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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7582590	荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法	2024年11月13日
特許 7571365	複数の荷電粒子ビームレットで試料を検査するための荷電粒子ビーム装置	2024年10月23日
特許 7570818	二次顕微鏡検出器からの画像を使用した一次顕微鏡検出器からのラベル付き画像の自動生成	2024年10月22日
特許 7560009	比較ホログラフィックイメージング	2024年10月 2日
特許 7544320	オブジェクト位置特定のための機械学習による低ｋｅＶイオンビーム画像復元	2024年 9月 3日
特許 7540628	荷電粒子システムにおけるサンプルの３Ｄ画像の深度再構成	2024年 8月27日
特許 7533846	２つのデバイス間でサンプルを移送するための搬送装置および方法、ならびにサンプル操作のためのシステム	2024年 8月14日
特許 7534050	プラズマ支援低真空荷電粒子顕微鏡法のための方法およびシステム	2024年 8月14日
特許 7522069	断層撮影におけるランダムな角度のサンプリングのための回転するサンプルホルダ	2024年 7月24日
特許 7516098	荷電粒子顕微鏡を使用したサンプル検査方法	2024年 7月16日
特許 7506987	人工知能対応ボリューム再構築	2024年 6月27日
特許 7499049	複数の荷電粒子ビームレットで試料を検査するための荷電粒子ビーム装置	2024年 6月13日
特許 7499207	同時ＳＴＥＭおよびＴＥＭ顕微鏡	2024年 6月13日
特許 7489348	３Ｄ回折データを取得するための方法およびシステム	2024年 5月23日
特許 7486322	荷電粒子顕微鏡用の試料ホルダー	2024年 5月17日

24 件中 1-15 件を表示

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7582590 7571365 7570818 7560009 7544320 7540628 7533846 7534050 7522069 7516098 7506987 7499049 7499207 7489348 7486322

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