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エフ イー アイ カンパニ
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第509位 3件
（
2024年：第668位 40件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第239位 8件
（2024年：第720位 34件）
（ランキング更新日：2025年1月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エフ イー アイ カンパニの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7618948 | 電子顕微鏡を用いる生命科学試料の連続微細切片からナノメートル解像度３Ｄ画像データを記録するための自動ロバスト法 | 2025年 1月22日 | |
| 特許 7618949 | 荷電粒子ビーム装置を使用して試料を検査する方法 | 2025年 1月22日 | |
| 特許 7615482 | 超高速ＴＥＭ用途のための高速ブランカーのあるパルス化ＣＦＥ電子源 | 2025年 1月17日 | |
| 特許 7615499 | 荷電粒子ビームのエネルギー幅を決定する方法 | 2025年 1月17日 | |
| 特許 7616549 | 荷電粒子ビーム源 | 2025年 1月17日 | |
| 特許 7608695 | 荷電粒子顕微鏡を使用してサンプルを検査する方法 | 2025年 1月 7日 | |
| 特許 7608696 | 電子エネルギー損失分光（ＥＥＬＳ）スペクトルを取得する、サンプルを荷電粒子顕微鏡を使用して検査する方法 | 2025年 1月 7日 | |
| 特許 7608704 | ニューラルネットワークベースの画像復元のための取得戦略 | 2025年 1月 7日 |
8 件中 1-8 件を表示
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7618948 7618949 7615482 7615499 7616549 7608695 7608696 7608704
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