特開2024-144365低温電子顕微鏡用途における試料調製のための刻み目付き試料ホルダ及びスパッタターゲット

発明の名称　低温電子顕微鏡用途における試料調製のための刻み目付き試料ホルダ及びスパッタターゲット

出願人　エフ　イー　アイ　カンパニ　（識別番号 501233536）

　　　　特許公開件数ランキング 459 位（58件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 583 位（36件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2024-144365

公報発行日　2024年10月11

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2024-144365

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