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エフ　イー　アイ　カンパニ

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エフ　イー　アイ　カンパニの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7648052	データ処理装置によって実施される方法、およびそのような方法で試料を検査するための荷電粒子ビームデバイス	2025年 3月18日
特許 7648590	高反応性材料のサンプルリフトアウトを実施するためのシステム及び方法	2025年 3月18日
特許 7635493	電子後方散乱回折パターンを取得するための方法およびシステム	2025年 2月26日
特許 7631653	軸方向位置合わせ組立体、およびそのような位置合わせ組立体を備えた荷電粒子顕微鏡	2025年 2月19日
特許 7626342	サンプル処理中に画像化するためのデュアルビーム顕微鏡システム	2025年 2月 4日
特許 7625662	電子撮像用途におけるセンサ保護のためのシステム	2025年 2月 3日
特許 7622328	低温荷電粒子試料を取り扱うためのシステムおよび方法	2025年 1月28日
特許 7622337	６次以上の補正ＳＴＥＭ多極子補正器	2025年 1月28日
特許 7618948	電子顕微鏡を用いる生命科学試料の連続微細切片からナノメートル解像度３Ｄ画像データを記録するための自動ロバスト法	2025年 1月22日
特許 7618949	荷電粒子ビーム装置を使用して試料を検査する方法	2025年 1月22日
特許 7615482	超高速ＴＥＭ用途のための高速ブランカーのあるパルス化ＣＦＥ電子源	2025年 1月17日
特許 7615499	荷電粒子ビームのエネルギー幅を決定する方法	2025年 1月17日
特許 7616549	荷電粒子ビーム源	2025年 1月17日
特許 7608695	荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法	2025年 1月 7日
特許 7608696	電子エネルギー損失分光（ＥＥＬＳ）スペクトルを取得する、サンプルを荷電粒子顕微鏡を使用して検査する方法	2025年 1月 7日

16 件中 1-15 件を表示

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7648052 7648590 7635493 7631653 7626342 7625662 7622328 7622337 7618948 7618949 7615482 7615499 7616549 7608695 7608696

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