン酸ブトキシエチル等を挙げることができる。
脂肪酸アミドとしては、上記の各種脂肪酸のアミド、例えば、ラウリン酸アミド、ミリスチン酸アミド、パルミチン酸アミド、ステアリン酸アミド等を挙げることができる。
潤滑剤抽出量ＡＭａｇおよびＢＭａｇは、各エリアの磁性層を形成するために使用する組成物および／または非磁性層を形成するために使用する組成物に含まれる潤滑剤量によって調整することができる。
エリアＡを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～５．０質量部であり、好ましくは０．２～３．０質量部であり、より好ましくは０．３～２．０質量部である。エリアＡを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．５～６．０質量部であり、好ましくは１．０～４．０質量部である。エリアＡを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～１．０質量部であり、好ましくは０．２～０．７質量部であり、より好ましくは０．３～０．５質量部である。
エリアＢを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．３～１０．０質量部であり、好ましくは０．５～６．０質量部であり、より好ましくは０．７～３．０質量部である。エリアＢを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．５～１５．０質量部であり、好ましくは１．０～５．０質量部である。エリアＢを形成するための磁性層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、強磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～１．０質量部であり、好ましくは０．２～０．７質量部であり、より好ましくは０．３～０．５質量部である。
また、上記磁気テープがエリアＡにおいて非磁性支持体と磁性層との間に非磁性層を有する場合、エリアＡを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～５．０質量部であり、好ましくは０．３～３．０質量部であり、より好ましくは０．５～２．０質量部である。エリアＡを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．５～６．０質量部であり、好ましくは１．５～４．０質量部である。エリアＡを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～１．０質量部であり、好ましくは０．２～０．６質量部である。
上記磁気テープがエリアＢにおいて非磁性支持体と磁性層との間に非磁性層を有する場合、エリアＢを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．５～１０．０質量部であり、好ましくは０．７～６．０質量部であり、より好ましくは１．０～３．０質量部である。エリアＢを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．５～１５．０質量部であり、好ましくは１．０～５．０質量部である。エリアＢを形成するための非磁性層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．１～１．０質量部であり、好ましくは０．２～０．６質量部である。
本発明および本明細書において、特記しない限り、ある成分は、１種のみ用いてもよく２種以上用いてもよい。ある成分が２種以上用いられる場合の含有量とは、これら２種以上の合計含有量をいうものとする。
【0079】
（添加剤）
磁性層には、必要に応じて１種以上の添加剤が含まれていてもよい。添加剤の具体例としては、上記の硬化剤が挙げられる。また、磁性層に含まれる添加剤としては、非磁性粉末（例えば無機粉末、カーボンブラック等）、分散剤、分散助剤、防黴剤、帯電防止剤、酸化防止剤等を挙げることができる。分散剤については、特開２０１２－１３３８３７号公報の段落００６１および００７１を参照できる。分散剤を非磁性層形成用組成物に添加してもよい。非磁性層形成用組成物に添加し得る分散剤については、特開２０１２－１３３８３７号公報の段落００６１を参照できる。また、磁性層に含まれ得る非磁性粉末としては、研磨剤として機能することができる非磁性粉末、磁性層表面に適度に突出する突起を形成する突起形成剤として機能することができる非磁性粉末（例えば非磁性コロイド粒子等）等が挙げられる。なお後述の実施例に示すコロイダルシリカ（シリカコロイド粒子）の平均粒子サイズは、特開２０１１－０４８８７８号公報の段落００１５に平均粒径の測定方法として記載されている方法により求められた値である。添加剤は、所望の性質に応じて市販品を適宜選択して、または公知の方法で製造して、任意の量で使用することができる。研磨剤を含む磁性層に研磨剤の分散性を向上するために使用され得る添加剤の一例としては、特開２０１３－１３１２８５号公報の段落００１２～００２２に記載の分散剤を挙げることができる。
磁性層には、必要に応じて１種以上の添加剤が含まれていてもよい。添加剤の具体例としては、上記の硬化剤が挙げられる。また、磁性層に含まれる添加剤としては、非磁性粉末（例えば無機粉末、カーボンブラック等）、分散剤、分散助剤、防黴剤、帯電防止剤、酸化防止剤等を挙げることができる。分散剤については、特開２０１２－１３３８３７号公報の段落００６１および００７１を参照できる。分散剤を非磁性層形成用組成物に添加してもよい。非磁性層形成用組成物に添加し得る分散剤については、特開２０１２－１３３８３７号公報の段落００６１を参照できる。また、磁性層に含まれ得る非磁性粉末としては、研磨剤として機能することができる非磁性粉末、磁性層表面に適度に突出する突起を形成する突起形成剤として機能することができる非磁性粉末（例えば非磁性コロイド粒子等）等が挙げられる。なお後述の実施例に示すコロイダルシリカ（シリカコロイド粒子）の平均粒子サイズは、特開２０１１－０４８８７８号公報の段落００１５に平均粒径の測定方法として記載されている方法により求められた値である。添加剤は、所望の性質に応じて市販品を適宜選択して、または公知の方法で製造して、任意の量で使用することができる。研磨剤を含む磁性層に研磨剤の分散性を向上するために使用され得る添加剤の一例としては、特開２０１３－１３１２８５号公報の段落００１２～００２２に記載の分散剤を挙げることができる。
【0080】
研磨剤としては、モース硬度８超の非磁性粉末が好ましく、モース硬度９以上の非磁性粉末がより好ましい。モース硬度の最大値は１０である。研磨剤は、無機物質の粉末であることができ、有機物質の粉末であることもできる。研磨剤は、無機または有機の酸化物の粉末または炭化物（カーバイド）の粉末であることができる。カーバイドとしては、ボロンカーバイド（例えばＢ４Ｃ）、チタンカーバイド（例えばＴｉＣ）等を挙げることができる。また、研磨剤としては、ダイヤモンドも使用可能である。研磨剤は、一形態では、無機酸化物の粉末であることが好ましい。具体的には、無機酸化物としては、アルミナ（例えばＡｌ２Ｏ３）、酸化チタン（例えばＴｉＯ２）、酸化セリウム（例えばＣｅＯ２）、酸化ジルコニウム（例えばＺｒＯ２）等を挙げることができ、中でもアルミナが好ましい。アルミナのモース硬度は約９である。アルミナ粉末については、特開２０１３－２２９０９０号公報の段落００２１も参照できる。また、研磨剤の平均粒子サイズは、０．０２～０．５０μｍの範囲であることが好ましく、０．０５～０．４０μｍの範囲であることがより好ましく、０．１２～０．３２μｍの範囲であることが更に好ましい。また、研磨剤の粒子サイズの指標としては、比表面積を用いることができる。研磨剤としては、ＢＥＴ（Ｂｒｕｎａｕｅｒ－Ｅｍｍｅｔｔ－Ｔｅｌｌｅｒ）法によって測定された比表面積（以下、「ＢＥＴ比表面積」と記載する。）が１４ｍ２／ｇ以上の研磨剤を使用することが好ましい。また、分散性の観点からは、ＢＥＴ比表面積が４０ｍ２／ｇ以下の研磨剤を使用することが好ましい。磁性層における研磨剤の含有量は、強磁性粉末１００．０質量部に対して１．０～２０．０質量部であることが好ましく、１．０～１８．０質量部であることがより好ましい。
【0081】
以上説明した磁性層は、非磁性支持体表面上に直接、または非磁性層を介して間接的に、設けることができる。
【0082】
＜非磁性層＞
次に非磁性層について説明する。上記磁気テープは、エリアＡおよび／またはエリアＢにおいて、非磁性支持体表面上に直接磁性層を有していてもよく、非磁性支持体表面上に非磁性粉末を含む非磁性層を介して磁性層を有していてもよい。非磁性層に使用される非磁性粉末は、無機物質の粉末でも有機物質の粉末でもよい。また、カーボンブラック等も使用できる。無機物質の粉末としては、例えば金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物、金属硫化物等の粉末が挙げられる。これらの非磁性粉末は、市販品として入手可能であり、公知の方法で製造することもできる。その詳細については、特開２０１１－２１６１４９号公報の段落０１４６～０１５０を参照できる。非磁性層に使用可能なカーボンブラックについては、特開２０１０－２４１１３号公報の段落００４０および００４１も参照できる。非磁性層における非磁性粉末の含有量（充填率）は、好ましくは５０～９０質量％の範囲であり、より好ましくは６０～９０質量％の範囲である。
次に非磁性層について説明する。上記磁気テープは、エリアＡおよび／またはエリアＢにおいて、非磁性支持体表面上に直接磁性層を有していてもよく、非磁性支持体表面上に非磁性粉末を含む非磁性層を介して磁性層を有していてもよい。非磁性層に使用される非磁性粉末は、無機物質の粉末でも有機物質の粉末でもよい。また、カーボンブラック等も使用できる。無機物質の粉末としては、例えば金属、金属酸化物、金属炭酸塩、金属硫酸塩、金属窒化物、金属炭化物、金属硫化物等の粉末が挙げられる。これらの非磁性粉末は、市販品として入手可能であり、公知の方法で製造することもできる。その詳細については、特開２０１１－２１６１４９号公報の段落０１４６～０１５０を参照できる。非磁性層に使用可能なカーボンブラックについては、特開２０１０－２４１１３号公報の段落００４０および００４１も参照できる。非磁性層における非磁性粉末の含有量（充填率）は、好ましくは５０～９０質量％の範囲であり、より好ましくは６０～９０質量％の範囲である。
【0083】
非磁性層は、結合剤を含むことができ、添加剤を含むこともできる。非磁性層の結合剤、添加剤等のその他詳細については、非磁性層に関する公知技術を適用できる。また、例えば、結合剤の種類および含有量、添加剤の種類および含有量等に関しては、磁性層に関する公知技術も適用できる。
【0084】
本発明および本明細書において、非磁性層には、非磁性粉末とともに、例えば不純物として、または意図的に、少量の強磁性粉末を含む実質的に非磁性な層も包含されるものとする。ここで実質的に非磁性な層とは、この層の残留磁束密度が１０ｍＴ以下であるか、保磁力が７．９６ｋＡ／ｍ（１００Ｏｅ）以下であるか、または、残留磁束密度が１０ｍＴ以下であり、かつ保磁力が７．９６ｋＡ／ｍ（１００Ｏｅ）以下である層をいうものとする。非磁性層は、残留磁束密度および保磁力を持たないことが好ましい。
【0085】
＜非磁性支持体＞
次に、非磁性支持体について説明する。非磁性支持体（以下、単に「支持体」とも記載する。）としては、二軸延伸を行ったポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリアミド、ポリアミドイミド、芳香族ポリアミド等の公知のものが挙げられる。これらの中でもポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートおよびポリアミドが好ましい。これらの支持体には、あらかじめコロナ放電、プラズマ処理、易接着処理、加熱処理等を行ってもよい。先に記載したように、エリアＡの磁性層表面ＲａおよびエリアＢの磁性層表面Ｒａは、それぞれ、非磁性支持体の磁性層が設けられる側の表面の表面形状（例えば中心線平均表面粗さＲａ）によって制御することができる。この点に関し、例えば、エリアＡにおいて、非磁性支持体の磁性層を有する側の表面の中心線平均表面粗さＲａは、エリアＡの磁性層表面Ｒａについて先に記載した範囲であることができる。エリアＢにおいては、非磁性支持体の磁性層を有する側の表面の中心線平均表面粗さＲａは、２．６ｎｍ以上であることが好ましく、２．８ｎｍ以上であることがより好ましく、３．０ｎｍ以上であることが更に好ましい。また、エリアＢにおいて、非磁性支持体の磁性層を有する側の表面の中心線平均表面粗さＲａは、１５．０ｎｍ以下であることが好ましく、１３．０ｎｍ以下であることがより好ましく、１０．０ｎｍ以下であることが更に好ましい。
次に、非磁性支持体について説明する。非磁性支持体（以下、単に「支持体」とも記載する。）としては、二軸延伸を行ったポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリアミド、ポリアミドイミド、芳香族ポリアミド等の公知のものが挙げられる。これらの中でもポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレートおよびポリアミドが好ましい。これらの支持体には、あらかじめコロナ放電、プラズマ処理、易接着処理、加熱処理等を行ってもよい。先に記載したように、エリアＡの磁性層表面ＲａおよびエリアＢの磁性層表面Ｒａは、それぞれ、非磁性支持体の磁性層が設けられる側の表面の表面形状（例えば中心線平均表面粗さＲａ）によって制御することができる。この点に関し、例えば、エリアＡにおいて、非磁性支持体の磁性層を有する側の表面の中心線平均表面粗さＲａは、エリアＡの磁性層表面Ｒａについて先に記載した範囲であることができる。エリアＢにおいては、非磁性支持体の磁性層を有する側の表面の中心線平均表面粗さＲａは、２．６ｎｍ以上であることが好ましく、２．８ｎｍ以上であることがより好ましく、３．０ｎｍ以上であることが更に好ましい。また、エリアＢにおいて、非磁性支持体の磁性層を有する側の表面の中心線平均表面粗さＲａは、１５．０ｎｍ以下であることが好ましく、１３．０ｎｍ以下であることがより好ましく、１０．０ｎｍ以下であることが更に好ましい。
【0086】
＜バックコート層＞
上記磁気テープは、非磁性支持体の磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末を含むバックコート層を有する。即ち、エリアＡおよびエリアＢには、バックコート層が含まれる。バックコート層には、カーボンブラックおよび無機粉末のいずれか一方または両方が含有されていることが好ましい。バックコート層は、結合剤を含むことができ、添加剤を含むこともできる。バックコート層の結合剤および添加剤については、バックコート層に関する公知技術を適用することができ、磁性層および／または非磁性層の処方に関する公知技術を適用することもできる。例えば、特開２００６－３３１６２５号公報の段落００１８～００２０および米国特許第７，０２９，７７４号明細書の第４欄６５行目～第５欄３８行目の記載を、バックコート層について参照できる。
上記磁気テープは、非磁性支持体の磁性層を有する表面側とは反対の表面側に、非磁性粉末を含むバックコート層を有する。即ち、エリアＡおよびエリアＢには、バックコート層が含まれる。バックコート層には、カーボンブラックおよび無機粉末のいずれか一方または両方が含有されていることが好ましい。バックコート層は、結合剤を含むことができ、添加剤を含むこともできる。バックコート層の結合剤および添加剤については、バックコート層に関する公知技術を適用することができ、磁性層および／または非磁性層の処方に関する公知技術を適用することもできる。例えば、特開２００６－３３１６２５号公報の段落００１８～００２０および米国特許第７，０２９，７７４号明細書の第４欄６５行目～第５欄３８行目の記載を、バックコート層について参照できる。
【0087】
上記磁気テープは、エリアＢのバックコート層に、脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の１種以上を含むことができる。比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋを２．０以上に制御するための手段としては、バックコート層を２層設け、上層バックコート層において結合剤が占める割合を高くすることを挙げることができる。ここで、「上層バックコート層」とは、２層のバックコート層において、表層側に位置するバックコート層を言うものとする。これに対し、２層のバックコート層の中で、非磁性支持体側に位置するバックコート層を「下層バックコート層」と呼ぶ。上層バックコート層において結合剤が占める割合を高くすることによってバックコート層の空隙を少なくすることがきるため、磁性層表面とバックコート層表面とが接触した状態で、磁性層側からバックコート層へ潤滑剤が移動することを抑制できるか、移動量を低減できると考えられる。
また、エリアＢのバックコート層の潤滑剤抽出量ＢＢａｃｋは、例えば、エリアＢのバックコート層を形成するために使用する組成物に含まれる潤滑剤量によって調整することができる。
エリアＢを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１０．０質量部であり、好ましくは０．０～５．０質量部であり、より好ましくは０．０～２．０質量部である。エリアＢを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１０．０質量部であり、好ましくは０．０～３．０質量部である。エリアＢを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１．０質量部であり、好ましくは０．０～０．７質量部であり、より好ましくは０．０～０．４質量部である。
また、上記磁気テープは、エリアＡのバックコート層に、脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の１種以上を含むことができる。
エリアＡを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１０．０質量部であり、好ましくは０．０～５．０質量部であり、より好ましくは０．０～２．０質量部である。エリアＡを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１０．０質量部であり、好ましくは０．０～３．０質量部である。エリアＡを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１．０質量部であり、好ましくは０．０～０．７質量部であり、より好ましくは０．０～０．４質量部である。
また、エリアＢのバックコート層の潤滑剤抽出量ＢＢａｃｋは、例えば、エリアＢのバックコート層を形成するために使用する組成物に含まれる潤滑剤量によって調整することができる。
エリアＢを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１０．０質量部であり、好ましくは０．０～５．０質量部であり、より好ましくは０．０～２．０質量部である。エリアＢを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１０．０質量部であり、好ましくは０．０～３．０質量部である。エリアＢを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１．０質量部であり、好ましくは０．０～０．７質量部であり、より好ましくは０．０～０．４質量部である。
また、上記磁気テープは、エリアＡのバックコート層に、脂肪酸、脂肪酸エステルおよび脂肪酸アミドからなる群から選択される成分の１種以上を含むことができる。
エリアＡを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１０．０質量部であり、好ましくは０．０～５．０質量部であり、より好ましくは０．０～２．０質量部である。エリアＡを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸エステル含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１０．０質量部であり、好ましくは０．０～３．０質量部である。エリアＡを形成するためのバックコート層形成用組成物における脂肪酸アミド含有量は、非磁性粉末１００．０質量部あたり、例えば０．０～１．０質量部であり、好ましくは０．０～０．７質量部であり、より好ましくは０．０～０．４質量部である。
【0088】
＜各種厚み＞
磁気テープの厚み（総厚）に関して、近年の情報量の莫大な増大に伴い、磁気テープには記録容量を高めること（高容量化）が求められている。高容量化のための手段としては、磁気テープの厚みを薄くし（以下、「薄型化」とも記載する。）、磁気テープカートリッジ１巻あたりに収容される磁気テープ長を増すことが挙げられる。この点から、上記磁気テープの少なくともエリアＡの厚み（総厚）は、５．６μｍ以下であることが好ましく、５．５μｍ以下であることがより好ましく、５．４μｍ以下であることがより好ましく、５．３μｍ以下であることが更に好ましく、５．２μｍ以下であることが一層好ましい。また、ハンドリングの容易性の観点からは、磁気テープの厚みは３．０μｍ以上であることが好ましく、３．５μｍ以上であることがより好ましい。
エリアＢについて、厚み（総厚）は、一形態では、上記範囲であることができる。他の一形態では、エリアＢの厚みは、上記範囲を超える厚み（例えば５．７μｍ～７．０μｍ）であることができる。エリアＡとエリアＢの厚みは、一形態では同じであることができ、他の一形態では異なることができる。
上記磁気テープに含まれるエリアＡの数が２つ以上の場合、それらエリアＡの厚み（総厚）は、一形態では同じ値であることができ、他の一形態では異なる値であることができる。上記磁気テープに含まれるエリアＡの数が２つ以上の場合、それらエリアＡにおける磁性層の厚みは、一形態では同じ値であることができ、他の一形態では異なる値であることができる。この点は、他の層についても同様である。また、以上の点は、上記磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合のエリアＢの厚み（総厚）および各種層の厚みについても同様である。
磁気テープの厚み（総厚）に関して、近年の情報量の莫大な増大に伴い、磁気テープには記録容量を高めること（高容量化）が求められている。高容量化のための手段としては、磁気テープの厚みを薄くし（以下、「薄型化」とも記載する。）、磁気テープカートリッジ１巻あたりに収容される磁気テープ長を増すことが挙げられる。この点から、上記磁気テープの少なくともエリアＡの厚み（総厚）は、５．６μｍ以下であることが好ましく、５．５μｍ以下であることがより好ましく、５．４μｍ以下であることがより好ましく、５．３μｍ以下であることが更に好ましく、５．２μｍ以下であることが一層好ましい。また、ハンドリングの容易性の観点からは、磁気テープの厚みは３．０μｍ以上であることが好ましく、３．５μｍ以上であることがより好ましい。
エリアＢについて、厚み（総厚）は、一形態では、上記範囲であることができる。他の一形態では、エリアＢの厚みは、上記範囲を超える厚み（例えば５．７μｍ～７．０μｍ）であることができる。エリアＡとエリアＢの厚みは、一形態では同じであることができ、他の一形態では異なることができる。
上記磁気テープに含まれるエリアＡの数が２つ以上の場合、それらエリアＡの厚み（総厚）は、一形態では同じ値であることができ、他の一形態では異なる値であることができる。上記磁気テープに含まれるエリアＡの数が２つ以上の場合、それらエリアＡにおける磁性層の厚みは、一形態では同じ値であることができ、他の一形態では異なる値であることができる。この点は、他の層についても同様である。また、以上の点は、上記磁気テープに含まれるエリアＢの数が２つ以上の場合のエリアＢの厚み（総厚）および各種層の厚みについても同様である。
【0089】
エリアＡにおいて、非磁性支持体の厚みは、好ましくは３．０～５．０μｍである。
磁性層の厚みは、用いる磁気ヘッドの飽和磁化量、ヘッドギャップ長、記録信号の帯域等により最適化することができる。エリアＡにおいて、磁性層の厚みは、例えば０．０１μｍ～０．１５μｍであり、高密度記録化の観点から、好ましくは０．０２μｍ～０．１２μｍであり、より好ましくは０．０３μｍ～０．１μｍである。磁性層は少なくとも一層あればよく、磁性層を異なる磁気特性を有する二層以上に分離してもかまわず、公知の重層磁性層に関する構成が適用できる。２層以上に分離する場合の磁性層の厚みとは、これらの層の合計厚みとする。
エリアＡにおいて、非磁性層の厚みは、例えば０．１～２．０μｍであり、０．１～１．５μｍであることが好ましく、０．１～１．０μｍであることがより好ましい。
エリアＡにおいて、バックコート層の厚みは、０．９μｍ以下が好ましく、０．１～０．７μｍが更に好ましい。
エリアＢにおける各種厚みも、上記の範囲とすることができる。エリアＢがバックコート層を２層以上有する場合、バックコート層の厚みとは、これらの層の合計厚みとする。一形態では、エリアＢの非磁性層の厚みは、エリアＡの非磁性層の厚みより厚いことが好ましい。これは、非磁性層を厚くすることによって、より多くの潤滑剤を非磁性層に含有させることができ、その結果、エリアＢから供給される潤滑剤量を増量させることができると考えられるためである。
磁性層の厚みは、用いる磁気ヘッドの飽和磁化量、ヘッドギャップ長、記録信号の帯域等により最適化することができる。エリアＡにおいて、磁性層の厚みは、例えば０．０１μｍ～０．１５μｍであり、高密度記録化の観点から、好ましくは０．０２μｍ～０．１２μｍであり、より好ましくは０．０３μｍ～０．１μｍである。磁性層は少なくとも一層あればよく、磁性層を異なる磁気特性を有する二層以上に分離してもかまわず、公知の重層磁性層に関する構成が適用できる。２層以上に分離する場合の磁性層の厚みとは、これらの層の合計厚みとする。
エリアＡにおいて、非磁性層の厚みは、例えば０．１～２．０μｍであり、０．１～１．５μｍであることが好ましく、０．１～１．０μｍであることがより好ましい。
エリアＡにおいて、バックコート層の厚みは、０．９μｍ以下が好ましく、０．１～０．７μｍが更に好ましい。
エリアＢにおける各種厚みも、上記の範囲とすることができる。エリアＢがバックコート層を２層以上有する場合、バックコート層の厚みとは、これらの層の合計厚みとする。一形態では、エリアＢの非磁性層の厚みは、エリアＡの非磁性層の厚みより厚いことが好ましい。これは、非磁性層を厚くすることによって、より多くの潤滑剤を非磁性層に含有させることができ、その結果、エリアＢから供給される潤滑剤量を増量させることができると考えられるためである。
【0090】
磁性層の厚み等の各種厚みは、以下の方法により求めることができる。
磁気テープの厚み方向の断面を、イオンビームにより露出させた後、露出した断面において走査型電子顕微鏡による断面観察を行う。断面観察において任意の２箇所において求められた厚みの算術平均として、各種厚みを求めることができる。または、各種厚みは、製造条件等から算出される設計厚みとして求めることもできる。
磁気テープの厚み方向の断面を、イオンビームにより露出させた後、露出した断面において走査型電子顕微鏡による断面観察を行う。断面観察において任意の２箇所において求められた厚みの算術平均として、各種厚みを求めることができる。または、各種厚みは、製造条件等から算出される設計厚みとして求めることもできる。
【0091】
＜製造工程＞
（各層形成用組成物の調製）
磁性層、非磁性層またはバックコート層を形成するための組成物を調製する工程は、通常、少なくとも混練工程、分散工程、およびこれらの工程の前後に必要に応じて設けた混合工程を含むことができる。個々の工程はそれぞれ二段階以上に分かれていてもかまわない。各層形成用組成物の調製に用いられる成分は、どの工程の最初または途中で添加してもかまわない。溶媒としては、塗布型磁気記録媒体の製造に通常用いられる各種溶媒の１種または２種以上を用いることができる。溶媒については、例えば特開２０１１－２１６１４９号公報の段落０１５３を参照できる。また、個々の成分を２つ以上の工程で分割して添加してもかまわない。例えば、結合剤を混練工程、分散工程および分散後の粘度調整のための混合工程で分割して投入してもよい。上記磁気テープを製造するためには、公知の製造技術を各種工程において用いることができる。混練工程ではオープンニーダ、連続ニーダ、加圧ニーダ、エクストルーダ等の強い混練力をもつものを使用することが好ましい。混練処理の詳細については、特開平１－１０６３３８号公報および特開平１－７９２７４号公報を参照できる。分散機は公知のものを使用することができる。各層形成用組成物を調製する任意の段階において、公知の方法によってろ過を行ってもよい。ろ過は、例えばフィルタろ過によって行うことができる。ろ過に用いるフィルタとしては、例えば孔径０．０１～３μｍのフィルタ（例えばガラス繊維製フィルタ、ポリプロピレン製フィルタ等）を用いることができる。
（各層形成用組成物の調製）
磁性層、非磁性層またはバックコート層を形成するための組成物を調製する工程は、通常、少なくとも混練工程、分散工程、およびこれらの工程の前後に必要に応じて設けた混合工程を含むことができる。個々の工程はそれぞれ二段階以上に分かれていてもかまわない。各層形成用組成物の調製に用いられる成分は、どの工程の最初または途中で添加してもかまわない。溶媒としては、塗布型磁気記録媒体の製造に通常用いられる各種溶媒の１種または２種以上を用いることができる。溶媒については、例えば特開２０１１－２１６１４９号公報の段落０１５３を参照できる。また、個々の成分を２つ以上の工程で分割して添加してもかまわない。例えば、結合剤を混練工程、分散工程および分散後の粘度調整のための混合工程で分割して投入してもよい。上記磁気テープを製造するためには、公知の製造技術を各種工程において用いることができる。混練工程ではオープンニーダ、連続ニーダ、加圧ニーダ、エクストルーダ等の強い混練力をもつものを使用することが好ましい。混練処理の詳細については、特開平１－１０６３３８号公報および特開平１－７９２７４号公報を参照できる。分散機は公知のものを使用することができる。各層形成用組成物を調製する任意の段階において、公知の方法によってろ過を行ってもよい。ろ過は、例えばフィルタろ過によって行うことができる。ろ過に用いるフィルタとしては、例えば孔径０．０１～３μｍのフィルタ（例えばガラス繊維製フィルタ、ポリプロピレン製フィルタ等）を用いることができる。
【0092】
（塗布工程）
磁性層は、磁性層形成用組成物を、非磁性支持体表面上に直接塗布するか、または非磁性層形成用組成物と逐次もしくは同時に重層塗布することにより形成することができる。バックコート層は、バックコート層形成用組成物を、非磁性支持体の非磁性層および／または磁性層を有する（または非磁性層および／または磁性層が追って設けられる）表面とは反対側の表面に塗布することにより形成することができる。各層形成のための塗布の詳細については、特開２０１０－２３１８４３号公報の段落００６６を参照できる。
磁性層は、磁性層形成用組成物を、非磁性支持体表面上に直接塗布するか、または非磁性層形成用組成物と逐次もしくは同時に重層塗布することにより形成することができる。バックコート層は、バックコート層形成用組成物を、非磁性支持体の非磁性層および／または磁性層を有する（または非磁性層および／または磁性層が追って設けられる）表面とは反対側の表面に塗布することにより形成することができる。各層形成のための塗布の詳細については、特開２０１０－２３１８４３号公報の段落００６６を参照できる。
【0093】
（その他の工程）
磁気テープの製造のためのその他の各種工程については、公知技術を適用できる。各種工程については、例えば特開２０１０－２３１８４３号公報の段落００６７～００７０を参照できる。例えば、磁性層形成用組成物の塗布層には、この塗布層が湿潤状態にあるうちに、配向ゾーンにおいて配向処理を行うことができる。配向処理については、特開２０１０－２４１１３号公報の段落００５２の記載をはじめとする各種公知技術を適用することができる。例えば、垂直配向処理は、異極対向磁石を用いる方法等の公知の方法によって行うことができる。配向ゾーンでは、乾燥風の温度、風量および／または配向ゾーンにおける搬送速度によって塗布層の乾燥速度を制御することができる。また、配向ゾーンに搬送する前に塗布層を予備乾燥させてもよい。
各種工程を経ることによって、長尺状の磁気テープ原反を得ることができる。得られた磁気テープ原反は、公知の裁断機によって、通常、磁気テープカートリッジに巻装すべき磁気テープの幅に裁断（スリット）される。上記の幅は規格にしたがい決定され、通常、１／２インチである。
スリットして得られた磁気テープにおいて、磁性層の少なくとも一部にサーボパターンを形成することができる。サーボパターンについて、詳細は後述する。
磁気テープの製造のためのその他の各種工程については、公知技術を適用できる。各種工程については、例えば特開２０１０－２３１８４３号公報の段落００６７～００７０を参照できる。例えば、磁性層形成用組成物の塗布層には、この塗布層が湿潤状態にあるうちに、配向ゾーンにおいて配向処理を行うことができる。配向処理については、特開２０１０－２４１１３号公報の段落００５２の記載をはじめとする各種公知技術を適用することができる。例えば、垂直配向処理は、異極対向磁石を用いる方法等の公知の方法によって行うことができる。配向ゾーンでは、乾燥風の温度、風量および／または配向ゾーンにおける搬送速度によって塗布層の乾燥速度を制御することができる。また、配向ゾーンに搬送する前に塗布層を予備乾燥させてもよい。
各種工程を経ることによって、長尺状の磁気テープ原反を得ることができる。得られた磁気テープ原反は、公知の裁断機によって、通常、磁気テープカートリッジに巻装すべき磁気テープの幅に裁断（スリット）される。上記の幅は規格にしたがい決定され、通常、１／２インチである。
スリットして得られた磁気テープにおいて、磁性層の少なくとも一部にサーボパターンを形成することができる。サーボパターンについて、詳細は後述する。
【0094】
（熱処理）
一形態では、上記磁気テープは、以下のような熱処理を経て製造された磁気テープであることができる。また、他の一形態では、上記磁気テープは、以下のような熱処理を行うことなく製造された磁気テープであることができる。また、一形態では、エリアＡおよびエリアＢのいずれか一方の少なくとも一部を以下のような熱処理を経て製造し、かつ他の部分は以下のような熱処理を行うことなく製造することができる。
一形態では、上記磁気テープは、以下のような熱処理を経て製造された磁気テープであることができる。また、他の一形態では、上記磁気テープは、以下のような熱処理を行うことなく製造された磁気テープであることができる。また、一形態では、エリアＡおよびエリアＢのいずれか一方の少なくとも一部を以下のような熱処理を経て製造し、かつ他の部分は以下のような熱処理を行うことなく製造することができる。
【0095】
熱処理としては、スリットして規格にしたがい決定された幅に裁断された磁気テープを、芯状部材に巻き付け、巻き付けた状態で行う熱処理を行うことができる。
【0096】
一形態では、熱処理用の芯状部材（以下、「熱処理用巻芯」と呼ぶ。）に磁気テープを巻き付けた状態で上記熱処理を行い、熱処理後の磁気テープを磁気テープカートリッジのリール等の別のリールに巻き取ることができる。
熱処理用巻芯は、金属製、樹脂製、紙製等であることができる。熱処理用巻芯の材料は、スポーキング等の巻き故障の発生を抑制する観点から、剛性が高い材料であることが好ましい。この点から、熱処理用巻芯は、金属製または樹脂製であることが好ましい。また、剛性の指標として、熱処理用巻芯の材料の曲げ弾性率は０．２ＧＰａ（ギガパスカル）以上が好ましく、０．３ＧＰａ以上がより好ましい。他方、高剛性の材料は一般に高価であるため、巻き故障の発生を抑制できる剛性を超える剛性を有する材料の熱処理用巻芯を用いることはコスト増につながる。以上の点を考慮すると、熱処理用巻芯の材料の曲げ弾性率は２５０ＧＰａ以下が好ましい。曲げ弾性率は、ＩＳＯ（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｏｒｇａｎｉｚａｔｉｏｎ ｆｏｒ Ｓｔａｎｄａｒｄｉｚａｔｉｏｎ）１７８にしたがい測定される値であり、各種材料の曲げ弾性率は公知である。また、熱処理用巻芯は中実または中空の芯状部材であることができる。中空状の場合、剛性を維持する観点から、肉厚は２ｍｍ以上であることが好ましい。また、熱処理用巻芯は、フランジを有していてもよく、有さなくてもよい。
熱処理用巻芯に巻き付ける磁気テープとして最終的に得るべき長さ（以下、「最終長」と呼ぶ。）以上の磁気テープを準備し、この磁気テープを熱処理用巻芯に巻き付けた状態で熱処理環境下に置くことにより熱処理を行うことが好ましい。熱処理用巻芯に巻き付ける磁気テープ長は最終長以上であり、熱処理用巻芯等への巻き取りの容易性の観点からは、「最終長＋α」とすることが好ましい。このαは、上記の巻き取りの容易性の観点からは５ｍ以上であることが好ましい。熱処理用巻芯への巻き取り時のテンションは、０．１Ｎ（ニュートン）以上が好ましい。また、過度な変形が発生することを抑制する観点から、熱処理用巻芯への巻き取り時のテンションは１．５Ｎ以下が好ましく、１．０Ｎ以下がより好ましい。熱処理用巻芯の外径は、巻き付けの容易性およびコイリング（長手方向のカール）の抑制の観点から、２０ｍｍ以上が好ましく、４０ｍｍ以上がより好ましい。また、熱処理用巻芯の外径は１００ｍｍ以下が好ましく、９０ｍｍ以下がより好ましい。熱処理用巻芯の幅は、この巻芯に巻き付ける磁気テープの幅以上であればよい。また、熱処理後、熱処理用巻芯から磁気テープを取り外す際には、取り外す操作中に意図しないテープ変形が生じることを抑制するために、磁気テープおよび熱処理用巻芯が十分冷却された後に磁気テープを熱処理用巻芯から取り外すことが好ましい。取り外した磁気テープは、一度別の巻芯（「一時巻き取り用巻芯」と呼ぶ。）に巻き取り、その後、一時巻き取り用巻芯から別のリール（例えば外径は４０～５０ｍｍ程度）へ磁気テープを巻き取ることが好ましい。これにより、熱処理時の磁気テープの熱処理用巻芯に対する内側と外側との関係を維持して、磁気テープカートリッジのリール等へ磁気テープを巻き取ることができる。一時巻き取り用巻芯の詳細およびこの巻芯へ磁気テープを巻き取る際のテンションについては、熱処理用巻芯に関する先の記載を参照できる。上記熱処理を「最終長＋α」の長さの磁気テープに施す形態においては、任意の段階で、「＋α」の長さ分を切り取ればよい。例えば、一形態では、一時巻き取り用巻芯から別のリールへ最終長分の磁気テープを巻き取り、残りの「＋α」の長さ分を切り取ればよい。切り取って廃棄される部分を少なくする観点からは、上記αは２０ｍ以下であることが好ましい。
熱処理用巻芯は、金属製、樹脂製、紙製等であることができる。熱処理用巻芯の材料は、スポーキング等の巻き故障の発生を抑制する観点から、剛性が高い材料であることが好ましい。この点から、熱処理用巻芯は、金属製または樹脂製であることが好ましい。また、剛性の指標として、熱処理用巻芯の材料の曲げ弾性率は０．２ＧＰａ（ギガパスカル）以上が好ましく、０．３ＧＰａ以上がより好ましい。他方、高剛性の材料は一般に高価であるため、巻き故障の発生を抑制できる剛性を超える剛性を有する材料の熱処理用巻芯を用いることはコスト増につながる。以上の点を考慮すると、熱処理用巻芯の材料の曲げ弾性率は２５０ＧＰａ以下が好ましい。曲げ弾性率は、ＩＳＯ（Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｏｒｇａｎｉｚａｔｉｏｎ ｆｏｒ Ｓｔａｎｄａｒｄｉｚａｔｉｏｎ）１７８にしたがい測定される値であり、各種材料の曲げ弾性率は公知である。また、熱処理用巻芯は中実または中空の芯状部材であることができる。中空状の場合、剛性を維持する観点から、肉厚は２ｍｍ以上であることが好ましい。また、熱処理用巻芯は、フランジを有していてもよく、有さなくてもよい。
熱処理用巻芯に巻き付ける磁気テープとして最終的に得るべき長さ（以下、「最終長」と呼ぶ。）以上の磁気テープを準備し、この磁気テープを熱処理用巻芯に巻き付けた状態で熱処理環境下に置くことにより熱処理を行うことが好ましい。熱処理用巻芯に巻き付ける磁気テープ長は最終長以上であり、熱処理用巻芯等への巻き取りの容易性の観点からは、「最終長＋α」とすることが好ましい。このαは、上記の巻き取りの容易性の観点からは５ｍ以上であることが好ましい。熱処理用巻芯への巻き取り時のテンションは、０．１Ｎ（ニュートン）以上が好ましい。また、過度な変形が発生することを抑制する観点から、熱処理用巻芯への巻き取り時のテンションは１．５Ｎ以下が好ましく、１．０Ｎ以下がより好ましい。熱処理用巻芯の外径は、巻き付けの容易性およびコイリング（長手方向のカール）の抑制の観点から、２０ｍｍ以上が好ましく、４０ｍｍ以上がより好ましい。また、熱処理用巻芯の外径は１００ｍｍ以下が好ましく、９０ｍｍ以下がより好ましい。熱処理用巻芯の幅は、この巻芯に巻き付ける磁気テープの幅以上であればよい。また、熱処理後、熱処理用巻芯から磁気テープを取り外す際には、取り外す操作中に意図しないテープ変形が生じることを抑制するために、磁気テープおよび熱処理用巻芯が十分冷却された後に磁気テープを熱処理用巻芯から取り外すことが好ましい。取り外した磁気テープは、一度別の巻芯（「一時巻き取り用巻芯」と呼ぶ。）に巻き取り、その後、一時巻き取り用巻芯から別のリール（例えば外径は４０～５０ｍｍ程度）へ磁気テープを巻き取ることが好ましい。これにより、熱処理時の磁気テープの熱処理用巻芯に対する内側と外側との関係を維持して、磁気テープカートリッジのリール等へ磁気テープを巻き取ることができる。一時巻き取り用巻芯の詳細およびこの巻芯へ磁気テープを巻き取る際のテンションについては、熱処理用巻芯に関する先の記載を参照できる。上記熱処理を「最終長＋α」の長さの磁気テープに施す形態においては、任意の段階で、「＋α」の長さ分を切り取ればよい。例えば、一形態では、一時巻き取り用巻芯から別のリールへ最終長分の磁気テープを巻き取り、残りの「＋α」の長さ分を切り取ればよい。切り取って廃棄される部分を少なくする観点からは、上記αは２０ｍ以下であることが好ましい。
【0097】
上記のように芯状部材に巻き付けた状態で行われる熱処理の具体的形態について、以下に説明する。
熱処理を行う雰囲気温度（以下、「熱処理温度」と呼ぶ。）は、４０℃以上が好ましく、５０℃以上がより好ましい。一方、過度な変形を抑制する観点からは、熱処理温度は７５℃以下が好ましく、７０℃以下がより好ましく、６５℃以下が更に好ましい。
熱処理を行う雰囲気の重量絶対湿度は、０．１ｇ／ｋｇ Ｄｒｙ ａｉｒ以上が好ましく、１ｇ／ｋｇ Ｄｒｙ ａｉｒ以上がより好ましい。重量絶対湿度が上記範囲の雰囲気は、水分を低減するための特殊な装置を用いずに準備できるため好ましい。一方、重量絶対湿度は、結露が生じて作業性が低下することを抑制する観点からは、７０ｇ／ｋｇ Ｄｒｙ ａｉｒ以下が好ましく、６６ｇ／ｋｇ Ｄｒｙ ａｉｒ以下がより好ましい。熱処理時間は、０．３時間以上が好ましく、０．５時間以上がより好ましい。また、熱処理時間は、生産効率の観点からは、４８時間以下が好ましい。
熱処理を行う雰囲気温度（以下、「熱処理温度」と呼ぶ。）は、４０℃以上が好ましく、５０℃以上がより好ましい。一方、過度な変形を抑制する観点からは、熱処理温度は７５℃以下が好ましく、７０℃以下がより好ましく、６５℃以下が更に好ましい。
熱処理を行う雰囲気の重量絶対湿度は、０．１ｇ／ｋｇ Ｄｒｙ ａｉｒ以上が好ましく、１ｇ／ｋｇ Ｄｒｙ ａｉｒ以上がより好ましい。重量絶対湿度が上記範囲の雰囲気は、水分を低減するための特殊な装置を用いずに準備できるため好ましい。一方、重量絶対湿度は、結露が生じて作業性が低下することを抑制する観点からは、７０ｇ／ｋｇ Ｄｒｙ ａｉｒ以下が好ましく、６６ｇ／ｋｇ Ｄｒｙ ａｉｒ以下がより好ましい。熱処理時間は、０．３時間以上が好ましく、０．５時間以上がより好ましい。また、熱処理時間は、生産効率の観点からは、４８時間以下が好ましい。
【0098】
（サーボパターンの形成）
「サーボパターンの形成」は、「サーボ信号の記録」ということもできる。以下に、サーボパターンの形成について説明する。
「サーボパターンの形成」は、「サーボ信号の記録」ということもできる。以下に、サーボパターンの形成について説明する。
【0099】
サーボパターンは、通常、磁気テープの長手方向に沿って形成される。サーボ信号を利用する制御（サーボ制御）の方式としては、タイミングベースサーボ（ＴＢＳ）、アンプリチュードサーボ、周波数サーボ等が挙げられる。
【0100】
ＥＣＭＡ（Ｅｕｒｏｐｅａｎ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ Ｍａｎｕｆａｃｔｕｒｅｒｓ Ａｓｓｏｃｉａｔｉｏｎ）―３１９（Ｊｕｎｅ ２００１）に示される通り、ＬＴＯ（Ｌｉｎｅａｒ Ｔａｐｅ－Ｏｐｅｎ）規格に準拠した磁気テープ（一般に「ＬＴＯテープ」と呼ばれる。）では、タイミングベースサーボ方式が採用されている。このタイミングベースサーボ方式において、サーボパターンは、互いに非平行な一対の磁気ストライプ（「サーボストライプ」とも呼ばれる。）が、磁気テープの長手方向に連続的に複数配置されることによって構成されている。本発明および本明細書において、「タイミングベースサーボパターン」とは、タイミングベースサーボ方式のサーボシステムにおけるヘッドトラッキングを可能とするサーボパターンをいう。上記のように、サーボパターンが互いに非平行な一対の磁気ストライプにより構成される理由は、サーボパターン上を通過するサーボ信号読み取り素子に、その通過位置を教えるためである。具体的には、上記の一対の磁気ストライプは、その間隔が磁気テープの幅方向に沿って連続的に変化するように形成されており、サーボ信号読み取り素子がその間隔を読み取ることによって、サーボパターンとサーボ信号読み取り素子との相対位置を知ることができる。この相対位置の情報が、データトラックのトラッキングを可能にする。そのために、サーボパターン上には、通常、磁気テープの幅方向に沿って、複数のサーボトラックが設定されている。
【0101】
サーボバンドは、磁気テープの長手方向に連続するサーボパターンにより構成される。このサーボバンドは、通常、磁気テープに複数本設けられる。例えば、ＬＴＯテープにおいて、その数は５本である。隣接する２本のサーボバンドに挟まれた領域が、データバンドである。データバンドは、複数のデータトラックで構成されており、各データトラックは、各サーボトラックに対応している。
【0102】
また、一形態では、特開２００４－３１８９８３号公報に示されているように、各サーボバンドには、サーボバンドの番号を示す情報（「サーボバンドＩＤ（ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ）」または「ＵＤＩＭ（Ｕｎｉｑｕｅ ＤａｔａＢａｎｄ Ｉｄｅｎｔｉｆｉｃａｔｉｏｎ Ｍｅｔｈｏｄ）情報」とも呼ばれる。）が埋め込まれている。このサーボバンドＩＤは、サーボバンド中に複数ある一対のサーボストライプのうちの特定のものを、その位置が磁気テープの長手方向に相対的に変位するように、ずらすことによって記録されている。具体的には、複数ある一対のサーボストライプのうちの特定のもののずらし方を、サーボバンド毎に変えている。これにより、記録されたサーボバンドＩＤはサーボバンド毎にユニークなものとなるため、一つのサーボバンドをサーボ信号読み取り素子で読み取るだけで、そのサーボバンドを一意に（ｕｎｉｑｕｅｌｙ）特定することができる。
【0103】
なお、サーボバンドを一意に特定する方法には、ＥＣＭＡ―３１９（Ｊｕｎｅ ２００１）に示されているようなスタッガード方式を用いたものもある。このスタッガード方式では、磁気テープの長手方向に連続的に複数配置された、互いに非平行な一対の磁気ストライプ（サーボストライプ）の群を、サーボバンド毎に磁気テープの長手方向にずらすように記録する。隣接するサーボバンド間における、このずらし方の組み合わせは、磁気テープ全体においてユニークなものとされているため、２つのサーボ信号読み取り素子によりサーボパターンを読み取る際に、サーボバンドを一意に特定することも可能となっている。
【0104】
また、各サーボバンドには、ＥＣＭＡ―３１９（Ｊｕｎｅ ２００１）に示されている通り、通常、磁気テープの長手方向の位置を示す情報（「ＬＰＯＳ（Ｌｏｎｇｉｔｕｄｉｎａｌ Ｐｏｓｉｔｉｏｎ）情報」とも呼ばれる。）も埋め込まれている。このＬＰＯＳ情報も、ＵＤＩＭ情報と同様に、一対のサーボストライプの位置を、磁気テープの長手方向にずらすことによって記録されている。ただし、ＵＤＩＭ情報とは異なり、このＬＰＯＳ情報では、各サーボバンドに同じ信号が記録されている。
【0105】
上記のＵＤＩＭ情報およびＬＰＯＳ情報とは異なる他の情報を、サーボバンドに埋め込むことも可能である。この場合、埋め込まれる情報は、ＵＤＩＭ情報のようにサーボバンド毎に異なるものであってもよいし、ＬＰＯＳ情報のようにすべてのサーボバンドに共通のものであってもよい。
また、サーボバンドに情報を埋め込む方法としては、上記以外の方法を採用することも可能である。例えば、一対のサーボストライプの群の中から、所定の対を間引くことによって、所定のコードを記録するようにしてもよい。
また、サーボバンドに情報を埋め込む方法としては、上記以外の方法を採用することも可能である。例えば、一対のサーボストライプの群の中から、所定の対を間引くことによって、所定のコードを記録するようにしてもよい。
【0106】
サーボパターン形成用ヘッドは、サーボライトヘッドと呼ばれる。サーボライトヘッドは、通常、上記一対の磁気ストライプに対応した一対のギャップを、サーボバンドの数だけ有する。通常、各一対のギャップには、それぞれコアとコイルが接続されており、コイルに電流パルスを供給することによって、コアに発生した磁界が、一対のギャップに漏れ磁界を生じさせることができる。サーボパターンの形成の際には、サーボライトヘッド上に磁気テープを走行させながら電流パルスを入力することによって、一対のギャップに対応した磁気パターンを磁気テープに転写させて、サーボパターンを形成することができる。各ギャップの幅は、形成されるサーボパターンの密度に応じて適宜設定することができる。各ギャップの幅は、例えば、１μｍ以下、１～１０μｍ、１０μｍ以上等に設定可能である。
【0107】
磁気テープにサーボパターンを形成する前には、磁気テープに対して、通常、消磁（イレース）処理が施される。このイレース処理は、直流磁石または交流磁石を用いて、磁気テープに一様な磁界を加えることによって行うことができる。イレース処理には、ＤＣ（Ｄｉｒｅｃｔ Ｃｕｒｒｅｎｔ）イレースとＡＣ（Ａｌｔｅｒｎａｔｉｎｇ Ｃｕｒｒｅｎｔ）イレースとがある。ＡＣイレースは、磁気テープに印加する磁界の方向を反転させながら、その磁界の強度を徐々に下げることによって行われる。一方、ＤＣイレースは、磁気テープに一方向の磁界を加えることによって行われる。ＤＣイレースには、更に２つの方法がある。第一の方法は、磁気テープの長手方向に沿って一方向の磁界を加える、水平ＤＣイレースである。第二の方法は、磁気テープの厚み方向に沿って一方向の磁界を加える、垂直ＤＣイレースである。イレース処理は、磁気テープ全体に対して行ってもよいし、磁気テープのサーボバンド毎に行ってもよい。
【0108】
形成されるサーボパターンの磁界の向きは、イレースの向きに応じて決まる。例えば、磁気テープに水平ＤＣイレースが施されている場合、サーボパターンの形成は、磁界の向きがイレースの向きと反対になるように行われる。これにより、サーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号の出力を、大きくすることができる。なお、特開２０１２－５３９４０号公報に示されている通り、垂直ＤＣイレースされた磁気テープに、上記ギャップを用いた磁気パターンの転写を行った場合、形成されたサーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号は、単極パルス形状となる。一方、水平ＤＣイレースされた磁気テープに、上記ギャップを用いた磁気パターンの転写を行った場合、形成されたサーボパターンが読み取られて得られるサーボ信号は、双極パルス形状となる。
【0109】
上記磁気テープは、少なくともエリアＡの磁性層にサーボパターンを有することが好ましく、エリアＢの磁性層にもサーボパターンを有することがより好ましい。エリアＡは、好ましくは磁気ヘッドによってデータが記録されるデータ記録領域であることができる。一形態では、エリアＢに磁気ヘッドによってデータを記録することもできる。より好ましくは、上記磁気テープへのデータの記録および／または記録されたデータの再生のために磁気テープを走行させる際、エリアＡにおけるデータの記録再生品質に関する測定結果に応じて、エリアＢの走行条件を制御することができる。エリアＢの走行条件は、サーボパターン読み取り素子によって読み取られたサーボ信号を利用して制御することができる。上記の記録再生品質とは、記録品質と再生品質とを包含する意味で用いられる。一例として、記録再生品質に関する測定結果とは、電磁変換特性の指標であるＳＮＲ（Ｓｉｇｎａｌ－ｔｏ－Ｎｏｉｓｅ Ｒａｔｉｏ）を挙げることができる。エリアＢの走行条件とは、例えば、エリアＢの磁性層表面と磁気ヘッドが摺動する回数、磁気ヘッドがエリアＢの磁性層表面と摺動する距離等を挙げることができる。例えば、繰り返し走行中にエリアＡにおいてＳＮＲの低下が生じた場合、磁気ヘッドがエリアＢの磁性層表面と摺動する回数を増やすこと、および／または、磁気ヘッドがエリアＢの磁性層表面と摺動する距離を長くすることによって、より多くの潤滑剤が磁気ヘッドに供給されるようにすることにより、電磁変換特性を向上させることができる。
【0110】
また、一形態では、サーボ信号を利用して走行中の磁気テープの幅方向の寸法情報を取得し、取得された寸法情報に応じて磁気テープの長手方向にかかるテンションを調整して変化させることによって、磁気テープの幅方向の寸法を制御することができる。このようなテンション調整を行うことは、記録または再生時、磁気テープの幅変形によってデータを記録または再生するための磁気ヘッドが狙いのトラック位置からずれてデータの記録または再生を行ってしまうことを抑制することに寄与し得る。
【0111】
［磁気テープカートリッジ］
本発明の一態様は、上記磁気テープを含む磁気テープカートリッジに関する。
本発明の一態様は、上記磁気テープを含む磁気テープカートリッジに関する。
【0112】
上記テープカートリッジに含まれる磁気テープの詳細は、先に記載した通りである。
【0113】
磁気テープカートリッジでは、一般に、カートリッジ本体内部に磁気テープがリールに巻き取られた状態で収容されている。リールは、カートリッジ本体内部に回転可能に備えられている。磁気テープカートリッジとしては、カートリッジ本体内部にリールを１つ具備する単リール型の磁気テープカートリッジおよびカートリッジ本体内部にリールを２つ具備する双リール型の磁気テープカートリッジが広く用いられている。単リール型の磁気テープカートリッジは、磁気テープへのデータの記録および／または再生のために磁気テープ装置に装着されると、磁気テープカートリッジから磁気テープが引き出されて磁気テープ装置側のリールに巻き取られる。磁気テープカートリッジから巻き取りリールまでの磁気テープ搬送経路には、磁気ヘッドが配置されている。磁気テープカートリッジ側のリール（供給リール）と磁気テープ装置側のリール（巻き取りリール）との間で、磁気テープの送り出しと巻き取りが行われる。この間、磁気ヘッドと磁気テープの磁性層表面とが接触し摺動することにより、データの記録および／または再生が行われる。これに対し、双リール型の磁気テープカートリッジは、供給リールと巻き取りリールの両リールが、磁気テープカートリッジ内部に具備されている。
【0114】
［磁気テープ装置］
本発明の一態様は、上記磁気テープと、磁気ヘッドと、を含む磁気テープ装置に関する。上記磁気テープ装置において、磁気テープへのデータの記録および／または磁気テープに記録されたデータの再生は、磁気テープの磁性層表面と磁気ヘッドとを接触させて摺動させることにより行うことができる。
本発明の一態様は、上記磁気テープと、磁気ヘッドと、を含む磁気テープ装置に関する。上記磁気テープ装置において、磁気テープへのデータの記録および／または磁気テープに記録されたデータの再生は、磁気テープの磁性層表面と磁気ヘッドとを接触させて摺動させることにより行うことができる。
【0115】
本発明および本明細書において、「磁気テープ装置」とは、磁気テープへのデータの記録および磁気テープに記録されたデータの再生の少なくとも一方を行うことができる装置を意味するものとする。かかる装置は、一般にドライブと呼ばれる。上記磁気テープ装置に含まれる磁気ヘッドは、磁気テープへのデータの記録を行うことができる記録ヘッドであることができ、磁気テープに記録されたデータの再生を行うことができる再生ヘッドであることもできる。また、上記磁気テープ装置は、一形態では、別々の磁気ヘッドとして、記録ヘッドと再生ヘッドの両方を含むことができる。他の一形態では、上記磁気テープ装置に含まれる磁気ヘッドは、記録素子と再生素子の両方を１つの磁気ヘッドに備えた構成を有することもできる。再生ヘッドとしては、磁気テープに記録された情報を感度よく読み取ることができる磁気抵抗効果型（ＭＲ；Ｍａｇｎｅｔｏｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）素子を再生素子として含む磁気ヘッド（ＭＲヘッド）が好ましい。ＭＲヘッドとしては、公知の各種ＭＲヘッド（例えば、ＧＭＲ（Ｇｉａｎｔ Ｍａｇｎｅｔｏｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）ヘッド、ＴＭＲ（Ｔｕｎｎｅｌ Ｍａｇｎｅｔｏｒｅｓｉｓｔｉｖｅ）ヘッド等）を用いることができる。また、データの記録および／またはデータの再生を行う磁気ヘッドには、サーボ信号読み取り素子が含まれていてもよい。または、データの記録および／またはデータの再生を行う磁気ヘッドとは別のヘッドとして、サーボ信号読み取り素子を備えた磁気ヘッド（サーボヘッド）が上記磁気テープ装置に含まれていてもよい。例えば、データの記録および／または記録されたデータの再生を行う磁気ヘッド（以下、「記録再生ヘッド」とも呼ぶ。）は、サーボ信号読み取り素子を２つ含むことができ、２つのサーボ信号読み取り素子のそれぞれが、データバンドを挟んで隣り合う２本のサーボバンドを同時に読み取ることができる。２つのサーボ信号読み取り素子の間に、１つまたは複数のデータ用素子を配置することができる。データの記録のための素子（記録素子）とデータの再生のための素子（再生素子）を、「データ用素子」と総称する。
【0116】
先に記載したように、磁気ヘッドがデータを記録する領域は、少なくともエリアＡに含まれることが好ましく、エリアＢに含まれることもできる。
【0117】
データの記録および／または記録されたデータの再生の際には、まず、サーボ信号を用いたトラッキングを行うことができる。即ち、サーボ信号読み取り素子を所定のサーボトラックに追従させることによって、データ用素子が、目的とするデータトラック上を通過するように制御することができる。データトラックの移動は、サーボ信号読み取り素子が読み取るサーボトラックを、テープ幅方向に変更することにより行われる。
また、記録再生ヘッドは、他のデータバンドに対する記録および／または再生を行うことも可能である。その際には、先に記載したＵＤＩＭ情報を利用してサーボ信号読み取り素子を所定のサーボバンドに移動させ、そのサーボバンドに対するトラッキングを開始すればよい。
また、記録再生ヘッドは、他のデータバンドに対する記録および／または再生を行うことも可能である。その際には、先に記載したＵＤＩＭ情報を利用してサーボ信号読み取り素子を所定のサーボバンドに移動させ、そのサーボバンドに対するトラッキングを開始すればよい。
【0118】
図１に、データバンドおよびサーボバンドの配置例を示す。図１中、磁気テープＭＴの磁性層には、複数のサーボバンド１が、ガイドバンド３に挟まれて配置されている。２本のサーボバンドに挟まれた複数の領域２が、データバンドである。サーボパターンは、磁化領域であって、サーボライトヘッドにより磁性層の特定の領域を磁化することによって形成される。サーボライトヘッドにより磁化する領域（サーボパターンを形成する位置）は規格により定められている。例えば業界標準規格であるＬＴＯ Ｕｌｔｒｉｕｍフォーマットテープには、磁気テープ製造時に、図２に示すようにテープ幅方向に対して傾斜した複数のサーボパターンが、サーボバンド上に形成される。詳しくは、図２中、サーボバンド１上のサーボフレームＳＦは、サーボサブフレーム１（ＳＳＦ１）およびサーボサブフレーム２（ＳＳＦ２）から構成される。サーボサブフレーム１は、Ａバースト（図２中、符号Ａ）およびＢバースト（図２中、符号Ｂ）から構成される。ＡバーストはサーボパターンＡ１～Ａ５から構成され、ＢバーストはサーボパターンＢ１～Ｂ５から構成される。一方、サーボサブフレーム２は、Ｃバースト（図２中、符号Ｃ）およびＤバースト（図２中、符号Ｄ）から構成される。ＣバーストはサーボパターンＣ１～Ｃ４から構成され、ＤバーストはサーボパターンＤ１～Ｄ４から構成される。このような１８本のサーボパターンが５本と４本のセットで、５、５、４、４、の配列で並べられたサブフレームに配置され、サーボフレームを識別するために用いられる。図２には、説明のために１つのサーボフレームを示した。ただし、実際には、タイミングベースサーボ方式のヘッドトラッキングが行われる磁気テープの磁性層には、各サーボバンドに、複数のサーボフレームが走行方向に配置されている。図２中、矢印は走行方向を示している。例えば、ＬＴＯ Ｕｌｔｒｉｕｍフォーマットテープは、通常、磁性層の各サーボバンドに、テープ長１ｍあたり５０００以上のサーボフレームを有する。
【0119】
上記磁気テープ装置において、一形態では、磁気テープは取り外し可能な媒体（いわゆる可換媒体）として扱われ、磁気テープをリールに巻き取って収容した磁気テープカートリッジが磁気テープ装置に挿入され、取り出される。他の一形態では、磁気テープは可換媒体として扱われず、磁気ヘッドを備えた磁気テープ装置のリールに磁気テープが巻き取られ、磁気テープ装置内に磁気テープが収容される。いずれの形態においても、磁気テープが巻き取られるリールの外径は、例えば８０．０～１００．０ｍｍ程度であることができ、リールの内径は、例えば２２．０～５０．０ｍｍ程度であることができる。
【実施例0120】
以下に、本発明の一態様を実施例に基づき説明する。但し、本発明は実施例に示す態様に限定されるものではない。以下に記載の「部」、「％」の表示は、特に断らない限り、「質量部」、「質量％」を示す。「ｅｑ」は、当量（ｅｑｕｉｖａｌｅｎｔ）であり、ＳＩ単位に換算不可の単位である。
また、以下の各種工程および操作は、特記しない限り、温度２０～２５℃および相対湿度４０～６０％の環境において行った。
また、以下の各種工程および操作は、特記しない限り、温度２０～２５℃および相対湿度４０～６０％の環境において行った。
【0121】
［実施例１］
＜エリアＡ用磁気テープの作製＞
（１）アルミナ分散物の調製
アルファ化率約６５％、ＢＥＴ比表面積２０ｍ２／ｇのアルミナ粉末（住友化学社製ＨＩＴ－８０）１００．０部に対し、３．０部の２，３－ジヒドロキシナフタレン（東京化成社製）、極性基としてＳＯ３Ｎａ基を有するポリエステルポリウレタン樹脂（東洋紡社製ＵＲ－４８００（極性基量：８０ｍｅｑ／ｋｇ））の３２％溶液（溶媒はメチルエチルケトンとトルエンの混合溶媒）を３１．３部、溶媒としてメチルエチルケトンとシクロヘキサノン１：１（質量比）の混合溶液５７０．０部を混合し、ジルコニアビーズ存在下で、ペイントシェーカーにより５時間分散させた。分散後、メッシュにより分散液とビーズとを分け、アルミナ分散物を得た。
＜エリアＡ用磁気テープの作製＞
（１）アルミナ分散物の調製
アルファ化率約６５％、ＢＥＴ比表面積２０ｍ２／ｇのアルミナ粉末（住友化学社製ＨＩＴ－８０）１００．０部に対し、３．０部の２，３－ジヒドロキシナフタレン（東京化成社製）、極性基としてＳＯ３Ｎａ基を有するポリエステルポリウレタン樹脂（東洋紡社製ＵＲ－４８００（極性基量：８０ｍｅｑ／ｋｇ））の３２％溶液（溶媒はメチルエチルケトンとトルエンの混合溶媒）を３１．３部、溶媒としてメチルエチルケトンとシクロヘキサノン１：１（質量比）の混合溶液５７０．０部を混合し、ジルコニアビーズ存在下で、ペイントシェーカーにより５時間分散させた。分散後、メッシュにより分散液とビーズとを分け、アルミナ分散物を得た。
【0122】
（２）磁性層形成用組成物処方
（磁性液）
強磁性粉末（表１参照） １００．０部
ＳＯ３Ｎａ基含有ポリウレタン樹脂 １４．０部
重量平均分子量：７０，０００、ＳＯ３Ｎａ基：０．２ｍｅｑ／ｇ
シクロヘキサノン １５０．０部
メチルエチルケトン １５０．０部
（研磨剤液）
上記（１）で調製したアルミナ分散物 ６．０部
（シリカゾル（突起形成剤液））
コロイダルシリカ（平均粒子サイズ１２０ｎｍ） ２．０部
メチルエチルケトン １．４部
（その他の成分）
ステアリン酸 ２．０部
ステアリン酸アミド ０．２部
ブチルステアレート ２．０部
ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート（登録商標）Ｌ） ２．５部
（仕上げ添加溶媒）
シクロヘキサノン ２００．０部
メチルエチルケトン ２００．０部
（磁性液）
強磁性粉末（表１参照） １００．０部
ＳＯ３Ｎａ基含有ポリウレタン樹脂 １４．０部
重量平均分子量：７０，０００、ＳＯ３Ｎａ基：０．２ｍｅｑ／ｇ
シクロヘキサノン １５０．０部
メチルエチルケトン １５０．０部
（研磨剤液）
上記（１）で調製したアルミナ分散物 ６．０部
（シリカゾル（突起形成剤液））
コロイダルシリカ（平均粒子サイズ１２０ｎｍ） ２．０部
メチルエチルケトン １．４部
（その他の成分）
ステアリン酸 ２．０部
ステアリン酸アミド ０．２部
ブチルステアレート ２．０部
ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート（登録商標）Ｌ） ２．５部
（仕上げ添加溶媒）
シクロヘキサノン ２００．０部
メチルエチルケトン ２００．０部
【0123】
（３）非磁性層形成用組成物処方
非磁性無機粉末：α－酸化鉄 １００．０部
平均粒子サイズ（平均長軸長）：０．１５μｍ
平均針状比：７
ＢＥＴ比表面積：５２ｍ２／ｇ
カーボンブラック ２０．０部
平均粒子サイズ：２０ｎｍ
ＳＯ３Ｎａ基含有ポリウレタン樹脂 １８．０部
重量平均分子量：７０，０００、ＳＯ３Ｎａ基：０．２ｍｅｑ／ｇ
ステアリン酸 表１参照
ステアリン酸アミド 表１参照
ステアリン酸ブチル 表１参照
シクロヘキサノン ３００．０部
メチルエチルケトン ３００．０部
非磁性無機粉末：α－酸化鉄 １００．０部
平均粒子サイズ（平均長軸長）：０．１５μｍ
平均針状比：７
ＢＥＴ比表面積：５２ｍ２／ｇ
カーボンブラック ２０．０部
平均粒子サイズ：２０ｎｍ
ＳＯ３Ｎａ基含有ポリウレタン樹脂 １８．０部
重量平均分子量：７０，０００、ＳＯ３Ｎａ基：０．２ｍｅｑ／ｇ
ステアリン酸 表１参照
ステアリン酸アミド 表１参照
ステアリン酸ブチル 表１参照
シクロヘキサノン ３００．０部
メチルエチルケトン ３００．０部
【0124】
（４）バックコート層形成用組成物処方
カーボンブラック １００．０部
ＤＢＰ（Ｄｉｂｕｔｙｌ ｐｈｔｈａｌａｔｅ）吸油量：７４ｃｍ３／１００ｇ
ニトロセルロース ２７．０部
スルホン酸基および／またはその塩を含有するポリエステルポリウレタン樹脂
６２．０部
ポリエステル樹脂 ４．０部
アルミナ粉末（ＢＥＴ比表面積：１７ｍ２／ｇ） ０．６部
メチルエチルケトン ６００．０部
トルエン ６００．０部
ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート（登録商標）Ｌ） １５．０部
カーボンブラック １００．０部
ＤＢＰ（Ｄｉｂｕｔｙｌ ｐｈｔｈａｌａｔｅ）吸油量：７４ｃｍ３／１００ｇ
ニトロセルロース ２７．０部
スルホン酸基および／またはその塩を含有するポリエステルポリウレタン樹脂
６２．０部
ポリエステル樹脂 ４．０部
アルミナ粉末（ＢＥＴ比表面積：１７ｍ２／ｇ） ０．６部
メチルエチルケトン ６００．０部
トルエン ６００．０部
ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート（登録商標）Ｌ） １５．０部
【0125】
（５）各層形成用組成物の調製
磁性層形成用組成物を、以下の方法により調製した。上記磁性液を、各成分をバッチ式縦型サンドミルを用いて２４時間分散（ビーズ分散）することにより調製した。分散ビーズとしては、ビーズ径０．５ｍｍのジルコニアビーズを使用した。上記サンドミルを用いて、調製した磁性液および上記研磨剤液および他の成分（シリカゾル、その他の成分および仕上げ添加溶媒）と混合し５分間ビーズ分散した後、バッチ型超音波装置（２０ｋＨｚ、３００Ｗ）で０．５分間処理（超音波分散）を行った。その後、０．５μｍの孔径を有するフィルタを用いてろ過を行い磁性層形成用組成物を調製した。
非磁性層形成用組成物を、以下の方法により調製した。潤滑剤（ステアリン酸、ステアリン酸アミドおよびステアリン酸ブチル）を除く上記成分を、オープンニーダにより混練および希釈処理し、その後、横型ビーズミル分散機により分散処理を実施した。その後、潤滑剤（ステアリン酸、ステアリン酸アミドおよびブチルステアレート）を添加して、ディゾルバー撹拌機にて撹拌および混合処理を施して非磁性層形成用組成物を調製した。
バックコート層形成用組成物を、以下の方法により調製した。ポリイソシアネートを除く上記成分を、ディゾルバー撹拌機に導入し、周速１０ｍ／秒で３０分間撹拌した後、横型ビーズミル分散機により分散処理を実施した。その後、ポリイソシアネートを添加して、ディゾルバー撹拌機にて撹拌および混合処理を施し、バックコート層形成用組成物を調製した。
磁性層形成用組成物を、以下の方法により調製した。上記磁性液を、各成分をバッチ式縦型サンドミルを用いて２４時間分散（ビーズ分散）することにより調製した。分散ビーズとしては、ビーズ径０．５ｍｍのジルコニアビーズを使用した。上記サンドミルを用いて、調製した磁性液および上記研磨剤液および他の成分（シリカゾル、その他の成分および仕上げ添加溶媒）と混合し５分間ビーズ分散した後、バッチ型超音波装置（２０ｋＨｚ、３００Ｗ）で０．５分間処理（超音波分散）を行った。その後、０．５μｍの孔径を有するフィルタを用いてろ過を行い磁性層形成用組成物を調製した。
非磁性層形成用組成物を、以下の方法により調製した。潤滑剤（ステアリン酸、ステアリン酸アミドおよびステアリン酸ブチル）を除く上記成分を、オープンニーダにより混練および希釈処理し、その後、横型ビーズミル分散機により分散処理を実施した。その後、潤滑剤（ステアリン酸、ステアリン酸アミドおよびブチルステアレート）を添加して、ディゾルバー撹拌機にて撹拌および混合処理を施して非磁性層形成用組成物を調製した。
バックコート層形成用組成物を、以下の方法により調製した。ポリイソシアネートを除く上記成分を、ディゾルバー撹拌機に導入し、周速１０ｍ／秒で３０分間撹拌した後、横型ビーズミル分散機により分散処理を実施した。その後、ポリイソシアネートを添加して、ディゾルバー撹拌機にて撹拌および混合処理を施し、バックコート層形成用組成物を調製した。
【0126】
（６）磁気テープの作製
厚み４．１μｍで磁性層が形成される側の表面の中心線平均表面粗さＲａ（表１中、「エリアＡの支持体表面Ｒａ」）が表１に示す値の二軸延伸されたポリエチレンテレフタレート支持体の表面上に、乾燥後の厚みが０．７μｍとなるように上記（５）で調製した非磁性層形成用組成物を塗布および乾燥させて非磁性層を形成した。次いで、非磁性層上に乾燥後の厚みが０．１μｍとなるように上記（５）で調製した磁性層形成用組成物を塗布して塗布層を形成した。その後に、磁性層形成用組成物の塗布層が未乾燥状態にあるうちに、磁場強度０．３Ｔの磁場を塗布層の表面に対し垂直方向に印加して垂直配向処理を行った後、乾燥させ、磁性層を形成した。その後、支持体の非磁性層および磁性層を形成した表面とは反対側の表面に、乾燥後の厚みが０．３μｍとなるように上記（５）で調製したバックコート層形成用組成物を塗布および乾燥させてバックコート層を形成した。
その後、金属ロールのみから構成されるカレンダロールを用いて、速度１００ｍ／分、線圧３００ｋｇ／ｃｍ、および９０℃のカレンダ温度（カレンダロールの表面温度）にて、表面平滑化処理（カレンダ処理）を行った。
その後、長尺状の磁気テープ原反を雰囲気温度７０℃の熱処理炉内に保管することにより熱処理を行った（熱処理時間：３６時間）。熱処理後、１／２インチ幅にスリットして、磁気テープを得た。
その後、磁気テープ（長さ９７０ｍ）を熱処理用巻芯に巻き取り、この巻芯に巻き付けた状態で熱処理した。熱処理用巻芯としては、曲げ弾性率０．８ＧＰａの樹脂製の中実状の芯状部材（外径：５０ｍｍ）を使用し、巻き取り時のテンションは０．６Ｎとした。熱処理は、熱処理温度５０℃で５時間行った。熱処理を行った雰囲気の重量絶対湿度は、１０ｇ／ｋｇ Ｄｒｙ ａｉｒであった。
上記熱処理後、磁気テープおよび熱処理用巻芯が十分冷却された後に磁気テープを熱処理用巻芯から取り外し、一時巻き取り用巻芯に巻き取り、その後、一時巻き取り用巻芯から別のリール（リール外径：４４ｍｍ）へ最終長分（９６０ｍ）の磁気テープを巻き取り、残り１０ｍ分は切り取った。一時巻き取り用巻芯としては、熱処理用巻芯と同じ材料製で同じ外径を有する中実状の芯状部材を使用し、巻き取り時のテンションは０．６Ｎとした。
厚み４．１μｍで磁性層が形成される側の表面の中心線平均表面粗さＲａ（表１中、「エリアＡの支持体表面Ｒａ」）が表１に示す値の二軸延伸されたポリエチレンテレフタレート支持体の表面上に、乾燥後の厚みが０．７μｍとなるように上記（５）で調製した非磁性層形成用組成物を塗布および乾燥させて非磁性層を形成した。次いで、非磁性層上に乾燥後の厚みが０．１μｍとなるように上記（５）で調製した磁性層形成用組成物を塗布して塗布層を形成した。その後に、磁性層形成用組成物の塗布層が未乾燥状態にあるうちに、磁場強度０．３Ｔの磁場を塗布層の表面に対し垂直方向に印加して垂直配向処理を行った後、乾燥させ、磁性層を形成した。その後、支持体の非磁性層および磁性層を形成した表面とは反対側の表面に、乾燥後の厚みが０．３μｍとなるように上記（５）で調製したバックコート層形成用組成物を塗布および乾燥させてバックコート層を形成した。
その後、金属ロールのみから構成されるカレンダロールを用いて、速度１００ｍ／分、線圧３００ｋｇ／ｃｍ、および９０℃のカレンダ温度（カレンダロールの表面温度）にて、表面平滑化処理（カレンダ処理）を行った。
その後、長尺状の磁気テープ原反を雰囲気温度７０℃の熱処理炉内に保管することにより熱処理を行った（熱処理時間：３６時間）。熱処理後、１／２インチ幅にスリットして、磁気テープを得た。
その後、磁気テープ（長さ９７０ｍ）を熱処理用巻芯に巻き取り、この巻芯に巻き付けた状態で熱処理した。熱処理用巻芯としては、曲げ弾性率０．８ＧＰａの樹脂製の中実状の芯状部材（外径：５０ｍｍ）を使用し、巻き取り時のテンションは０．６Ｎとした。熱処理は、熱処理温度５０℃で５時間行った。熱処理を行った雰囲気の重量絶対湿度は、１０ｇ／ｋｇ Ｄｒｙ ａｉｒであった。
上記熱処理後、磁気テープおよび熱処理用巻芯が十分冷却された後に磁気テープを熱処理用巻芯から取り外し、一時巻き取り用巻芯に巻き取り、その後、一時巻き取り用巻芯から別のリール（リール外径：４４ｍｍ）へ最終長分（９６０ｍ）の磁気テープを巻き取り、残り１０ｍ分は切り取った。一時巻き取り用巻芯としては、熱処理用巻芯と同じ材料製で同じ外径を有する中実状の芯状部材を使用し、巻き取り時のテンションは０．６Ｎとした。
【0127】
＜エリアＢ用磁気テープの作製＞
（１）磁性層形成用組成物処方
強磁性粉末（表１参照） １００．０部
塩化ビニル系共重合体（カネカ社製ＭＲ１１０） １０．０部
（ＳＯ３Ｎａ基：５×１０－６ｅｑ／ｇ、重合度：３５０、エポキシ基：モノマー単位で３．５質量％）
ポリエステルポリウレタン樹脂 １０．０部
（ネオペンチルグリコール／カプロラクトンポリオール／４，４’－ジフェニルメタンジイソシアネート（ＭＤＩ）＝０．９／２．６／１（質量比）、
ＳＯ３Ｎａ基：１×１０－４ｅｑ／ｇ）
α－アルミナ（平均粒子サイズ：表１参照） １０．０部
カーボンブラック（平均粒子サイズ：０．１０μｍ） １．０部
ステアリン酸 １．０部
ステアリン酸アミド ０．３部
ステアリン酸ブチル ３．０部
メチルエチルケトン １５０．０部
シクロヘキサノン ５０．０部
トルエン ４０．０部
（１）磁性層形成用組成物処方
強磁性粉末（表１参照） １００．０部
塩化ビニル系共重合体（カネカ社製ＭＲ１１０） １０．０部
（ＳＯ３Ｎａ基：５×１０－６ｅｑ／ｇ、重合度：３５０、エポキシ基：モノマー単位で３．５質量％）
ポリエステルポリウレタン樹脂 １０．０部
（ネオペンチルグリコール／カプロラクトンポリオール／４，４’－ジフェニルメタンジイソシアネート（ＭＤＩ）＝０．９／２．６／１（質量比）、
ＳＯ３Ｎａ基：１×１０－４ｅｑ／ｇ）
α－アルミナ（平均粒子サイズ：表１参照） １０．０部
カーボンブラック（平均粒子サイズ：０．１０μｍ） １．０部
ステアリン酸 １．０部
ステアリン酸アミド ０．３部
ステアリン酸ブチル ３．０部
メチルエチルケトン １５０．０部
シクロヘキサノン ５０．０部
トルエン ４０．０部
【0128】
（２）非磁性層形成用組成物処方
カーボンブラック １００．０部
ＤＢＰ吸油量：７４ｃｍ３／１００ｇ
ニトロセルロース ２７．０部
スルホン酸基および／またはその塩を含有するポリエステルポリウレタン樹脂
６２．０部
ポリエステル樹脂 ４．０部
アルミナ粉末（ＢＥＴ比表面積：１７ｍ２／ｇ） ０．６部
ステアリン酸 表１参照
ステアリン酸アミド 表１参照
ステアリン酸ブチル 表１参照
メチルエチルケトン ６００．０部
トルエン ６００．０部
ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート（登録商標）Ｌ） １５．０部
カーボンブラック １００．０部
ＤＢＰ吸油量：７４ｃｍ３／１００ｇ
ニトロセルロース ２７．０部
スルホン酸基および／またはその塩を含有するポリエステルポリウレタン樹脂
６２．０部
ポリエステル樹脂 ４．０部
アルミナ粉末（ＢＥＴ比表面積：１７ｍ２／ｇ） ０．６部
ステアリン酸 表１参照
ステアリン酸アミド 表１参照
ステアリン酸ブチル 表１参照
メチルエチルケトン ６００．０部
トルエン ６００．０部
ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート（登録商標）Ｌ） １５．０部
【0129】
（３）上層バックコート層形成用組成物処方
カーボンブラック １００．０部
ＤＢＰ吸油量：７４ｃｍ３／１００ｇ
ニトロセルロース 表１参照
ポリウレタン樹脂（スルホン酸基および／またはその塩を含有するポリエステルポリウレタン樹脂） 表１参照
ポリエステル樹脂 ４．０部
アルミナ粉末（ＢＥＴ比表面積：１７ｍ２／ｇ） ０．６部
メチルエチルケトン ６００．０部
トルエン ６００．０部
ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート（登録商標）Ｌ） １５．０部
カーボンブラック １００．０部
ＤＢＰ吸油量：７４ｃｍ３／１００ｇ
ニトロセルロース 表１参照
ポリウレタン樹脂（スルホン酸基および／またはその塩を含有するポリエステルポリウレタン樹脂） 表１参照
ポリエステル樹脂 ４．０部
アルミナ粉末（ＢＥＴ比表面積：１７ｍ２／ｇ） ０．６部
メチルエチルケトン ６００．０部
トルエン ６００．０部
ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート（登録商標）Ｌ） １５．０部
【0130】
（４）下層バックコート層形成用組成物処方
カーボンブラック １００．０部
ＤＢＰ吸油量：７４ｃｍ３／１００ｇ
ニトロセルロース ２７．０部
ポリウレタン樹脂（スルホン酸基および／またはその塩を含有するポリエステルポリウレタン樹脂） ６２．０部
ポリエステル樹脂 ４．０部
アルミナ粉末（ＢＥＴ比表面積：１７ｍ２／ｇ） ０．６部
メチルエチルケトン ６００．０部
トルエン ６００．０部
ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート（登録商標）Ｌ） １５．０部
カーボンブラック １００．０部
ＤＢＰ吸油量：７４ｃｍ３／１００ｇ
ニトロセルロース ２７．０部
ポリウレタン樹脂（スルホン酸基および／またはその塩を含有するポリエステルポリウレタン樹脂） ６２．０部
ポリエステル樹脂 ４．０部
アルミナ粉末（ＢＥＴ比表面積：１７ｍ２／ｇ） ０．６部
メチルエチルケトン ６００．０部
トルエン ６００．０部
ポリイソシアネート（東ソー社製コロネート（登録商標）Ｌ） １５．０部
【0131】
（５）各層形成用組成物の調製
磁性層形成用組成物および非磁性層形成用組成物のそれぞれについて、上記成分を連続ニーダで混練した後、サンドミルを用いて分散させた。得られたそれぞれの分散液にポリイソシアネート（東ソー社製コロネートＬ）を５．０部加え、更にそれぞれにメチルエチルケトンを４０．０部加え、孔径１μｍのフィルタを用いてろ過し、磁性層形成用組成物および非磁性層形成用組成物を調製した。
上層バックコート層形成用組成物については、ポリイソシアネートを除く上記成分を、ディゾルバー撹拌機に導入し、周速１０ｍ／秒で３０分間撹拌した後、横型ビーズミル分散機により分散処理を実施した。その後、ポリイソシアネートを添加して、ディゾルバー撹拌機にて撹拌および混合処理を施し、上層バックコート層形成用組成物を調製した。
下層バックコート層形成用組成物については、上記成分を連続ニーダで混練した後、サンドミルを用いて分散させた。得られた分散液にポリイソシアネート（東ソー社製コロネートＬ）を４０．０部、メチルエチルケトン１０００．０部を添加した後、孔径１μｍのフィルタを用いてろ過し、下層バックコート層形成用組成物を調製した。
磁性層形成用組成物および非磁性層形成用組成物のそれぞれについて、上記成分を連続ニーダで混練した後、サンドミルを用いて分散させた。得られたそれぞれの分散液にポリイソシアネート（東ソー社製コロネートＬ）を５．０部加え、更にそれぞれにメチルエチルケトンを４０．０部加え、孔径１μｍのフィルタを用いてろ過し、磁性層形成用組成物および非磁性層形成用組成物を調製した。
上層バックコート層形成用組成物については、ポリイソシアネートを除く上記成分を、ディゾルバー撹拌機に導入し、周速１０ｍ／秒で３０分間撹拌した後、横型ビーズミル分散機により分散処理を実施した。その後、ポリイソシアネートを添加して、ディゾルバー撹拌機にて撹拌および混合処理を施し、上層バックコート層形成用組成物を調製した。
下層バックコート層形成用組成物については、上記成分を連続ニーダで混練した後、サンドミルを用いて分散させた。得られた分散液にポリイソシアネート（東ソー社製コロネートＬ）を４０．０部、メチルエチルケトン１０００．０部を添加した後、孔径１μｍのフィルタを用いてろ過し、下層バックコート層形成用組成物を調製した。
【0132】
（６）磁気テープの作製
厚み４．０μｍで磁性層が形成される側の表面の中心線平均表面粗さＲａ（表１中、「エリアＢの支持体表面Ｒａ」）が表１に示す値の二軸延伸されたポリエチレンテレフタレート支持体の表面上に、非磁性層形成用組成物および磁性層形成用組成物を、乾燥後の非磁性層の厚みが２．０μｍ、乾燥後の磁性層の厚みが０．１μｍとなるように、同時重層塗布した。次いで、磁性層形成用組成物の塗布層が未乾燥状態にあるうちに、磁場強度０．３Ｔの磁場を塗布層の表面に対し垂直方向に印加して垂直配向処理を行った後、乾燥させた。こうして、非磁性層および磁性層を形成した。その後、支持体の非磁性層および磁性層を形成した表面とは反対側の表面に、乾燥後の厚みが表１に記載の厚みとなるように上層バックコート層形成用組成物と下層バックコート層形成用組成物を同時重層塗布した後に乾燥させた。こうして、上層バックコート層および下層バックコート層を形成した。
厚み４．０μｍで磁性層が形成される側の表面の中心線平均表面粗さＲａ（表１中、「エリアＢの支持体表面Ｒａ」）が表１に示す値の二軸延伸されたポリエチレンテレフタレート支持体の表面上に、非磁性層形成用組成物および磁性層形成用組成物を、乾燥後の非磁性層の厚みが２．０μｍ、乾燥後の磁性層の厚みが０．１μｍとなるように、同時重層塗布した。次いで、磁性層形成用組成物の塗布層が未乾燥状態にあるうちに、磁場強度０．３Ｔの磁場を塗布層の表面に対し垂直方向に印加して垂直配向処理を行った後、乾燥させた。こうして、非磁性層および磁性層を形成した。その後、支持体の非磁性層および磁性層を形成した表面とは反対側の表面に、乾燥後の厚みが表１に記載の厚みとなるように上層バックコート層形成用組成物と下層バックコート層形成用組成物を同時重層塗布した後に乾燥させた。こうして、上層バックコート層および下層バックコート層を形成した。
【0133】
＜エリアＡおよびエリアＢを含む磁気テープの作製＞
図３に、磁気テープにおけるエリアＡおよびエリアＢの配置例を示す。
図３に示すようにエリアＡとエリアＢとが連続して位置する磁気テープを作製した。
エリアＢ用磁気テープから３つのテープ片を切り出し、それらをエリアＢ１、エリアＢ２およびエリアＢ３としてそれぞれ使用した。
エリアＡ用磁気テープから同じ長さのテープ片を２つ切り出し、１つをエリアＢ１とエリアＢ２との間のエリアＡとして配置し、他の１つをエリアＢ２とエリアＢ３との間のエリアＡとして配置した。
エリアＡとエリアＢとは、バックコート層側でスプライシングテープによって接合した。
こうして作製された磁気テープの磁性層に市販のサーボライターによってサーボ信号を記録することにより、ＬＴＯ（Ｌｉｎｅａｒ Ｔａｐｅ－Ｏｐｅｎ） Ｕｌｔｒｉｕｍフォーマットにしたがう配置でデータバンド、サーボバンド、およびガイドバンドを有し、かつサーボバンド上にＬＴＯ Ｕｌｔｒｉｕｍフォーマットにしたがう配置および形状のサーボパターン（タイミングベースサーボパターン）を有する磁気テープを得た。こうして形成されたサーボパターンは、ＪＩＳ（Ｊａｐａｎｅｓｅ Ｉｎｄｕｓｔｒｉａｌ Ｓｔａｎｄａｒｄｓ） Ｘ６１７５：２００６およびＳｔａｎｄａｒｄ ＥＣＭＡ－３１９（Ｊｕｎｅ ２００１）の記載にしたがうサーボパターンである。サーボバンドの合計本数は５、データバンドの合計本数は４である。
こうしてサーボパターンを形成した後の磁気テープを、エリアＢ３が内側、エリアＢ１が外側に位置するように、磁気テープカートリッジ（ＬＴＯ Ｕｌｔｒｉｕｍ７データカートリッジ）から取り出したテープリール（リール内径：４４．０ｍｍ、リール外径：９６．８ｍｍ）に巻取った。
図３に、磁気テープにおけるエリアＡおよびエリアＢの配置例を示す。
図３に示すようにエリアＡとエリアＢとが連続して位置する磁気テープを作製した。
エリアＢ用磁気テープから３つのテープ片を切り出し、それらをエリアＢ１、エリアＢ２およびエリアＢ３としてそれぞれ使用した。
エリアＡ用磁気テープから同じ長さのテープ片を２つ切り出し、１つをエリアＢ１とエリアＢ２との間のエリアＡとして配置し、他の１つをエリアＢ２とエリアＢ３との間のエリアＡとして配置した。
エリアＡとエリアＢとは、バックコート層側でスプライシングテープによって接合した。
こうして作製された磁気テープの磁性層に市販のサーボライターによってサーボ信号を記録することにより、ＬＴＯ（Ｌｉｎｅａｒ Ｔａｐｅ－Ｏｐｅｎ） Ｕｌｔｒｉｕｍフォーマットにしたがう配置でデータバンド、サーボバンド、およびガイドバンドを有し、かつサーボバンド上にＬＴＯ Ｕｌｔｒｉｕｍフォーマットにしたがう配置および形状のサーボパターン（タイミングベースサーボパターン）を有する磁気テープを得た。こうして形成されたサーボパターンは、ＪＩＳ（Ｊａｐａｎｅｓｅ Ｉｎｄｕｓｔｒｉａｌ Ｓｔａｎｄａｒｄｓ） Ｘ６１７５：２００６およびＳｔａｎｄａｒｄ ＥＣＭＡ－３１９（Ｊｕｎｅ ２００１）の記載にしたがうサーボパターンである。サーボバンドの合計本数は５、データバンドの合計本数は４である。
こうしてサーボパターンを形成した後の磁気テープを、エリアＢ３が内側、エリアＢ１が外側に位置するように、磁気テープカートリッジ（ＬＴＯ Ｕｌｔｒｉｕｍ７データカートリッジ）から取り出したテープリール（リール内径：４４．０ｍｍ、リール外径：９６．８ｍｍ）に巻取った。
【0134】
［実施例２～２３、比較例１～１０］
後述の表に示すように各種項目を変更した点以外、実施例１と同様に、磁気テープが収容された磁気テープカートリッジを作製した。
表２中、「エリアＡ長さ」の欄には、エリアＡを複数有する磁気テープについては、それら複数のエリアＡの長さの合計を示す。
表２中、「エリアＢの数」の欄に「３」と記載されている実施例および比較例では、実施例１と同様にエリアＡおよびエリアＢを配置した。
表２中、「エリアＢの数」の欄に「１」と記載されている実施例では、エリアＡとエリアＢをそれぞれ１つ設け、エリアＡが外側、エリアＢが内側に位置するように、磁気テープを磁気テープカートリッジに収容した。
表２中、「エリアＢの数」の欄に「２」と記載されている実施例では、図３中の配置例における「エリアＢ１／エリアＡ／エリアＢ２」を設け、その他の領域（エリアＢ３およびエリアＢ２とエリアＢ３との間のエリアＡ）は設けず、エリアＢ２が内側、エリアＢ１が外側に位置するように、磁気テープをテープリールに巻取った。
表２中、「エリアＢの数」の欄に「０」と記載されている比較例では、エリアＡ用磁気テープのみを、テープリールに巻取った。
後述の表に示すように各種項目を変更した点以外、実施例１と同様に、磁気テープが収容された磁気テープカートリッジを作製した。
表２中、「エリアＡ長さ」の欄には、エリアＡを複数有する磁気テープについては、それら複数のエリアＡの長さの合計を示す。
表２中、「エリアＢの数」の欄に「３」と記載されている実施例および比較例では、実施例１と同様にエリアＡおよびエリアＢを配置した。
表２中、「エリアＢの数」の欄に「１」と記載されている実施例では、エリアＡとエリアＢをそれぞれ１つ設け、エリアＡが外側、エリアＢが内側に位置するように、磁気テープを磁気テープカートリッジに収容した。
表２中、「エリアＢの数」の欄に「２」と記載されている実施例では、図３中の配置例における「エリアＢ１／エリアＡ／エリアＢ２」を設け、その他の領域（エリアＢ３およびエリアＢ２とエリアＢ３との間のエリアＡ）は設けず、エリアＢ２が内側、エリアＢ１が外側に位置するように、磁気テープをテープリールに巻取った。
表２中、「エリアＢの数」の欄に「０」と記載されている比較例では、エリアＡ用磁気テープのみを、テープリールに巻取った。
【0135】
各磁気テープについて、エリアＡおよびエリアＢの長さおよび磁気テープのテープ幅（１／２インチ）から、「（ＳＢ／（ＳＡ＋ＳＢ））×１００」として、エリアＢの面積割合を算出した。
【0136】
実施例および比較例の各エリアＡ用磁気テープから切り出したテープ試料およびエリアＢ用磁気テープから切り出したテープ試料について、異方性磁界Ｈｋを、振動試料型磁力計としてＴＭ－ＶＳＭ５０５０－ＳＭＳ型（玉川製作所製）を用いて先に記載した方法によって求めたところ、実施例２１では２５ｋＯｅ、実施例２３では３０ｋＯｅ、その他の実施例および比較例では１０～２０ｋＯｅの範囲内であった。
【0137】
表１中、「強磁性粉末」の欄における「ＢａＦｅ」は、平均粒子サイズ（平均板径）２１ｎｍの六方晶バリウムフェライト粉末を示す。
【0138】
表１中、「強磁性粉末」の欄における「ＳｒＦｅ１」は、以下のように作製された六方晶ストロンチウムフェライト粉末を示す。
ＳｒＣＯ３を１７０７ｇ、Ｈ３ＢＯ３を６８７ｇ、Ｆｅ２Ｏ３を１１２０ｇ、Ａｌ（ＯＨ）３を４５ｇ、ＢａＣＯ３を２４ｇ、ＣａＣＯ３を１３ｇ、およびＮｄ２Ｏ３を２３５ｇ秤量し、ミキサーにて混合し原料混合物を得た。
得られた原料混合物を、白金ルツボで溶融温度１３９０℃で溶融し、融液を撹拌しつつ白金ルツボの底に設けた出湯口を加熱し、融液を約６ｇ／秒で棒状に出湯させた。出湯液を水冷双ローラーで圧延急冷して非晶質体を作製した。
作製した非晶質体２８０ｇを電気炉に仕込み、昇温速度３．５℃／分にて６３５℃（結晶化温度）まで昇温し、同温度で５時間保持して六方晶ストロンチウムフェライト粒子を析出（結晶化）させた。
次いで六方晶ストロンチウムフェライト粒子を含む上記で得られた結晶化物を乳鉢で粗粉砕し、ガラス瓶に粒径１ｍｍのジルコニアビーズ１０００ｇと濃度１％の酢酸水溶液を８００ｍＬ加えてペイントシェーカーにて３時間分散処理を行った。その後、得られた分散液をビーズと分離させステンレスビーカーに入れた。分散液を液温１００℃で３時間静置させてガラス成分の溶解処理を行った後、遠心分離器で沈澱させてデカンテーションを繰り返して洗浄し、炉内温度１１０℃の加熱炉内で６時間乾燥させて六方晶ストロンチウムフェライト粉末を得た。
上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末の平均粒子サイズは１８ｎｍ、活性化体積は９０２ｎｍ３、異方性定数Ｋｕは２．２×１０５Ｊ／ｍ３、質量磁化σｓは４９Ａ・ｍ２／ｋｇであった。
上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末から試料粉末を１２ｍｇ採取し、この試料粉末を先に例示した溶解条件によって部分溶解して得られたろ液の元素分析をＩＣＰ分析装置によって行い、ネオジム原子の表層部含有率を求めた。
別途、上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末から試料粉末を１２ｍｇ採取し、この試料粉末を先に例示した溶解条件によって全溶解して得られたろ液の元素分析をＩＣＰ分析装置によって行い、ネオジム原子のバルク含有率を求めた。
上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末の鉄原子１００原子％に対するネオジム原子の含有率（バルク含有率）は、２．９原子％であった。また、ネオジム原子の表層部含有率は８．０原子％であった。表層部含有率とバルク含有率との比率、「表層部含有率／バルク含有率」は２．８であり、ネオジム原子が粒子の表層に偏在していることが確認された。
ＳｒＣＯ３を１７０７ｇ、Ｈ３ＢＯ３を６８７ｇ、Ｆｅ２Ｏ３を１１２０ｇ、Ａｌ（ＯＨ）３を４５ｇ、ＢａＣＯ３を２４ｇ、ＣａＣＯ３を１３ｇ、およびＮｄ２Ｏ３を２３５ｇ秤量し、ミキサーにて混合し原料混合物を得た。
得られた原料混合物を、白金ルツボで溶融温度１３９０℃で溶融し、融液を撹拌しつつ白金ルツボの底に設けた出湯口を加熱し、融液を約６ｇ／秒で棒状に出湯させた。出湯液を水冷双ローラーで圧延急冷して非晶質体を作製した。
作製した非晶質体２８０ｇを電気炉に仕込み、昇温速度３．５℃／分にて６３５℃（結晶化温度）まで昇温し、同温度で５時間保持して六方晶ストロンチウムフェライト粒子を析出（結晶化）させた。
次いで六方晶ストロンチウムフェライト粒子を含む上記で得られた結晶化物を乳鉢で粗粉砕し、ガラス瓶に粒径１ｍｍのジルコニアビーズ１０００ｇと濃度１％の酢酸水溶液を８００ｍＬ加えてペイントシェーカーにて３時間分散処理を行った。その後、得られた分散液をビーズと分離させステンレスビーカーに入れた。分散液を液温１００℃で３時間静置させてガラス成分の溶解処理を行った後、遠心分離器で沈澱させてデカンテーションを繰り返して洗浄し、炉内温度１１０℃の加熱炉内で６時間乾燥させて六方晶ストロンチウムフェライト粉末を得た。
上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末の平均粒子サイズは１８ｎｍ、活性化体積は９０２ｎｍ３、異方性定数Ｋｕは２．２×１０５Ｊ／ｍ３、質量磁化σｓは４９Ａ・ｍ２／ｋｇであった。
上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末から試料粉末を１２ｍｇ採取し、この試料粉末を先に例示した溶解条件によって部分溶解して得られたろ液の元素分析をＩＣＰ分析装置によって行い、ネオジム原子の表層部含有率を求めた。
別途、上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末から試料粉末を１２ｍｇ採取し、この試料粉末を先に例示した溶解条件によって全溶解して得られたろ液の元素分析をＩＣＰ分析装置によって行い、ネオジム原子のバルク含有率を求めた。
上記で得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末の鉄原子１００原子％に対するネオジム原子の含有率（バルク含有率）は、２．９原子％であった。また、ネオジム原子の表層部含有率は８．０原子％であった。表層部含有率とバルク含有率との比率、「表層部含有率／バルク含有率」は２．８であり、ネオジム原子が粒子の表層に偏在していることが確認された。
【0139】
上記で得られた粉末が六方晶フェライトの結晶構造を示すことは、ＣｕＫα線を電圧４５ｋＶかつ強度４０ｍＡの条件で走査し、下記条件でＸ線回折パターンを測定すること（Ｘ線回折分析）により確認した。上記で得られた粉末は、マグネトプランバイト型（Ｍ型）の六方晶フェライトの結晶構造を示した。また、Ｘ線回折分析により検出された結晶相は、マグネトプランバイト型の単一相であった。
ＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ Ｘ’Ｐｅｒｔ Ｐｒｏ回折計、ＰＩＸｃｅｌ検出器
入射ビームおよび回折ビームのＳｏｌｌｅｒスリット：０．０１７ラジアン
分散スリットの固定角：１／４度
マスク：１０ｍｍ
散乱防止スリット：１／４度
測定モード：連続
１段階あたりの測定時間：３秒
測定速度：毎秒０．０１７度
測定ステップ：０．０５度
ＰＡＮａｌｙｔｉｃａｌ Ｘ’Ｐｅｒｔ Ｐｒｏ回折計、ＰＩＸｃｅｌ検出器
入射ビームおよび回折ビームのＳｏｌｌｅｒスリット：０．０１７ラジアン
分散スリットの固定角：１／４度
マスク：１０ｍｍ
散乱防止スリット：１／４度
測定モード：連続
１段階あたりの測定時間：３秒
測定速度：毎秒０．０１７度
測定ステップ：０．０５度
【0140】
表１中、「強磁性粉末」の欄における「ＳｒＦｅ２」は、以下のように作製された六方晶ストロンチウムフェライト粉末を示す。
ＳｒＣＯ３を１７２５ｇ、Ｈ３ＢＯ３を６６６ｇ、Ｆｅ２Ｏ３を１３３２ｇ、Ａｌ（ＯＨ）３を５２ｇ、ＣａＣＯ３を３４ｇ、ＢａＣＯ３を１４１ｇ秤量し、ミキサーにて混合し原料混合物を得た。
得られた原料混合物を、白金ルツボで溶融温度１３８０℃で溶解し、融液を撹拌しつつ白金ルツボの底に設けた出湯口を加熱し、融液を約６ｇ／秒で棒状に出湯させた。出湯液を水冷双ロールで圧延急冷して非晶質体を作製した。
得られた非晶質体２８０ｇを電気炉に仕込み、６４５℃（結晶化温度）まで昇温し、同温度で５時間保持し六方晶ストロンチウムフェライト粒子を析出（結晶化）させた。
次いで六方晶ストロンチウムフェライト粒子を含む上記で得られた結晶化物を乳鉢で粗粉砕し、ガラス瓶に粒径１ｍｍのジルコニアビーズ１０００ｇと濃度１％の酢酸水溶液を８００ｍＬ加えてペイントシェーカーにて３時間分散処理を行った。その後、得られた分散液をビーズと分離させステンレスビーカーに入れた。分散液を液温１００℃で３時間静置させてガラス成分の溶解処理を行った後、遠心分離器で沈澱させてデカンテーションを繰り返して洗浄し、炉内温度１１０℃の加熱炉内で６時間乾燥させて六方晶ストロンチウムフェライト粉末を得た。
得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末の平均粒子サイズは１９ｎｍ、活性化体積は１１０２ｎｍ３、異方性定数Ｋｕは２．０×１０５Ｊ／ｍ３、質量磁化σｓは５０Ａ・ｍ２／ｋｇであった。
ＳｒＣＯ３を１７２５ｇ、Ｈ３ＢＯ３を６６６ｇ、Ｆｅ２Ｏ３を１３３２ｇ、Ａｌ（ＯＨ）３を５２ｇ、ＣａＣＯ３を３４ｇ、ＢａＣＯ３を１４１ｇ秤量し、ミキサーにて混合し原料混合物を得た。
得られた原料混合物を、白金ルツボで溶融温度１３８０℃で溶解し、融液を撹拌しつつ白金ルツボの底に設けた出湯口を加熱し、融液を約６ｇ／秒で棒状に出湯させた。出湯液を水冷双ロールで圧延急冷して非晶質体を作製した。
得られた非晶質体２８０ｇを電気炉に仕込み、６４５℃（結晶化温度）まで昇温し、同温度で５時間保持し六方晶ストロンチウムフェライト粒子を析出（結晶化）させた。
次いで六方晶ストロンチウムフェライト粒子を含む上記で得られた結晶化物を乳鉢で粗粉砕し、ガラス瓶に粒径１ｍｍのジルコニアビーズ１０００ｇと濃度１％の酢酸水溶液を８００ｍＬ加えてペイントシェーカーにて３時間分散処理を行った。その後、得られた分散液をビーズと分離させステンレスビーカーに入れた。分散液を液温１００℃で３時間静置させてガラス成分の溶解処理を行った後、遠心分離器で沈澱させてデカンテーションを繰り返して洗浄し、炉内温度１１０℃の加熱炉内で６時間乾燥させて六方晶ストロンチウムフェライト粉末を得た。
得られた六方晶ストロンチウムフェライト粉末の平均粒子サイズは１９ｎｍ、活性化体積は１１０２ｎｍ３、異方性定数Ｋｕは２．０×１０５Ｊ／ｍ３、質量磁化σｓは５０Ａ・ｍ２／ｋｇであった。
【0141】
表１中、「強磁性粉末」の欄における「ε－酸化鉄」は、以下のように作製されたε－酸化鉄粉末を示す。
純水９０ｇに、硝酸鉄（ＩＩＩ）９水和物８．３ｇ、硝酸ガリウム（ＩＩＩ）８水和物１．３ｇ、硝酸コバルト（ＩＩ）６水和物１９０ｍｇ、硫酸チタン（ＩＶ）１５０ｍｇ、およびポリビニルピロリドン（ＰＶＰ）１．５ｇを溶解させたものを、マグネチックスターラーを用いて撹拌しながら、大気雰囲気中、雰囲気温度２５℃の条件下で、濃度２５％のアンモニア水溶液４．０ｇを添加し、雰囲気温度２５℃の温度条件のまま２時間撹拌した。得られた溶液に、クエン酸１ｇを純水９ｇに溶解させて得たクエン酸水溶液を加え、１時間撹拌した。撹拌後に沈殿した粉末を遠心分離によって採集し、純水で洗浄し、炉内温度８０℃の加熱炉内で乾燥させた。
乾燥させた粉末に純水８００ｇを加えて再度粉末を水に分散させて分散液を得た。得られた分散液を液温５０℃に昇温し、撹拌しながら濃度２５％アンモニア水溶液を４０ｇ滴下した。５０℃の温度を保ったまま１時間撹拌した後、テトラエトキシシラン（ＴＥＯＳ）１４ｍＬを滴下し、２４時間撹拌した。得られた反応溶液に、硫酸アンモニウム５０ｇを加え、沈殿した粉末を遠心分離によって採集し、純水で洗浄し、炉内温度８０℃の加熱炉内で２４時間乾燥させ、強磁性粉末の前駆体を得た。
得られた強磁性粉末の前駆体を、大気雰囲気下、炉内温度１０００℃の加熱炉内に装着し、４時間の熱処理を施した。
熱処理した強磁性粉末の前駆体を、４ｍｏｌ／Ｌの水酸化ナトリウム（ＮａＯＨ）水溶液中に投入し、液温を７０℃に維持して２４時間撹拌することにより、熱処理した強磁性粉末の前駆体から不純物であるケイ酸化合物を除去した。
その後、遠心分離処理により、ケイ酸化合物を除去した強磁性粉末を採集し、純水で洗浄を行い、強磁性粉末を得た。
得られた強磁性粉末の組成を高周波誘導結合プラズマ発光分光分析（ＩＣＰ－ＯＥＳ；Ｉｎｄｕｃｔｉｖｅｌｙ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｐｌａｓｍａ－Ｏｐｔｉｃａｌ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ）により確認したところ、Ｇａ、ＣｏおよびＴｉ置換型ε－酸化鉄（ε－Ｇａ０．２８Ｃｏ０．０５Ｔｉ０．０５Ｆｅ１．６２Ｏ３）であった。また、先に六方晶ストロンチウムフェライト粉末ＳｒＦｅ１に関して記載した条件と同様の条件でＸ線回折分析を行い、Ｘ線回折パターンのピークから、得られた強磁性粉末が、α相およびγ相の結晶構造を含まない、ε相の単相の結晶構造（ε－酸化鉄型の結晶構造）を有することを確認した。
得られたε－酸化鉄粉末の平均粒子サイズは１２ｎｍ、活性化体積は７４６ｎｍ３、異方性定数Ｋｕは１．２×１０５Ｊ／ｍ３、質量磁化σｓは１６Ａ・ｍ２／ｋｇであった。
純水９０ｇに、硝酸鉄（ＩＩＩ）９水和物８．３ｇ、硝酸ガリウム（ＩＩＩ）８水和物１．３ｇ、硝酸コバルト（ＩＩ）６水和物１９０ｍｇ、硫酸チタン（ＩＶ）１５０ｍｇ、およびポリビニルピロリドン（ＰＶＰ）１．５ｇを溶解させたものを、マグネチックスターラーを用いて撹拌しながら、大気雰囲気中、雰囲気温度２５℃の条件下で、濃度２５％のアンモニア水溶液４．０ｇを添加し、雰囲気温度２５℃の温度条件のまま２時間撹拌した。得られた溶液に、クエン酸１ｇを純水９ｇに溶解させて得たクエン酸水溶液を加え、１時間撹拌した。撹拌後に沈殿した粉末を遠心分離によって採集し、純水で洗浄し、炉内温度８０℃の加熱炉内で乾燥させた。
乾燥させた粉末に純水８００ｇを加えて再度粉末を水に分散させて分散液を得た。得られた分散液を液温５０℃に昇温し、撹拌しながら濃度２５％アンモニア水溶液を４０ｇ滴下した。５０℃の温度を保ったまま１時間撹拌した後、テトラエトキシシラン（ＴＥＯＳ）１４ｍＬを滴下し、２４時間撹拌した。得られた反応溶液に、硫酸アンモニウム５０ｇを加え、沈殿した粉末を遠心分離によって採集し、純水で洗浄し、炉内温度８０℃の加熱炉内で２４時間乾燥させ、強磁性粉末の前駆体を得た。
得られた強磁性粉末の前駆体を、大気雰囲気下、炉内温度１０００℃の加熱炉内に装着し、４時間の熱処理を施した。
熱処理した強磁性粉末の前駆体を、４ｍｏｌ／Ｌの水酸化ナトリウム（ＮａＯＨ）水溶液中に投入し、液温を７０℃に維持して２４時間撹拌することにより、熱処理した強磁性粉末の前駆体から不純物であるケイ酸化合物を除去した。
その後、遠心分離処理により、ケイ酸化合物を除去した強磁性粉末を採集し、純水で洗浄を行い、強磁性粉末を得た。
得られた強磁性粉末の組成を高周波誘導結合プラズマ発光分光分析（ＩＣＰ－ＯＥＳ；Ｉｎｄｕｃｔｉｖｅｌｙ Ｃｏｕｐｌｅｄ Ｐｌａｓｍａ－Ｏｐｔｉｃａｌ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ Ｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ）により確認したところ、Ｇａ、ＣｏおよびＴｉ置換型ε－酸化鉄（ε－Ｇａ０．２８Ｃｏ０．０５Ｔｉ０．０５Ｆｅ１．６２Ｏ３）であった。また、先に六方晶ストロンチウムフェライト粉末ＳｒＦｅ１に関して記載した条件と同様の条件でＸ線回折分析を行い、Ｘ線回折パターンのピークから、得られた強磁性粉末が、α相およびγ相の結晶構造を含まない、ε相の単相の結晶構造（ε－酸化鉄型の結晶構造）を有することを確認した。
得られたε－酸化鉄粉末の平均粒子サイズは１２ｎｍ、活性化体積は７４６ｎｍ３、異方性定数Ｋｕは１．２×１０５Ｊ／ｍ３、質量磁化σｓは１６Ａ・ｍ２／ｋｇであった。
【0142】
上記の六方晶ストロンチウムフェライト粉末およびε－酸化鉄粉末の活性化体積および異方性定数Ｋｕは、各強磁性粉末について、振動試料型磁力計（東英工業社製）を用いて、先に記載の方法により求められた値である。
また、質量磁化σｓは、振動試料型磁力計（東英工業社製）を用いて磁場強度１１９４ｋＡ／ｍ（１５ｋＯｅ）で測定された値である。
また、質量磁化σｓは、振動試料型磁力計（東英工業社製）を用いて磁場強度１１９４ｋＡ／ｍ（１５ｋＯｅ）で測定された値である。
【0143】
［磁気テープの物性評価］
実施例および比較例については、エリアＡ用磁気テープから切り出したテープ試料およびエリアＢ用磁気テープから切り出したテープ試料を各種測定のために使用できる。そのため、エリアＡ用磁気テープおよびエリアＢ用磁気テープが入手可能な場合に関する先の記載にしたがい、エリアＡ用磁気テープおよびエリアＢ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて、実施例および比較例の各磁気テープについての各種物性値を得るために以下の物性評価を行った。
実施例および比較例については、エリアＡ用磁気テープから切り出したテープ試料およびエリアＢ用磁気テープから切り出したテープ試料を各種測定のために使用できる。そのため、エリアＡ用磁気テープおよびエリアＢ用磁気テープが入手可能な場合に関する先の記載にしたがい、エリアＡ用磁気テープおよびエリアＢ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて、実施例および比較例の各磁気テープについての各種物性値を得るために以下の物性評価を行った。
【0144】
＜エリアＡの磁性層表面Ｒａ、エリアＢの磁性層表面Ｒａ＞
ＡＦＭ（Ｖｅｅｃｏ社製Ｎａｎｏｓｃｏｐｅ４）をタッピングモードで用いて各テープ試料の磁性層表面の無作為に選択した面積４０μｍ×４０μｍの領域を測定して中心線平均表面粗さＲａを求めた。探針としてはＢＲＵＫＥＲ社製ＲＴＥＳＰ－３００を使用し、分解能は５１２ｐｉｘｅｌ×５１２ｐｉｘｅｌとし、スキャン速度は１画面（５１２ｐｉｘｅｌ×５１２ｐｉｘｅｌ）を３４１秒で測定する速度とした。
ＡＦＭ（Ｖｅｅｃｏ社製Ｎａｎｏｓｃｏｐｅ４）をタッピングモードで用いて各テープ試料の磁性層表面の無作為に選択した面積４０μｍ×４０μｍの領域を測定して中心線平均表面粗さＲａを求めた。探針としてはＢＲＵＫＥＲ社製ＲＴＥＳＰ－３００を使用し、分解能は５１２ｐｉｘｅｌ×５１２ｐｉｘｅｌとし、スキャン速度は１画面（５１２ｐｉｘｅｌ×５１２ｐｉｘｅｌ）を３４１秒で測定する速度とした。
【0145】
＜比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇ、比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋ＞
各テープ試料を用いて、先に記載の方法によって潤滑剤抽出量ＡＭａｇ、ＢＭａｇおよびＢＢａｃｋを求めた。求められた値から、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇおよび比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋを算出した。
各テープ試料を用いて、先に記載の方法によって潤滑剤抽出量ＡＭａｇ、ＢＭａｇおよびＢＢａｃｋを求めた。求められた値から、比率ＢＭａｇ／ＡＭａｇおよび比率ＢＭａｇ／ＢＢａｃｋを算出した。
【0146】
＜エリアＢの磁性層表面において測定される鋼球摩耗体積＞
エリアＢ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて、先に記載した方法によって、磁性層表面において鋼球摩耗体積を測定した。
エリアＢ用磁気テープから切り出したテープ試料を用いて、先に記載した方法によって、磁性層表面において鋼球摩耗体積を測定した。
【0147】
実施例および比較例の磁気テープに関する各種物性値について、１つの磁気テープにエリアＡが複数含まれる場合、複数のエリアＡの各種物性値は、いずれも上記テープ試料を用いて求められた値と同じ値と見なすことができる。１つの磁気テープにエリアＢが複数含まれる場合、複数のエリアＢの各種物性値は、いずれも上記テープ試料を用いて求められた値と同じ値と見なすことができる。
【0148】
［高温環境での繰り返し走行における電磁変換特性の評価］
雰囲気温度６０℃±１℃相対湿度１０％の環境にて、上記のように磁気テープを巻取ったテープリールを、ＩＢＭ社製ＬＴＯ８テープドライブに搭載されている記録再生ヘッドを固定した１／２インチリールテスターに取り付け、記録および再生を行う際の磁気ヘッドと磁気テープとの相対速度を４ｍ／秒として、データの記録および再生を行った。
記録は線記録密度３００ｋｆｃｉで行い、再生を行った際の再生出力を測定し、信号対雑音比（再生出力とノイズとの比）としてＳＮＲを求めた。単位ｋｆｃｉとは、線記録密度の単位（ＳＩ単位系に換算不可）である。
走行１パス目に記録再生した時のＳＮＲと、走行１０，０００パス目に記録再生したときのＳＮＲの差を算出した。走行１０，０００パス目のＳＮＲが走行１パス目のＳＮＲと比べて５．０ｄＢ超低下した場合を判定ＮＧとした。ＳＮＲの測定はエリアＡで行った。
比較例７および比較例８では、繰り返し走行中に磁気ヘッドが磁性層表面に貼り付いてしまい、走行が停止してしまったため、走行１０，０００パス目のＳＮＲを求めることができなかった（表２中、「貼りつき停止」と表記）。そのため、比較例７および比較例８も判定ＮＧとした。
上記以外の場合、判定ＯＫとした。
雰囲気温度６０℃±１℃相対湿度１０％の環境にて、上記のように磁気テープを巻取ったテープリールを、ＩＢＭ社製ＬＴＯ８テープドライブに搭載されている記録再生ヘッドを固定した１／２インチリールテスターに取り付け、記録および再生を行う際の磁気ヘッドと磁気テープとの相対速度を４ｍ／秒として、データの記録および再生を行った。
記録は線記録密度３００ｋｆｃｉで行い、再生を行った際の再生出力を測定し、信号対雑音比（再生出力とノイズとの比）としてＳＮＲを求めた。単位ｋｆｃｉとは、線記録密度の単位（ＳＩ単位系に換算不可）である。
走行１パス目に記録再生した時のＳＮＲと、走行１０，０００パス目に記録再生したときのＳＮＲの差を算出した。走行１０，０００パス目のＳＮＲが走行１パス目のＳＮＲと比べて５．０ｄＢ超低下した場合を判定ＮＧとした。ＳＮＲの測定はエリアＡで行った。
比較例７および比較例８では、繰り返し走行中に磁気ヘッドが磁性層表面に貼り付いてしまい、走行が停止してしまったため、走行１０，０００パス目のＳＮＲを求めることができなかった（表２中、「貼りつき停止」と表記）。そのため、比較例７および比較例８も判定ＮＧとした。
上記以外の場合、判定ＯＫとした。
【0149】
以上の結果を、表１（表１－１～表１－３）および表２（表２－１～表２－３）に示す。
【0150】
【表1-1】
【0151】
【表1-2】
【0152】
【表1-3】
【0153】
【表2-1】
【0154】
【表2-2】
【0155】
【表2-3】
【0156】
表２に示す結果から、実施例の磁気テープが、過酷な高温環境で走行を繰り返しても電磁変換特性の低下が少ない磁気テープであることが確認できる。
【産業上の利用可能性】
【0157】
本発明の一態様は、データストレージ用磁気テープの技術分野において有用である。
【図1】
【図2】
【図3】
