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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7928800	荷電粒子顕微鏡における欠陥画素管理	2026年10月 2日
特許 7921562	回折画像を生成するための方法およびシステム	2026年 9月15日
特許 7921514	荷電粒子顕微鏡システム用の小型補正器モジュール及び荷電粒子システム	2026年 9月15日
特許 7913160	電子カウント及びエネルギー増強型の回折分析	2026年 8月31日
特許 7910291	ドリフト補正された高速、低線量の、適応的組成荷電粒子イメージングのための二種速度取得	2026年 8月25日
特許 7910163	電気部品と共に使用するためのデバイス、電気部品と共に使用するためのデバイスを含むシステム、電気部品を動作させる方法	2026年 8月24日
特許 7888910	集束イオンビームシステム及び方法	2026年 7月14日
特許 7888415	フィラメントレス電子源	2026年 7月13日
特許 7882600	らせん断層撮影における試料寿命の延長のための照明開口	2026年 6月30日
特許 7876316	結晶構造を決定する方法およびシステム	2026年 6月19日
特許 7852821	三次元電子回折データを取得するための方法およびシステム	2026年 4月28日
特許 7848963	改善されたミリング精度のための顕微鏡的フィードバック	2026年 4月21日
特許 7845602	スペクトルデータから試料組成を決定するための方法およびシステム	2026年 4月14日
特許 7845600	スペクトルデータの成分分析の方法およびシステム	2026年 4月14日
特許 7844271	ビームによる試料損傷を低減した走査型透過荷電粒子顕微鏡を使用して試料を調査する方法およびシステム	2026年 4月13日

18 件中 1-15 件を表示

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7928800 7921562 7921514 7913160 7910291 7910163 7888910 7888415 7882600 7876316 7852821 7848963 7845602 7845600 7844271

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