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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024104610
(43)【公開日】2024-08-05
(54)【発明の名称】分析装置
(51)【国際特許分類】
G01N 35/00 20060101AFI20240729BHJP
G01N 35/04 20060101ALI20240729BHJP
【ＦＩ】
G01N35/00 B
G01N35/04 E
【審査請求】未請求
【請求項の数】12
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2023008924
(22)【出願日】2023-01-24
(71)【出願人】
【識別番号】306037311
【氏名又は名称】富士フイルム株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001519
【氏名又は名称】弁理士法人太陽国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】竹内 佑太
【テーマコード（参考）】
2G058
【Ｆターム（参考）】
2G058BB02
2G058BB09
2G058BB18
2G058CC09
2G058CD11
2G058GA01
2G058GA11
(57)【要約】
【課題】平面サイズの小型化が可能な分析装置を提供する。
【解決手段】検体試料が点着される複数の分析チップが着脱自在に装填され、分析チップを用いて検体試料を分析する分析装置であって、複数の分析チップを予め設定された温度に温めるインキュベータであって、複数の分析チップを高さ方向に並べて収容可能な縦型ラックを有するインキュベータと、複数の分析チップに点着された検体試料を測定する測定ユニットと、を備えている分析装置。
【選択図】図５
【解決手段】検体試料が点着される複数の分析チップが着脱自在に装填され、分析チップを用いて検体試料を分析する分析装置であって、複数の分析チップを予め設定された温度に温めるインキュベータであって、複数の分析チップを高さ方向に並べて収容可能な縦型ラックを有するインキュベータと、複数の分析チップに点着された検体試料を測定する測定ユニットと、を備えている分析装置。
【選択図】図５
【特許請求の範囲】
【請求項1】
検体試料が点着される乾式の複数の分析チップが着脱自在に装填され、前記分析チップを用いて前記検体試料を分析する分析装置であって、
複数の前記分析チップを予め設定された温度に温めるインキュベータであって、複数の前記分析チップを高さ方向に並べて収容可能な縦型ラックを有するインキュベータと、
複数の前記分析チップに点着された前記検体試料を測定する測定ユニットと、を備えている
分析装置。
複数の前記分析チップを予め設定された温度に温めるインキュベータであって、複数の前記分析チップを高さ方向に並べて収容可能な縦型ラックを有するインキュベータと、
複数の前記分析チップに点着された前記検体試料を測定する測定ユニットと、を備えている
分析装置。
【請求項2】
前記縦型ラックは、複数の前記分析チップを１つずつ載置する複数の棚を有する
請求項１に記載の分析装置。
請求項１に記載の分析装置。
【請求項3】
平面視した場合において、前記分析チップに前記検体試料が点着される点着位置と、前記測定ユニットによって前記分析チップが測定される測定位置とは、前記縦型ラックの外側に並べて配置されている
請求項２に記載の分析装置。
請求項２に記載の分析装置。
【請求項4】
前記縦型ラックは、前記点着位置および前記測定位置に対して前記高さ方向に相対的に移動可能である
請求項３に記載の分析装置。
請求項３に記載の分析装置。
【請求項5】
平面視した場合において、前記点着位置は、前記縦型ラックに対して第１方向に並べて配置されており、かつ、前記測定位置は、前記縦型ラックに対して前記第１方向と交差する第２方向に並べて配置されている
請求項３に記載の分析装置。
請求項３に記載の分析装置。
【請求項6】
前記点着位置および前記測定位置のうちの少なくとも１つは、前記インキュベータ内に配置されている
請求項３に記載の分析装置。
請求項３に記載の分析装置。
【請求項7】
前記点着位置から、前記縦型ラック内に前記分析チップを送る第１送り機構と、
前記縦型ラック内から、前記測定位置に前記分析チップを送る第２送り機構と、
測定済みの前記分析チップを廃却位置に送る廃却機構と、を備えている
請求項３に記載の分析装置。
前記縦型ラック内から、前記測定位置に前記分析チップを送る第２送り機構と、
測定済みの前記分析チップを廃却位置に送る廃却機構と、を備えている
請求項３に記載の分析装置。
【請求項8】
前記縦型ラック内から、前記検体試料が点着前に予熱された前記分析チップを前記点着位置に戻す戻し機構を備えている
請求項７に記載の分析装置。
請求項７に記載の分析装置。
【請求項9】
前記測定ユニットは、前記検体試料と試薬との反応状態を光学的に測定する第１測定ユニットと、前記検体試料に含まれる電解質濃度を、電極を用いて測定する第２測定ユニットとを有しており、
前記分析チップは、前記第１測定ユニットによって測定される第１分析チップと、前記第２測定ユニットによって測定される第２分析チップとが含まれる
請求項１に記載の分析装置。
前記分析チップは、前記第１測定ユニットによって測定される第１分析チップと、前記第２測定ユニットによって測定される第２分析チップとが含まれる
請求項１に記載の分析装置。
【請求項10】
前記インキュベータとして、前記第１分析チップを温める第１インキュベータと、前記第２分析チップを温める第２インキュベータの２つのインキュベータを有する
請求項９に記載の分析装置。
請求項９に記載の分析装置。
【請求項11】
前記インキュベータは、前記第１分析チップと前記第２分析チップの両方を温める１つのインキュベータであり、
前記第１分析チップと前記第２分析チップのそれぞれを異なる目標温度に温める温度調節機構を備えている
請求項９に記載の分析装置。
前記第１分析チップと前記第２分析チップのそれぞれを異なる目標温度に温める温度調節機構を備えている
請求項９に記載の分析装置。
【請求項12】
前記第１測定ユニットによる測定において前記反応状態の比較の基準となる参照光学濃度を有する光学濃度板を有しており、
前記縦型ラックの高さ方向の両端部の少なくとも一方に前記光学濃度板が収容される
請求項９に記載の分析装置。
前記縦型ラックの高さ方向の両端部の少なくとも一方に前記光学濃度板が収容される
請求項９に記載の分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、分析装置に関する。
【背景技術】
【0002】
検体試料が点着される分析チップを用いて、検体試料を分析する分析装置が知られている（例えば特許文献１参照）。検体試料の分析としては、検体試料と試薬との反応状態を測定することにより、検体試料に含まれる検査対象物質の濃度測定などが行われる。検体試料は、例えば血液および尿などである。分析チップは一例として、固相の試薬を用いた乾式の分析チップである。
【0003】
分析装置は、好適な測定条件を確保するために複数の分析チップを温めるインキュベータを備えている。インキュベータは、例えば、複数の分析チップを保持する複数のセルが円周方向に配列された回転テーブルを有している。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【特許文献1】特開２００２－９０３７７号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
上記のようなインキュベータを有する分析装置では、回転テーブル上において複数のセルが水平方向に配列されるため、分析装置を平面視した場合の平面サイズが大型化してしまう懸念があった。平面サイズが大きいと、医療施設および研究施設などにおいて、分析装置の設置スペースを確保する際の障害になりやすいため、平面サイズの小型化が求められていた。
【0006】
本開示の技術は、平面サイズの小型化が可能な分析装置を提供する。
【課題を解決するための手段】
【0007】
本開示の技術に係る第１の態様は、検体試料が点着される乾式の複数の分析チップが着脱自在に装填され、分析チップを用いて検体試料を分析する分析装置であって、複数の分析チップを予め設定された温度に温めるインキュベータであって、複数の分析チップを高さ方向に並べて収容可能な縦型ラックを有するインキュベータと、複数の分析チップに点着された検体試料を測定する測定ユニットと、を備えている分析装置である。
【0008】
本開示の技術に係る第２の態様は、縦型ラックは、複数の分析チップを１つずつ載置する複数の棚を有する第１の態様に係る分析装置である。
【0009】
本開示の技術に係る第３の態様は、平面視した場合において、分析チップに検体試料が点着される点着位置と、測定ユニットによって分析チップが測定される測定位置とは、縦型ラックの外側に並べて配置されている第２の態様に係る分析装置である。
【0010】
本開示の技術に係る第４の態様は、縦型ラックは、点着位置および測定位置に対して高さ方向に相対的に移動可能である第３の態様に係る分析装置である。
【0011】
本開示の技術に係る第５の態様は、平面視した場合において、点着位置は、縦型ラックに対して第１方向に並べて配置されており、かつ、測定位置は、縦型ラックに対して第１方向と交差する第２方向に並べて配置されている第３の態様に係る分析装置である。
【0012】
本開示の技術に係る第６の態様は、点着位置および測定位置のうちの少なくとも１つは、インキュベータ内に配置されている第３の態様に係る分析装置である。
【0013】
本開示の技術に係る第７の態様は、点着位置から、縦型ラック内に分析チップを送る第１送り機構と、縦型ラック内から、測定位置に分析チップを送る第２送り機構と、測定済みの分析チップを廃却位置に送る廃却機構と、を備えている第３の態様に係る分析装置である。
【0014】
本開示の技術に係る第８の態様は、縦型ラック内から、検体試料が点着前に予熱された分析チップを点着位置に戻す戻し機構を備えている第７の態様に係る分析装置である。
【0015】
本開示の技術に係る第９の態様は、測定ユニットは、検体試料と試薬との反応状態を光学的に測定する第１測定ユニットと、検体試料に含まれる電解質濃度を、電極を用いて測定する第２測定ユニットとを有しており、分析チップは、第１測定ユニットによって測定される第１分析チップと、第２測定ユニットによって測定される第２分析チップとが含まれる第１の態様に係る分析装置である。
【0016】
本開示の技術に係る第１０の態様は、インキュベータとして、第１分析チップを温める第１インキュベータと、第２分析チップを温める第２インキュベータの２つのインキュベータを有する第９の態様に係る分析装置である。
【0017】
本開示の技術に係る第１１の態様は、インキュベータは、第１分析チップと第２分析チップの両方を温める１つのインキュベータであり、第１分析チップと第２分析チップのそれぞれを異なる目標温度に温める温度調節機構を備えている第９の態様に係る分析装置である。
【0018】
本開示の技術に係る第１２の態様は、第１測定ユニットによる測定において反応状態の比較の基準となる参照光学濃度を有する光学濃度板を有しており、縦型ラックの高さ方向の両端部の少なくとも一方に光学濃度板が収容される第９の態様に係る分析装置である。
【発明の効果】
【0019】
本開示に係る技術は、平面サイズの小型化が可能な分析装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【0020】
【図1】実施形態の分析装置の全体構成の一例を示す概要図である。
【図2】分析装置の部分構成の一例の斜視図である。
【図3】比色チップの構造例を示す外観斜視図である。
【図4】電解質チップの構造例を示す外観斜視図である。
【図5】分析装置の部分構成の一例を示す平面図である。
【図6】インキュベータの構成例を示す断面図である。
【図7】縦型ラックの動作例を示す概念図である。
【図8】分析装置の部分構成の一例を示す平面図である。
【図9】インキュベータの構成例を示す断面図である。
【図10】分析装置の部分構成の一例を示す平面図である。
【図11】分析装置の部分構成の一例を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【0021】
以下、図面を参照して本開示の実施形態を詳細に説明する。
【0022】
＜第１実施形態＞
図１は一実施形態の分析装置１００の全体構成を示す概要図であり、図２は分析装置１００の部分構成の一例の斜視図である。
一例として図１及び図２に示すように、分析装置１００は、検体試料を分析する分析装置である。分析装置１００には、分析チップ１２が着脱自在に装填される。分析装置１００では、例えば、乾式の分析チップ１２が用いられ、検体試料に含まれる検査対象物質の濃度が測定される。分析チップ１２は、平板状の形態をしている場合はスライドなどとも呼ばれる。分析装置１００は、本開示の技術に係る「分析装置」の一例である。
図１は一実施形態の分析装置１００の全体構成を示す概要図であり、図２は分析装置１００の部分構成の一例の斜視図である。
一例として図１及び図２に示すように、分析装置１００は、検体試料を分析する分析装置である。分析装置１００には、分析チップ１２が着脱自在に装填される。分析装置１００では、例えば、乾式の分析チップ１２が用いられ、検体試料に含まれる検査対象物質の濃度が測定される。分析チップ１２は、平板状の形態をしている場合はスライドなどとも呼ばれる。分析装置１００は、本開示の技術に係る「分析装置」の一例である。
【0023】
具体的には、分析装置１００では、検体試料として血液が用いられ、血液に含まれる検査対象物質の濃度が光学的に測定される。より具体的には、比色法により検査対象物質の濃度が測定される。また、分析装置１００では、検体試料として血液又は尿が用いられ、血液又は尿に含まれる電解質の濃度を測定する。具体的には、血液又は尿に含まれる電解質が電離したイオン（例えば、ナトリウム（Ｎａ）、カリウム（Ｋ）、又は塩素（Ｃｌ）の各イオン）の濃度が電気的に測定される。より具体的には、電極法により測定対象となるイオン濃度が測定される。
【0024】
分析装置１００は、チップセット部１０、読取機２０、検体点着部３０、第１チップ搬送機構４０、検体点着機構５０、インキュベータ６０、光学測定部７０、電位測定部７６、電位測定用インキュベータ７５、第２チップ搬送機構８０、及び制御装置９０を備える。
【0025】
チップセット部１０には、保持台１１上に分析チップ１２を収容するストッカー１４が配置されている。ストッカー１４には、複数の分析チップ１２が積み重ねて収容される。分析チップ１２には、比色法による光学的な濃度測定に用いられる分析チップ１２Ａ（以下単に、「比色チップ１２Ａ」とも称する）、及び電極法による電解質濃度の測定に用いられる分析チップ１２Ｂ（以下単に、「電解質チップ１２Ｂ」とも称する）が含まれる。以下において、比色チップ１２Ａと電解質チップ１２Ｂとを区別する必要が無い場合は、両者を総称して分析チップ１２と呼ぶ。分析チップ１２の詳細については後述する。分析チップ１２は、本開示の技術に係る「分析チップ」の一例である。比色チップ１２Ａは、本開示の技術に係る「第１分析チップ」の一例であり、電解質チップ１２Ｂは、本開示の技術に係る「第２分析チップ」の一例である。
【0026】
読取機２０は、一例として、分析チップ１２に付与されている項目情報を読み取るコードリーダである。これにより、分析チップ１２の種類、及び／又はロット番号等が識別される。読取機２０は、例えば、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）及びＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）などのイメージセンサで構成される。読取機２０によって読み取られた項目情報は制御装置９０に出力される。
【0027】
検体点着部３０では、分析チップ１２に血漿、全血、血清あるいは尿などの検体試料の点着が行われる。検体点着部３０には、チップ支持台３１が設けられており、チップ支持台３１上に搬送された分析チップ１２への検体試料の点着が、チップ支持台３１上にて行われる。検体試料の点着は、後述の検体点着機構５０によって行われる。チップ支持台３１は、保持台１１に隣接して配置されている。
【0028】
第１チップ搬送機構４０は、分析チップ１２をチップセット部１０から検体点着部３０へ搬送し、さらに検体点着部３０からインキュベータ６０に搬送する。また、第１チップ搬送機構４０は、検体点着部３０からインキュベータ６０を通過して、電位測定用インキュベータ７５へ分析チップ１２を搬送する。第１チップ搬送機構４０は、薄板状のチップ搬送部材４２と、チップ搬送部材４２をチップセット部１０、検体点着部３０及びインキュベータ６０の並び方向に往復移動させる駆動機構４４とを備える。駆動機構４４は例えば、リニアアクチュエータである。チップ搬送部材４２は、図示しないガイドロッドにより摺動自在に支持され、駆動機構４４によって往復移動される。第１チップ搬送機構４０は、本開示の技術に係る「第１送り機構」の一例である。
【0029】
検体点着機構５０は、ノズル５２及び図示しない吸引吐出機構とノズル５２を移動する移動機構とを備える。検体点着機構５０は、図示しない検体収容部から検体試料を吸引し、検体点着部３０において分析チップ１２に検体を点着する。
【0030】
インキュベータ６０は、複数の分析チップ１２を内部に収容することが可能である。インキュベータ６０は、高さ方向に長手方向を有する直方体形状の筐体６０Ａと、筐体６０Ａの内部に設けられた縦型ラック６０Ｂとを有している。縦型ラック６０Ｂは、複数の分析チップ１２を高さ方向（図２に示すＺ方向）に並べて収容可能としている。例えば、縦型ラック６０Ｂは、複数の棚６１Ａ～６１Ｆを有する。棚６１Ａ～６１Ｆの上には、分析チップ１２が１つずつ載置される。以下の説明では、複数の棚６１Ａ～６１Ｆを特に区別する必要が無い場合、単に「棚６１」とも称する。縦型ラック６０Ｂは、本開示の技術に係る「縦型ラック」の一例であり、複数の棚６１Ａ～６１Ｆは、本開示の技術に係る「複数の棚」の一例である。
【0031】
なお、ここでは、棚６１Ａ～６１Ｆのみを図示しているが、実際には、棚６１の数は、縦型ラック６０Ｂの大きさ、移動範囲及び検査効率等を考慮して適宜設定される。例えば、棚６１の数は、１２個である。
【0032】
また、縦型ラック６０Ｂは、高さ方向に移動可能とされている。縦型ラック６０Ｂは、高さ方向に長手方向を有する支柱６２に取り付けられており、支柱６２に沿って移動可能とされている。縦型ラック６０Ｂは、駆動機構６４からの動力を受けて、支柱６２によってガイドされながら、高さ方向に移動する。これにより、棚６１に載置された分析チップ１２の高さ方向における位置が変更される。
【0033】
インキュベータ６０は、内部にヒータ６６（図６参照）を有しており、インキュベータ６０内の少なくとも分析チップ１２が収容されている部分を予め設定された目標温度に温める機能を有する。また、インキュベータ６０は、分析チップ１２を目標温度に保つ機能も有する。より具体的には、インキュベータ６０は、分析チップ１２において検体試料が点着される領域の周囲の雰囲気を目標温度に保つ。目標温度は、例えば、３７℃である。なお、目標温度は、分析チップ１２の種類によって異なる場合がある。インキュベータ６０内の分析チップ１２を予め設定された目標温度に温め、かつ分析チップ１２を目標温度に保つことにより、インキュベータ６０は、分析チップ１２の試薬と検体試料との反応を促進させる。インキュベータ６０は、本開示の技術に係る「インキュベータ」及び「第１インキュベータ」の一例である。
【0034】
光学測定部７０は、分析チップ１２に対して比色法を用いた光学濃度の測定である比色測定を行うユニットである。また、電位測定部７６は、分析チップ１２に対して電極法を用いた電解質濃度の測定である電解質測定を行うユニットである。光学測定部７０及び電位測定部７６の詳細については後述する。光学測定部７０及び電位測定部７６は、本開示の技術に係る「測定ユニット」の一例である。光学測定部７０は、本開示の技術に係る「第１測定ユニット」であり、電位測定部７６は、本開示の技術に係る「第２測定ユニット」の一例である。
【0035】
電位測定用インキュベータ７５は、電位測定部７６による電位測定のために分析チップ１２を収容する。電位測定用インキュベータ７５は、インキュベータ６０と同様に、電位測定用インキュベータ７５内の少なくとも分析チップ１２が収容されている部分を予め設定された目標温度に温める機能を有する。また、電位測定用インキュベータ７５は、分析チップ１２を目標温度に保つ機能も有する。より具体的には、電位測定用インキュベータ７５は、分析チップ１２において検体試料が点着される領域の周囲の雰囲気を目標温度に保つ。目標温度は、例えば、３０℃である。電位測定用インキュベータ７５は、本開示の技術に係る「第２インキュベータ」の一例である。
【0036】
第２チップ搬送機構８０は、インキュベータ６０の外部に設けられており、インキュベータ６０の内部にある分析チップ１２を搬送する。第２チップ搬送機構８０は、縦型ラック６０Ｂの棚６１に載置された分析チップ１２を光学測定部７０によって測定するための測定位置６０Ｃ１まで搬送する。また、第２チップ搬送機構８０は、測定位置６０Ｃ１から棚６１へ分析チップ１２を搬送する。すなわち、第２チップ搬送機構８０は、第１チップ搬送機構４０における分析チップ１２の搬送方向（図２に示すＹ方向に沿った方向）と交差する方向（図２に示すＸ方向に沿った方向）に分析チップ１２を搬送する。第２チップ搬送機構８０は、本開示の技術に係る「第２送り機構」の一例である。
【0037】
第２チップ搬送機構８０は、薄板状のチップ搬送部材８２と、チップ搬送部材８２を往復移動させる駆動機構８４（図５参照）とを備える。駆動機構８４は、例えば、リニアアクチュエータである。チップ搬送部材８２は、図示しないガイドロッドにより摺動自在に支持され、駆動機構８４によって往復移動される。第２チップ搬送機構８０の具体的な構成については後述する。
【0038】
制御装置９０は、分析装置１００の全体の動作を制御する。制御装置９０の構成は特に限定されないが、例えば、制御装置９０は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＮＶＭ（Non-volatile Memory）、及びＲＡＭ（Random Access Memory）などによって構成されるプロセッサ９０Ａを含むコンピュータによって実現される。
【0039】
上述したように、分析チップ１２は、比色チップ１２Ａと電解質チップ１２Ｂと含んでいる。図３は比色チップ１２Ａの構造例を示す外観斜視図である。一例として図３に示すように、比色チップ１２Ａは、試薬が固定された反応領域１３を有している。試薬は、検査対象物質と反応することにより、特定の色に発色する物質を生成する。この反応によって発色する物質を、以下において反応物質と呼ぶ。試薬としては、例えば、少なくとも出荷時においては乾燥状態となる固相の乾式試薬が用いられる。検体試料は、比色チップ１２Ａの反応領域１３に点着される。
【0040】
比色チップ１２Ａは、検体試料が点着される担体１６を有しており、担体１６はケース１７に収容されている。ケース１７は、第１ケース１７Ａおよび第２ケース１７Ｂで構成されており、第１ケース１７Ａと第２ケース１７Ｂとにより、担体１６を挟み込むようにして収容する。第１ケース１７Ａに、検体試料を反応領域１３に点着するための滴下口として機能する開口１７Ｃが形成されている。第２ケース１７Ｂには、反応領域１３に光を照射するための開口１７Ｄが形成されている。比色チップ１２Ａの表面を構成する第１ケース１７Ａの開口１７Ｃに担体１６は露呈される。また、比色チップ１２Ａの裏面を構成する第２ケース１７Ｂの開口１７Ｄに担体１６は露呈される。担体１６の開口１７Ｄに露呈される領域が、試薬が固定された反応領域１３を構成している。また、第２ケース１７Ｂには、測定項目に関する項目情報が符号化された情報コード１７Ｅとして付与されている。情報コード１７Ｅは、例えば、複数のドットが配列されたパターンであり、測定項目毎にドットの配列パターンが異なっている。もちろん、情報コード１７Ｅとしては、一次元バーコード及び二次元バーコードなどを用いてもよい。
【0041】
検体試料と反応させる試薬を変化させることで、検体試料に対する複数の測定項目の分析が可能となる。測定項目毎に複数の比色チップ１２Ａが用意されており、比色チップ１２Ａには測定項目に応じた試薬が担体１６に固定されている。比色チップ１２Ａ毎に付与されている項目情報は、その比色チップ１２Ａの担体１６に固定された試薬の識別情報（例えば、試薬名及び識別コードを特定可能な情報）、又はその試薬によって測定される測定項目の識別情報（例えば、項目名及び識別コードを特定可能な情報）を含んでいる。
【0042】
図４は電解質チップ１２Ｂの構造例を示す外観斜視図である。
一例として図４に示すように、電解質チップ１２Ｂは、ケース１５の内部に測定対象となるイオン（例えば、Ｎａイオン、Ｋイオン、及びＣｌイオン）に応じた多層フィルム電極（図示省略）及び分配部材（図示省略）を有している。ケース１５は、第１ケース１５Ａおよび第２ケース１５Ｂで構成されており、第１ケース１５Ａと第２ケース１５Ｂとにより、多層フィルム電極及び分配部材を挟み込むようにして収容する。第１ケース１５Ａには、２つの開口１５Ｃが設けられている。一方の開口１５Ｃには、検体試料が点着され、他方の開口１５Ｃには、参照液が点着される。分配部材によって検体試料は多層フィルム電極の一端に運ばれ、一方、参照液は多層フィルム電極の他端に運ばれる。
一例として図４に示すように、電解質チップ１２Ｂは、ケース１５の内部に測定対象となるイオン（例えば、Ｎａイオン、Ｋイオン、及びＣｌイオン）に応じた多層フィルム電極（図示省略）及び分配部材（図示省略）を有している。ケース１５は、第１ケース１５Ａおよび第２ケース１５Ｂで構成されており、第１ケース１５Ａと第２ケース１５Ｂとにより、多層フィルム電極及び分配部材を挟み込むようにして収容する。第１ケース１５Ａには、２つの開口１５Ｃが設けられている。一方の開口１５Ｃには、検体試料が点着され、他方の開口１５Ｃには、参照液が点着される。分配部材によって検体試料は多層フィルム電極の一端に運ばれ、一方、参照液は多層フィルム電極の他端に運ばれる。
【0043】
第２ケース１５Ｂには、多層フィルム電極の数に応じた穴１５Ｄが形成されている。穴１５Ｄを介して多層フィルム電極の一端及び他端に測定用の電極（図示省略）が多層フィルム電極に接触可能とされている。図４に示す例では、６つの穴１５Ｄ１～１５Ｄ６が形成されている。例えば、穴１５Ｄ１及び１５Ｄ２は、それぞれＣｌイオン濃度測定用の多層フィルム電極の一端及び他端に通じている。また、穴１５Ｄ３及び１５Ｄ４は、それぞれＫイオン濃度測定用の多層フィルム電極の一端及び他端に通じている。さらに、穴１５Ｄ５及び１５Ｄ６は、それぞれＮａイオン濃度測定用の多層フィルム電極の一端及び他端に通じている。
【0044】
また、第２ケース１５Ｂには、測定項目に関する項目情報が符号化された情報コード１５Ｅとして付与されている。情報コード１５Ｅは、比色チップ１２Ａに付与された情報コード１７Ｅと同様な構成、及び機能を有する。
【0045】
図５～図９を用いて、ストッカー１４に収容されている分析チップ１２の搬送、検体試料の点着、測定、及び廃却までの一例の手順を説明する。
図５及び図８は、分析装置１００の部分構成の一例を示す平面図であり、図６及び図９はインキュベータ６０及び電位測定用インキュベータ７５の構成例を示す断面図であり、図７は縦型ラック６０Ｂの動作例を示す概念図である。
一例として図５に示すように、第１チップ搬送機構４０によるストッカー１４からインキュベータ６０への分析チップ１２の搬送はチップ搬送部材４２によって行われる。まず、ストッカー１４内において積層されている分析チップ１２のうち、最下段に収容されている分析チップ１２にチップ搬送部材４２が押し当てられる。この状態で、チップ搬送部材４２がインキュベータ６０側に移動することによって、分析チップ１２は、チップ搬送機構４０によってストッカー１４から取り出される。そして、分析チップ１２は、チップ支持台３１上の点着位置３１Ａへ搬送される。点着位置３１Ａは、分析装置１００を平面視した場合（すなわち、図５に示すＺ方向に沿った方向で見た場合）に、縦型ラック６０Ｂの外側に並べて配置されている。すなわち、点着位置３１Ａは、分析装置１００を平面視した場合に、縦型ラック６０Ｂと隣り合う位置に設けられている。点着位置３１Ａにおいて、検体点着部３０によって分析チップ１２に検体が点着される。点着位置３１Ａは、本開示の技術に係る「点着位置」の一例である。分析チップ１２に点着がされた後、分析チップ１２は、チップ搬送部材４２によって押し込まれることにより、インキュベータ６０内へ搬送される。インキュベータ６０内の縦型ラック６０Ｂには、複数の棚６１が設けられており、点着位置３１Ａからインキュベータ６０への分析チップ１２の搬送は、縦型ラック６０Ｂの高さを変更しながら、各棚６１へ行われる。
図５及び図８は、分析装置１００の部分構成の一例を示す平面図であり、図６及び図９はインキュベータ６０及び電位測定用インキュベータ７５の構成例を示す断面図であり、図７は縦型ラック６０Ｂの動作例を示す概念図である。
一例として図５に示すように、第１チップ搬送機構４０によるストッカー１４からインキュベータ６０への分析チップ１２の搬送はチップ搬送部材４２によって行われる。まず、ストッカー１４内において積層されている分析チップ１２のうち、最下段に収容されている分析チップ１２にチップ搬送部材４２が押し当てられる。この状態で、チップ搬送部材４２がインキュベータ６０側に移動することによって、分析チップ１２は、チップ搬送機構４０によってストッカー１４から取り出される。そして、分析チップ１２は、チップ支持台３１上の点着位置３１Ａへ搬送される。点着位置３１Ａは、分析装置１００を平面視した場合（すなわち、図５に示すＺ方向に沿った方向で見た場合）に、縦型ラック６０Ｂの外側に並べて配置されている。すなわち、点着位置３１Ａは、分析装置１００を平面視した場合に、縦型ラック６０Ｂと隣り合う位置に設けられている。点着位置３１Ａにおいて、検体点着部３０によって分析チップ１２に検体が点着される。点着位置３１Ａは、本開示の技術に係る「点着位置」の一例である。分析チップ１２に点着がされた後、分析チップ１２は、チップ搬送部材４２によって押し込まれることにより、インキュベータ６０内へ搬送される。インキュベータ６０内の縦型ラック６０Ｂには、複数の棚６１が設けられており、点着位置３１Ａからインキュベータ６０への分析チップ１２の搬送は、縦型ラック６０Ｂの高さを変更しながら、各棚６１へ行われる。
【0046】
インキュベータ６０内に搬送された分析チップ１２は、縦型ラック６０Ｂの棚６１に載置される。実際には複数の棚６１に対してそれぞれ分析チップ１２が載置されるが、説明の便宜上、図５に示す例では、複数の棚６１のうちの１つの棚６１Ｃにだけ比色チップ１２Ａが載置されている。インキュベータ６０の内部は、予め設定された温度（例えば、３７℃）とされている。
【0047】
縦型ラック６０Ｂにおいて、複数の棚６１の各々は、チップ押圧部材６８を備えている。チップ押圧部材６８は、棚６１に載置された分析チップ１２を押圧する部材である。チップ押圧部材６８は、分析チップ１２と対向する位置に設けられ、棚６１に向かって付勢されている。これにより、分析チップ１２が棚６１に押し付けられるので、棚６１において分析チップ１２の位置がずれることが抑制される。また、チップ押圧部材６８は、分析チップ１２の反応領域１３（図３参照）を覆うことで、点着された検体試料の揮発を抑制する。
【0048】
分析チップ１２のうち比色チップ１２Ａを、インキュベータ６０から測定位置６０Ｃ１へ搬送する際には、縦型ラック６０Ｂの高さを変更することにより、測定対象の比色チップ１２Ａが載置される棚６１の高さを測定位置６０Ｃ１の高さに合わせる。図５に示す例のように棚６１Ｃに測定対象の比色チップ１２Ａが載置されている場合には、棚６１Ｃの高さを測定位置６０Ｃ１の高さに合わせる。この状態で、棚６１Ｃに載置された比色チップ１２Ａは、第２チップ搬送機構８０によって測定位置６０Ｃ１まで搬送される。第２チップ搬送機構８０は、チップ搬送部材８２を備えている。チップ搬送部材８２は、比色チップ１２Ａとの当接により、縦型ラック６０Ｂから測定位置６０Ｃ１に向けて比色チップ１２Ａを送り込み、かつ、比色チップ１２Ａとの当接により、測定位置６０Ｃ１から縦型ラック６０Ｂに向けて比色チップ１２Ａを引き戻す部材である。
【0049】
具体的には、チップ搬送部材８２は、軸部８２Ａと、第１当接部８２Ｂと、第２当接部８２Ｃとを備えている。軸部８２Ａは、棒状部材であり、軸部８２Ａの側面には図示しないラックギアが形成されている。軸部８２Ａに形成されたラックギアが、駆動機構８４のモータ８４Ａと係合することで、チップ搬送部材８２が図５においてＸ方向に沿って移動する。Ｘ方向は、インキュベータ６０と測定位置６０Ｃ１との間で比色チップ１２Ａが搬送される搬送方向である。軸部８２Ａは、インキュベータ６０内において、縦型ラック６０Ｂが高さ方向に移動する場合に縦型ラック６０Ｂと干渉しない位置（例えば、平面視した場合に縦型ラック６０Ｂよりも外側の位置）に配置されている。
【0050】
第１当接部８２Ｂ及び第２当接部８２Ｃは、軸部８２Ａの同じ側面から、軸部８２Ａと直交するＹ方向に突出した部位である。第１当接部８２Ｂは、軸部８２Ａの先端に設けられており、第２当接部８２Ｃは、第１当接部８２Ｂよりも予め定めた距離離れた位置に設けられている。具体的には、第１当接部８２Ｂと第２当接部８２Ｃとの間隔は、棚６１のＸ方向の幅よりも僅かに大きい。これにより、図５に示すように、第１当接部８２Ｂと第２当接部８２Ｃとによって比色チップ１２ＡをＸ方向の両側から挟み込む態様で、チップ搬送部材８２を配置することができる。また、第１当接部８２Ｂと第２当接部８２Ｃとの間隔は棚６１の幅よりも大きいため、第１当接部８２Ｂと第２当接部８２Ｃとは、平面視した場合に縦型ラック６０Ｂよりも外側の位置に配置することが可能となる。このため、縦型ラック６０Ｂが高さ方向に移動する場合でも、縦型ラック６０Ｂが、第１当接部８２Ｂ及び第２当接部８２Ｃと干渉することが防止される。
【0051】
第２当接部８２Ｃは、比色チップ１２ＡのＸ方向における一方の側面と当接することで、比色チップ１２ＡをＸ方向の他方側に移動させることにより、比色チップ１２Ａを棚６１から測定位置６０Ｃ１に送り込む。また、第１当接部８２Ｂは、比色チップ１２ＡのＸ方向における他方の側面と当接することで、比色チップ１２ＡをＸ方向の一方側に移動させることにより、比色チップ１２Ａを測定位置６０Ｃ１から棚６１へ引き戻す。
【0052】
また、チップ搬送部材８２を平面視した場合は、第１当接部８２Ｂ及び第２当接部８２Ｃと、軸部８２Ａのうち第１当接部８２Ｂ及び第２当接部８２Ｃの間に位置する部分とによって、比色チップ１２Ａの三辺が取り囲まれる。軸部８２Ａのうち第１当接部８２Ｂ及び第２当接部８２Ｃの間に位置する部分は、比色チップ１２Ａを点着位置３１Ａから棚６１に向けて搬送する搬送路と交差する方向に位置する。そのため、軸部８２Ａは、第１当接部８２Ｂ及び第２当接部８２Ｃの間が、比色チップ１２Ａの厚み分、Ｚ方向にオフセットしている。これにより、比色チップ１２Ａをインキュベータ６０へ受け入れるための開口８２Ａ１（図２も参照）が形成されている。また、点着位置３１Ａからインキュベータ６０への搬送は、比色チップ１２Ａばかりでなく、電解質チップ１２Ｂについても行われる。開口８２Ａ１は、電解質チップ１２Ｂも受け入れ可能となっている。
【0053】
上述したように、分析装置１００を平面視した場合に、点着位置３１Ａは、縦型ラック６０Ｂに対して、Ｙ方向に沿った方向に並べて配置されている。この場合において、測定位置６０Ｃ１は、縦型ラック６０Ｂに対して、Ｘ方向に沿った方向に並べて配置されている。このように、測定位置６０Ｃ１は、点着位置３１Ａが縦型ラック６０Ｂに対して並べて配置された方向と交差する方向（例えば、直交方向）に並べて配置されている。図５に示すＹ方向に沿った方向は、本開示の技術に係る「第１方向」の一例であり、Ｘ方向に沿った方向は、本開示の技術に係る「第２方向」の一例である。
【0054】
一例として図６に示すように、チップ搬送部材８２の第２当接部８２Ｃが、比色チップ１２Ａの側面に当接することで、比色チップ１２Ａが測定位置６０Ｃ１に搬送される。測定位置６０Ｃ１は、インキュベータ６０の筐体６０Ａの一部が突出した突出部６０Ｃの内部に設けられている（図２参照）。また、測定位置６０Ｃ１は、分析装置１００を平面視した場合に、縦型ラック６０Ｂの外側に並べて配置されている。すなわち、測定位置６０Ｃ１は、分析装置１００を平面視した場合に、縦型ラック６０Ｂと隣り合う位置に設けられている。光学測定部７０は、突出部６０Ｃの下側（図６に示すＺ方向と反対の方向の側）に設けられている。突出部６０Ｃにおいて、比色チップ１２Ａが押圧部材６０Ｃ２によって押圧されることで、比色チップ１２Ａが、測定位置６０Ｃ１から大きく位置がずれることが抑制される。測定位置６０Ｃ１は、本開示の技術に係る「測定位置」の一例である。
【0055】
そして、光学測定部７０によって比色測定が行われる。光学測定部７０は、測定位置６０Ｃ１にある開口６０Ｃ３を介して、比色チップ１２Ａに対して光（一例として後述する測定光Ｌ０）を照射し、比色チップ１２Ａからの反射光を受光することにより、比色チップ１２Ａにおいて検体試料と試薬との反応状態に応じた光学濃度を測定する。光学測定部７０は、反応領域１３に測定光Ｌ０を照射するための光源７２と、反応領域１３からの光を受光し、光電変換する光検出器７４を備える。
【0056】
光源７２は、比色チップ１２Ａのケース１７の開口１７Ｄから反応領域１３に向けて、光を照射する。光の波長域は、検査対象物質（すなわち測定項目）に応じて決定される。例えば、本例においては、上述したとおり、検査対象物質と試薬との反応によって、特定の色に発色する反応物質が生じる。光源７２が照射する光は、反応物質が生じているか否かを検出するための光であるため、反応物質が発色する色に応じて波長域が決定される。本例の測定光Ｌ０は、例えば、反応物質を検出するために、反応物質に吸収される波長域を含む光である。
【0057】
特に、測定光Ｌ０の波長域は、反応物質に吸収される波長域に制限されていることが好ましい。光源７２としては、例えば、ＬＥＤ（Light Emitting Diode）、有機ＥＬ（Electro Luminescence）及び半導体レーザなどの光源が用いられる。また、白色光源などの比較的ブロードな波長域の光を発する光源と、特定の波長域のみを透過するバンドパスフィルタとを組み合わせることにより、特定の波長域に制限された測定光を生成してもよい。また、図６には、１つの光源７２のみを示しているが、複数の測定項目の測定を行うため、実際には、異なる波長域の複数の光を出力する複数の光源７２、もしくは、１つの白色光源と、異なる波長域の複数の光を透過する複数のバンドパスフィルタを備えている。
【0058】
光検出器７４は、比色チップ１２Ａに測定光Ｌ０が照射された場合に、比色チップ１２Ａから出力される出力光Ｌ１を検出する。光検出器７４は、例えば、フォトダイオード等の光量に応じた検出信号を出力する受光素子である。本例では、２つの光検出器７４を備えている。光検出器７４は、検出信号を制御装置９０（図１参照）に出力する。制御装置９０は、出力光Ｌ１に応じた検出信号を取得し、検査対象物質の濃度を導出する。
【0059】
反応領域１３においては、検体試料と試薬とが反応し、特定の色に発色する反応物質が生じる。反応物質が生じることにより、反応領域１３の色が変化し、この色の変化は反応領域１３の光学濃度の変化として現れる。出力光Ｌ１は、反応領域１３の光学濃度に応じた光であり、出力光Ｌ１には、反応物質による光の吸収等が生じることによって反応物質の情報が反映される。そして、反応領域１３の光学濃度は、反応物質の量の多寡に応じて変化し、反応物質の量は、検体試料内の検査対象物質の濃度を表す。したがって、反応物質の情報を含む出力光Ｌ１を表す検出信号に基づいて、検査対象物質の濃度を測定することができる。
【0060】
縦型ラック６０Ｂの棚６１Ａには、白色濃度板５８が載置されている。また、縦型ラック６０Ｂの棚６１Ｂには、黒色濃度板５６が載置されている。黒色濃度板５６及び白色濃度板５８は、比色チップ１２Ａの光学濃度を測定する際に参照される参照光学濃度を取得するための濃度板である。黒色濃度板５６及び白色濃度板５８は、本開示の技術に係る「光学濃度板」の一例である。棚６１Ａは、縦型ラック６０Ｂの高さ方向の最上段に位置しており、本開示の技術に係る「縦型ラック６０Ｂの高さ方向の両端部」の一例である。
【0061】
光学測定部７０は、比色チップ１２Ａの光学濃度を測定する前に、黒色濃度板５６及び白色濃度板５８のそれぞれに測定光Ｌ０を照射して、黒色の参照光学濃度及び白色の参照光学濃度を測定する。具体的には、白色の参照光学濃度を測定する場合には、棚６１Ａが、測定位置６０Ｃ１と同じ高さになるまで縦型ラック６０Ｂが移動される。そして、第２チップ搬送機構８０によって、白色濃度板５８が測定位置６０Ｃ１まで搬送される。光学測定部７０により、白色濃度板５８に対して光学的な測定が行われた後、白色濃度板５８は、棚６１Ａに戻される。なお、黒色の参照光学濃度を測定する場合も同様の手順で測定が行われる。
【0062】
比色チップ１２Ａの光学濃度は、黒色の参照光学濃度を下限値、白色の参照光学濃度を上限値とする範囲内における相対的な濃度として測定される。上述したように、光学測定部７０は、異なる複数の波長の測定光Ｌ０を発する複数の光源を有しており、各波長は、比色チップ１２Ａの種類、すなわち測定項目に応じて使用される。黒色の参照光学濃度及び白色の参照光学濃度は、測定光Ｌ０の波長毎に測定される。
【0063】
一回目の比色測定が終了した後、比色チップ１２Ａは、縦型ラック６０Ｂの棚６１Ｃに戻される。具体的には、チップ搬送部材８２の第１当接部８２Ｂが、比色チップ１２Ａの側面に当接することで、比色チップ１２Ａが測定位置６０Ｃ１から棚６１Ｃに搬送される。
【0064】
ここで、比色測定では、測定項目の異なる複数の比色チップ１２Ａが用意されており、複数の比色チップ１２Ａに対して、それぞれの経時変化を観察することが必要な場合がある。そこで、検査効率を向上させるため、上述したように一つの比色チップ１２Ａに対する比色測定を行った後、時間経過を待つ間に、別の測定項目の比色チップ１２Ａに対して比色測定を行う。
【0065】
一例として図７に示すように、棚６１Ｃに載置された比色チップ１２Ａに対する比色測定が終了した後、棚６１Ｃの一つ下の棚６１Ｄに比色チップ１２Ａを収容するため、縦型ラック６０Ｂは、点着位置３１Ａ及び測定位置６０Ｃ１に対して、棚６１の一つ分の高さ上方に移動する。そして、点着された比色チップ１２Ａが、点着位置３１Ａから棚６１Ｄへ搬送される。棚６１Ｄに載置された比色チップ１２Ａは、測定位置６０Ｃ１へ搬送され、比色測定が行われる。そして、測定後の比色チップ１２Ａは、棚６１Ｄへ戻される。このような、比色チップ１２Ａの収容、測定、再度収容、及び縦型ラック６０Ｂの上昇の動作を測定項目の数（すなわち、比色チップ１２Ａの数）に応じて繰り返した後、縦型ラック６０Ｂは、最初に比色測定を行った比色チップ１２Ａを測定位置６０Ｃ１へ搬送可能な高さまで下降する。このように、最初の比色測定から最後の比色測定までを１つの測定サイクルとして、以降、必要な時間経過に応じた測定結果が得られるまで、測定サイクルが繰り返される。
【0066】
必要な測定サイクルが終了した後、比色チップ１２Ａは、第２チップ搬送機構８０によって廃却位置へ搬送される。廃却位置は、例えば、廃却容器８５（図５参照）の内部である。第２チップ搬送機構８０は、本開示の技術に係る「廃却機構」の一例である。
【0067】
一例として図８に示すように、電解質チップ１２Ｂについてもチップ搬送部材４２が押し当てられることによって、電解質チップ１２Ｂが、ストッカー１４から取り出される。そして、電解質チップ１２Ｂは、点着位置３１Ａにおいて、検体点着部３０によって電解質チップ１２Ｂに検体試料及び参照液が点着される。電解質チップ１２Ｂに点着がされた後、電解質チップ１２Ｂは、インキュベータ６０内へ搬送される。電解質チップ１２Ｂは、インキュベータ６０の棚６１の上を通過して、電位測定用インキュベータ７５へ搬送される。電解質チップ１２Ｂは、電位測定用インキュベータ７５内の測定位置７５Ａに載置される。
【0068】
一例として図９に示すように、測定位置７５Ａにおいて、電解質チップ１２Ｂは、チップ押圧部材７５Ｂによって押圧される。これにより、電解質チップ１２Ｂは、測定位置７５Ａから大きく位置がずれることが抑制される。電位測定用インキュベータ７５の内部は、図示しないヒータによって、電極法による測定に適した温度（例えば、３０℃）に設定されている。
【0069】
電位測定部７６は、電解質チップ１２Ｂに対して電極法による電位測定を行う。電位測定部７６は、装置本体７６Ａ、恒温部７６Ｂ、及び電極ピン７６Ｃ並びに７６Ｄを備えている。電解質チップ１２Ｂが測定位置７５Ａに搬送されると、装置本体７６Ａは、電解質チップ１２Ｂに向けて移動する。そして、装置本体７６Ａは、開口７５Ｃから恒温部７６Ｂを電解質チップ１２Ｂに対して接触させ、さらに、電極ピン７６Ｃ及び７６Ｄを電解質チップ１２Ｂの穴１５Ｄ（図６参照）に挿入する。
【0070】
恒温部７６Ｂは、電位測定用インキュベータ７５の内部と同様に、電極法による測定に適した温度（例えば、３０℃）に設定されている。恒温部７６Ｂは、例えば、装置本体７６Ａの内部に収容された熱源で発生した熱を伝える金属板である。このため、電位測定用インキュベータ７５によって温められた電解質チップ１２Ｂが、恒温部７６Ｂと接触した場合でも、電解質チップ１２Ｂの温度低下が抑制される。電解質チップ１２Ｂに対しては、電極ピン７６Ｃ及び７６Ｄを用いて、電位の測定が行われる。
【0071】
電極ピン７６Ｃ及び７６Ｄは、一対の電極ピンである。電極ピン７６Ｃ及び７６Ｄは、電解質チップ１２Ｂの穴１５Ｄを介して、多層フィルム電極の一端及び他端に接触する。これにより、多層フィルム電極において生じた電位差を測定する。電位差は、検体試料中のイオン濃度に応じて変化する。このため、電位差を測定することで、検体試料中のイオン濃度を測定することができる。
【0072】
電極ピン７６Ｃ及び７６Ｄは、電解質チップ１２Ｂの穴１５Ｄの数に応じて設けられている。例えば、上述したように電解質チップ１２Ｂの穴１５Ｄ１～１５Ｄ６の６つの穴が設けられている場合、一対の電極ピン７６Ｃ及び７６Ｄは、３組設けられる。そして、そのうちの１組が、穴１５Ｄ１及び１５Ｄ２に挿入される。これにより、Ｃｌイオン濃度が測定される。また、別の１組が、穴１５Ｄ３及び１５Ｄ４に挿入される。Ｋイオン濃度が測定される。さらに、別の１組が、穴１５Ｄ５及び１５Ｄ６に挿入される。Ｎａイオン濃度が測定される。このように、複数種類のイオンの濃度が同時に測定される。
【0073】
電位測定部７６による測定が終了した後、装置本体７６Ａは、電解質チップ１２Ｂから離れる方向に移動する。そして、電解質チップ１２Ｂは、廃却機構（図示省略）によって測定位置７５Ａから廃却位置へ搬送される。廃却位置は、例えば、廃却容器８６の内部である。
【0074】
以上説明したように、本第１実施形態に係る分析装置１００では、乾式の複数の分析チップ１２を予め設定された温度に温めるインキュベータ６０が設けられ、インキュベータ６０は、複数の分析チップ１２を高さ方向（図２等に示すＺ方向）に並べて収容可能な縦型ラック６０Ｂを有している。これにより、縦型ラック６０Ｂを有しない場合と比べて、分析装置１００の平面サイズ（すなわち、分析装置１００を平面視した場合の大きさ）の小型化が可能になる。例えば、複数の分析チップ１２を高さ方向と直交する方向に並べてインキュベータ内に収容する場合と比較して、本構成では、分析装置１００の平面サイズの小型化が実現される。
【0075】
また、本第１実施形態に係る分析装置１００では、縦型ラック６０Ｂは、複数の分析チップ１２を１つずつ載置する複数の棚６１を有している。このため、縦型ラック６０Ｂの一の棚に複数の分析チップ１２が載置される場合と比較して、分析チップ１２を縦型ラック６０Ｂへ収容したり、分析チップ１２を縦型ラック６０Ｂから取り出したりする動作を分析チップ１２に対して１つずつ行いやすい。
【0076】
また、本第１実施形態に係る分析装置１００では、平面視した場合において、分析チップ１２に検体試料が点着される点着位置３１Ａと、光学測定部７０によって分析チップ１２が測定される測定位置６０Ｃ１とは、縦型ラック６０Ｂの外側に並べて配置されている。このため、縦型ラック６０Ｂ内で検体試料の点着および比色測定が行われる場合と比較して、分析装置１００の構成を簡素化することができる。
【0077】
また、本第１実施形態に係る分析装置１００では、縦型ラック６０Ｂは、点着位置３１Ａ及び測定位置６０Ｃ１に対して、高さ方向に相対的に移動可能とされている。このため、点着位置３１Ａおよび測定位置６０Ｃ１に、縦型ラック６０Ｂ内の複数の分析チップ１２のそれぞれの高さを合わせることができる。これにより、縦型ラック６０Ｂが相対的な移動ができない場合と比べて、分析チップ１２を縦型ラック６０Ｂへ収容したり、分析チップ１２を縦型ラック６０Ｂから取り出したりしやすい。
【0078】
また、本第１実施形態に係る分析装置１００では、分析装置１００を平面視した場合において、点着位置３１Ａは、縦型ラック６０Ｂに対して図５に示すＸ方向に沿った方向に並べて配置されており、かつ、測定位置６０Ｃ１は、縦型ラック６０Ｂに対してＹ方向（すなわち、Ｘ方向と直交する方向）に沿った方向に並べて配置されている。これにより、分析装置１００を平面視した場合に、点着位置３１Ａと測定位置６０Ｃ１の位置を異ならせることで、分析装置１００の内部構造のレイアウトがしやすい場合がある。例えば、点着位置３１Ａと測定位置６０Ｃ１の位置を異ならせることで、点着位置３１Ａと測定位置６０Ｃ１の高さ方向の位置を同じにすることが可能となり、分析装置１００の内部構造のレイアウトの設定が容易になる。
【0079】
また、本第１実施形態に係る分析装置１００では、測定位置６０Ｃ１は、インキュベータ６０内に配置されている。また、測定位置７５Ａは、電位測定用インキュベータ７５内に配置されている。これにより、測定の際も分析チップ１２の温度が管理されるので、測定に適した温度条件で測定が行われる。
【0080】
また、本第１実施形態に係る分析装置１００では、第１チップ搬送機構４０及び第２チップ搬送機構８０が設けられている。第１チップ搬送機構４０によって、点着位置３１Ａから縦型ラック６０Ｂの棚６１へ分析チップ１２が搬送される。また、第２チップ搬送機構８０によって、縦型ラック６０Ｂの棚６１から測定位置６０Ｃ１へ分析チップ１２が搬送される。さらに、第２チップ搬送機構８０によって、測定済みの分析チップ１２が廃却位置へ搬送される。これにより、分析装置１００の内部における分析チップ１２の搬送作業が簡便になる。
【0081】
また、本第１実施形態に係る分析装置１００では、光学測定部７０と電位測定部７６とを備えている。また、分析チップ１２には、光学測定部７０による比色測定が行われる比色チップ１２Ａと、電位測定部７６による電位測定が行われる電解質チップ１２Ｂとが含まれる。このように、本構成では、複数の種類の測定方式による検体試料の分析が可能である。
【0082】
また、本第１実施形態に係る分析装置１００では、比色チップ１２Ａを温めるインキュベータ６０と、電解質チップ１２Ｂを温める電位測定用インキュベータ７５とが設けられている。これにより、比色チップ１２Ａと電解質チップ１２Ｂとで測定の際の目標温度が異なる場合であっても、それぞれ温度管理を行うことが簡便になる。
【0083】
また、本第１実施形態に係る分析装置１００では、比色法において比較の基準となる参照光学濃度を有する黒色濃度板５６及び白色濃度板５８が備えられており、縦型ラック６０Ｂの高さ方向の最上段である棚６１Ａに白色濃度板５８が設けられ、その次の段である棚６１Ｂに黒色濃度板５６が設けられている。縦型ラック６０Ｂは、高さ方向の中央部から両端部に向かうにつれて放熱量が多くなる場合が多い。高さ方向の両端部においては、縦型ラック６０Ｂの最上面又は最下面が外部に露出し、表面積が大きくなる傾向があるためである。そのため、縦型ラック６０Ｂの高さ方向の両端部は、中央部と比較して温度が低い。このため、縦型ラック６０Ｂの中央部の温度を目標温度に合わせると、両端部は目標温度よりも低い温度になってしまうため、両端部の棚６１は適切な温度管理が必要な分析チップ１２を載置する棚６１としては使用しにくい。
【0084】
本構成では、縦型ラック６０Ｂの両端部の一例である高さ方向の最上段の棚６１Ａに、温度管理が不要な白色濃度板５８が載置されている。そのため、分析チップ１２を載置する棚６１として不向きな両端部の棚６１を、有効に活用できる。また、もう１つの黒色濃度板５６は、白色濃度板５８が載置される棚６１Ａの一段下の棚６１Ｂに載置される。棚６１Ｂも最上段の棚６１Ａに近く、中央部と比較して温度管理がしにくい場合がある。このため、黒色濃度板５６を載置することで棚６１Ｂについても有効に活用することができる。なお、もちろん、白色濃度板５８と黒色濃度板５６の位置を入れ替えてもよい。
【0085】
なお、本例では、縦型ラック６０Ｂの高さ方向の上端部に位置する最上段の棚６１Ａに白色濃度板５８を載置した例で説明したが、高さ方向の下端部に位置する最下段の棚６１Ｆに白色濃度板５８を載置してもよい。また、白色濃度板５８及び黒色濃度板５６の一方を、縦型ラック６０Ｂの最上段に、他方を最下段に載置してもよい。
【0086】
また、上記第１実施形態では、比色測定の測定位置６０Ｃ１がＸ方向に沿って縦型ラック６０Ｂに並んで配置され、電位測定の測定位置７５ＡがＹ方向に沿って縦型ラック６０Ｂに並んで配置される形態例を挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されない。測定位置のレイアウトは適宜設定され得る。例えば、測定位置６０Ｃ１と測定位置７５Ａの配置は、図５に示した例とは反対であってもよい。また、その他の例として、測定位置７５Ａが、測定位置６０Ｃ１と並んで配置されていてもよい。すなわち、Ｘ方向に沿って縦型ラック６０Ｂ、測定位置６０Ｃ１、及び測定位置７５Ａの順に並んで配置されてもよい。また、その他の例として、点着位置３１Ａ、縦型ラック６０Ｂ、測定位置６０Ｃ１、及び測定位置７５Ａが直線状に並んで配置されてもよい。
【0087】
（第１変形例）
上記第１実施形態では、検体試料の点着が行われた後に分析チップ１２がインキュベータ６０の内部へ搬送される形態例を挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されない。本第１変形例では、検体試料の点着が行われる前に、分析チップ１２がインキュベータ６０の内部へ搬送され、予熱がされる。その後、分析チップ１２に検体試料の点着が行われる。
上記第１実施形態では、検体試料の点着が行われた後に分析チップ１２がインキュベータ６０の内部へ搬送される形態例を挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されない。本第１変形例では、検体試料の点着が行われる前に、分析チップ１２がインキュベータ６０の内部へ搬送され、予熱がされる。その後、分析チップ１２に検体試料の点着が行われる。
【0088】
図１０は第１変形例に係る分析装置１００の部分構成の一例を示す平面図である。
一例として図１０に示すように、本第１変形例に係る分析装置１００は、第３チップ搬送機構１１０を備えている。第３チップ搬送機構１１０は、点着前に予熱された分析チップ１２をインキュベータ６０の内部から検体点着部３０へ搬送する。第３チップ搬送機構１１０は、薄板状のチップ搬送部材１１０Ａと、チップ搬送部材１１０Ａを検体点着部３０及びインキュベータ６０の並び方向に往復移動させる駆動機構１１０Ｂ（不図示）とを備える。駆動機構１１０Ｂは、例えば、リニアアクチュエータである。チップ搬送部材１１０Ａは、図示しないガイドロッドにより摺動自在に支持され、駆動機構１１０Ｂによって往復移動される。第３チップ搬送機構１１０は、本開示の技術に係る「戻し機構」の一例である。
一例として図１０に示すように、本第１変形例に係る分析装置１００は、第３チップ搬送機構１１０を備えている。第３チップ搬送機構１１０は、点着前に予熱された分析チップ１２をインキュベータ６０の内部から検体点着部３０へ搬送する。第３チップ搬送機構１１０は、薄板状のチップ搬送部材１１０Ａと、チップ搬送部材１１０Ａを検体点着部３０及びインキュベータ６０の並び方向に往復移動させる駆動機構１１０Ｂ（不図示）とを備える。駆動機構１１０Ｂは、例えば、リニアアクチュエータである。チップ搬送部材１１０Ａは、図示しないガイドロッドにより摺動自在に支持され、駆動機構１１０Ｂによって往復移動される。第３チップ搬送機構１１０は、本開示の技術に係る「戻し機構」の一例である。
【0089】
ストッカー１４から取り出された分析チップ１２は、インキュベータ６０の縦型ラック６０Ｂの棚６１に載置される。分析チップ１２は、インキュベータ６０の内部において、目標温度まで温められる。分析チップ１２が目標温度に到達した後、分析チップ１２は、第３チップ搬送機構１１０によって点着位置３１Ａへ搬送される。そして、検体点着部３０によって、分析チップ１２に対して、検体試料が点着される。点着された分析チップ１２は、再度インキュベータ６０の内部へ搬送され、測定が行われる。
【0090】
なお、ここでは、分析チップ１２として比色チップ１２Ａに対して予熱が行われた後、検体試料の点着、及び測定が行われる例を図示して説明したが、電解質チップ１２Ｂ（図示省略）についても同様に、予熱が行われた後、検体試料及び参照液の点着、及び測定が行われる。この場合において、測定後の電解質チップ１２Ｂは、廃却容器８６の内部に廃却されるのではなく、比色チップ１２Ａと共通の廃却容器８５の内部に廃却されてもよい。すなわち、測定後の電解質チップ１２Ｂが、第３チップ搬送機構１１０によって、電位測定用インキュベータ７５から縦型ラック６０Ｂの棚６１へ搬送される。そして、第２チップ搬送機構８０（図示省略）によって、電解質チップ１２Ｂが棚６１から廃却容器８５の内部へ搬送される。これにより、電解質チップ１２Ｂのための廃却容器８６を設ける必要が無くなり、分析装置１００の平面サイズの小型化が実現される。
【0091】
以上説明したように、本第１変形例に係る分析装置１００では、第３チップ搬送機構１１０を備えている。第３チップ搬送機構１１０によって、検体試料が点着される前に予熱された分析チップ１２が縦型ラック６０Ｂの棚６１から点着位置３１Ａへ搬送される。このような予熱を行うことにより、検体試料を点着する際の分析チップ１２の温度を予め設定された目標温度に合わせることができる。これにより、複数の分析チップ１２間の測定条件を揃えることができる。
【0092】
＜第２実施形態＞
図１１は第２実施形態に係る分析装置１０１の部分構成の一例を示す平面図である。上記第１実施形態では、点着位置３１Ａがインキュベータ６０の外部に設けられている形態例を挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されない。本第２実施形態では、点着位置３１Ａがインキュベータ６０の内部に設けられる。
図１１は第２実施形態に係る分析装置１０１の部分構成の一例を示す平面図である。上記第１実施形態では、点着位置３１Ａがインキュベータ６０の外部に設けられている形態例を挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されない。本第２実施形態では、点着位置３１Ａがインキュベータ６０の内部に設けられる。
【0093】
一例として図１１に示すように、ストッカー１４から取り出された比色チップ１２Ａは、インキュベータ６０の縦型ラック６０Ｂの棚６１に載置される。比色チップ１２Ａは、インキュベータ６０の内部において、目標温度（例えば、３７℃）まで温められる。
【0094】
比色チップ１２Ａが目標温度まで到達した後、比色チップ１２Ａは、第２チップ搬送機構８０によって、インキュベータ６０の突出部６０Ｃに設けられた点着位置１２１へ搬送される。点着位置１２１の上側（図１１に示すＺ方向の側）には、検体点着機構５０のノズル５２が設けられている。ノズル５２は、貫通孔５２Ａを介して比色チップ１２Ａに対して検体試料を点着する。
【0095】
点着後の比色チップ１２Ａに対して、光学測定部７０による比色測定が行われる。図１１に示す例では、点着位置１２１が、測定位置１２２とされている。すなわち、点着された比色チップ１２Ａに対して、同じ位置のまま比色測定が行われる。測定後の比色チップ１２Ａは、第２チップ搬送機構８０によって、縦型ラック６０Ｂの棚６１に戻される。そして、次の比色チップ１２Ａに対して、点着及び測定が行われる。このように比色測定のサイクルが繰り返される（図７参照）。
【0096】
また、電解質チップ１２Ｂに対して電位測定が行われる場合、ストッカー１４から取り出された電解質チップ１２Ｂは、縦型ラック６０Ｂの棚６１Ｆに載置される。この場合、棚６１Ｆは、電解質チップ１２Ｂの専用の棚とされている。棚６１Ｆは、冷却素子６９を備えている。冷却素子６９は、例えば、ペルチェ素子である。冷却素子６９は、電解質チップ１２Ｂの温度が過度に上昇することを抑制する。これにより、電解質チップ１２Ｂが目標温度（例えば、３０℃）とされている。このように、インキュベータ６０は、比色チップ１２Ａと電解質チップ１２Ｂとの両方を温める機能を有する。冷却素子６９は、本開示の技術に係る「温度調節機構」の一例である。
【0097】
なお、ここでは、棚６１Ｆが電解質チップ１２Ｂの専用の棚とされている形態例を挙げて説明したが、これはあくまでも一例にすぎない。最上段の棚６１Ａが電解質チップ１２Ｂの専用の棚とされてもよい。この場合において、白色濃度板５８は、棚６１Ｆに載置される。
【0098】
また、冷却素子６９が、縦型ラック６０Ｂの最下段の棚６１Ｆに設けられていることで、冷却素子６９による温度調節に必要な電力消費を抑えることができる。なぜならば、縦型ラック６０Ｂは、高さ方向の両端部の方が中央部よりも放熱効率が高く、温度が低くなっている。そのため、冷却素子６９を棚６１Ｆに設けることで、インキュベータ６０内の目標温度（例えば、３７℃）よりも低い温度に電解質チップ１２Ｂを設定するための電力消費を低減できる。
【0099】
電解質チップ１２Ｂが目標温度に到達した後、電解質チップ１２Ｂは、第２チップ搬送機構８０によって、インキュベータ６０の突出部６０Ｃに設けられた点着位置１２１へ搬送さる。そして、電解質チップ１２Ｂに対して検体試料及び参照液が点着される。その後、電解質チップ１２Ｂに対して電位測定部７６による電位測定が行われる。この場合において、光学測定部７０に代えて、電位測定部７６が、測定位置１２２の下方に位置する。測定が終了した分析チップ１２は、第２チップ搬送機構８０によって廃却位置まで搬送される。
【0100】
以上説明したように、本第２実施形態に係る分析装置１０１では、点着位置１２１及び測定位置１２２は、インキュベータ６０内に配置されている。これにより、温度が管理された状態で分析チップ１２に対して点着及び測定が行われるので、例えば、インキュベータ６０の外部で点着が行われる場合と比較して、より適切な条件で測定を行うことが実現される。
【0101】
また、本第２実施形態に係る分析装置１０１では、インキュベータ６０は、比色チップ１２Ａ及び電解質チップ１２Ｂの両方を温める機能を有している。インキュベータ６０の縦型ラック６０Ｂにおいて、電解質チップ１２Ｂが載置される棚６１Ｆには、冷却素子６９が設けられている。電解質チップ１２Ｂは、冷却素子６９によってインキュベータ６０の内部の目標温度（例えば、３７℃）よりも低い目標温度（例えば、３０℃）とされている。このように、１つのインキュベータ６０で、分析装置１０１の平面サイズの小型化が実現され、さらに、冷却素子６９によって異なる目標温度を有する分析チップ１２を収容することが可能となる。
【0102】
なお、上記第２実施形態では、インキュベータ６０の内部において、点着位置１２１及び測定位置１２２が同じである形態例を挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されない。点着位置１２１及び測定位置１２２は、インキュベータ６０の内部にあればよく、両者が異なる位置にあってもよい。
【0103】
また、上記実施形態では、比色法による測定と電極法による測定が行われる形態例を挙げて説明したが、本開示の技術はこれに限定されない。例えば、比色法による測定のみが行われてもよく、また、比色法による測定と蛍光法による測定が行われてもよい。
【0104】
また、上記実施形態における測定位置及び点着位置がすべて同じ高さにある形態例を挙げて説明したが、本開示の技術は、これに限定されない。測定位置及び点着位置が異なる高さに設けられていてもよい。ただし、本構成のように測定位置及び点着位置が同じ高さにあることで、上下方向の搬送の必要が無くなるので、効率的な搬送の観点で本構成はより効果的である。
【0105】
以上に示した記載内容及び図示内容は、本開示の技術に係る部分についての詳細な説明であり、本開示の技術の一例に過ぎない。例えば、上記の構成、機能、作用、及び効果に関する説明は、本開示の技術に係る部分の構成、機能、作用、及び効果の一例に関する説明である。よって、本開示の技術の主旨を逸脱しない範囲内において、以上に示した記載内容及び図示内容に対して、不要な部分を削除したり、新たな要素を追加したり、置き換えたりしてもよいことは言うまでもない。また、錯綜を回避し、本開示の技術に係る部分の理解を容易にするために、以上に示した記載内容及び図示内容では、本開示の技術の実施を可能にする上で特に説明を要しない技術常識等に関する説明は省略されている。
【0106】
本明細書に記載された全ての文献、特許出願及び技術規格は、個々の文献、特許出願及び技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。
【0107】
上記実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。
【0108】
＜付記１＞
検体試料が点着される乾式の複数の分析チップが着脱自在に装填され、上記分析チップを用いて上記検体試料を分析する分析装置であって、
複数の上記分析チップを予め設定された温度に温めるインキュベータであって、複数の上記分析チップを高さ方向に並べて収容可能な縦型ラックを有するインキュベータと、
複数の上記分析チップに点着された上記検体試料を測定する測定ユニットと、を備えている
分析装置。
＜付記２＞
上記縦型ラックは、複数の上記分析チップを１つずつ載置する複数の棚を有する
付記１に記載の分析装置。
＜付記３＞
平面視した場合において、上記分析チップに上記検体試料が点着される点着位置と、上記測定ユニットによって上記分析チップが測定される測定位置とは、上記縦型ラックの外側に並べて配置されている
付記１又は付記２に記載の分析装置。
＜付記４＞
上記縦型ラックは、上記点着位置および上記測定位置に対して上記高さ方向に相対的に移動可能である
付記３に記載の分析装置。
＜付記５＞
平面視した場合において、上記点着位置は、上記縦型ラックに対して第１方向に並べて配置されており、かつ、上記測定位置は、上記縦型ラックに対して上記第１方向と交差する第２方向に並べて配置されている
付記３又は付記４に記載の分析装置。
＜付記６＞
上記点着位置および上記測定位置のうちの少なくとも１つは、上記インキュベータ内に配置されている
付記３から付記５の何れか一つに記載の分析装置。
＜付記７＞
上記点着位置から、上記縦型ラック内に上記分析チップを送る第１送り機構と、
上記縦型ラック内から、上記測定位置に上記分析チップを送る第２送り機構と、
測定済みの上記分析チップを廃却位置に送る廃却機構と、を備えている
付記３から付記６の何れか一つに記載の分析装置。
＜付記８＞
上記縦型ラック内から、上記検体試料が点着前に予熱された上記分析チップを上記点着位置に戻す戻し機構を備えている
付記３から付記７の何れか一つに記載の分析装置。
＜付記９＞
上記測定ユニットは、上記検体試料と試薬との反応状態を光学的に測定する第１測定ユニットと、上記検体試料に含まれる電解質濃度を、電極を用いて測定する第２測定ユニットとを有しており、
上記分析チップは、上記第１測定ユニットによって測定される第１分析チップと、上記第２測定ユニットによって測定される第２分析チップとが含まれる
付記１から付記８の何れか一つに記載の分析装置。
＜付記１０＞
上記インキュベータとして、上記第１分析チップを温める第１インキュベータと、上記第２分析チップを温める第２インキュベータの２つのインキュベータを有する
付記９に記載の分析装置。
＜付記１１＞
上記インキュベータは、上記第１分析チップと上記第２分析チップの両方を温める１つのインキュベータであり、
上記第１分析チップと上記第２分析チップのそれぞれを異なる目標温度に温める温度調節機構を備えている
付記９に記載の分析装置。
＜付記１２＞
上記第１測定ユニットによる測定において上記反応状態の比較の基準となる参照光学濃度を有する光学濃度板を有しており、
上記縦型ラックの高さ方向の両端部の少なくとも一方に上記光学濃度板が収容される
付記９から付記１１の何れか一つに記載の分析装置。
検体試料が点着される乾式の複数の分析チップが着脱自在に装填され、上記分析チップを用いて上記検体試料を分析する分析装置であって、
複数の上記分析チップを予め設定された温度に温めるインキュベータであって、複数の上記分析チップを高さ方向に並べて収容可能な縦型ラックを有するインキュベータと、
複数の上記分析チップに点着された上記検体試料を測定する測定ユニットと、を備えている
分析装置。
＜付記２＞
上記縦型ラックは、複数の上記分析チップを１つずつ載置する複数の棚を有する
付記１に記載の分析装置。
＜付記３＞
平面視した場合において、上記分析チップに上記検体試料が点着される点着位置と、上記測定ユニットによって上記分析チップが測定される測定位置とは、上記縦型ラックの外側に並べて配置されている
付記１又は付記２に記載の分析装置。
＜付記４＞
上記縦型ラックは、上記点着位置および上記測定位置に対して上記高さ方向に相対的に移動可能である
付記３に記載の分析装置。
＜付記５＞
平面視した場合において、上記点着位置は、上記縦型ラックに対して第１方向に並べて配置されており、かつ、上記測定位置は、上記縦型ラックに対して上記第１方向と交差する第２方向に並べて配置されている
付記３又は付記４に記載の分析装置。
＜付記６＞
上記点着位置および上記測定位置のうちの少なくとも１つは、上記インキュベータ内に配置されている
付記３から付記５の何れか一つに記載の分析装置。
＜付記７＞
上記点着位置から、上記縦型ラック内に上記分析チップを送る第１送り機構と、
上記縦型ラック内から、上記測定位置に上記分析チップを送る第２送り機構と、
測定済みの上記分析チップを廃却位置に送る廃却機構と、を備えている
付記３から付記６の何れか一つに記載の分析装置。
＜付記８＞
上記縦型ラック内から、上記検体試料が点着前に予熱された上記分析チップを上記点着位置に戻す戻し機構を備えている
付記３から付記７の何れか一つに記載の分析装置。
＜付記９＞
上記測定ユニットは、上記検体試料と試薬との反応状態を光学的に測定する第１測定ユニットと、上記検体試料に含まれる電解質濃度を、電極を用いて測定する第２測定ユニットとを有しており、
上記分析チップは、上記第１測定ユニットによって測定される第１分析チップと、上記第２測定ユニットによって測定される第２分析チップとが含まれる
付記１から付記８の何れか一つに記載の分析装置。
＜付記１０＞
上記インキュベータとして、上記第１分析チップを温める第１インキュベータと、上記第２分析チップを温める第２インキュベータの２つのインキュベータを有する
付記９に記載の分析装置。
＜付記１１＞
上記インキュベータは、上記第１分析チップと上記第２分析チップの両方を温める１つのインキュベータであり、
上記第１分析チップと上記第２分析チップのそれぞれを異なる目標温度に温める温度調節機構を備えている
付記９に記載の分析装置。
＜付記１２＞
上記第１測定ユニットによる測定において上記反応状態の比較の基準となる参照光学濃度を有する光学濃度板を有しており、
上記縦型ラックの高さ方向の両端部の少なくとも一方に上記光学濃度板が収容される
付記９から付記１１の何れか一つに記載の分析装置。
【符号の説明】
【0109】
１０ チップセット部
１１ 保持台
１１Ａ 開口
１２ 分析チップ
１２Ａ 比色チップ
１２Ｂ 電解質チップ
１３ 反応領域
１４ ストッカー
１５ ケース
１５Ａ 第１ケース
１５Ｂ 第２ケース
１５Ｃ 開口
１５Ｄ，１５Ｄ１～１５Ｄ６ 穴
１５Ｅ 情報コード
１６ 担体
１７ ケース
１７Ａ 第１ケース
１７Ｂ 第２ケース
１７Ｃ，１７Ｄ 開口
１７Ｅ 情報コード
２０ 読取機
３０ 検体点着部
３１ チップ支持台
３１Ａ 点着位置
４０ 第１チップ搬送機構
４２ チップ搬送部材
４４ 駆動機構
５０ 検体点着機構
５２ ノズル
５２Ａ 貫通孔
５６ 黒色濃度板
５８ 白色濃度板
６０ インキュベータ
６０Ａ 筐体
６０Ｃ 突出部
６０Ｃ１ 測定位置
６０Ｃ２ 押圧部材
６０Ｃ３ 開口
６０Ｂ 縦型ラック
６１，６１Ａ～６１Ｆ 棚
６２ 支柱
６４ 駆動機構
６６ ヒータ
６８ チップ押圧部材
６９ 冷却素子
７０ 光学測定部
７２ 光源
７４ 光検出器
７５ 電位測定用インキュベータ
７５Ａ 測定位置
７５Ｂ チップ押圧部材
７５Ｃ 開口
７６ 電位測定部
７６Ａ 装置本体
７６Ｂ 恒温部
７６Ｃ，７６Ｄ 電極ピン
８０ 第２チップ搬送機構
８２ チップ搬送部材
８２Ａ 軸部
８２Ａ１ 開口
８２Ｂ 第１当接部
８２Ｃ 第２当接部
８４ 駆動機構
８４Ａ モータ
８５，８６ 廃却容器
９０ 制御装置
９０Ａ プロセッサ
１００，１０１ 分析装置
１１０ 第３チップ搬送機構
１１０Ａ チップ搬送部材
１１０Ｂ 駆動機構
１２１ 点着位置
１２２ 測定位置
Ｌ０ 測定光
Ｌ１ 出力光
１１ 保持台
１１Ａ 開口
１２ 分析チップ
１２Ａ 比色チップ
１２Ｂ 電解質チップ
１３ 反応領域
１４ ストッカー
１５ ケース
１５Ａ 第１ケース
１５Ｂ 第２ケース
１５Ｃ 開口
１５Ｄ，１５Ｄ１～１５Ｄ６ 穴
１５Ｅ 情報コード
１６ 担体
１７ ケース
１７Ａ 第１ケース
１７Ｂ 第２ケース
１７Ｃ，１７Ｄ 開口
１７Ｅ 情報コード
２０ 読取機
３０ 検体点着部
３１ チップ支持台
３１Ａ 点着位置
４０ 第１チップ搬送機構
４２ チップ搬送部材
４４ 駆動機構
５０ 検体点着機構
５２ ノズル
５２Ａ 貫通孔
５６ 黒色濃度板
５８ 白色濃度板
６０ インキュベータ
６０Ａ 筐体
６０Ｃ 突出部
６０Ｃ１ 測定位置
６０Ｃ２ 押圧部材
６０Ｃ３ 開口
６０Ｂ 縦型ラック
６１，６１Ａ～６１Ｆ 棚
６２ 支柱
６４ 駆動機構
６６ ヒータ
６８ チップ押圧部材
６９ 冷却素子
７０ 光学測定部
７２ 光源
７４ 光検出器
７５ 電位測定用インキュベータ
７５Ａ 測定位置
７５Ｂ チップ押圧部材
７５Ｃ 開口
７６ 電位測定部
７６Ａ 装置本体
７６Ｂ 恒温部
７６Ｃ，７６Ｄ 電極ピン
８０ 第２チップ搬送機構
８２ チップ搬送部材
８２Ａ 軸部
８２Ａ１ 開口
８２Ｂ 第１当接部
８２Ｃ 第２当接部
８４ 駆動機構
８４Ａ モータ
８５，８６ 廃却容器
９０ 制御装置
９０Ａ プロセッサ
１００，１０１ 分析装置
１１０ 第３チップ搬送機構
１１０Ａ チップ搬送部材
１１０Ｂ 駆動機構
１２１ 点着位置
１２２ 測定位置
Ｌ０ 測定光
Ｌ１ 出力光
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
