特開2023-183409試験測定装置及び被試験デバイスの性能測定方法

発明の名称　試験測定装置及び被試験デバイスの性能測定方法

出願人　テクトロニクス・インコーポレイテッド　（識別番号 391002340）

　　　　特許公開件数ランキング 978 位（23件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 852 位（23件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2023-183409

公報発行日　2023年12月27

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2023-183409

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