特開 2024-157346 印刷検査装置、印刷システム、印刷検査方法、及びプログラム

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024157346

(43)【公開日】2024-11-07

(54)【発明の名称】印刷検査装置、印刷システム、印刷検査方法、及びプログラム

(51)【国際特許分類】

   B41J 29/393 20060101AFI20241030BHJP

   B41J 29/42 20060101ALI20241030BHJP

   G06T 7/00 20170101ALI20241030BHJP

   H04N 1/00 20060101ALI20241030BHJP

【ＦＩ】

B41J29/393 107

B41J29/42 F

G06T7/00 610C

H04N1/00 002A

【審査請求】未請求

【請求項の数】20

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023071658

(22)【出願日】2023-04-25

(71)【出願人】

【識別番号】000006747

【氏名又は名称】株式会社リコー

(74)【代理人】

【識別番号】100107766

【弁理士】

【氏名又は名称】伊東 忠重

(74)【代理人】

【識別番号】100070150

【弁理士】

【氏名又は名称】伊東 忠彦

(72)【発明者】

【氏名】北井 正

【テーマコード（参考）】

2C061

5C062

5L096

【Ｆターム（参考）】

2C061AP07

2C061AQ06

2C061AR01

2C061CQ04

2C061CQ23

2C061CQ34

2C061KK13

2C061KK18

2C061KK25

2C061KK28

5C062AA05

5C062AB05

5C062AB17

5C062AB20

5C062AB22

5C062AB23

5C062AB40

5C062AB42

5C062AC55

5C062AC61

5L096BA14

5L096GA08

5L096GA28

5L096GA41

5L096GA51

(57)【要約】

【課題】印刷装置が印刷した印刷物の欠陥を検査する印刷検査装置において、欠陥検知できない欠陥を低減する。
【解決手段】印刷検査装置は、印刷装置で印刷した印刷物を読み取った読取画像と、前記読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成する差分画像生成部と、前記差分画像と、複数の大きさしきい値と、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて前記印刷物の欠陥を検査する欠陥検査部と、を有する。
【選択図】図３

【特許請求の範囲】

【請求項1】

印刷装置で印刷した印刷物を読み取った読取画像と、前記読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成する差分画像生成部と、
前記差分画像と、複数の大きさしきい値と、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて前記印刷物の欠陥を検査する欠陥検査部と、
を有する、印刷検査装置。

【請求項2】

前記欠陥検査部は、前記複数の濃度しきい値で欠陥判定した欠陥に対して、前記複数の大きさしきい値でさらに欠陥判定を行う、請求項１に記載の印刷検査装置。

【請求項3】

前記欠陥検査部は、前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値とを用いて欠陥判定した欠陥画素の和に基づいて、前記印刷物の欠陥を検査する、請求項１又は２に記載の印刷検査装置。

【請求項4】

前記複数の濃度しきい値は、前記大きさしきい値によって異なる、請求項１又は２に記載の印刷検査装置。

【請求項5】

前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値との組合せであるしきい値セットを複数有する、請求項１又は２に記載の印刷検査装置。

【請求項6】

複数の前記しきい値セットから、一のしきい値セットを選択するＵＩ画面を、表示部に表示させる表示制御部を有する、請求項５に記載の印刷検査装置。

【請求項7】

複数の欠陥を含むテストチャートの印刷を制御し、前記複数の欠陥のうち、前記一のしきい値セットで欠陥判定される欠陥を確認する確認画像を生成する確認制御部を有し、
前記表示制御部は、前記確認画像を前記ＵＩ画面に表示する、
請求項６に記載の印刷検査装置。

【請求項8】

前記テストチャートは、前記複数の欠陥をＸＹ平面に配置し、
前記複数の欠陥は、前記ＸＹ平面のＸ方向とＹ方向に対して、欠陥の大きさ又は濃度が異なるように配置されている、
請求項７に記載の印刷検査装置。

【請求項9】

前記しきい値セットを設定する設定画面を、表示部に表示させる表示制御部を有する、請求項５に記載の印刷検査装置。

【請求項10】

前記設定画面は、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する前記複数の濃度しきい値を入力する入力欄を含む、請求項９に記載の印刷検査装置。

【請求項11】

前記設定画面は、前記複数の大きさしきい値のうち、一の大きさしきい値に対応する濃度しきい値の入力を受け付けし、
前記一の大きさしきい値に対応する濃度しきい値に基づいて、他の大きさしきい値に対応する濃度しきい値を算出する算出部を有する、
請求項９に記載の印刷検査装置。

【請求項12】

前記算出部は、所定の関数を用いて、前記他の大きさしきい値に対応する濃度しきい値を算出する、請求項１１に記載の印刷検査装置。

【請求項13】

前記設定画面は、前記所定の関数を選択する選択欄を含む、請求項１２に記載の印刷検査装置。

【請求項14】

前記しきい値セットを設定する際に、既存の２つのしきい値セットに基づいて、新たなしきい値セットを算出する算出部を有する、請求項９に記載の検査装置。

【請求項15】

前記欠陥判定は、前記印刷物の点状欠陥の判定を含み、
前記点状欠陥を判定するための前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値との組合せを有する、請求項２に記載の印刷検査装置。

【請求項16】

前記欠陥判定は、前記印刷物の線状欠陥の検査を含み、
前記線状欠陥を判定するための前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値との組合せを有する、請求項１５に記載の印刷検査装置。

【請求項17】

前記線状欠陥は、縦線状欠陥と、横線状欠陥とを含み、
前記縦線状欠陥を判定するための前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値との組合せと、前記横線状欠陥を判定するための前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値との組合せと、を有する、
請求項１６に記載の印刷検査装置。

【請求項18】

印刷した印刷物を読み取った読取画像と、前記読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成する差分画像生成部と、
前記差分画像と、複数の大きさしきい値と、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて前記印刷物の欠陥を検査する欠陥検査部と、
を有する、印刷システム。

【請求項19】

コンピュータが、
印刷装置で印刷した印刷物を読み取った読取画像と、前記読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成する処理と、
前記差分画像と、複数の大きさしきい値と、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて前記印刷物の欠陥を検査する処理と、
を実行する、印刷検査方法。

【請求項20】

請求項１９に記載の印刷検査方法をコンピュータに実行させる、プログラム。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、印刷検査装置、印刷システム、印刷検査方法、及びプログラムに関する。

【背景技術】

【0002】

印刷装置が印刷した印刷物を読み取り、印刷物の読み取り結果から印刷が正常に行われているかを検査する印刷検査装置がある。

【0003】

例えば、画素に対する濃度の差分の閾値である濃度差分閾値と、濃度差分閾値を超える画素群に対する画素数の閾値である面積閾値とで構成されるしきい値情報に基づいて、印刷物の欠陥を検査する画像検査装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

特許文献１に開示された技術では、濃度に関するしきい値と大きさに関するしきい値との組合せにより印刷物の欠陥を検査しているが、欠陥の濃度又は大きさによって、検知できない欠陥があるという問題がある。

【0005】

本発明の一実施形態は、上記の問題点に鑑みてなされたものであって、印刷装置が印刷した印刷物の欠陥を検査する印刷検査装置において、欠陥検知できない欠陥を低減する。

【課題を解決するための手段】

【0006】

上記の課題を解決するため、本発明の一実施形態に係る印刷検査装置は、印刷装置で印刷した印刷物を読み取った読取画像と、前記読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成する差分画像生成部と、前記差分画像と、複数の大きさしきい値と、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて前記印刷物の欠陥を検査する欠陥検査部と、を有する。

【発明の効果】

【0007】

本発明の一実施形態によれば、印刷装置が印刷した印刷物の欠陥を検査する印刷検査装置において、検知できない欠陥を低減することができる。

【図面の簡単な説明】

【0008】

【図1】一実施形態に係る印刷システムのシステム構成の例を示す図である。

【図2】一実施形態に係るコンピュータのハードウェア構成の例を示す図である。

【図3】一実施形態に係る印刷システムの機能構成の例を示す図である。

【図4】一実施形態に係るジョブ情報の例を示す図である。

【図5】第１の実施形態に係る欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。

【図6】第１の実施形態に係る点状欠陥の欠陥検出しきい値の例を示す図である。

【図7】第１の実施形態に係る判定結果の統合について説明するための図（１）である。

【図8】第１の実施形態に係る判定結果の統合について説明するための図（２）である。

【図9】第１の実施形態に係るしきい値の確認画面の例を示す図である。

【図10】第１の実施形態に係る点状欠陥のテストチャートの例を示す図である。

【図11】第１の実施形態に係る欠陥判定結果の変化のイメージを示す図である。

【図12】第１の実施形態に係る確認画像の例を示す図である。

【図13】第１の実施形態に係るカスタムしきい値の設定画面の例を示す図である。

【図14】第２の実施形態に係るアスペクト比について説明するための図である。

【図15】第２の実施形態に係る線状欠陥の欠陥検出しきい値の例を示す図である。

【図16】第２の実施形態に係る欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。

【図17】第２の実施形態に係る欠陥種別ごとの欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。

【図18】第２の実施形態に係るしきい値の確認画面の例を示す図である。

【図19】第２の実施形態に係る縦線状欠陥のテストチャートの例を示す図である。

【図20】第２の実施形態に係るカスタムしきい値の設定画面の例を示す図である。

【図21】第３の実施形態に係る欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。

【発明を実施するための形態】

【0009】

以下、本発明の実施形態（本実施形態）について、図面を参照しながら詳細に説明する。

【0010】

＜システム構成＞
図１は、一実施形態に係る印刷システムのシステム構成の例を示す図である。印刷システム１は、一例として、図１に示すように、ＤＦＥ（Digital Front End）１００、印刷装置１１０、印刷検査装置１２０、及びスタッカ１３０等を含む。

【0011】

ＤＦＥ１００は、受信した印刷ジョブに基づいてＲＩＰ（Raster Image Processor）処理を行って、印刷対象の印刷データを生成し、生成した印刷データと、印刷ジョブの処理内容を示すジョブ情報とを、印刷装置１１０に出力する情報処理装置である。

【0012】

印刷装置１１０は、ＤＦＥ１００から受信した印刷データ、及びジョブ情報に基づいて、記録媒体である用紙への印刷を行う画像形成装置である。例えば、印刷装置１１０は、給紙部１１１から用紙を取得し、取得した用紙を、搬送経路１１２に従って搬送する。また、印刷装置１１０は、搬送ベルト１１４に沿って、Ｋ（ブラック）、Ｃ（シアン）、Ｍ（マゼンタ）、Ｙ（イエロー）の感光体ドラム１１３Ｋ、１１３Ｃ、１１３Ｍ、及び１１３Ｙが並べられている。印刷装置１１０は、この感光体ドラム１１３Ｋ、１１３Ｃ、１１３Ｍ、及び１１３Ｙで各色のトナー像を搬送ベルト１１４上に重ね、ローラ１１５で、搬送される用紙にトナー像を転写し、ローラ１１６で、用紙上に定着させる。

【0013】

印刷装置１１０は、片面印刷の場合は、用紙をそのまま印刷検査装置１２０に排出し、両面印刷の場合は、反転パス１１７で用紙を反転して、再び搬送経路１１２に従って搬送する。これにより、印刷装置１１０は、用紙の表面と同様にして、裏面にもトナー像を転写、及び定着し、その後、用紙を印刷検査装置１２０に排出する。

【0014】

印刷検査装置１２０は、印刷装置１１０が印刷した印刷物を検査する検査装置である。例えば、印刷検査装置１２０は、読取装置１２１、１２２を用いて、搬送経路１２３において用紙の両面を読み取って、読取画像を生成する。印刷検査装置１２０は、読み取った用紙を、スタッカ１３０に排出する。スタッカ１３０は、印刷検査装置１２０から排出された用紙を、トレイ１３１にスタックする。

【0015】

図１の例では、印刷装置１１０が操作パネル１０を有し、印刷検査装置１２０が操作パネル２０を有している。なお、操作パネル１０、２０は、様々な表示画面を表示するとともに、ユーザによる入力操作を受け付ける表示入力装置である。

【0016】

ただし、これに限られず、印刷検査装置１２０は、操作パネル２０を有さず、印刷装置１１０の操作パネル１０に様々な表示画面を表示させるものであってもよい。また、印刷検査装置１２０は、通信ネットワークを介して接続されるＰＣ（Personal Computer）、又はＤＦＥ１００等の情報処理装置に、様々な表示画面を表示してもよい。

【0017】

上記のシステム構成において、印刷検査装置１２０は、印刷装置１１０で印刷した印刷物を読み取った読取画像と、読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成し、生成した差分画像と検査しきい値とに基づいて印刷物の欠陥を検査する。

【0018】

ただし、例えば、特許文献１に示すような従来の技術では、濃度に関するしきい値と大きさに関するしきい値との組合せにより印刷物の欠陥を検査しているが、欠陥の濃度又は大きさによって、検知できない欠陥があるという問題がある。例えば、従来の技術では、濃度が濃く大きさが小さい印刷欠陥と、濃度が薄く大きさが大きい印刷欠陥とを適切に欠陥判定することができない場合がある。

【0019】

そこで、本実施形態に係る印刷検査装置１２０は、読取画像と基準画像との差分画像を生成し、差分画像と、複数の大きさしきい値と、複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて印刷物の欠陥を検査する。例えば、印刷検査装置１２０は、複数の濃度しきい値で欠陥判定した欠陥画素の各々に対して、複数の大きさしきい値でさらに欠陥判定を行う。好ましくは、複数の濃度しきい値は、大きさしきい値によって異なるように設定されている。

【0020】

これにより、本実施形態によれば、印刷装置１１０が印刷した印刷物の欠陥を検査する印刷検査装置１２０において、検知できない欠陥を低減することができる。例えば、本実施形態に係る印刷検査装置１２０は、濃度が濃く大きさが小さい印刷欠陥と、濃度が薄く大きさが大きい印刷欠陥を、より適切に欠陥判定することができる。

【0021】

＜ハードウェア構成＞
印刷装置１１０、及び印刷検査装置１２０は、例えば、図２に示すように、専用デバイス２０９を備えたコンピュータ２００のハードウェア構成を有している。

【0022】

図２は、一実施形態に係るコンピュータ２００のハードウェア構成の例を示す図である。コンピュータ２００は、例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）２０１、ＲＡＭ（Random Access Memory）２０２、ＲＯＭ（Read Only Memory）２０３、ストレージデバイス２０４、通信デバイス２０５、及びＩ／Ｆ２０６等がバス２１０を介して接続されている。また、Ｉ／Ｆ２０６には、例えば、出力デバイス２０７、入力デバイス２０８、及び専用デバイス２０９等が接続されている。

【0023】

ＣＰＵ２０１は、例えば、ストレージデバイス２０４、又はＲＯＭ２０３等の記憶媒体に記憶した所定のプログラムを実行することにより、印刷装置１１０、又は印刷検査装置１２０等の全体を制御するプロセッサである。ＲＡＭ２０２は、例えば、ＣＰＵ２０１の作業領域等として用いられる揮発性のメモリである。ＲＯＭ２０３は、例えば、ＣＰＵ２０１の起動用のプログラム等を記憶した不揮発性のメモリである。ストレージデバイス２０４は、例えば、ＯＳ（Operating System）、アプリケーション、データ、又は情報等を記憶する不揮発性の大容量の記憶デバイスである。

【0024】

通信デバイス２０５は、他のコンピュータ２００と通信するための有線、又は無線の様々な通信インタフェースを含む。Ｉ／Ｆ２０６は、バス２１０に、各種のハードウェアを接続するためのインタフェースである。図２の例では、Ｉ／Ｆ２０６には、出力デバイス２０７、入力デバイス、及び専用デバイス等が接続されている。

【0025】

出力デバイス２０７は、外部への出力を行う様々なデバイス（例えば、ディスプレイ、スピーカ、発光素子等）を含む。入力デバイス２０８は、外部からの入力を受け付ける様々なデバイス（例えば、タッチパネル、キーボード、ポインティングデバイス、マイク、スイッチ、又はボタン等）を含む。なお、出力デバイス２０７、及び入力デバイス２０８は、例えば、操作パネル１０、２０等の入出力デバイスであってもよい。

【0026】

専用デバイス２０９は、印刷装置１１０、及び印刷検査装置１２０において、専用の機能を実現するためのハードウェアである。例えば、印刷装置１１０には、用紙に印刷する印刷デバイス、及び用紙を搬送する搬送機構等の専用デバイス２０９が接続される。また、印刷検査装置１２０には、例えば、印刷装置１１０が印刷した印刷物を読み取る読取装置１２１、１２２等の専用デバイス２０９が接続される。さらに、印刷検査装置１２０には、画像処理を高速化する、例えば、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、又はＧＰＵ（Graphics Processing Unit）等の専用デバイス２０９が接続されていてもよい。なお、専用デバイス２０９のうち、少なくとも一部は、Ｉ／Ｆ２０６を介さずに、バス２１０に接続してもよい。

【0027】

（ＤＦＥ、及びスタッカのハードウェア構成）
本実施形態では、ＤＦＥ１００、及びスタッカ１３０は、既存の装置を利用することを想定しており、そのハードウェア構成は任意の構成であってよいため、ここでは、説明を省略する。

【0028】

＜機能構成＞
図３は、一実施形態に係る印刷システムの機能構成の例を示す図である。

【0029】

（印刷装置の機能構成）
印刷装置１１０は、例えば、印刷制御部３０１、印刷部３０２、ジョブ情報生成部３０３、及び記憶部３０４等を有する。

【0030】

印刷制御部３０１は、例えば、印刷装置１１０のＣＰＵ２０１によって実行されるプログラムによって実現される。印刷制御部３０１は、例えば、ＤＦＥ１００から受信した第１の印刷ジョブ（印刷データ、及びジョブ情報）に基づいて、印刷部３０２に印刷処理を実行させる第１の印刷制御処理を実行する。また、印刷制御部３０１は、ジョブ情報生成部３０３から、テストチャートを印刷するための第２の印刷ジョブを受け付けた場合、第２の印刷ジョブに基づいて、印刷部３０２に印刷処理を実行させる第２の印刷制御処理を実行する。なお、印刷制御部３０１は、印刷部３０２に、印刷処理を実行させるときに、印刷データ（ＲＩＰ画像）、及びジョブ情報等を、印刷検査装置１２０に送信する。

【0031】

図４は、一実施形態に係るジョブ情報の例を示す図である。図４に示すように、ジョブ情報４００は、例えば、「ジョブ生成元」、「生成時刻」、「ページＩＤ」、「印刷面」、「用紙ＩＤ」、「部ＩＤ」、「ジョブＩＤ」、「用紙種類」、「用紙サイズ」、及び「ジョブ種類」等のパラメータを含む。

【0032】

「ジョブ生成元」は、印刷ジョブの生成元を示す情報である。ＤＦＥジョブは、ジョブの生成元がＤＦＥ１００であることを示し、内部ジョブは、ジョブの生成元がジョブ情報生成部３０３等であることを示す。「生成時刻」は、生成元がジョブ情報４００を生成した時刻を示す情報である。「ページＩＤ」は、印刷画像を識別する識別番号であり、例えば、電源ＯＮ時から１ページを出力するごとに１が加算される。「印刷面情報」は、印刷画像が、片面印刷なのか、両面印刷の際に表に印刷されるものか(両面表)、裏に印刷されるものか(両面裏)等を識別する情報である。

【0033】

「用紙ＩＤ」は、用紙を識別する識別情報である。例えば、両面印刷の場合、同じ用紙に印刷される２つのページには、同じ用紙ＩＤが付与される。「用紙ＩＤ」は、例えば、電源ＯＮ時から、用紙１枚を処理するごとに１が加算される。「部ＩＤ」は、部単位の識別情報であり、例えば、電源ＯＮ時から１部を出力完了するごとに１が加算される。「ジョブＩＤ」は、印刷ジョブを識別する識別情報であり、例えば、電源ＯＮ時から１つの印刷ジョブを出力完了するごとに１が加算される。

【0034】

「用紙種類」は、用紙の種類を示す情報である。「用紙サイズ」は、用紙のサイズを示す情報である。「ジョブ種類」は、例えば、印刷ジョブが、通常の印刷であるか、テストチャートの印刷であるか等を示す情報である。例えば、しきい値調整用のテストチャートを印刷する場合、印刷ジョブ処理は、ＤＦＥ１００ではなく、ジョブ情報生成部３０３によって生成される。この場合、「ジョブ種類」は、「しきい値調整用のテストチャートの印刷」に設定される。

【0035】

ジョブ情報４００は、例えば、印刷データの１ページごとに生成され、印刷データとともに管理される。また、印刷装置１１０は、ジョブ情報４００に基づいて、各印刷データを印刷する。

【0036】

ここで、図３に戻り、印刷装置１１０の機能構成の説明を続ける。印刷部３０２は、例えば、印刷装置１１０のＣＰＵ２０１によって実行されるプログラム、及び印刷装置１１０のＩ／Ｆ２０６に接続される専用デバイス２０９（印刷デバイス、及び搬送機構等）によって実現される。印刷部３０２は、印刷制御部３０１からの指示と、印刷データとに基づいて、印刷物を印刷する印刷処理を実行する。また、印刷部３０２は、印刷済の用紙である印刷物を、印刷検査装置１２０に出力する。

【0037】

ジョブ情報生成部３０３は、例えば、印刷装置１１０のＣＰＵ２０１によって実行されるプログラムによって実現される。ジョブ情報生成部３０３は、例えば、印刷検査装置１２０からの指示に従って、しきい値調整用のテストパターンを含むテストチャートを印刷するための印刷ジョブを生成し、生成した印刷ジョブを印刷制御部３０１に出力する。なお、テストチャートの印刷データは、例えば、記憶部３０４等に予め記憶しておく。

【0038】

記憶部３０４は、例えば、印刷装置１１０のＣＰＵ２０１によって実行されるプログラム、ストレージデバイス２０４、及びＲＡＭ２０２等によって実現される。記憶部３０４は、例えば、上述したテストチャート用の印刷データを含む、様々な印刷データ、ジョブ情報、及び設定情報等を記憶する。なお、記憶部３０４は、印刷装置１１０内の各機能構成からアクセス可能である。また、記憶部３０４は、印刷装置１１０の外部に設けられていてもよい。

【0039】

（印刷検査装置の機能構成）
印刷検査装置１２０は、例えば、読取画像取得部３２１、基準画像生成部３２２、差分画像生成部３２３、システム制御部３１０、及び記憶部３２４等を有している。

【0040】

読取画像取得部３２１は、例えば、印刷検査装置１２０のＣＰＵ２０１で実行されるプログラム、Ｉ／Ｆ２０６に接続される読取装置１２１、１２２、及びＡＳＩＣ等によって実現される。読取画像取得部３２１は、印刷装置１１０が印刷した印刷物を読み取った読取画像を取得する読取画像取得処理を実行する。

【0041】

基準画像生成部３２２は、例えば、印刷検査装置１２０のＣＰＵ２０１で実行されるプログラム、及びＩ／Ｆ２０６に接続されるＡＳＩＣ等によって実現される。基準画像生成部３２２は、印刷装置１１０の印刷制御部３０１から送られてくる印刷データ、及びジョブ情報４００等に基づいて、読取画像の比較対象となる基準画像を生成する基準画像生成処理を実行する。

【0042】

差分画像生成部３２３は、例えば、印刷検査装置１２０のＣＰＵ２０１で実行されるプログラム、及びＩ／Ｆ２０６に接続されるＡＳＩＣ等によって実現される。差分画像生成部３２３は、基準画像生成部３２２が生成した基準画像と、読取画像取得部３２１が取得した読取画像との差分を表す差分画像を生成する差分画像生成処理を実行する。なお、読取画像、基準画像、及び差分画像は、例えば、ＲＧＢ（Red, Green, Blue）画像である。

【0043】

システム制御部３１０は、例えば、印刷検査装置１２０のＣＰＵ２０１で実行されるプログラムによって実現される。システム制御部３１０は、例えば、データ管理部３１１、欠陥検査部３１２、算出部３１３、確認制御部３１４、及び表示制御部３１５等を含む。

【0044】

データ管理部３１１は、印刷装置１１０から、印刷データ（ＲＩＰ画像）、及びジョブ情報を受信し、受信した情報を記憶部３２４に記憶して管理するデータ管理処理を実行する。また、データ管理部３１１は、読取画像取得部３２１、基準画像生成部３２２、差分画像生成部３２３、欠陥検査部３１２、算出部３１３、及びスタッカ１３０等に、必要な情報を転送する。

【0045】

欠陥検査部３１２は、差分画像生成部３２３が生成した差分画像と、複数の大きさしきい値と、複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値（濃度差のしきい値）と、を用いて印刷物の欠陥を検査する欠陥検査処理を実行する。

【0046】

印刷検査装置１２０は、複数の大きさしきい値と、複数の濃度しきい値との組合せであるしきい値セットを、記憶部３２４等に複数記憶している。また、欠陥検査部３１２は、複数のしきい値セットから、ユーザによって選択されたしきい値セットを用いて、印刷物の欠陥を検査する。例えば、欠陥検査部３１２は、しきい値セットに含まれる複数の濃度しきい値で欠陥判定した欠陥の各々に対して、複数の大きさしきい値でさらに欠陥判定を行う。なお、欠陥検査部３１２が実行する検査処理の例については後述する。

【0047】

算出部３１３は、複数の濃度しきい値のうち、ユーザによって設定された一の大きさしきい値に対応する濃度しきい値に基づいて、他の大きさしきい値に対応する濃度しきい値を算出する算出処理を実行する。なお、算出部３１３が実行する算出処理の例については後述する。

【0048】

確認制御部３１４は、テストチャートに対してしきい値を適用する場合の制御を行う確認制御処理を実行する。例えば、確認制御部３１４は、複数の欠陥を含むテストチャートの印刷を制御し、複数の欠陥のうち、ユーザ選択した一のしきい値セットで欠陥と判定される欠陥を確認する確認画像を生成する。なお、確認制御部３１４が実行する確認制御処理の例については後述する。

【0049】

表示制御部３１５は、例えば、印刷検査装置１２０のＣＰＵ２０１で実行されるプログラムによって実現され、様々な表示画面を、操作パネル１０、操作パネル２０、又は外部の情報処理装置等の表示部に表示させる表示制御処理を実行する。例えば、表示制御部３１５は、複数のしきい値セットから、一のしきい値セットを選択するＵＩ画面（確認画面）を、表示部に表示させる。また、表示制御部３１５は、しきい値セットを設定する設定画面を、表示部に表示させる。なお、表示制御部３１５が表示させる表示画面の例については後述する。

【0050】

記憶部３２４は、例えば、印刷検査装置１２０のＣＰＵ２０１によって実行されるプログラム、ストレージデバイス２０４、及びＲＡＭ２０２等によって実現される。記憶部３２４は、印刷検査装置１２０が有する各機能構成からアクセス可能であり、例えば、印刷装置１１０から受信した印刷データとジョブ情報４００、及び複数のしきい値セットを含む、様々な情報、及びデータを記憶する。

【0051】

なお、図３に示した印刷システム１の機能構成は一例である。例えば、図３において、印刷装置１１０が有しているジョブ情報生成部３０３は、印刷検査装置１２０が有していてもよい。この場合、印刷検査装置１２０のジョブ情報生成部３０３は、ＤＦＥ１００と同様にして、テストチャートの印刷ジョブを、印刷装置１１０の印刷制御部３０１に送信する。これにより、ジョブ情報生成部３０３を有していない既存の印刷装置１１０を用いて、本実施形態に係る印刷システム１を実現してもよい。

【0052】

＜処理の流れ＞
続いて、本実施形態に係る印刷検査方法の処理の流れについて説明する。

【0053】

［第１の実施形態］
図５は、第１の実施形態に係る欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。この処理は、図３で説明した機能構成を有する印刷検査装置１２０が、印刷装置１１０が印刷した印刷物を読み取り、読み取り結果から印刷の欠陥を判定する欠陥判定処理の一例を示している。

【0054】

ステップＳ５０１において、印刷検査装置１２０のシステム制御部３１０は、印刷装置１１０が印刷した印刷物から差分画像を取得する。例えば、読取画像取得部３２１は、印刷装置１１０が印刷した印刷物を読み取った読取画像を取得する。また、基準画像生成部３２２は、印刷装置１１０から送られてくる印刷データ、及びジョブ情報４００等に基づいて、読取画像の比較対象となる基準画像を生成する。さらに、差分画像生成部３２３は、読取画像取得部３２１が取得した読取画像と、基準画像生成部３２２が生成した基準画像との差分画像を生成する。システム制御部３１０は、差分画像生成部３２３が生成した差分画像を、記憶部３２４等に記憶する。

【0055】

ステップＳ５０２において、システム制御部３１０の欠陥検査部３１２は、欠陥判定用のしきい値の初期値を設定する。本実施形態に係る印刷検査装置１２０は、例えば、図６に示すような点状欠陥の欠陥検出しきい値６００を、記憶部３２４等に予め記憶している。

【0056】

図６は、第１の実施形態に係る点状欠陥の欠陥検出しきい値の例を示す図である。図６の例では、点状欠陥の欠陥検出しきい値６００は、複数のしきい値セット６０１を有している。複数のしきい値セット６０１には、例えば、プリセットされたしきい値セット（Ｌｖ１～Ｌｖ５）と、ユーザが設定可能な複数のしきい値セット（カスタム１～カスタム１０）とが含まれる。また、各しきい値セットは、複数の大きさしきい値（１６、６４、２５６、・・・）と、複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値とを含む。例えば、しきい値セットＬｖ２において、大きさしきい値「１６」には濃度しきい値「５０」が対応しており、大きさしきい値「６４」には、濃度しきい値「２５」が対応している。

【0057】

濃度しきい値は、濃度差のしきい値であり、差分画像のＲＧＢ値と比較するしきい値である。大きさしきい値は、濃度しきい値によって欠陥判定された欠陥の画素数に対するしきい値である。例えば、しきい値セットＬｖ２の場合、取得した差分画像において、濃度差５０以上の隣接した画素の集まりの画素数（大きさ）が、大きさしきい値１６画素以上ある場合、欠陥判定となる。同様に、取得した差分画像において、濃度差２０以上の隣接した画素の集まりの画素数が、大きさしきい値２５画素以上ある場合、欠陥判定となる。

【0058】

例えば、ユーザによってしきい値セットＬｖ２が設定されている場合、欠陥検査部３１２は、ステップＳ５０２において、一例として、欠陥判定用のしきい値の初期値として、大きさしきい値「１６」、及び濃度しきい値「５０」を設定する。

【0059】

ステップＳ５０３において、欠陥検査部３１２は、差分画像に対して、濃度しきい値による判定（欠陥判定）を行う。例えば、欠陥検査部３１２は、差分画像の各画素のＲＧＢ値のいずれか一つでも濃度しきい値以上である場合、「１」とし、差分画像の各画素の全てのＲＧＢ値が濃度しきい値未満の場合、「０」とする２値画像を生成する。

【0060】

ステップＳ５０４において、欠陥検査部３１２は、生成した２値画像に対して、大きさしきい値による判定（欠陥判定）を行う。例えば、欠陥検査部３１２は、生成した２値画像に対してラベリング処理を行って、画素値が「１」となっている隣接する画素を１つのオブジェクトとする。また、欠陥検査部３１２は、当該オブジェクトの大きさ（オブジェクトに含まれる画素値が「１」の画素の数）が、大きさしきい値以上である場合、当該オブジェクト（又は当該オブジェクトに含まれる画素値が「１」の画素）を欠陥と判定する。

【0061】

ステップＳ５０５において、欠陥検査部３１２は、全ての大きさしきい値の判定を完了したかを判断する。例えば、欠陥検査部３１２は、図６に示すような、点状建艦の欠陥検出しきい値６００において、全ての大きさしきい値「１６」、「６４」、「２５６」、「１０２４」、「４０９６」に対して、ステップＳ５０３、Ｓ５０４の処理を実行したか否かを判断する。全ての大きさしきい値の判定を完了していない場合、欠陥検査部３１２は、処理をステップＳ５０６に移行させる。一方、全ての大きさしきい値の判定を完了した場合、欠陥検査部３１２は、処理をステップＳ５０７に移行させる。

【0062】

ステップＳ５０６に移行すると、欠陥検査部３１２は、しきい値を変更する。例えば、欠陥検査部３１２は、大きさしきい値を次に大きいしきい値に変更し、それに対応する濃度差のしきい値をセットする。例えば、図６のしきい値セットＬｖ２が設定されている場合、大きさしきい値「１６」の次は「６４」となり、濃度しきい値「５０」の次は「２５」となる。また、欠陥検査部３１２は、しきい値を変更後に、処理をステップＳ５０３に戻す。

【0063】

ステップＳ５０７に移行すると、欠陥検査部３１２は、ステップＳ５０３～Ｓ５０６の処理で欠陥判定した判定結果を統合する。例えば、欠陥検査部３１２は、判定結果の欠陥領域の和を最終的な欠陥領域とする。

【0064】

図７は、第１の実施形態に係る判定結果の統合について説明するための図（１）である。例えば、図６のしきい値セットＬｖ２の濃度しきい値５０における欠陥判定結果７０１と、Ｌｖ２の濃度しきい値２５における欠陥判定結果７０２とを統合するものとする。この場合、欠陥検査部３１２は、Ｌｖ２の濃度しきい値５０における欠陥判定結果７０１と、Ｌｖ２の濃度しきい値２５における欠陥判定結果７０２のＯＲ（和）を統合結果とする。

【0065】

図８は、第１の実施形態に係る判定結果の統合について説明するための図（２）である。例えば、図６のしきい値セットＬｖ２の大きさしきい値１６による判定結果８０１－１、８０１－２と、Ｌｖ２の大きさしきい値６４による判定結果８０２－１、８０２－２を統合するものとする。この場合、欠陥検査部３１２は、Ｌｖ２の大きさしきい値１６による判定結果８０１－１、８０１－２と、Ｌｖ２の大きさしきい値６４による判定結果８０２－１、８０２－２とのＯＲ（和）に外接する矩形８０３を、統合結果とする。

【0066】

このように、欠陥検査部３１２は、差分画像を、複数の濃度のしきい値と前記大きさのしきい値とを用いて欠陥判定した欠陥画素の和に基づいて、印刷物の欠陥領域を検査する。従って、本実施形態によれば、印刷装置１１０が印刷した印刷物の欠陥を検査する印刷検査装置１２０において、検知できない欠陥を低減することができる。例えば、印刷検査装置１２０は、濃度が濃く大きさが小さい印刷欠陥と、濃度が薄く大きさが大きい印刷欠陥を、より適切に欠陥判定することができる。

【0067】

（しきい値の確認画面）
図９は、第１の実施形態に係るしきい値の確認画面の例を示す図である。このしきい値の確認画面９００を用いて、ユーザは、複数の欠陥を含むテストチャートを印刷し、複数の欠陥のうち、ユーザが選択した一のしきい値セットで欠陥判定される欠陥を確認する確認画像を表示することができる。

【0068】

しきい値の確認画面９００には、例えば、確認画像を表示する確認画面９０１、印刷する用紙トレイを選択する選択欄９０２、選択された用紙トレイに設定されている用紙を表示する表示欄９０３、及びチャート印刷ボタン９０４等が表示される。ユーザは、選択欄９０２で用紙を設定し、チャート印刷ボタン９０４を選択することにより、テストチャートを印刷することができる。

【0069】

図１０は、第１の実施形態に係る点状欠陥のテストチャートの例を示す図である。テストチャート１０００は予め定められたパターンの画像であり、例えば、図１０に示すように、複数の欠陥１００１がＸＹ平面に配置されている。また、複数の欠陥は、ＸＹ平面のＸ方向とＹ方向に対して、欠陥の大きさ又は濃度が異なるように配置されている。

【0070】

図１０において、７×７の枠、１～７の数字、及びＡ～Ｆの文字が原稿データであり、７×７の枠内にある丸が欠陥１００１である。図１０の例では、Ｘ方向に進むほど欠陥１００１の面積が大きくなっており、Ｙ方向に進むほど欠陥１００１の濃度が濃くなるように、複数の欠陥１００１が配置されている。

【0071】

確認制御部３１４は、チャート印刷ボタン９０４が選択されると、欠陥がないマスだけの画像から生成されたマスター画像と、欠陥が付加されたテストチャート１０００を印刷した印刷物を読み取った読取画像とを用いて差分画像を生成し、欠陥判定を行う。

【0072】

ここで、図９に戻り、しきい値の確認画面９００の説明を続ける。しきい値の確認画面９００には、例えば、しきい値セットの一覧をスクロールするスクロールバー９０５、及びしきい値セットを選択するためのラジオボタン９０６等が、さらに表示される。ユーザは、スクロールバー９０５、及びラジオボタン９０６を用いて、複数のしきい値セットから、一のしきい値セットを選択することができる。なお、スクロールバー９０５、及びラジオボタン９０６は、しきい値セットを選択する選択欄の一例である。しきい値セットを選択する選択欄は、例えば、ドロップダウンリスト等の他の選択手段であってもよい。

【0073】

さらに、しきい値の確認画面９００には、例えば、欠陥検知確認ボタン９０７、及び設定ボタン９０８等が表示される。欠陥検知確認ボタン９０７が選択されると、確認制御部３１４は、テストチャートの複数の欠陥のうち、ユーザが選択した一のしきい値セットで欠陥判定される欠陥を確認する確認画像を、確認画面９０１に表示する。また、設定ボタン９０８が選択されると、確認制御部３１４は、選択された一のしきい値セットを印刷検査装置１２０に設定する。

【0074】

図１１は、第１の実施形態に係る欠陥判定結果の変化のイメージを示す図である。図１１に示すように、テストチャート１０００において、例えば、図６のしきい値セットＬｖ２で欠陥判定される領域より、しきい値セットＬｖ４で欠陥判定される領域の方が、左上の方向に広くなる。

【0075】

図１２は、第１の実施形態に係る確認画面の例を示す図である。欠陥検知確認ボタン９０７が選択されると、表示制御部３１５は、テストチャートの複数の欠陥のうち、ユーザが選択した一のしきい値セットで欠陥判定される欠陥を確認する確認画像を、確認画面９０１に表示する。

【0076】

例えば、ユーザが、しきい値セットＬｖ２を選択した場合、表示制御部３１５は、図１２に示すような、しきい値セットＬｖ２による確認画像１２１０を確認画面９０１に表示する。図１２の例では、表示制御部３１５は、確認画像１２１０において、しきい値セットＬｖ２で欠陥判定された欠陥の周囲に、欠陥判定されたことを示す表示要素１２１１を表示している。

【0077】

この状態から、ユーザがしきい値セットＬｖ４を選択した場合、表示制御部３１５は、図１２に示すような、しきい値セットＬｖ４による確認画像１２２０を確認画面９０１に表示する。図１２の例では、表示制御部３１５は、確認画像１２２０において、しきい値セットＬｖ４で欠陥判定された欠陥の周囲に、欠陥判定されたことを示す表示要素１２２１を表示している。

【0078】

このように、しきい値の確認画面９００により、ユーザが、複数のしきい値セットの中から、一のしきい値セットを選択することが容易になる。

【0079】

（カスタムしきい値の設定画面）
図１３は、第１の実施形態に係るカスタムしきい値の設定画面の例を示す図である。このカスタムしきい値の設定画面１３００を用いて、ユーザは、カスタムのしきい値セットを設定することができる。

【0080】

カスタムしきい値の設定画面１３００には、例えば、設定済のしきい値セットの一覧を表示するテーブル１３０１、変更するしきい値セットを選択するためのラジオボタン１３０２、及びスクロールバー１３０３等が表示される。表示制御部３１５は、例えば、記憶部３２４に記憶した、図６に示すような点状欠陥の欠陥検出しきい値６００に基づいて、設定済のしきい値セットの一覧を、テーブル１３０１を表示する。ラジオボタン１３０２、及びスクロールバー１３０３は、変更するしきい値セットを選択するための選択欄の一例である。

【0081】

また、カスタムしきい値の設定画面１３００には、例えば、変更するしきい値を入力、及び表示するためのテーブル１３０４、しきい値の生成方法を選択するための選択欄１３０５、及びレベルの入力欄１３０６等が表示される。さらに、カスタムしきい値の設定画面１３００には、例えば、「クリア」ボタン１３０７、及び「変更を反映」ボタン１３０８等が表示される。なお、テーブル１３０４は、複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値を入力する入力欄の一例である。

【0082】

例えば、ユーザは、スクロールバー１３０３で表示範囲を選択し、ラジオボタン１３０２で、変更するしきい値セットを選択する。次に、ユーザは、選択欄１３０５から、しきい値の生成方法を選択する。

【0083】

ユーザは、しきい値の生成方法として、「全てのしきい値を個別に入力する」を選択した場合、テーブル１３０１に、複数の面積しきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値を入力する。

【0084】

また、ユーザは、しきい値の生成方法として、「しきい値を１つ入力して設定する」を選択した場合、テーブル１３０１の１箇所にしきい値を入力する。これに応じて、印刷検査装置１２０の算出部３１３は、他のしきい値を算出して、テーブル１３０１に自動的に算出し、表示する。例えば、算出部３１３は、多項式、又は対数関数等の予め定められた関数により、他のしきい値を算出する。

【0085】

好ましくは、ドロップダウンリスト１３０９により、しきい値の算出に用いる関数を、ユーザが選択可能である。なお、関数は、欠陥の種類（例えば、点状欠陥、又は線状欠陥等）により、異なる場合がある。

【0086】

例えば、ユーザが、ドロップダウンリスト１３０９から、「大きさに応じて、強度を弱くする」を選択したものとする。また、欠陥の種類が点状欠陥である場合、算出部３１３は、一例として、次の（式１）を用いて、他のしきい値を算出してもよい。

【数1】

ここで、Ｘは大きさしきい値、Ｙは濃度しきい値、Ｖは入力値（ユーザが入力したしきい値）である。

【0087】

また、欠陥の種類が線状欠陥である場合、算出部３１３は、一例として、次の（式２）を用いて、他のしきい値を算出してもよい。

【数2】

なお、上記の（式１）、（式２）は一例であり、算出部３１３は、他の関数を用いて、他のしきい値を算出してもよい。

【0088】

ユーザが、ドロップダウンリスト１３０９から、例えば、「大きさに関わらず、濃度は一定」を選択した場合、算出部３１３は、欠陥の種類に関わらず、次の（式３）を用いて、他のしきい値を算出する。
Ｙ＝Ｖ ・・・（式３）
さらに、ユーザは、しきい値の生成方法として、「Ｌｖで入力する」を選択した場合、入力欄１３０６に、プリセットされたしきい値セットのレベルの範囲である１～５の値を入力する。これに応じて、印刷検査装置１２０の算出部３１３は、他のしきい値を算出して、テーブル１３０１に自動的に表示する。

【0089】

例えば、入力された値をＶとし、Ｖの小数点を切り捨てた整数をＮとする。また、Ｖの小数点を切り上げた整数をＭとし、Ｖの小数点部をＷとする。また、複数の大きさしきい値に対応する濃度しきい値をＴｈ（Ｌｖ，Ｓｑ）とする。ここで、Ｌｖは、プリセットされたしきい値セットに対応する整数（１～５）である。また、Ｓｑは、大きさしきい値に対応する整数である。

【0090】

図６の例では、Ｓｑ＝１は面積しきい値１６、Ｓｑ＝２は面積しきい値６４、Ｓｑ＝３は面積しきい値２５６、Ｓｑ＝４は面積しきい値１０２４、Ｓｑ＝５は面積しきい値４０９６に、それぞれ対応している。

【0091】

具体的な例として、図６の例では、
Ｔｈ（１，１）＝８０
Ｔｈ（２，３）＝１３
となる。

【0092】

また、新たに生成するしきい値セットの値は、Ｌｖ＝６以上の整数とし、新たに生成するしきい値のＬｖをＬｎｅｗとすると、次の（式４）で算出することができる。
Th(Lnew, Sq) = [Th(N, Sq)*(1-W) + Th(M, Sq)*W]四捨五入 ・・・（式４）
ここで、［］四捨五入は、［］内の値を四捨五入する関数であるものとする。

【0093】

具体的な一例として、入力値Ｖ＝２．３、Ｌｎｅｗ＝８である場合、Ｎ＝２、Ｍ＝３、Ｗ＝０．３となる。

【0094】

また、Ｓｑ＝１のしきい値Ｔｈ（８，１）は、
Ｔｈ（８，１）＝［５０＊（１－０．３）＋３０＊０．３］四捨五入
＝３５＋９
＝４４
となる。

【0095】

なお、ユーザは、「クリア」ボタン１３０７を選択することにより、テーブル１３０４に表示された値を削除することができる。また、ユーザは、「変更を反映」ボタン１３０８を選択することにより、テーブル１３０４に表示された値を、例えば、図６に示すような、点状欠陥の欠陥検出しきい値６００に設定することができる。

【0096】

従来の技術では、例えば、濃度差が小さく面積が大きな欠陥を欠陥判定したい場合、濃度しきい値を小さく設定してしまうと、濃度差が小さく面積も小さい、検出する必要がない欠陥まで検出されてしまうという問題があった。

【0097】

また、面積が小さくても濃度差が大きい欠陥を判定したい場合、濃度差のしきい値を大きく設定してしまうと、濃度差が小さく面積が大きい欠陥を検出することができないという問題があった。

【0098】

一方、本実施形態に係る印刷検査装置１２０は、例えば、濃度差が小さく面積が大きな欠陥を欠陥判定したい場合でも、濃度差が小さく面積も小さい欠陥を欠陥判定しないように、しきい値セットを設定することができる。同様に、印刷検査装置１２０は、面積が小さくても濃度差が大きい欠陥を判定したい場合でも、濃度差が小さく面積が大きい欠陥を検出できるように、しきい値セットを設定することができる。

【0099】

ただし、このようなしきい値セットを、ユーザが設定することは、一般的に困難である。しかし、本実施形態に係る印刷検査装置１２０によれば、例えば、図１３に示すような、カスタムしきい値の設定画面を用いて、しきい値セットを容易に設定できるようになる。

【0100】

［第２の実施形態］
第１の実施形態では、印刷物の欠陥が点状欠陥であるものとして説明を行ったが、本実施形態は、縦線状欠陥、及び横線状欠陥等の線状欠陥にも対応可能である。

【0101】

図１４は、第２の実施形態に係るアスペクト比について説明するための図である。第２の実施形態では、図１５に示すように、欠陥判定画素の集合に外接する外接矩形のアスペクト比Ｒ（高さ／幅）と、所定の数値Ａとにより、以下のように欠陥種別を分類する。
Ｒ＞Ａ：縦線状欠陥
Ｒ＜１／Ａ：横線状欠陥
１／Ａ≦Ｒ≦Ａ：点状欠陥
ここで、Ａは、点状欠陥と線状欠陥とを分類するために、適切な値を予め設定しておく。

【0102】

図１５は、第２の実施形態に係る線状欠陥の欠陥検出しきい値の例を示す図である。第２の実施形態に係る印刷検査装置１２０は、図６で説明した点状欠陥の欠陥検出しきい値６００に加えて、例えば、図１５に示すような線状欠陥の欠陥検出しきい値１４００を、記憶部３２４等に予め記憶しておく。なお、線状欠陥の欠陥検出しきい値１４００は、縦線状欠陥の欠陥検出しきい値と、横線状欠陥の欠陥検出しきい値とに分かれていてもよいし、縦横共通の線状欠陥検出しきい値であってもよい。

【0103】

線状欠陥の欠陥検出しきい値１４００の大きさしきい値は、点状欠陥の欠陥検出しきい値６００と異なり、面積のしきい値ではなく、長さのしきい値になっている。例えば、縦線状欠陥の場合、大きさしきい値は、濃度しきい値によって欠陥判定された画素の集合に外接する外接矩形の高さ（縦方向の長さ）に対するしきい値である。また、横線状欠陥の場合、大きさしきい値は、濃度しきい値によって欠陥判定された画素の集合に外接する外接矩形の幅（横方向の長さ）に対するしきい値である。

【0104】

例えば、図１５に示した線状欠陥の欠陥検出しきい値１５００のしきい値セットＬｖ２が選択されている場合、濃度差５０以上の隣接した画素の集まりの高さが、大きさしきい値４画素以上ある場合、欠陥判定となる。また、濃度差７以上の隣接した画素の集まりの高さが、大きさしきい値３２画素以上ある場合、欠陥判定となる。

【0105】

（欠陥判定処理）
図１６は、第２の実施形態に係る欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。この処理は、第２の実施形態に係る印刷検査装置１２０が、印刷装置１１０が印刷した印刷物を読み取り、読み取り結果から印刷の欠陥を判定する欠陥判定処理の一例を示している。ここでは、印刷検査装置１２０が、点状欠陥の欠陥検出しきい値６００、縦線状欠陥の欠陥検出しきい値、及び横線状欠陥の欠陥検出しきい値を、記憶部３２４に予め記憶しているものとする。

【0106】

ステップＳ１６０１において、印刷検査装置１２０は、点状欠陥の判定処理を実行する。例えば、印刷検査装置１２０は、所定のアスペクト比を「１／Ａ≦Ｒ≦Ａ」として、図１７に示すような、欠陥種別ごとの欠陥判定処理を実行する。

【0107】

図１７は、第２の実施形態に係る欠陥種別ごとの欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。この処理は、図５で説明した第１の実施形態に係る欠陥判定処理に、ステップＳ１７０１を追加したものである。ここでは、第１の実施形態と同様の処理に対する詳細な説明は省略する。

【0108】

ステップＳ５０１～Ｓ５０３において、印刷検査装置１２０は、例えば、図６に示すような点状欠陥の欠陥検出しきい値６００を用いて、差分画像に対して、濃度しきい値による欠陥判定を行う。

【0109】

ステップＳ１７０１において、印刷検査装置１２０の欠陥検査部３１２は、欠陥判定された隣接する画素の集合のうち、所定のアスペクト比「１／Ａ≦Ｒ≦Ａ」以外の欠陥を除外する。

【0110】

ステップＳ５０４において、欠陥検査部３１２は、点状欠陥の欠陥検出しきい値６００を用いて、大きさしきい値による欠陥判定を行う。なお、ステップＳ５０５以降の処理は、第１の実施形態と同様なので、説明を省略する。

【0111】

ここで、図１６に戻り、欠陥判定処理のフローチャートの説明を続ける。ステップＳ１６０２において、印刷検査装置１２０は、縦線状欠陥の判定処理を実行する。例えば、印刷検査装置１２０は、所定のアスペクト比を「Ｒ＞Ａ」として、図１７に示すような、欠陥種別ごとの欠陥判定処理を実行する。

【0112】

例えば、図１７のステップＳ５０１～Ｓ５０３において、印刷検査装置１２０は、記憶部３２４に予め記憶した縦線状欠陥の欠陥検出しきい値を用いて、差分画像に対して、濃度しきい値による欠陥判定を行う。また、ステップＳ１７０１において、欠陥検査部３１２は、欠陥判定された隣接する画素の集合のうち、所定のアスペクト比「Ｒ＞Ａ」以外の欠陥を除外する。ステップＳ５０４において、欠陥検査部３１２は、縦線状欠陥の欠陥検出しきい値を用いて、大きさしきい値による欠陥判定を行う。

【0113】

ここで、再び図１６に戻り、欠陥判定処理のフローチャートの説明をさらに続ける。ステップＳ１６０３において、印刷検査装置１２０は、横線状欠陥の判定処理を実行する。例えば、印刷検査装置１２０は、所定のアスペクト比を「Ｒ＜１／Ａ」として、図１７に示すような、欠陥種別ごとの欠陥判定処理を実行する。

【0114】

例えば、図１７のステップＳ５０１～Ｓ５０３において、印刷検査装置１２０は、記憶部３２４に予め記憶した横線状欠陥の欠陥検出しきい値を用いて、差分画像に対して、濃度しきい値による欠陥判定を行う。また、ステップＳ１７０１において、欠陥検査部３１２は、欠陥判定された隣接する画素の集合のうち、所定のアスペクト比「Ｒ＜１／Ａ」以外の欠陥を除外する。ステップＳ５０４の処理を実行する。ステップＳ５０４において、欠陥検査部３１２は、横線状欠陥の欠陥検出しきい値を用いて、大きさしきい値による欠陥判定を行う。

【0115】

ステップＳ１６０４において、欠陥検査部３１２は、ステップＳ１６０１～Ｓ１６０３の処理で欠陥判定した判定結果を統合する。例えば、欠陥検査部３１２は、判定結果の欠陥領域の和を最終的な欠陥領域とする。

【0116】

このように、第２の実施形態によれば、例えば、点状欠陥、縦線状欠陥、及び横線状欠陥等の欠陥種別に応じて、印刷物の欠陥を検査することができる。

【0117】

（しきい値の確認画面）
図１８は、第２の実施形態に係るしきい値の確認画面の例を示す図である。図１８に示すように、第２の実施形態に係るしきい値の確認画面１８００は、図９で説明した第１の実施形態に係るしきい値の確認画面９００に対して、欠陥種別を選択する選択欄１８０１が追加されている。ユーザは、欠陥種別を選択する選択欄１８０１から、例えば、点状欠陥、縦線状欠陥、及び横線状欠陥等の欠陥種別を選択し、欠陥種別に応じた確認画面１８０２を表示することができる。

【0118】

図１９は、第２の実施形態に係る縦線状欠陥のテストチャートの例を示す図である。縦線状欠陥のテストチャート１９００は、点状欠陥のテストチャート１０００と同様に、複数の欠陥１９０１がＸＹ平面に配置されている。また、複数の欠陥は、ＸＹ平面のＸ方向とＹ方向に対して、欠陥の大きさ又は濃度が異なるように配置されている。

【0119】

図１９において、７×７の枠、１～７の数字、及びＡ～Ｆの文字が原稿データであり、７×７の枠内にある縦線が欠陥１９０１である。図１９の例では、Ｘ方向に進むほど欠陥１９０１の高さが大きくなっており、Ｙ方向に進むほど欠陥１９０１の濃度が濃くなるように、複数の欠陥１９０１が配置されている。

【0120】

なお、横線状欠陥のテストチャートは、図１９において、縦線の欠陥１９０１が、横線の欠陥となる。

【0121】

このように、第２の実施形態では、しきい値の確認画面１８００を用いて、点状欠陥、縦線状欠陥、及び横線状欠陥のしきい値を確認することができる。

【0122】

（カスタムしきい値の設定画面）
図２０は、第２の実施形態に係るカスタムしきい値の設定画面の例を示す図である。図２０に示すように、第２の実施形態に係るカスタムしきい値の設定画面２０００には、図１３で説明した第１の実施形態に係るカスタムしきい値の設定画面１３００に対して、欠陥種別を選択する選択欄２００１が追加されている。ユーザは、欠陥種別を選択する選択欄２００１から、例えば、線状欠陥を選択することにより、図１５に示すような線状欠陥の欠陥検出しきい値１５００に、カスタムしきい値を設定することができる。

【0123】

このように、第２の実施形態では、カスタムしきい値の設定画面２０００を用いて、点状欠陥、縦線状欠陥、及び横線状欠陥のカスタムしきい値を設定することができる。

【0124】

［第３の実施形態］
図５は、第１の実施形態に係る欠陥判定処理の例を示すフローチャートである。この処理は、印刷検査装置１２０が、印刷装置１１０が印刷した印刷物を読み取り、読み取り結果から印刷の欠陥を判定する欠陥判定処理の別の一例を示している。なお、ここでは、図６で説明した第１の実施形態に係る欠陥判定処理と同様の処理内容に対する詳細な説明は省略する。

【0125】

ステップＳ２１０１において、印刷検査装置１２０のシステム制御部３１０は、印刷装置１１０が印刷した印刷物から差分画像を取得し、取得した差分画像を記憶部３２４等に記憶する。

【0126】

ステップＳ２１０２において、システム制御部３１０の欠陥検査部３１２は、欠陥判定用のしきい値の初期値を設定する。例えば、欠陥検査部３１２は、大きさしきい値の最小値と、当該大きさしきい値に対応する濃度しきい値を設定する。

【0127】

ステップＳ２１０３において、欠陥検査部３１２は、差分画像に対して、濃度しきい値による判定（欠陥判定）を行う。例えば、欠陥検査部３１２は、差分画像の各画素のＲＧＢ値のいずれか一つでも濃度しきい値以上である場合、「１」とし、差分画像の各画素の全てのＲＧＢ値が濃度しきい値未満の場合、「０」とする２値画像を生成する。

【0128】

ステップＳ２１０４において、欠陥検査部３１２は、ステップＳ２１０３で欠陥判定された隣接する画素の集合に外接する外接矩形のアスペクト比Ｒを判定する。

【0129】

ステップＳ２１０５において、アスペクト比Ｒが、所定のアスペクト比であるか否かを判断する。ここで、所定のアスペクト比は、第２の実施形態で前述した、縦線状欠陥、横線状欠陥、及び点状欠陥に対応する下記のアスペクト比である。
Ｒ＞Ａ：縦線状欠陥
Ｒ＜１／Ａ：横線状欠陥
１／Ａ≦Ｒ≦Ａ：点状欠陥
アスペクト比Ｒが所定のアスペクト比である場合、欠陥検査部３１２は、処理をステップＳ２１０６に移行させる。一方、アスペクト比Ｒが所定のアスペクト比でない場合、欠陥検査部３１２は、処理をステップＳ２１０７に移行させる。

【0130】

ステップＳ２１０６に移行すると、生成した２値画像に対して、大きさしきい値による判定（欠陥判定）を行う。例えば、欠陥検査部３１２は、生成した２値画像に対してラベリング処理を行って、画素値が「１」となっている隣接する画素を１つのオブジェクトとする。また、欠陥検査部３１２は、当該オブジェクトの大きさ（オブジェクトに含まれる画素値が「１」の画素の数）が、大きさしきい値以上である場合、当該オブジェクト（又は当該オブジェクトに含まれる画素値が「１」の画素）を欠陥と判定する。

【0131】

なお、点状欠陥の場合、大きさしきい値と集合の画素数との比較となり、縦線状欠陥の場合は、集合の外接矩形の高さとの比較となり、横状欠陥の場合は、集合の外接矩形の幅との比較となる。

【0132】

ステップＳ２１０７において、欠陥検査部３１２は、全ての大きさしきい値の判定を完了したかを判断する。全ての大きさしきい値の判定を完了していない場合、欠陥検査部３１２は、処理をステップＳ２１０８に移行させる。一方、全ての大きさしきい値の判定を完了した場合、欠陥検査部３１２は、処理をステップＳ２１０９に移行させる。

【0133】

ステップＳ２１０８に移行すると、欠陥検査部３１２は、しきい値を変更する。例えば、欠陥検査部３１２は、大きさしきい値を次に大きいしきい値に変更し、それに対応する濃度差のしきい値をセットする。また、欠陥検査部３１２は、処理をステップＳ２１０３に戻す。

【0134】

ステップＳ２１０９に移行すると、欠陥検査部３１２は、ステップＳ２１０３～Ｓ２１０８の処理で欠陥判定した判定結果を統合する。例えば、欠陥検査部３１２は、判定結果の欠陥領域の和を最終的な欠陥領域とする。

【0135】

このように、本実施形態に係る欠陥判定処理の具体的な処理の流れは、様々な変形、及び応用が可能である。

【0136】

以上、本発明の各実施形態によれば、印刷装置が印刷した印刷物の欠陥を検査する印刷検査装置において、検知できない欠陥を低減することができる。

【0137】

＜補足＞
上記で説明した各実施形態の各機能は、一又は複数の処理回路によって実現することが可能である。ここで、本明細書における「処理回路」とは、電子回路により実装されるプロセッサのようにソフトウェアによって各機能を実行するようプログラミングされたプロセッサや、上記で説明した各機能を実行するよう設計されたＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＤＳＰ（digital signal processor）、ＦＰＧＡ（field programmable gate array）や従来の回路モジュール等のデバイスを含むものとする。

【0138】

また、図３に示した、印刷システム１の機能構成は一例である。例えば、図３において、印刷装置１１０が備える各機能構成のうち、少なくとも一部は、印刷検査装置が有していてもよい。また、印刷検査装置１２０が備える各機能構成のうち、少なくとも一部は、印刷装置が有していてもよい。さらに、印刷装置１１０と印刷検査装置１２０とは、１つの装置（印刷検査装置）であってもよい。

【0139】

＜付記＞
本明細書には、下記の各項の印刷検査装置、印刷システム、印刷検査方法、及びプログラムが開示されている。
（第１項）
印刷装置で印刷した印刷物を読み取った読取画像と、前記読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成する差分画像生成部と、
前記差分画像と、複数の大きさしきい値と、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて前記印刷物の欠陥を検査する欠陥検査部と、
を有する、印刷検査装置。
（第２項）
前記欠陥検査部は、前記複数の濃度しきい値で欠陥判定した欠陥に対して、前記複数の大きさしきい値でさらに欠陥判定を行う、第１項に記載の印刷検査装置。
（第３項）
前記欠陥検査部は、前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値とを用いて欠陥判定した欠陥画素の和に基づいて、前記印刷物の欠陥を検査する、第１項又は第２項に記載の印刷検査装置。
（第４項）
前記複数の濃度しきい値は、前記大きさしきい値によって異なる、第１項～第３項のいずれかに記載の印刷検査装置。
（第５項）
前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値との組合せであるしきい値セットを複数有する、第１項～第４項のいずれかに記載の印刷検査装置。
（第６項）
複数の前記しきい値セットから、一のしきい値セットを選択するＵＩ画面を、表示部に表示させる表示制御部を有する、第５項に記載の印刷検査装置。
（第７項）
複数の欠陥を含むテストチャートの印刷を制御し、前記複数の欠陥のうち、前記一のしきい値セットで欠陥判定される欠陥を確認する確認画像を生成する確認制御部を有し、
前記表示制御部は、前記確認画像を前記ＵＩ画面に表示する、
第６項に記載の印刷検査装置。
（第８項）
前記テストチャートは、前記複数の欠陥をＸＹ平面に配置し、
前記複数の欠陥は、前記ＸＹ平面のＸ方向とＹ方向に対して、欠陥の大きさ又は濃度が異なるように配置されている、
第７項に記載の印刷検査装置。
（第９項）
前記しきい値セットを設定する設定画面を、表示部に表示させる表示制御部を有する、第５項に記載の印刷検査装置。
（第１０項）
前記設定画面は、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する前記複数の濃度しきい値を入力する入力欄を含む、第９項に記載の印刷検査装置。
（第１１項）
前記設定画面は、前記複数の大きさしきい値のうち、一の大きさしきい値に対応する濃度しきい値の入力を受け付けし、
前記一の大きさしきい値に対応する濃度しきい値に基づいて、他の大きさしきい値に対応する濃度しきい値を算出する算出部を有する、
第９項に記載の印刷検査装置。
（第１２項）
前記算出部は、所定の関数を用いて、前記他の大きさしきい値に対応する濃度しきい値を算出する、第１１項に記載の印刷検査装置。
（第１３項）
前記設定画面は、前記所定の関数を選択する選択欄を含む、第１２項に記載の印刷検査装置。
（第１４項）
前記しきい値セットを設定する際に、既存の２つのしきい値セットに基づいて、新たなしきい値セットを算出する算出部を有する、第９項～第１３項のいずれかに記載の検査装置。
（第１５項）
前記欠陥判定は、前記印刷物の点状欠陥の判定を含み、
前記点状欠陥を判定するための前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値との組合せを有する、第２項に記載の印刷検査装置。
（第１６項）
前記欠陥判定は、前記印刷物の線状欠陥の検査を含み、
前記線状欠陥を判定するための前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値との組合せを有する、第１５項に記載の印刷検査装置。
（第１７項）
前記線状欠陥は、縦線状欠陥と、横線状欠陥とを含み、
前記縦線状欠陥を判定するための前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値との組合せと、前記横線状欠陥を判定するための前記複数の濃度のしきい値と前記複数の大きさのしきい値との組合せと、を有する、
第１６項に記載の印刷検査装置。
（第１８項）
印刷した印刷物を読み取った読取画像と、前記読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成する差分画像生成部と、
前記差分画像と、複数の大きさしきい値と、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて前記印刷物の欠陥を検査する欠陥検査部と、
を有する、印刷システム。
（第１９項）
コンピュータが、
印刷装置で印刷した印刷物を読み取った読取画像と、前記読取画像の比較対象となる基準画像との差分画像を生成する処理と、
前記差分画像と、複数の大きさしきい値と、前記複数の大きさしきい値の各々に対応する複数の濃度しきい値と、を用いて前記印刷物の欠陥を検査する処理と、
を実行する、印刷検査方法。
（第２０項）
第１９項に記載の印刷検査方法をコンピュータに実行させる、プログラム。

【0140】

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明はかかる特定の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内において、種々の変形、及び応用が可能である。

【符号の説明】

【0141】

１ 印刷システム
１１０ 印刷装置
１２０ 印刷検査装置
２００ コンピュータ
３１２ 欠陥検査部
３１３ 算出部
３１４ 確認制御部
３１５ 表示制御部
３２３ 差分画像生成部
３２４ 記憶部
６００ 点状欠陥の欠陥検出しきい値
６０１、１５０１ しきい値セット
９００、１８００ しきい値の確認画面（ＵＩ画面）
１０００ 点状欠陥のテストチャート
１２００、２０００ カスタムしきい値の設定画面
１３０４ テーブル
１５００ 線状欠陥の欠陥検出しきい値
１９００ 縦線状欠陥のテストチャート

【先行技術文献】

【特許文献】

【0142】

【特許文献1】特開２０１５－１９４４８４号公報

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】

【図11】

【図12】

【図13】

【図14】

【図15】

【図16】

【図17】

【図18】

【図19】

【図20】

【図21】