特開2022-37825温度測定装置、温度測定方法、レーザ強度分布測定装置、レーザ強度分布測定方法、半導体回路評価装置及び半導体回路評価方法

発明の名称　温度測定装置、温度測定方法、レーザ強度分布測定装置、レーザ強度分布測定方法、半導体回路評価装置及び半導体回路評価方法

出願人　国立大学法人広島大学　（識別番号 504136568）

　　　　特許公開件数ランキング 512 位（83件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 570 位（64件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2022-37825

公報発行日　2022年3月9

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2022-37825

知財ポータルサイト IP Force にログインすれば、特開-2022-37825「温度測定装置、温度測定方法、レーザ強度分布測定装置、レーザ強度分布測定方法、半導体回路評価装置及び半導体回路評価方法」の公報全文を閲覧することができます。

ログインはこちら　ログイン・ユーザー登録