特許ランキング - 出願人詳細情報 -

エフ　イー　アイ　カンパニ

※ ログインすれば出願人(エフ　イー　アイ　カンパニ)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2025年出願公開件数ランキング　　　第494位　44件（2024年：第668位　40件）

　■　2025年特許取得件数ランキング　　　第530位　34件（2024年：第720位　34件）

（ランキング更新日：2025年10月2日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7747256	高ダイナミックレンジ荷電粒子分析を実行する方法	2025年10月 1日
特許 7742329	荷電粒子顕微鏡で使用するためのサンプル担体、およびそのようなサンプル担体を荷電粒子顕微鏡で使用する方法	2025年 9月19日
特許 7739691	断層撮影画像化装置を使用して標本を調査する方法	2025年 9月17日
特許 7739692	マルチピラーサンプルを撮像するための方法およびシステム	2025年 9月17日
特許 7735622	振動のない極低温冷却	2025年 9月 9日
特許 7736241	時間ゲート検出、デュアルレイヤＳＰＡＤベースの電子検出	2025年 9月 9日
特許 7735462	顕微鏡画像のスマート計測	2025年 9月 8日
特許 7732142	改善された冷却特性を有する極低温サンプルの調製方法	2025年 9月 2日
特許 7732630	複数の試料のより効率的な処理のためのブロードイオンビーム（ＢＩＢ）システム	2025年 9月 2日
特許 7729014	荷電粒子顕微鏡用リエントラント型ガスシステム	2025年 8月26日
特許 7718017	位相差イメージングおよび電子エネルギー損失分光法を同時に行うためのシステムおよび方法	2025年 8月 5日
特許 7711350	低温電子顕微鏡法における温度監視の方法	2025年 7月23日
特許 7707888	永久磁石付きカウンターポール	2025年 7月15日
特許 7703817	電子エネルギー損失分光検出器を備えた透過型荷電粒子顕微鏡	2025年 7月 8日
特許 7700418	荷電粒子顕微鏡で使用されるサンプルの特性を判定するためのデバイスおよび方法	2025年 7月 1日

34 件中 1-15 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

7747256 7742329 7739691 7739692 7735622 7736241 7735462 7732142 7732630 7729014 7718017 7711350 7707888 7703817 7700418

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。エフ　イー　アイ　カンパニの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数