特開 2023-14577 情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2023014577

(43)【公開日】2023-01-31

(54)【発明の名称】情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラム

(51)【国際特許分類】

   G11B 19/02 20060101AFI20230124BHJP

   G06F 3/06 20060101ALI20230124BHJP

   G11B 5/09 20060101ALI20230124BHJP

   G11B 19/04 20060101ALI20230124BHJP

   G11B 20/10 20060101ALI20230124BHJP

   G11B 20/18 20060101ALI20230124BHJP

【ＦＩ】

G11B19/02 100Z

G06F3/06 306Z

G11B5/09 108

G11B5/09 361Z

G11B19/04 100Z

G11B20/10 301Z

G11B20/18 572B

G11B20/18 572F

G11B20/18 576B

【審査請求】未請求

【請求項の数】9

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2021118594

(22)【出願日】2021-07-19

(71)【出願人】

【識別番号】000006747

【氏名又は名称】株式会社リコー

(74)【代理人】

【識別番号】100186853

【弁理士】

【氏名又は名称】宗像 孝志

(72)【発明者】

【氏名】上田 茂夫

【テーマコード（参考）】

5D044

【Ｆターム（参考）】

5D044BC01

5D044CC04

5D044DE62

5D044EF02

5D044GK18

(57)【要約】      （修正有）

【課題】動作不良が少ない情報処理装置、情報処理方法及びプログラムを提供する。
【解決手段】ハードディスク装置１０は、複数のヘッドを用いて、データを記憶領域に対して書き込み、記憶領域からデータを読み出すヘッド部１０Ｆ１と、記憶領域に対して書き込み、読み出しの結果に基づき、ヘッドの各々の性能を判断する判断部１０Ｆ２と、ヘッドのうち、性能が劣化している劣化ヘッドがあると判断すると、劣化ヘッドに割り当てたデータを劣化ヘッド以外のヘッドに割り当てる割当部１０Ｆ７と、を備える。
【選択図】図６

【特許請求の範囲】

【請求項1】

複数のヘッドを用いて、データを記憶領域に対して書き込み、及び、前記記憶領域から前記データを読み出すヘッド部と、
前記記憶領域に対して書き込み、及び、読み出しの結果に基づき、前記ヘッドの各々の性能を判断する判断部と、
前記ヘッドのうち、前記性能が劣化している劣化ヘッドがあると判断すると、前記劣化ヘッドに割り当てたデータを前記劣化ヘッド以外のヘッドに割り当てる割当部と
を備える情報処理装置。

【請求項2】

前記判断部は、
前記性能を示す性能値が閾値以上であるか否かで判断する
請求項１に記載の情報処理装置。

【請求項3】

前記性能値は、
ＳＭＡＲＴ値である
請求項２に記載の情報処理装置。

【請求項4】

前記性能値は、
前記記憶領域から前記データを読み出すのに要した時間である
請求項２に記載の情報処理装置。

【請求項5】

前記判断部は、
ディスク上の前記記憶領域に対してテスト書き込み、及び、テスト読み出しを行って、前記性能を判断し、
テストに用いる前記記憶領域は、
前記ディスク上に複数設けられる
請求項１乃至４のいずれか１項に記載の情報処理装置。

【請求項6】

複数のテストに用いる前記記憶領域に対してテストを行い、テスト結果に基づき故障時期を判断する故障判断部を更に備える
請求項５に記載の情報処理装置。

【請求項7】

ハードディスクを用い、
前記ヘッドには、ヘッドごとにディスクが割り当てられ、
初期状態における前記性能を示す第１性能値を記憶する初期記憶部と、
前記記憶領域に対してテスト書き込み、及び、テスト読み出しを行って現状の性能値である第２性能値を取得するテスト部と、
前記第１性能値と前記第２性能値を比較する比較部とを更に備える
請求項１乃至６のいずれか１項に記載の情報処理装置。

【請求項8】

複数のヘッドを用いて、データを記憶領域に対して書き込み、及び、前記記憶領域から前記データを読み出すヘッド部を備える情報処理装置が行う情報処理方法であって、
前記記憶領域に対して書き込み、及び、読み出しの結果に基づき、前記ヘッドの各々の性能を判断する判断手順と、
前記ヘッドのうち、前記性能が劣化している劣化ヘッドがあると判断すると、前記劣化ヘッドに割り当てたデータを前記劣化ヘッド以外のヘッドに割り当てる割当手順と
を含む情報処理方法。

【請求項9】

請求項８に記載の情報処理方法を情報処理装置に実行させるためのプログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、情報処理装置、情報処理方法、及び、プログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

ハードディスクドライブ（以下「ＨＤＤ」という。）を破損から保護する技術が知られている。例えば、ＨＤＤは、落下、振動、又は、衝撃等によってディスク面が破損する場合がある。このような破損から保護するため、ヘッドを退避させる等といった技術がある。

【0003】

例えば、情報処理装置が、まず、電力状態を特定する。そして、消費電力が少ない電力状態であると判断すると、情報処理装置は、補助記憶領域へ実記憶領域からデータを退避させる頻度を少なくする。このようにして、頻繁なアクセスによる不揮発性記憶装置の性能低下、及び、物理的な機能への影響を軽減させる技術が知られている（例えば、特許文献１を参照）。

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

従来の技術は、高い頻度でＨＤＤへのアクセスが継続すると、磁気ヘッドが性能劣化してＨＤＤの動作不良が起きる課題がある。

【0005】

本発明は、ＨＤＤの動作不良を少なくすることを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

上記の課題を解決するため、本発明の一態様である、情報処理装置は、
複数のヘッドを用いて、データを記憶領域に対して書き込み、及び、前記記憶領域から前記データを読み出すヘッド部と、
前記記憶領域に対して書き込み、及び、読み出しの結果に基づき、前記ヘッドの各々の性能を判断する判断部と、
前記ヘッドのうち、前記性能が劣化している劣化ヘッドがあると判断すると、前記劣化ヘッドに割り当てたデータを前記劣化ヘッド以外のヘッドに割り当てる割当部と
を備えることを特徴とする。

【発明の効果】

【0007】

本発明によれば、ＨＤＤの動作不良を少なくできる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】情報処理装置のハードウェア構成例を示す図である。

【図2】ハードディスク装置１０の制御例を示す図である。

【図3】ディスク１５と磁気ヘッド１１の位置関係の例を示す図である。

【図4】ハードディスク装置１０の内部構造例を示す図である。

【図5】全体処理例を示す図である。

【図6】機能構成例を示す図である。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、添付する図面を参照し、具体例を説明する。なお、実施形態は、以下に説明する具体例に限られない。

【0010】

［情報処理装置の例］
図１は、情報処理装置のハードウェア構成例を示す図である。以下、情報処理装置が、図示するようなハードディスク装置１０である例で説明する。

【0011】

ハードディスク装置１０は、磁気ヘッド１１、アーム１２、アクチュエータ１３、制御回路１４、及び、ディスク１５等を備えるハードウェア構成である。なお、ハードディスク装置１０は、これら以外の装置を備えてもよい。

【0012】

ディスク１５は、円盤状の形状である。そして、ディスク１５は、データを記憶する。

【0013】

磁気ヘッド１１は、ディスク１５に対し、データの書き込みを行う。また、磁気ヘッド１１は、ディスク１５上に事前に書き込まれたデータを読み出す。

【0014】

以下、磁気ヘッド１１によるディスク１５への書き込みを「ライト（Ｗｒｉｔｅ）」という場合もある。また、磁気ヘッド１１によって、事前にディスク１５に書き込まれたデータの読み出しを「リード（Ｒｅａｄ）」という場合もある。

【0015】

アーム１２は、磁気ヘッド１１を支持する。

【0016】

アクチュエータ１３は、アーム１２を動かす装置である。

【0017】

制御回路１４は、ハードディスク装置１０全体を制御するため、演算、及び、処理を実行する装置である。

【0018】

［テスト書き込み、及び、テスト読み出し用の記憶領域の設定例］
例えば、テスト書き込み、及び、テスト読み出し用に、記憶領域（以下「テスト領域」という。）が事前に設定される。以下、第１テスト領域Ｍ１、第２テスト領域Ｍ２、及び、第３テスト領域Ｍ３の３つの記憶領域を例に説明する。

【0019】

なお、テスト領域は、３つ以外でもよい。また、テスト領域は、図示する以外の範囲に設定してもよい。

【0020】

ＨＤＤの動作不良は、磁気ヘッド１１に起因する場合と、ディスク１５等に起因する場合とがある。そこで、ハードディスク装置１０は、複数のテスト領域に対して、別々にテストを行う。そして、ハードディスク装置１０は、各々のテスト結果を比較する。例えば、第１テスト領域Ｍ１と、第２テスト領域Ｍ２とでテスト結果が異なる場合がある。一方のテスト結果が閾値以上の性能値であったのに対し、他方のテスト結果が閾値未満の性能値であると、ハードディスク装置１０は、ディスク１５の損傷等が故障の原因であると判断できる。

【0021】

また、ハードディスク装置１０は、複数のテスト領域でのテスト結果に基づき、故障個所を数えて、故障の度合いにしてもよい。具体的には、故障時期は、故障の度合いが一定値に達する時点をいう。なお、故障個所が１箇所でもあれば故障時期であるとしてもよい。ただし、ハードディスク装置１０は、２箇所以上である場合を故障時期と判断するように設定されてもよい。

【0022】

ハードディスク装置１０は、故障個所の増加により信頼性が低下する場合が多い。このように、ハードディスク装置１０は、テスト結果に基づいて、故障時期を判断できるのが望ましい。

【0023】

以上のように、テストに用いる記憶領域は、ディスク１５上に複数設けられるのが望ましい。このように、複数のテスト領域があると、ハードディスク装置１０は、性能の劣化をより精度良く判断できる。

【0024】

［ハードディスク装置１０の制御例］
図２は、ハードディスク装置１０の制御例を示す図である。例えば、ディスク１５への書き込み、及び、ディスク１５からの読み出しは、以下のように制御される。

【0025】

ディスク１５は、容量により、複数枚実装される。

【0026】

ディスク回転機能モジュール２０は、ディスク１５の回転数等を制御する。

【0027】

ヘッド位置決め機能モジュール２１は、アドレスの位置に磁気ヘッド１１を誘導する。

【0028】

ヘッド支持機能モジュール２２は、磁気ヘッド１１を支持する。

【0029】

リード／ライト機能モジュール２３は、ディスク１５への書き込み、及び、ディスク１５からの読み出しを制御するコマンドを送る。

【0030】

コントロールモジュール２４は、ヘッド位置決め機能モジュール２１、ヘッド支持機能モジュール２２、及び、リード／ライト機能モジュール２３の制御等を行う。

【0031】

Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ（以下「ＣＰＵ２６」という。）は、ハードディスク装置１０の全体等を制御する演算装置、及び、制御装置の例である。

【0032】

制御Ｉ／Ｆ２５は、ＣＰＵ２６とコントロールモジュール２４の制御を行うためのインタフェースである。

【0033】

なお、モジュール構成等は、図示する構成に限られない。例えば、モジュール構成は、他にモジュールがあってもよい。

【0034】

図３は、ディスク１５と磁気ヘッド１１の位置関係の例を示す図である。例えば、磁気ヘッド１１は、制御により、ディスク１５と以下のような位置関係となる。

【0035】

ディスク１５は、潤滑剤、保護膜１５３、磁性体１５４、及び、基板１５５等で構成する。

【0036】

流動部分１５１、及び、磁気ヘッド１１の間は、３ナノメートル乃至５ナノメートル程度の間隔である。そして、流動部分１５１、及び、磁気ヘッド１１の間を空気が流れる。

【0037】

潤滑剤は、流動部分１５１、及び、固定部分１５２がある。また、流動部分１５１、及び、固定部分１５２は、合わせて２ナノメートル乃至５ナノメートル程度の厚みである。

【0038】

基板１５５は、例えば、アルミニウム、又は、ガラス等を含む素材である。

【0039】

磁性体１５４の上部に保護膜１５３がある。そして、保護膜１５３を保護するため、潤滑剤が塗布される。

【0040】

例えば、連続した動作を行うと、機器内部の温度が上昇しやすい。そして、温度が上昇すると、潤滑剤が気化して磁気ヘッド１１等に付着する現象が発生する。

【0041】

また、振動、又は、衝撃により、磁気ヘッド１１がディスク１５に接触して潤滑剤が磁気ヘッド１１に付着する場合もある。ほかにも、ディスク１５に損傷が生じると、データの読み取り、又は、書き込みができなくなる場合もある。

【0042】

なお、構成は、図示する以外の構成でもよい。

【0043】

［ディスク１５の割り当て例］
図４は、ハードディスク装置１０の内部構造例を示す図である。図示するように、複数の磁気ヘッド１１、及び、複数のディスク１５を用いる場合には、各々の磁気ヘッド１１に対して、１つ、又は、複数のディスク１５を事前に割り当てる。

【0044】

複数の磁気ヘッド１１のうち、いずれかのヘッドが、性能が劣化しているヘッド（以下「劣化ヘッド」という。）であると判断された場合には、劣化ヘッドに割り当てたデータは、劣化ヘッド以外のヘッドに割り当てられる。

【0045】

例えば、磁気ヘッド１１が動作不良となる前に、他の性能が良好な磁気ヘッドが割り当てられたディスクに、ハードディスク装置１０は、データを退避させる。このようにすると、劣化ヘッド以外の磁気ヘッド１１を使用するため、稼働を継続できる。

【0046】

［全体処理例］
図５は、全体処理例を示す図である。

【0047】

ステップＳ０５０１では、ハードディスク装置１０は、データの書き込み、及び、読み出しを開始する。

【0048】

ステップＳ０５０２では、ハードディスク装置１０は、稼働時間の計測を開始する。

【0049】

ステップＳ０５０３では、ハードディスク装置１０は、経過時間が規定時間内であるか否かを判断する。そして、経過時間が規定時間内でないと（ステップＳ０５０３でＮＯ）、ハードディスク装置１０は、ステップＳ０５０４に進む。一方で、経過時間が規定時間内であると（ステップＳ０５０３でＹＥＳ）、ハードディスク装置１０は、ステップＳ０５０３に進む。

【0050】

ステップＳ０５０４では、ハードディスク装置１０は、動作中であるか否かを判断する。そして、動作中であると（ステップＳ０５０４でＹＥＳ）、ハードディスク装置１０は、ステップＳ０５０５に進む。一方で、動作中でないと（ステップＳ０５０４でＮＯ）、ハードディスク装置１０は、ステップＳ０５０６に進む。

【0051】

ステップＳ０５０５では、ハードディスク装置１０は、動作を中断する。

【0052】

すなわち、ステップＳ０５０１でデータの書き込み、及び、読み出しが開始されると、ハードディスク装置１０は、稼働時間の計測を開始する（ステップＳ０５０２）。そして、事前に決められた規定時間内であれば計測を継続する（ステップＳ０５０３でＹＥＳ）。一方で、ハードディスク装置１０は、稼働時間が規定時間を超過すると（ステップＳ０５０３でＮＯ）、リード／ライトの動作が継続されているか否かを判断する（ステップＳ０５０４）。

【0053】

次に、ハードディスク装置１０は、動作が継続中であれば（ステップＳ０５０４でＹＥＳ）動作を中断する（ステップＳ０５０５）。具体的には、ステップＳ０５０５では、ハードディスク装置１０は、処理を再開する位置をメモリに保存する等を行う。

【0054】

ステップＳ０５０６では、ハードディスク装置１０は、磁気ヘッド１１をテスト領域に移動する。なお、リード／ライト等の動作が完了していれば（ステップＳ０５０４でＮＯ）、ハードディスク装置１０は、すぐに磁気ヘッド１１をテスト領域に移動させる。

【0055】

ステップＳ０５０７では、ハードディスク装置１０は、テストを開始する。

【0056】

ステップＳ０５０８では、ハードディスク装置１０は、テストデータをメモリへ記憶する。

【0057】

ステップＳ０５０９では、ハードディスク装置１０は、性能値を比較する。

【0058】

ステップＳ０５１０では、ハードディスク装置１０は、性能値が閾値以上であるか否かを判断する。そして、性能値が閾値以上であると（ステップＳ０５１０でＹＥＳ）、ハードディスク装置１０は、ステップＳ０５１１に進む。一方で、性能値が閾値以上でないと（ステップＳ０５１０でＮＯ）、ハードディスク装置１０は、ステップＳ０５１３に進む。

【0059】

すなわち、ステップＳ０５０７により、磁気ヘッド１１の性能を評価するテストが開始される。まず、ステップＳ０５０８では、ハードディスク装置１０は、事前に用意したテストデータをリードする。

【0060】

テストデータは、事前に設定するデータ容量、及び、データ内容のデータである。したがって、テストデータの容量、及び、内容等は、ハードディスク装置１０が把握できるため、書き込み、及び、読み込んだデータを事前に設定した容量、及び、内容と照合すれば、書き込み、及び、読み込みの精度、又は、速度等が把握できる。

【0061】

以下、ハードディスク装置１０は、初期起動時等にテスト領域をリードし、性能値を初期状態で記憶する例で説明する。また、以下の説明は初期状態の性能値（以下「第１性能値」という。）を基準に性能が劣化しているか否かを判断する例とする。なお、第１性能値は、初期状態の性能値以外でもよい。例えば、第１性能値は、設定する値でもよい。

【0062】

性能値は、読み取り精度等である。第１性能値等は、メモリに保存される。

【0063】

ステップＳ０５０９では、ハードディスク装置１０は、動作している途中等でテストを実行して取得する読み取り精度等の性能値、すなわち、現状の性能値（以下「第２性能値」という。）をメモリに保存する。

【0064】

そして、ステップＳ０５０９では、ハードディスク装置１０は、第１性能値と第２性能値を比較する。

【0065】

例えば、第１性能値より、第２性能値が大きく乖離する値であるか否かが比較によって判断される。

【0066】

なお、どの程度の値で乖離が大きいかは例えば基準値が事前に設定される。

【0067】

ステップＳ０５１１では、ハードディスク装置１０は、データを退避させる。

【0068】

ステップＳ０５１２では、ハードディスク装置１０は、データの退避が完了したか否かを判断する。そして、データの退避が完了していると（ステップＳ０５１２でＹＥＳ）、ハードディスク装置１０は、ステップＳ０５１３に進む。一方で、データの退避が完了していないと（ステップＳ０５１２でＮＯ）、ハードディスク装置１０は、ステップＳ０５１２に進む。

【0069】

ステップＳ０５１３では、ハードディスク装置１０は、連続動作へ復帰する。

【0070】

ステップＳ０５１４では、ハードディスク装置１０は、連続動作を継続する。

【0071】

すなわち、判断の結果、劣化ヘッドがある場合（ステップＳ０５１０でＹＥＳ）には、ハードディスク装置１０は、データを劣化ヘッドから他の磁気ヘッド１１へ割り当てを変更するように、データを退避させる（ステップＳ０５１１）。

【0072】

このように、磁気ヘッド１１の性能劣化を性能値で定量的に判断できると、劣化ヘッドを精度良く判断できる。

【0073】

以降、ハードディスク装置１０は、劣化ヘッドにデータが割り当てられないようにする。具体的には、ハードディスク装置１０は、劣化ヘッドの使用、及び、劣化ヘッドに割り当てられたディスク１５の使用を禁止する。

【0074】

一方で、性能値が閾値以上でなければ（ステップＳ０５１０でＮＯ）、ハードディスク装置１０は、磁気ヘッド１１が以降も使用可能と判断し、動作を継続する（ステップＳ０５１３、及び、ステップＳ０５１４）。

【0075】

なお、全体処理は、上記の例に限られない。例えば、全体処理は、上記の例とは異なる順序で行われてもよい。また、全体処理は、上記の例以外の処理を行ってもよい。

【0076】

［性能値の例］
性能劣化は、データの読み出し、及び、書き込み等の処理速度が遅くなる、又は、エラーの発生する可能性が高い状態等をいう。そして、性能値は、このようなデータの読み出し、及び、書き込み等の性能を示す値である。

【0077】

性能値は、Ｓｅｌｆ－Ｍｏｎｉｔｏｒｉｎｇ Ａｎａｌｙｓｉｓ ａｎｄ Ｒｅｐｏｒｔｉｎｇ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｙを示す値（以下「ＳＭＡＲＴ値」という。）を用いるのが望ましい。ＳＭＡＲＴ値は、例えば、専用のプログラム、又は、ＢＩＯＳ等で管理される。なお、性能値は、信頼性、又は、処理速度等を示す値等でもよい。

【0078】

ＳＭＡＲＴ値には、リード、及び、ライトにおけるエラーの回数等を含む。

【0079】

このようなＳＭＡＲＴ値を性能値に用いると、ＳＭＡＲＴ値の結果に基づき、ＨＤＤに備わる機能ツールが使用できる。また、ＳＭＡＲＴ値は、ＨＤＤで共通して使用される指標であるため、様々なＨＤＤに適用できる。

【0080】

ほかにも、性能値は、記憶領域からデータを読み出すのに要した時間等であるのが望ましい。

【0081】

磁気ヘッド１１は、劣化していると、記憶領域からデータを読み出すのに要する時間が長くなる場合が多い。ゆえに、初期状態におけるデータを読み出すのに要した時間と、現状におけるデータを読み出すのに要した時間とを比較すると、ハードディスク装置１０は、磁気ヘッド１１の性能劣化の度合いを判断できる。

【0082】

［機能構成例］
図６は、機能構成例を示す図である。例えば、ハードディスク装置１０は、ヘッド部１０Ｆ１、判断部１０Ｆ２、及び、割当部１０Ｆ７を備える。なお、ハードディスク装置１０は、故障判断部１０Ｆ３、初期記憶部１０Ｆ４、テスト部１０Ｆ５、及び、比較部１０Ｆ６等を更に備えるのが望ましい。

【0083】

ヘッド部１０Ｆ１は、複数のヘッドを用いて、データを記憶領域に対して書き込み、及び、前記記憶領域から前記データを読み出す。例えば、ヘッド部１０Ｆ１は、磁気ヘッド１１等で実現する。

【0084】

判断部１０Ｆ２は、記憶領域に対して書き込み、及び、読み出しの結果に基づき、ヘッドの各々の性能を判断する判断手順を行う。例えば、判断部１０Ｆ２は、ＣＰＵ２６等で実現する。

【0085】

割当部１０Ｆ７は、劣化ヘッドがあると判断すると、劣化ヘッドに割り当てたデータを他のヘッドに割り当てる割当手順を行う。例えば、割当部１０Ｆ７は、ＣＰＵ２６等で実現する。

【0086】

故障判断部１０Ｆ３は、複数のテストに用いる記憶領域に対してテストを行い、テスト結果に基づき故障時期を判断する故障判断手順を行う。例えば、故障判断部１０Ｆ３は、ＣＰＵ２６等で実現する。

【0087】

初期記憶部１０Ｆ４は、第１性能値を記憶する初期記憶手順を行う。例えば、初期記憶部１０Ｆ４は、制御回路１４等で実現する。

【0088】

テスト部１０Ｆ５は、記憶領域に対してテスト書き込み、及び、テスト読み出しを行って、第２性能値を取得するテスト手順を行う。例えば、テスト部１０Ｆ５は、ＣＰＵ２６等で実現する。

【0089】

比較部１０Ｆ６は、第１性能値と第２性能値を比較する比較手順を行う。例えば、比較部１０Ｆ６は、ＣＰＵ２６等で実現する。

【0090】

ＨＤＤの故障率は、使い始めて１年半で５％、３年で１．５％、３年以上になると１２％になり、高い故障率である。

【0091】

ＨＤＤの故障率を低減させるには、一定時間のアイドル状態が続く場合等に、磁気ヘッド１１をホームポジションに退避して機器内部の温度を下げる等の方法がある。ただし、高い頻度でＨＤＤへのアクセスが継続すると、アイドル状態が作りにくい。その結果、磁気ヘッド１１は、ホームポジションに戻れず、ディスク１５上に位置する。このような場合において、振動、又は、衝撃が発生すると、磁気ヘッド１１がディスク１５に接触する等により、ディスク１５の破壊又は損傷が発生する。

【0092】

また、長時間動作が継続すると、内部の温度が上昇しやすい。その結果、機械駆動部分等に使用する潤滑油、又は、ディスク１５の表面に塗布する潤滑剤等が気化しやすい。そのため、磁気ヘッド１１に潤滑油等が付着し、磁気ヘッドの性能が劣化する場合がある。

【0093】

例えば、ＨＤＤを使用するシステムによっては、２４時間連続して稼働する場合もある。このようなシステムでは、アイドル状態が確保しにくい。その結果、ＨＤＤ内部の温度が上昇しやすい。ゆえに、気化した潤滑油により、磁気ヘッドが性能劣化する場合が多い。

【0094】

このような磁気ヘッド１１の性能劣化、及び、性能劣化が進むことによるＨＤＤ故障等を避けるために、ハードディスク装置１０は、稼働中の磁気ヘッド１１の状態を監視し、磁気ヘッド１１の性能劣化の程度を判断する。そして、ハードディスク装置１０は、対象となる磁気ヘッド１１の性能が著しく低下する前に、磁気ヘッド１１に割り当てたディスクに書き込まれているデータを他のディスクに移行する。

【0095】

以上のようにして、劣化ヘッドに割り当てたデータを他のヘッドへ割り当てを変更すると、劣化ヘッドを使用してアクセスする場合が少なくできる。劣化ヘッドでアクセスすると、書き込み、又は、読み込みでエラー等の動作不良が多くなる。ゆえに、劣化ヘッド以外を使用するようにして、ハードディスク装置１０は、データへのアクセスを良くできる。このようにして、ハードディスク装置１０は、ＨＤＤの動作不良を少なくできる。

【0096】

なお、ハードディスク装置１０は、ヘッドの各々の性能を判断するのに、第１性能値と第２性能値の比較、及び、閾値との比較のうち、どちらか一方、又は、両方の比較結果を用いて良い。

【0097】

すなわち、第１性能値と第２性能値を比較すると、ハードディスク装置１０は、現状が初期状態からどのくらい性能劣化したかが分かる。また、第１性能値は、装置ごとに異なり、個々の装置でばらつく値となる場合がある。

【0098】

一方で、閾値は、実験等に基づき、複数の装置間で一律に設定できる。

【0099】

ゆえに、ハードディスク装置１０は、どちらかの比較結果のうち、どちらか一方（ＯＲ）の比較結果が性能の劣化を示す場合に全体として劣化ヘッドである等と判断してもよい。このように異なる基準に基づく比較結果を用いると、ハードディスク装置１０は、劣化ヘッドを見落とす可能性を少なくできる。

【0100】

［その他の実施形態］
上記で説明する実施形態の各機能は、１つ又は複数の処理回路によって実現することが可能である。「処理回路」とは、電子回路により実装されるプロセッサのようにソフトウェアによって各機能を実行するようプログラミングされたプロセッサ、上記で説明した各機能を実行するよう設計されたＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）又は回路モジュール等のデバイスを含む。

【0101】

情報処理装置は、ＨＤＤを搭載するネットワーク機器、ストレージサーバ、又は、画像形成装置等でもよい。すなわち、情報処理装置は、Ｎｅｔｗｏｒｋ Ａｔｔａｃｈｅｄ Ｓｔｏｒａｇｅ（ＮＡＳ）等でもよい。

【0102】

情報処理装置は、情報処理方法をプログラム等により実行する。情報処理方法は、情報処理装置が備える演算装置、制御装置、及び、記憶装置を協働させて処理を実行することで実現される。

【0103】

上記の実施形態は、好適な例を示したものであるが、当業者であれば、開示した内容から様々な変形例を実現することが可能である。そのような変形例も、特許請求の範囲に記載された技術的範囲に含まれる。

【符号の説明】

【0104】

１０ ：ハードディスク装置
１０Ｆ１ ：ヘッド部
１０Ｆ２ ：判断部
１０Ｆ３ ：故障判断部
１０Ｆ４ ：初期記憶部
１０Ｆ５ ：テスト部
１０Ｆ６ ：比較部
１０Ｆ７ ：割当部
１１ ：磁気ヘッド
１２ ：アーム
１３ ：アクチュエータ
１４ ：制御回路
１５ ：ディスク
２０ ：ディスク回転機能モジュール
２１ ：ヘッド位置決め機能モジュール
２２ ：ヘッド支持機能モジュール
２３ ：ライト機能モジュール
２４ ：コントロールモジュール
２５ ：制御Ｉ／Ｆ
２６ ：ＣＰＵ
Ｍ１ ：第１テスト領域
Ｍ２ ：第２テスト領域
Ｍ３ ：第３テスト領域

【先行技術文献】

【特許文献】

【0105】

【特許文献1】特開２０１８－１２０３７６号公報

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】