特開 2023-114763 電子機器、画像形成装置および制御方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023114763

(43)【公開日】2023-08-18

(54)【発明の名称】電子機器、画像形成装置および制御方法

(51)【国際特許分類】

   G03G 21/00 20060101AFI20230810BHJP

   G01K 7/24 20060101ALI20230810BHJP

   G03G 15/20 20060101ALI20230810BHJP

   G03G 21/20 20060101ALI20230810BHJP

【ＦＩ】

G03G21/00 510

G01K7/24 M

G03G15/20 555

G03G21/20

【審査請求】未請求

【請求項の数】10

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022017258

(22)【出願日】2022-02-07

(71)【出願人】

【識別番号】000006747

【氏名又は名称】株式会社リコー

(74)【代理人】

【識別番号】100089118

【弁理士】

【氏名又は名称】酒井 宏明

(72)【発明者】

【氏名】岡村 悠

【テーマコード（参考）】

2H033

2H270

【Ｆターム（参考）】

2H033AA35

2H033BA31

2H033CA02

2H033CA34

2H033CA57

2H270LA24

2H270LA98

2H270LA99

2H270LD05

2H270LD08

2H270NC23

2H270ND23

2H270NE01

2H270QB07

2H270RA15

2H270RB04

2H270RB09

2H270RC18

2H270ZC03

2H270ZC04

(57)【要約】

【課題】装置のダウンタイムを低減できる電子機器、画像形成装置および制御方法を提供する。
【解決手段】ＭＦＰ１に配置されたサーミスタＲ２と、所定電圧にプルアップするための抵抗Ｒ１とで分圧された電圧を検出する検出部１１１と、検出部１１１により検出された電圧に基づいて、少なくともサーミスタＲ２に接続された配線の状態を判断する判断部１１２と、判断部１１２の判断結果に応じて、ＭＦＰ１の制御を切り替える制御部１１３と、を備える。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

装置に配置されたサーミスタと、所定電圧にプルアップするための第１抵抗とで分圧された電圧を検出する検出部と、
前記検出部により検出された電圧に基づいて、少なくとも前記サーミスタに接続された配線の状態を判断する判断部と、
前記判断部の判断結果に応じて、前記装置の制御を切り替える制御部と、
を備えた電子機器。

【請求項2】

前記サーミスタの上流側と前記第１抵抗とが、コネクタを介して接続され、
前記サーミスタの下流側と、接地された第２抵抗とが、前記コネクタを介して接続され、
前記判断部は、前記検出部により検出された電圧に基づいて、前記サーミスタに接続された配線の挟み込みの状態、および前記コネクタの接続状態を判断する請求項１に記載の電子機器。

【請求項3】

前記判断部は、前記検出部により、前記第１抵抗によりプルアップされた前記所定電圧を前記第１抵抗の抵抗値と前記サーミスタの抵抗値と前記第２抵抗の抵抗値との和で割った値と、該サーミスタの抵抗値と前記第２抵抗の抵抗値との和と、の積の値未満の電圧が検出された場合、前記サーミスタと前記第２抵抗との間の配線で挟み込みが発生していると判断し、
前記制御部は、
前記挟み込みに起因する抵抗と、前記第２抵抗との合成抵抗値を算出し、
前記検出部により検出される電圧と、算出した前記合成抵抗値とに基づいた温度検出動作に切り替える請求項２に記載の電子機器。

【請求項4】

前記サーミスタの抵抗値は、前記電子機器の起動時に、外気温度センサにより検出された温度が前記サーミスタにより検出された温度であると推定された場合に算出される抵抗値である請求項３に記載の電子機器。

【請求項5】

前記判断部は、前記検出部により前記電圧が０であることが検出された場合、前記サーミスタと前記第１抵抗との間の配線で挟み込みにより接地が発生していると判断し、
前記制御部は、前記装置の動作を停止させる請求項１～４のいずれか一項に記載の電子機器。

【請求項6】

前記判断部は、前記検出部によって、前記第１抵抗によりプルアップされた前記所定電圧が検出された場合、前記コネクタの抜け、または、前記サーミスタと前記コネクタとの間の配線で断線が発生していると判断し、
前記制御部は、前記装置の動作を停止させる請求項２～４のいずれか一項に記載の電子機器。

【請求項7】

前記判断部によって前記サーミスタと前記第２抵抗との間の配線で挟み込みが発生していると判断された場合、外部にその旨を通知する通知部を、さらに備えた請求項３または４に記載の電子機器。

【請求項8】

前記検出部は、前記装置の起動時に、前記サーミスタと前記第１抵抗とで分圧された電圧を検出する請求項１～７のいずれか一項に記載の電子機器。

【請求項9】

前記装置としての画像形成装置に配置された前記サーミスタと、
前記第１抵抗と、
請求項１～８のいずれか一項に記載の電子機器と、
を備えた画像形成装置。

【請求項10】

装置に配置されたサーミスタと、所定電圧にプルアップするための第１抵抗とで分圧された電圧を検出する検出ステップと、
検出した電圧に基づいて、少なくとも前記サーミスタに接続された配線の状態を判断する判断ステップと、
前記判断ステップでの判断結果に応じて、前記装置の制御を切り替える制御ステップと、
を有する制御方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、電子機器、画像形成装置および制御方法に関する。

【背景技術】

【0002】

ワイヤーハーネスの断線を検知するため、様々な技術が既に知られている。そのような断線を検知する技術として、検知対象の電線にパルス信号を送信し、送信波と反射波との時間差を測定することにより、ワイヤーハーネスの断線を検知する技術が開示されている（例えば特許文献１）。

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0003】

しかしながら、特許文献１に記載された技術では、異常の状態に依らず停止制御を実施するために一律にシステムをダウンさせてしまうため、ダウンタイムが長くなってしまうという問題があった。

【0004】

本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、装置のダウンタイムを低減できる電子機器、画像形成装置および制御方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0005】

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、装置に配置されたサーミスタと、所定電圧にプルアップするための第１抵抗とで分圧された電圧を検出する検出部と、前記検出部により検出された電圧に基づいて、少なくとも前記サーミスタに接続された配線の状態を判断する判断部と、前記判断部の判断結果に応じて、前記装置の制御を切り替える制御部と、を備えたことを特徴とする。

【発明の効果】

【0006】

本発明によれば、装置のダウンタイムを低減できる。

【図面の簡単な説明】

【0007】

【図1】図１は、実施形態に係るＭＦＰの要部構成の一例を示す図である。

【図2】図２は、実施形態に係る制御ＡＳＩＣの機能ブロックの構成の一例を示す図である。

【図3】図３は、実施形態に係るＭＦＰの異常検知処理の流れの一例を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0008】

以下、添付図面を参照しながら、本発明に係る電子機器、画像形成装置および制御方法を詳細に説明する。また、以下の実施形態によって本発明が限定されるものではなく、以下の実施形態における構成要素には、当業者が容易に想到できるもの、実質的に同一のもの、およびいわゆる均等の範囲のものが含まれる。さらに、以下の実施形態の要旨を逸脱しない範囲で構成要素の種々の省略、置換、変更および組み合わせを行うことができる。

【0009】

（ＭＦＰの要部構成）
図１は、実施形態に係るＭＦＰの要部構成の一例を示す図である。図１を参照しながら、本実施形態に係るＭＰＦ（Ｍｕｌｔｉｆｕｎｃｔｉｏｎ Ｐｅｒｉｐｈｅｒａｌ）１の要部構成について説明する。

【0010】

図１に示すように、ＭＦＰ１は、画像形成装置（装置の一例）の一例であり、印刷ジョブ等に基づいて、画像形成を行い、印刷出力を行う複合機である。なお、複合機とは、コピー機能、プリンタ機能、スキャナ機能、およびファックス機能のうち少なくとも２つの機能を有する装置である。ＭＦＰ１は、図１に示すように、ＩＯＢ１０と、サーミスタＲ２と、を有する。なお、図１には、装置の一例としてＭＦＰ１を示しているが、これに限定されるものではなく、装置としては、インクジェットプリンタ、電子黒板、会議端末装置、またはＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）およびスマートフォン等の情報処理装置等も想定される。本実施形態では、装置としてＭＦＰ１を例に挙げて説明する。

【0011】

ＩＯＢ１０は、Ｉ／Ｏ制御を行う制御基板である。ＩＯＢ１０は、制御ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）１１と、抵抗Ｒ１（第１抵抗）、抵抗Ｒ３（第２抵抗）と、を備えている。

【0012】

制御ＡＳＩＣ１１は、ＩＯＢ１０の動作を制御する電子回路である。

【0013】

抵抗Ｒ１は、サーミスタＲ２の上流側を５［Ｖ］の電源電圧（所定電圧の一例）にプルアップするための抵抗（プルアップ抵抗）である。なお、抵抗Ｒ１によりプルアップされる電圧は、電源電圧の５［Ｖ］に限定されない。抵抗Ｒ１は、コネクタＣＮを介してサーミスタＲ２に接続される。抵抗Ｒ１とコネクタＣＮとの間の配線は、制御ＡＳＩＣ１１に接続され、当該配線での電圧が、制御ＡＳＩＣ１１内のＡＤＣ（Ａｎａｌｏｇ ｔｏ Ｄｉｇｉｔａｌ Ｃｏｎｖｅｒｔｅｒ）によってデジタル値に変換されて検出電圧として検出される。例えば、電源電圧５［Ｖ］から接地までの経路で断線等がなければ、温度によって変化するサーミスタＲ２の抵抗値に応じて、５［Ｖ］から抵抗Ｒ１での電圧降下分を差し引いた電圧が、ＡＤＣによって検出される。一方、断線等により電源電圧５［Ｖ］から接地までの経路で電流が流れなければ電源電圧である５［Ｖ］が、ＡＤＣによって検出される。

【0014】

抵抗Ｒ３は、サーミスタＲ２の下流側を接地するための抵抗である。抵抗Ｒ３は、コネクタＣＮを介してサーミスタＲ２に接続される。

【0015】

サーミスタＲ２は、温度により抵抗値が変わる部材である。したがって、制御ＡＳＩＣ１１は、サーミスタＲ２の抵抗値を直接的または間接的（例えばサーミスタＲ２を含む部品の電圧を検出する場合等）に検出することによって、サーミスタＲ２が配置された環境温度を検出することができる。また、ＭＦＰ１の場合、サーミスタＲ２により、例えばトナーを定着させる定着ユニットのヒータ温度、または、作像ユニットの温度等を検出する。

【0016】

なお、本発明に係る電子機器は、制御ＡＳＩＣ１１と捉えることもでき、制御ＡＳＩＣ１１を備えるＩＯＢ１０と捉えることもでき、さらに、ＩＯＢ１０を搭載したＭＦＰ１と捉えることもできる。

【0017】

ここで、図１に示すように、コネクタＣＮからＩＯＢ１０外のサーミスタＲ２へ接続される配線は、ＭＦＰ１内に配置された各部品によって挟み込みを受けると、当該配線の被膜が破断して当該部品に接触した状態、または当該部品を介して接地された状態等になる場合がある。具体的には、サーミスタＲ２の上流側の配線の箇所Ａ、または、サーミスタＲ２の下流側の配線の箇所Ｂの少なくともいずれかで挟み込みが発生する場合がある。したがって、箇所Ａでの挟み込み、箇所Ｂでの挟み込み、またはコネクタＣＮの抜けにより、制御ＡＳＩＣ１１で検出される検出電圧が変化する。本実施形態に係る制御ＡＳＩＣ１１は、この検出電圧の変化に応じて、動作を変更する。当該動作の変更については、以下で詳述する。

【0018】

（制御ＡＳＩＣの機能ブロックの構成）
図２は、実施形態に係る制御ＡＳＩＣの機能ブロックの構成の一例を示す図である。図２を参照しながら、本実施形態に係る制御ＡＳＩＣ１１の機能ブロックの構成について説明する。

【0019】

図２に示すように、制御ＡＳＩＣ１１は、検出部１１１と、判断部１１２と、制御部１１３と、通知部１１４と、を有する。

【0020】

検出部１１１は、抵抗Ｒ１とコネクタＣＮとを接続する配線の電圧（すなわち、抵抗Ｒ１の下流側の電圧）の電圧を検出する機能部である。すなわち、検出部１１１は、サーミスタＲ２と、プルアップするための抵抗Ｒ１とで分圧された電圧を検出する。上述のようにサーミスタＲ２は、温度によって抵抗値が変化するため、検出部１１１による電圧の検出については、ＭＦＰ１の起動時、すなわちＭＦＰ１の内部温度（サーミスタＲ２の配置環境の温度）≒ＭＦＰ１の外気温度となるタイミングにおいて行い、外気温度センサにより検出された温度をサーミスタＲ２により検出された温度と推定し、推定された温度から算出される当該サーミスタＲ２の抵抗値を用いて、後述の判断部１１２による判断処理が実行される。検出部１１１は、制御ＡＳＩＣ１１が有する上述のＡＤＣによって実現される。

【0021】

判断部１１２は、検出部１１１により検出された電圧（検出電圧）により、発生している現象を判断する。具体的には、判断部１１２は、箇所Ａにおける挟み込みの発生、箇所Ｂにおける挟み込みの発生、またはコネクタＣＮの抜けの発生の有無（コネクタＣＮの接続状態）等を判断する。

【0022】

例えば、判断部１１２は、検出部１１１による検出温度が０［Ｖ］の場合、箇所Ａで挟み込みにより接地が発生している（すなわち、抵抗Ｒ１のみで５［Ｖ］の電圧降下が発生している）と判断する。箇所Ａで接地が発生する態様としては、箇所Ａの配線において周囲部品による挟み込みにより被膜が破れ、配線内の金属線が当該周囲部品に接触して接地が起こる等が考えられる。

【0023】

また、判断部１１２は、検出部１１１による検出電圧が５／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）×（Ｒ２＋Ｒ３）［Ｖ］未満である場合、箇所Ｂで挟み込みが発生していると判断する。ここで、「Ｒ２」は、上述のように、推定されたサーミスタＲ２の抵抗値である。箇所Ｂで挟み込みが発生した場合、箇所Ｂの配線において周囲部品による挟み込みにより被膜が破れ、配線内の金属線が当該周囲部品に接触することにより当該周囲部品を介して接地が起こる等が考えられる。したがって、箇所Ｂでの挟み込みが起きた周囲部品に起因する抵抗と、抵抗Ｒ３とで合成抵抗が形成され、正常な検出電圧である５／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）×（Ｒ２＋Ｒ３）よりも小さくなる。

【0024】

また、判断部１１２は、検出部１１１による検出電圧が５［Ｖ］である場合、コネクタＣＮの抜け（コネクタ抜け）、または、箇所Ａもしくは箇所Ｂで挟み込みにより断線が発生している（すなわち、抵抗Ｒ１には電流が流れず電圧降下が発生しない）と判断する。

【0025】

また、判断部１１２は、検出部１１１による検出電圧が５／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）×（Ｒ２＋Ｒ３）［Ｖ］である場合、箇所Ａおよび箇所Ｂでの挟み込みによる不具合、およびコネクタＣＮの抜けが発生していないと判断する。

【0026】

制御部１１３は、判断部１１２による判断結果に応じて、ＭＦＰ１の動作を変更する機能部である。

【0027】

具体的には、制御部１１３は、判断部１１２によって箇所Ａで挟み込みにより接地が発生していると判断された場合、サーミスタＲ２による温度検出が不能と判断し、ＭＦＰ１の動作を停止させる。

【0028】

また、制御部１１３は、判断部１１２によって箇所Ｂで挟み込みが発生していると判断された場合、サーミスタＲ２による温度検出は継続可能とし、以下の式（１）によって箇所Ｂでの挟み込みが起きた周囲部品に起因する抵抗と、抵抗Ｒ３との合成抵抗値を算出する。

【0029】

合成抵抗値＝｛ＡＤＣ検出値×（Ｒ１＋Ｒ２）－（５Ｖ×Ｒ２）｝/（５Ｖ－ＡＤＣ検出値） ・・・（１）

【0030】

式（１）において、ＡＤＣ検出値とは、検出部１１１により検出された検出電圧の値である。そして、制御部１１３は、算出した合成抵抗値で抵抗Ｒ３の抵抗値を置換した、変換テーブルを用いた温度検出動作に切り替える。ここで、変換テーブルとは、例えば、サーミスタＲ２の抵抗値と、サーミスタＲ２の配置環境の温度とを対応付けるテーブルである。

【0031】

例えば、箇所Ａおよび箇所Ｂでの挟み込みによる不具合、およびコネクタＣＮの抜けが発生していない場合、検出部１１１による検出電圧は、５／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）×（Ｒ２＋Ｒ３）［Ｖ］と一致することから、サーミスタＲ２の抵抗値が求まる。そして、変換テーブルにおいて、サーミスタＲ２の抵抗値に対応する温度を、サーミスタＲ２の配置環境の温度として求めることができる。

【0032】

一方、箇所Ｂで挟み込みが発生している場合、検出部１１１による検出電圧は、５／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）×（Ｒ２＋Ｒ３）［Ｖ］のうち抵抗Ｒ３の抵抗値を合成抵抗値に置換した５／（Ｒ１＋Ｒ２＋合成抵抗値）×（Ｒ２＋合成抵抗値）［Ｖ］と一致することから、サーミスタＲ２の抵抗値が求まる。そして、変換テーブルにおいて、サーミスタＲ２の抵抗値に対応する温度を、サーミスタＲ２の配置環境の温度として求めることができる。

【0033】

また、制御部１１３は、判断部１１２によってコネクタＣＮの抜け（コネクタ抜け）、または、箇所Ａもしくは箇所Ｂで挟み込みにより断線が発生していると判断された場合、サーミスタＲ２による温度検出が不能と判断し、ＭＦＰ１の動作を停止させる。

【0034】

また、制御部１１３は、判断部１１２によって挟み込み箇所Ａおよび箇所Ｂでの挟み込みによる不具合、およびコネクタＣＮの抜けが発生していないと判断された場合、通常動作として抵抗Ｒ１、サーミスタＲ２および抵抗Ｒ３に基づいて、変換テーブルを用いた温度検出動作の制御を行う。

【0035】

通知部１１４は、判断部１１２により箇所Ｂで挟み込みが発生していると判断された場合、制御部１１３の制御に従って、外部のサービスマン等に通知する機能部である。通知部１１４は、例えば、ＭＦＰ１のネットワークＩ／Ｆを介して異常の状態を示す情報を含むメールによる通知を行わせてもよく、ＭＦＰ１の異常ランプの点灯等により異常を伝える等の動作を行うものとしてもよい。なお、通知部１１４は、制御部１１３によって、判断部１１２による判断に基づいてＭＦＰ１の動作が停止された場合にも、その旨を外部に通知するものとしてもよい。

【0036】

なお、判断部１１２、制御部１１３および通知部１１４は、制御ＡＳＩＣ１１により実現されることに限定されるものではなく、ＩＯＢ１０またはＭＦＰ１に搭載されたＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）等でプログラムが実行されることによって実現されるものとしてもよい。

【0037】

（ＭＦＰの異常検知処理）
図３は、実施形態に係るＭＦＰの異常検知処理の流れの一例を示すフローチャートである。図３を参照しながら、本実施形態に係るＭＦＰ１の異常検知処理について説明する。

【0038】

＜ステップＳ１１＞
ＭＦＰ１が起動した場合（ステップＳ１１：Ｙｅｓ）、ステップＳ１２へ移行し、ＭＦＰ１が起動していない場合（ステップＳ１１：Ｎｏ）、起動するまで待機する。

【0039】

＜ステップＳ１２＞
検出部１１１は、ＡＤＣの機能により抵抗Ｒ１とコネクタＣＮとを接続する配線の電圧（すなわち、抵抗Ｒ１の下流側の電圧）の電圧を検出する。そして、ステップＳ１３へ移行する。

【0040】

＜ステップＳ１３＞
判断部１１２は、検出部１１１による検出温度が０［Ｖ］であるか否かを判断する。検出部１１１による検出温度が０［Ｖ］の場合（ステップＳ１３：Ｙｅｓ）、ステップＳ１６へ移行し、０［Ｖ］でない場合（ステップＳ１３：Ｎｏ）、ステップＳ１４へ移行する。

【0041】

＜ステップＳ１４＞
判断部１１２は、検出部１１１による検出電圧が５／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）×（Ｒ２＋Ｒ３）［Ｖ］未満であるか否かを判断する。ここで、「Ｒ２」は、上述のように、推定されたサーミスタＲ２の抵抗値である。検出部１１１による検出電圧が５／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）×（Ｒ２＋Ｒ３）［Ｖ］未満である場合（ステップＳ１４：Ｙｅｓ）、ステップＳ１７へ移行し、５／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）×（Ｒ２＋Ｒ３）［Ｖ］未満でない場合（ステップＳ１４：Ｎｏ）、ステップＳ１５へ移行する。

【0042】

＜ステップＳ１５＞
判断部１１２は、検出部１１１による検出温度が５［Ｖ］であるか否かを判断する。検出部１１１による検出電圧が５［Ｖ］である場合（ステップＳ１５：Ｙｅｓ）、ステップＳ１８へ移行し、５［Ｖ］でない場合（ステップＳ１５：Ｎｏ）、異常はないものとして異常検知処理を終了する。ここで、検知電圧が５［Ｖ］でない場合とは、具体的には、検出電圧として正常な５／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）×（Ｒ２＋Ｒ３）［Ｖ］である場合である。

【0043】

＜ステップＳ１６＞
判断部１１２は、検出部１１１による検出温度が０［Ｖ］の場合、挟み込み箇所Ａで挟み込みにより接地が発生している（すなわち、抵抗Ｒ１のみで５［Ｖ］の電圧降下が発生している）と判断する。そして、制御部１１３は、判断部１１２によって挟み込み箇所Ａで挟み込みにより接地が発生していると判断された場合、サーミスタＲ２による温度検出が不能と判断し、ＭＦＰ１の動作を停止させる。そして、異常検知処理を終了する。

【0044】

＜ステップＳ１７＞
判断部１１２は、検出部１１１による検出電圧が５／（Ｒ１＋Ｒ２＋Ｒ３）×（Ｒ２＋Ｒ３）［Ｖ］未満である場合、箇所Ｂで挟み込みが発生していると判断する。そして、制御部１１３は、判断部１１２によって箇所Ｂで挟み込みが発生していると判断された場合、サーミスタＲ２による温度検出は継続可能とし、上述の式（１）によって箇所Ｂでの挟み込みが起きた周囲部品に起因する抵抗と、抵抗Ｒ３との合成抵抗値を算出する。そして、制御部１１３は、検出部１１１により検出される検出電圧と、算出した合成抵抗値とに基づいた温度検出動作に切り替える。具体的には、制御部１１３は、算出した合成抵抗値で抵抗Ｒ３の抵抗値を置換した、変換テーブルを用いた温度検出動作に切り替える。さらに、通知部１１４は、判断部１１２により箇所Ｂで挟み込みが発生していると判断された場合、制御部１１３の制御に従って、外部のサービスマン等に通知する。そして、異常検知処理を終了する。

【0045】

＜ステップＳ１８＞
判断部１１２は、検出部１１１による検出電圧が５［Ｖ］である場合、コネクタＣＮの抜け（コネクタ抜け）、または、箇所Ａもしくは箇所Ｂで挟み込みにより断線が発生している（すなわち、抵抗Ｒ１には電流が流れず電圧降下が発生しない）と判断する。そして、制御部１１３は、判断部１１２によってコネクタＣＮの抜け（コネクタ抜け）、または、箇所Ａもしくは箇所Ｂで挟み込みにより断線が発生していると判断された場合、サーミスタＲ２による温度検出が不能と判断し、ＭＦＰ１の動作を停止させる。そして、異常検知処理を終了する。

【0046】

以上のステップＳ１１～Ｓ１８の流れによって、異常検知処理が実行される。

【0047】

以上のように、本実施形態に係るＭＦＰ１では、検出部１１１は、ＭＦＰ１に配置されたサーミスタＲ２と、所定電圧にプルアップするための抵抗Ｒ１とで分圧された電圧を検出し、判断部１１２は、検出部１１１により検出された電圧に基づいて、少なくともサーミスタＲ２に接続された配線の状態を判断し、制御部１１３は、判断部１１２の判断結果に応じて、ＭＦＰ１の制御を切り替えるものとしている。このように、サーミスタＲ２に接続された配線の状態に不具合が発生したとしても、当該状態の判断結果に応じて、ＭＦＰ１の制御を切り替えるものとしており、例えば、当該サーミスタＲ２による温度検出が可能である場合には、ＭＦＰ１の動作を継続させるものとしている。よって、装置としてのＭＦＰ１のダウンタイムを低減することができる。

【0048】

また、判断部１１２は、検出部１１１により、抵抗Ｒ１によりプルアップされた電源電圧を抵抗Ｒ１の抵抗値とサーミスタＲ２の抵抗値と抵抗Ｒ３の抵抗値との和で割った値と、サーミスタＲ２の抵抗値と抵抗Ｒ３の抵抗値との和と、の積の値未満の電圧が検出された場合、サーミスタＲ２と抵抗Ｒ３との間の配線で挟み込みが発生していると判断し、制御部１１３は、挟み込みに起因する抵抗と、抵抗Ｒ３との合成抵抗値を算出し、検出部１１１により検出される検知電圧と、算出した合成抵抗値とに基づいた温度検出動作に切り替えるものとしている。このように、サーミスタＲ２に接続された配線の状態に不具合が発生したとしても、当該サーミスタＲ２による温度検出が可能である場合には、ＭＦＰ１を停止せずに、ＭＦＰ１の動作を継続させるものとしている。よって、装置としてのＭＦＰ１のダウンタイムを低減することができる。

【0049】

また、通知部１１４は、検出部１１１によってサーミスタＲ２と抵抗Ｒ３との間の配線で挟み込みが発生していると判断された場合、外部にその旨を通知するものとしている。これによって、当該挟み込みが発生したことの通知を外部のサービスマンが受けることによって、修理時間を短縮することができ、結果的にＭＦＰ１のダウンタイムを低減することができる。

【符号の説明】

【0050】

１ ＭＦＰ
１０ ＩＯＢ
１１ 制御ＡＳＩＣ
１１１ 検出部
１１２ 判断部
１１３ 制御部
１１４ 通知部
ＣＮ コネクタ
Ｒ１、Ｒ３ 抵抗
Ｒ２ サーミスタ

【先行技術文献】

【特許文献】

【0051】

【特許文献1】特開平９－１８９７４０号公報

【図1】

【図2】

【図3】