特開 2024-159737 試験測定装置及び被試験適応型システムの試験方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024159737

(43)【公開日】2024-11-08

(54)【発明の名称】試験測定装置及び被試験適応型システムの試験方法

(51)【国際特許分類】

   H04B 17/00 20150101AFI20241031BHJP

【ＦＩ】

H04B17/00 Z

【審査請求】未請求

【請求項の数】10

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2024073799

(22)【出願日】2024-04-30

(31)【優先権主張番号】63/462,511

(32)【優先日】2023-04-27

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(31)【優先権主張番号】18/643,943

(32)【優先日】2024-04-23

(33)【優先権主張国・地域又は機関】US

(71)【出願人】

【識別番号】391002340

【氏名又は名称】テクトロニクス・インコーポレイテッド

【氏名又は名称原語表記】ＴＥＫＴＲＯＮＩＸ，ＩＮＣ．

(74)【代理人】

【識別番号】100090033

【弁理士】

【氏名又は名称】荒船 博司

(74)【代理人】

【識別番号】100093045

【弁理士】

【氏名又は名称】荒船 良男

(72)【発明者】

【氏名】クリストファー・エヌ・ホワイト

(72)【発明者】

【氏名】アレキサンダー・クラウスカ

(72)【発明者】

【氏名】アレハンドロ・シー・ブリティカ

(57)【要約】

【課題】悪影響を与える試験信号を受信したときの適応型システムの応答信号の選択が適切なものか評価できるようにする。
【解決手段】試験測定装置１０は、試験信号を生成する信号生成部１２と、試験信号の送信を可能にする通信ポート１４と、試験対象の適応型システム（ＳＵＴ）２０からの応答信号を受信する信号分析部１６と、応答信号の受信を可能にする通信ポート１８と、１つ以上のプロセッサとを有する。プロセッサは、信号生成部１２に信号データを送信して、信号生成部１２に第１試験信号を生成させ、信号分析部１６から応答信号を受けて、試験信号の観点から応答信号の性能を測定し、その性能をＳＵＴ２０及び試験測定装置１０上のユーザ・ワークスペースのうちの少なくとも１つに報告する。
【選択図】図１

【特許請求の範囲】

【請求項1】

試験測定装置であって、
被試験適応型システム（ＳＵＴ）に送信される試験信号を生成する信号生成部と、
上記ＳＵＴからの応答信号を受信する信号分析部と、
上記試験信号を上記ＳＵＴへ送信するとともに上記応答信号の受信するための１つ以上の通信ポートと、
１つ以上のプロセッサと
を具え、
該１つ以上のプロセッサが、
上記信号生成部に上記試験信号を生成させるための設定データを上記信号生成部へ送信する処理と、
上記試験信号を上記ＳＵＴへ送信する処理と、
上記信号分析部から上記応答信号の応答信号データを受信する処理と、
上記試験信号に対する上記応答信号の性能を測定する処理と、
上記ＳＵＴ及び上記試験測定装置のユーザ・ワークスペースの少なくとも１つに上記性能を報告する処理と
を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するよう構成される試験測定装置。

【請求項2】

上記試験信号は、上記ＳＵＴが上記応答信号を送信する前に送信していた信号に悪影響を与える信号である請求項１の試験測定装置。

【請求項3】

上記試験信号に対する上記応答信号の性能を測定する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムは、上記試験信号と上記応答信号の特性を比較する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせる請求項１の試験測定装置。

【請求項4】

上記試験信号に対する上記応答信号の性能を測定する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムは、上記応答信号について、電力、帯域幅、周波数、パルス形状及び符号化方式の中の１つ以上を測定する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせる請求項１の試験測定装置。

【請求項5】

上記１つ以上のプロセッサは、上記応答信号を分析する処理と、第２試験信号の設定を決定する処理とを上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するよう更に構成される請求項１の試験測定装置。

【請求項6】

被試験適応型システム（ＳＵＴ）の試験方法であって、
試験測定装置の信号生成部で試験信号を生成して上記ＳＵＴへ送信する処理と、
上記試験測定装置の信号分析部において上記ＳＵＴからの応答信号を受信する処理と、
上記試験信号に対する上記応答信号の性能を測定する処理と、
上記ＳＵＴ及び上記試験測定装置上のユーザ・ワークスペースの少なくとも１つに上記性能を報告する処理と
を具える被試験適応型システムの試験方法。

【請求項7】

上記試験信号は、上記ＳＵＴが上記応答信号を送信する前に送信していた信号に悪影響を与える信号である請求項６の被試験適応型システムの試験方法。

【請求項8】

上記試験信号に対する上記応答信号の性能を測定する処理が、上記応答信号について、電力、帯域幅、パルス幅、周波数及び符号化方式の中の１つ以上を測定する処理を含む請求項６の被試験適応型システムの試験方法。

【請求項9】

第２試験信号を要求する上記ＳＵＴからのメッセージを受信する処理を更に具える請求項６の被試験適応型システムの試験方法。

【請求項10】

上記応答信号を分析する処理と、
上記試験測定装置の上記ユーザ・ワークスペース内で第２試験信号の設定を決定する処理と
を更に具える請求項６の被試験適応型システムの試験方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本開示は、試験システムに関し、より詳細には、機械学習ベースの適応型送受信システムの動作を検証するための試験測定装置及び被試験適応型システムの試験方法に関する。

【背景技術】

【0002】

通信システムやレーダ（radar）を含む無線周波数（ＲＦ）システムなど、多くの送受信システムでは、アプリケーション固有の機能要件と性能指標を最大化するために、信号環境の現在の状態にダイナミック（動的）に適応又は応答する機能が必要である。例としては、通信データのスループット、レーダ妨害の有効性、ダイナミックなスペクトル割り当て、干渉回避などがある。

【0003】

これらの送受信システムは、しばしば「適応型」又は「コグニティブ型（cognitive：経験的な事実認識に基づく）」と呼ばれ、既知及び未知の両方の動作条件下で意思決定するための統計的に堅牢なモデルを提供する機械学習（ＭＬ）アルゴリズム（広義には「人工知能（ＡＩ）/ＭＬ」）によって実現されることが非常に多い。

【0004】

これらの送信及び受信システムの１つの具体例は、適応型送受信システムであっても良く、これは、この適応型送受信システムが動作する周波数レンジ内で干渉トラフィック又は妨害信号を感知し、十分なデータ・レートを維持する方法で応答する。適応型システムは、動作周波数を空いているチャンネルに調整したり、電力を調整したり、信号対ノイズ比（ＳＮＲ）を最大化するように異なる変調方式を利用したり、エラー訂正により高い比率でパケット・データを割り当てるなどようなもっとプロトコル・レベルよりの適応を行うことで応答しても良い。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】米国特許第１１,０４７,９５７号明細書

【非特許文献】

【0006】

【非特許文献1】「電子攻撃」の記事、特に「電子対抗手段（electronic countermeasure：ＥＣＭ）」の説明、Wikipedia（日本語版）、［online］、［２０２４年４月２８日検索］、インターネット<https://ja.wikipedia.org/wiki/電子攻撃>

【非特許文献2】「任意波形ジェネレータ」の紹介サイト、テクトロニクス、［online］、［２０２４年４月３０日検索］、インターネット<https://www.tek.com/ja/products/arbitrary-waveform-generators>

【非特許文献3】「スペクトラムアナライザ（スペアナ）／シグナルアナライザ」の紹介サイト、テクトロニクス、［online］、［２０２４年４月３０日検索］、インターネット<https://www.tek.com/ja/products/spectrum-analyzers>

【非特許文献4】「6シリーズ B MSOミックスド・シグナル・オシロスコープ」の紹介サイト、スペクトラム解析が可能な点に言及、テクトロニクス、［online］、［２０２４年４月３０日検索］、インターネット<https://www.tek.com/ja/products/oscilloscopes/6-series-mso>

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0007】

米国特許第１１,０４７,９５７号は、ＲＦシステムにおいて、機械学習の判断ロジックを試験及び検証する１つのアプローチを説明している。このアプローチは、受信デバイスの応答性能の評価にのみ適用される。しかし、このアプローチでは、応答を生じさせた受信信号の電磁気的な状況において、その応答を適用することの有効性については評価していない。

【課題を解決するための手段】

【0008】

適応型機能を有する双方向システム（送信と受信の双方向）の有効性については、２つの主要なレベルで検証する必要がある。これは特に、深層学習ニューラル・ネットワーク（ＤＮＮ）などの機械学習から適応型機能が生じるシステムに当てはまる。本願の説明では、送信システムと受信システムを「適応型システム」と呼び、試験システムは、適応型システムが、入力信号と、適応型システムが動作する環境とに適応する能力を評価する。適応型システムは、無線周波数（ＲＦ）システムのような通信システム、レーダ・システム、ＬＩＤＡＲ（light detection and ranging：光検出及び測距、ライダー）、イーサネット（登録商標）環境での組み込み物理（ＰＨＹ）層モデルを使用する通信システムなど、様々な形態をとることができる。

【0009】

検証の第１レベルでは、受信システム及び機械学習システムが信号を適切に検出し、入力信号の種類と特性を特定（識別）する能力を検証する。受信環境からの信号障害を除去すると、適応型システムが入力信号の特性を正しく認識する能力が向上する。入力信号の特性を認識する能力は、信号特性と、受信環境による障害と、適応型システムの受信チェーンに由来するの障害との組み合わせを克服するアルゴリズムの能力に依存する。この第１レベル内のこれら３つのサブ・ステップは、「検出」、「パラメータの特定」、「障害の除去又は回避」と考えることができる。この第１ステップは、これら３つのサブ・ステップのいずれか又は全てから構成されても良い。

【0010】

検証の第２レベルでは、適応型システムの動作ロジックの応答選択部分の有効性を検証する。この動作ロジックには、応答に対する最も効果的なパラメータの選択が含まれ、これは、適応型システムの動作の性能指数（データ・レート、ジャミングの有効性など）を最大化する適応型システムの能力によって測定される。つまり、この検証レベルは、人工知能（ＡＩ）/機械学習（ＭＬ）ベースの適応型システム（被試験システム（ＳＵＴ：System Under Test）とも呼ぶ）の適用の有効性「インテリジェンス（知力、知性）」を検証する方法である。検証結果の形式は、行列、実数値又は複素数値のベクトル、スカラー又は単純な「合格」/「不合格」の結果である。

【0011】

これらの適応型送受信システムの双方向性の特性のために、適応型システムの判断ロジックを訓練（トレーニング）し、ＳＵＴの性能品質を検証するには、上記両方の段階の有効性を判断するために、ＳＵＴを刺激する能力と、ＳＵＴ応答を受信する能力の両方が必要である。この能力が、米国特許第１１,０４７,９５７号とは異なる点である。即ち、米国特許第１１,０４７,９５７号は、レーダ物体検出に焦点を当て、受信デバイスの機械学習アルゴリズムの出力における分類を性能の最終的な判断要因として使用している。しかし、動作において、これらの適応型システムにおける適応機能の性能の品質には、ＳＵＴの応答の品質が含まれ、このために、ＳＵＴの応答を受信し、ＳＵＴの応答の適用に特化した性能の特性を評価する能力が必要となる。この評価には、刺激と応答の両方の機能を含む訓練（トレーニング）及び検証システムが必要である。

【0012】

無線、通信、レーダ、電子対抗手段（electronic countermeasure：ＥＣＭ）又は他のタイプのＳＵＴによる応答は、ＳＵＴが動作する環境の特定の特性に依存し、これを、本願では、「電磁気的（ＥＭ：electromagnetic）な状況」と呼ぶ。ＳＵＴの客観的な有効性には、応答信号の送信が含まれ、これは、この信号が意図的に生成された物理的（又はシミュレートされた）ポイントで測定される。この測定には、応答の現在の電磁気的状況の特性を克服する能力が含まれる。このＳＵＴの応答は、このＳＵＴの応答が配信されるポイントであって、応答する伝送信号が受信されるポイントで検証され、また、適切な応答を決定するアルゴリズムの動作を検証することによって検証される。第１レベルの「障害の除去又は回避」ステップの一部として、障害自体をパラメータ（例えば、行列、ベクトル、スカラーの実数値又は複素数値の形式）として抽出し、第２レベルの有効性評価に提供することもできる。

【図面の簡単な説明】

【0013】

【図1】図１は、適応型送信及び受信システムのための試験システムの実施形態を示す。

【図2】図２は、送信及び受信システムの性能を試験及び評価するために使用される試験装置の実施形態を示す。

【図3】図３は、送信及び受信システムを試験する実施形態のフローチャートを示す。

【発明を実施するための形態】

【0014】

図１は、本開示技術の実施形態による試験システム１００の構成の一例を示す。この例では、送受信システム１００は、ＲＦシステムである。試験システム１００は、試験測定装置１０と、被試験システム（ＳＵＴ：system under test）としての適応型ＲＦシステム２０から構成される。試験測定装置１０は、ＲＦ信号生成部１２、ＲＦ信号分析部１６、信号処理及びシステム制御ユニット２２を有する。試験測定装置１０は、１つ以上の別々の試験測定装置で具現化されても良いし、単一の筐体内に上記の要素を含む１つの試験測定装置から構成されても良い。なお、説明を簡単にするため、これらの実施形態のいずれかを、本願では、試験測定装置１０と呼ぶ。

【0015】

試験測定装置１０を１つ以上の別々の試験測定装置を用いて具現化する場合、ＲＦ信号生成部１２は、例えば、テクトロニクス社製の任意波形ジェネレータ（非特許文献２参照）であっても良い。ＲＦ信号生成部１２は、ＲＦ信号生成部内に予め記憶させたデジタル形式の波形データや、信号処理及びシステム制御ユニット２２から受信するデジタル形式の波形データや波形データの設定パラメータなどに基づいて、内蔵のデジタル・アナログ・コンバータ（ＤＡＣ）を用いて、アナログの信号を生成できる。また、ＲＦ信号分析部１６は、例えば、テクトロニクス社製のスペクトラム・アナライザ又はシグナル・アナライザ（非特許文献３参照）であっても良いし、若しくは、テクトロニクス社製の6シリーズ B MSOミックスド・シグナル・オシロスコープ（非特許文献４参照）のように、時間領域と周波数領域から信号を分析できるオシロスコープであっても良い。ＲＦ信号分析部１６は、ＳＵＴから受信した応答信号から、内蔵のアナログ・デジタル・コンバータ（ＡＤＣ）を用いて、デジタル形式の波形データを生成し、これを用いて、時間領域、周波数領域など、様々な観点から応答信号を分析できる。そして、例えば、応答信号の時間領域の波形データや、応答信号の周波数領域の波形データ（即ち、スペクトラム）、付随する分析データなどを信号処理及びシステム制御ユニット２２に供給できる。

【0016】

試験測定装置１０は、通信ポート１４及び１８などの１つ以上の通信ポートを含んでもよい。ＲＦ信号生成部１２及び信号分析部１６は、共通の通信ポートを使用しても良いし、又は、図１に例示するように、それぞれが独自のポートを有していても良い。ＲＦシステムの場合、通信ポート１４及び１８が、無線通信用に、アンテナ１５及び１９を夫々別個に備えても良し、又は、ＳＵＴと有線（ケーブルなど）で接続するための有線接続用コネクタを有していても良い。

【0017】

ＳＵＴ２０は、多くの形態をとることができ、試験測定装置１０は、多くの異なるタイプのＳＵＴと相互に通信しても良い。これら実施形態は、適応型システムについて、何らの限定をするものではなく、示唆するものでもない。以下の説明では、説明を簡潔にするために、被試験システム２０を適応型ＲＦシステムと呼ぶことがあるが、実施形態は、全てのタイプの適応型送信及び受信システムに適用される。図１では、例示的なＳＵＴ２０が、送信機２６及び受信機２８を有し、信号調整ユニット３２を介して通信ポート２４に接続される。通信ポート２４は、アンテナ２３を介し、更にアンテナ１５及び１９を介して、通信ポート１４及び１８との間で、ＲＦ信号を無線で送受信しても良い。なお、図１では、通信ポート１４及び１８と、通信ポート２４との間が、無線で接続される例を示しているが、通信ポート１４及び１８と、通信ポート２４との間の通信には、有線（ケーブルなど）を利用しても良い。また、有線による通信では、電気信号、光信号などが利用されても良い。送信機２６及び受信機２８は、深層学習ネットワーク等の機械学習システム３０に接続されている。

【0018】

図２は、試験測定装置１０の信号処理システム及び制御ユニット２２の実施形態を示す。信号処理システム及び制御ユニット２２は、メモリ４２と、プロセッサ４０と、１つ以上の通信ポート４４とを含む。通信ポート４４は、信号分析部１６及び信号生成部１２と接続されても良く、図１に示すＳＵＴ２０への直接接続があってもよい。試験測定装置１０は、ユーザ・ワークスペース４６を含んでもよい。ユーザ・ワークスペース４６は、アンテナ間の無線通信とは別に、被試験適応型システム２０への接続を有していても良い。ユーザ・ワークスペース４６は、メモリ４２のパーティション又は他のセグメント、専用メモリ、又は、メモリ４２といくつかの処理リソースと組み合わされたものを含む、多くの形態があり得る。このようなユーザ・ワークスペース４６の例では、試験測定装置上で実行されるVisual Studio(登録商標)、LabVIEW(登録商標)、MATLAB(登録商標)などの開発環境を、ユーザ・ワークスペース４６内で動作させるようにしても良い。これらによって、ユーザ又は試験測定装置の提供者は、試験実行の合否判定を判断するためのロジックとパラメータを開発することができる。

【0019】

図３は、この試験システムを使用して、訓練（トレーニング）又は検証プロセスを実行する方法の一実施形態を示す。図１の試験測定装置１０は、工程５０において、「試験信号」を生成する。この試験信号は、例えば、レーダ、通信信号（例えば、周波数が競合する信号）、又は、ジャミング信号（jamming signal：妨害信号）など、ＳＵＴ２０が現在送信している信号に悪影響又はストレスを与える信号であっても良い。これに応答して、ＳＵＴ２０は、試験信号のパラメータ及び特性を検出して特定し、工程５２において、適切な応答信号を選択する。レーダ信号の場合、ＳＵＴ２０からの応答信号は、対抗手段（countermeasure）又は電子対抗手段（ＥＣＭ：electronic countermeasure）信号から構成されてもよい。ＳＵＴ２０は、試験信号を打ち消すためのジャミング信号又は干渉を回避するための他の回避メカニズムに基づく信号のような応答信号を送信することによって、試験信号に応答する。このため、試験信号は、ＳＵＴ２０が応答信号を送信する前に送信していた信号に悪影響又はストレスを与える信号ということもできる。なお、破線で示した方法内の処理は、ＳＵＴ２０によって行われる処理、又は、ＳＵＴ２０及び試験測定装置１０の両方又はいずれかが関与する処理を示す。

【0020】

次に、試験測定装置１０は、信号分析部１６で応答信号５４を捕捉し、その波形データを生成し、これに基づいて、上述のように様々な観点のデータを生成する。次いで、試験測定装置１０は、工程５６において、試験測定装置１０内又は信号分析部１６内の１つ以上のプロセッサ４０によって、ＳＵＴ２０の送信信号に対して悪影響又はストレスを与える試験信号に対する対抗手段として選択された応答信号の選択を検証する。工程５６におけるこの検証は、応答信号の適切性を判断するために、応答信号を試験信号と比較する処理を有していても良い。

【0021】

この比較処理は、例えば、応答信号と試験信号を、周波数（利用しているチャンネル）、電力（パワー）、利用する符号化方式などの観点で比較しても良い。これにより、例えば、試験信号を受けて、それまでＳＵＴ２０が送信していた信号の周波数（チャンネル）が、試験信号の周波数（チャンネル）と競合しないよう変更する応答をしたり、それまで送信信号の電力を、試験信号の電力よりも高いものに変更する応答をしたり、試験信号に比較して符号化方式を周囲の電磁気的状況が悪くても、より確実にデータを送信できる方式に変更する応答をしたり、といった応答が行われたかが検証できる。

【0022】

更に、試験測定装置１０は、工程５８において、応答信号に基づいて、ＳＵＴ２０の性能を評価する。測定される性能パラメータとしては、電力、帯域幅、周波数、パルス形状などがあり、これらパラメータは、所望の性能パラメータと比較して評価される。これによって、試験信号による悪影響に対して、ＳＵＴ２０が的確に応答（対抗）できているかどうかが判断できる。工程６０において、ＳＵＴ２０が性能測定値を満たしている場合、システムは、合格となり、工程６２に進んで、試験は終了する。

【0023】

試験測定装置１０は、ＳＵＴ２０に又は試験測定装置１０上のユーザ・ワークスペース４６に、評価結果について、レポートを送信しても良い（工程５８）。次に、試験測定装置１０又はＳＵＴ２０は、応答信号を分析し、試験信号の観点から応答信号が十分なものであったかどうかを判断しても良い。この判断には、図２の機械学習システム３０が、更なる訓練（トレーニング）を必要とするか、又は、工程６４において、異なる試験信号に関する追加の試験が必要かという知見が含まれていても良い。更に、この判断には、試験測定装置１０がユーザに推奨を行うか、又は、ユーザ・ワークスペース４６に直接働きかけて、訓練（トレーニング）及び検証シーケンスを管理する処理が含まれても良い。試験測定装置１０又はＳＵＴ２０は、新しい試験信号の設定を指定しても良い。次に、試験測定装置１０は、信号生成部１２が、工程６６において、新しい試験信号を生成するように、必要に応じて設定を調整する。

【0024】

このようにして、被試験適応型システムの性能は、受信性能だけでなく、送信された試験信号の観点から評価される。これにより、試験信号に対する応答信号を提供する機械学習システムが、最も正確な応答を可能にするのに十分な情報を得られるようになる。

【0025】

本開示技術の態様は、特別に作成されたハードウェア、ファームウェア、デジタル・シグナル・プロセッサ又はプログラムされた命令に従って動作するプロセッサを含む特別にプログラムされた汎用コンピュータ上で動作できる。本願における「コントローラ」又は「プロセッサ」という用語は、マイクロプロセッサ、マイクロコンピュータ、ＡＳＩＣ及び専用ハードウェア・コントローラ等を意図する。本開示技術の態様は、１つ又は複数のコンピュータ（モニタリング・モジュールを含む）その他のデバイスによって実行される、１つ又は複数のプログラム・モジュールなどのコンピュータ利用可能なデータ及びコンピュータ実行可能な命令で実現できる。概して、プログラム・モジュールとしては、ルーチン、プログラム、オブジェクト、コンポーネント、データ構造などを含み、これらは、コンピュータその他のデバイス内のプロセッサによって実行されると、特定のタスクを実行するか、又は、特定の抽象データ形式を実現する。コンピュータ実行可能命令は、ハードディスク、光ディスク、リムーバブル記憶媒体、ソリッド・ステート・メモリ、ＲＡＭなどのコンピュータ可読記憶媒体に記憶しても良い。当業者には理解されるように、プログラム・モジュールの機能は、様々な実施例において必要に応じて組み合わせられるか又は分散されても良い。更に、こうした機能は、集積回路、フィールド・プログラマブル・ゲート・アレイ（ＦＰＧＡ）などのようなファームウェア又はハードウェア同等物において全体又は一部を具体化できる。特定のデータ構造を使用して、本開示技術の１つ以上の態様をより効果的に実施することができ、そのようなデータ構造は、本願に記載されたコンピュータ実行可能命令及びコンピュータ使用可能データの範囲内と考えられる。

【0026】

開示された態様は、場合によっては、ハードウェア、ファームウェア、ソフトウェア又はこれらの任意の組み合わせで実現されても良い。開示された態様は、１つ以上のプロセッサによって読み取られ、実行され得る１つ又は複数のコンピュータ可読媒体によって運搬されるか又は記憶される命令として実現されても良い。そのような命令は、コンピュータ・プログラム・プロダクトと呼ぶことができる。本願で説明するコンピュータ可読媒体は、コンピューティング装置によってアクセス可能な任意の媒体を意味する。限定するものではないが、一例としては、コンピュータ可読媒体は、コンピュータ記憶媒体及び通信媒体を含んでいても良い。

【0027】

コンピュータ記憶媒体とは、コンピュータ読み取り可能な情報を記憶するために使用することができる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、コンピュータ記憶媒体としては、ランダム・アクセス・メモリ（ＲＡＭ）、読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、電気消去可能プログラマブル読み出し専用メモリ（ＥＥＰＲＯＭ）、フラッシュメモリやその他のメモリ技術、コンパクト・ディスク読み出し専用メモリ（ＣＤ-ＲＯＭ）、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）やその他の光ディスク記憶装置、磁気カセット、磁気テープ、磁気ディスク記憶装置やその他の磁気記憶装置、及び任意の技術で実装された任意の他の揮発性又は不揮発性の取り外し可能又は取り外し不能の媒体を含んでいても良い。コンピュータ記憶媒体としては、信号そのもの及び信号伝送の一時的な形態は除外される。

【0028】

通信媒体とは、コンピュータ可読情報の通信に利用できる任意の媒体を意味する。限定するものではないが、例としては、通信媒体には、電気、光、無線周波数（ＲＦ）、赤外線、音又はその他の形式の信号の通信に適した同軸ケーブル、光ファイバ・ケーブル、空気又は任意の他の媒体を含んでも良い。

実施例

【0029】

以下では、本願で開示される技術の理解に有益な実施例が提示される。この技術の実施形態は、以下で記述する実施例の１つ以上及び任意の組み合わせを含んでいても良い。

【0030】

実施例１は、試験測定装置であって、被試験適応型システム（ＳＵＴ）に送信される試験信号を生成する信号生成部と、上記ＳＵＴからの応答信号を受信する信号分析部と、上記試験信号を上記ＳＵＴへ送信するとともに上記応答信号の受信するための１つ以上の通信ポートと、１つ以上のプロセッサとを具え、該１つ以上のプロセッサが、上記信号生成部に上記試験信号を生成させるための設定データを上記信号生成部へ送信する処理と、上記試験信号を上記ＳＵＴへ送信する処理と、上記信号分析部から上記応答信号の応答信号データを受信する処理と、上記試験信号に対する上記応答信号の性能を測定する処理と、上記ＳＵＴ及び上記試験測定装置のユーザ・ワークスペースの少なくとも１つに上記性能を報告する処理とを上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するよう構成される。なお、上記試験信号は、ＳＵＴが応答信号を送信する前に送信していた信号に悪影響を与える信号であっても良い。

【0031】

実施例２は、実施例１の試験測定装置であって、上記試験信号に対する上記応答信号の性能を測定する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムは、上記試験信号と上記応答信号の特性を比較する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせる。

【0032】

実施例３は、実施例１の試験測定装置であって、上記設定データが、電力レベル、パルス幅、パルス・レート、周波数及び符号化方式の中の１つ以上のデータを含む。

【0033】

実施例４は、実施例１から３のいずれかの試験測定装置であって、上記性能を測定する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムは、電力、帯域幅、周波数及びパルス形状の中の１つ以上を測定する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせる。

【0034】

実施例５は、実施例１から４のいずれかの試験測定装置であって、上記１つ以上のプロセッサは、第２試験信号を要求するとともに上記ＳＵＴが上記第２試験信号を受信する準備ができていることを伝えるメッセージを上記ＳＵＴから受信する処理を上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するよう構成される。

【0035】

実施例６は、実施例４の試験測定装置であって、上記１つ以上のプロセッサは、上記第２試験信号を送信する前に、上記信号生成部の設定を調整するように更に構成される。

【0036】

実施例７は、実施例１から６のいずれかの試験測定装置であって、上記１つ以上のプロセッサは、上記応答信号を分析する処理と、第２試験信号の設定を決定する処理とを上記１つ以上のプロセッサに行わせるプログラムを実行するよう更に構成される。

【0037】

実施例８は、実施例１から７のいずれかの試験測定装置であって、上記１つ以上の通信ポートは、上記ＳＵＴへの制御インタフェースを含む。

【0038】

実施例９は、実施例８の試験測定装置であって、上記ユーザ・ワークスペースは、上記制御インタフェースからアクセス可能である。

【0039】

実施例１０は、実施例１から９のいずれかの試験測定装置であって、上記１つ以上の通信ポートに接続された１つ以上のアンテナを更に有する。

【0040】

実施例１１は、被試験適応型システム（ＳＵＴ）の試験方法であって、試験測定装置の信号生成部で試験信号を生成して上記ＳＵＴへ送信する処理と、上記試験測定装置の信号分析部において上記ＳＵＴからの応答信号を受信する処理と、上記試験信号に対する応答信号の性能を測定する処理と、上記ＳＵＴ及び上記試験測定装置上のユーザ・ワークスペースの少なくとも１つに上記性能を報告する処理とを具える。

【0041】

実施例１２は、実施例１１の方法であって、上記信号生成部による上記試験信号を生成及び送信する処理は、上記信号生成部の設定を決定する処理を含む。

【0042】

実施例１３は、実施例１２の方法であって、上記設定は、電力レベル、パルス幅、パルス・レート、周波数及び符号化方式の中の１つ以上を含む。

【0043】

実施例１４は、実施例１１から１３のいずれかの方法であって、上記性能を測定する処理は、電力レベル、パルス幅、周波数及び符号化方式の中の１つ以上を測定する処理を含む。

【0044】

実施例１５は、実施例１１から１５のいずれかの方法であって、第２試験信号を要求する上記ＳＵＴからのメッセージを受信する処理を更に具える。

【0045】

実施例１６は、実施例１５の方法であって、上記メッセージは、上記第２試験信号に関する新しい設定を含む。

【0046】

実施例１７は、実施例１１から１６のいずれかの方法であって、上記応答信号を分析する処理と、上記試験測定装置の上記ユーザ・ワークスペース内で第２試験信号の設定を決定する処理とを更に具える。

【0047】

実施例１８は、実施例１１から１７のいずれかの方法であって、上記応答信号を受信する処理は、無線により上記応答信号を受信する処理又は上記ＳＵＴに接続された有線を通して上記応答信号を受信する処理を含む。

【0048】

実施例１９は、実施例１１の方法であって、上記試験信号に対する応答信号の性能を測定する処理は、上記試験信号と上記応答信号の特性を比較する処理を含む。

【0049】

加えて、本願の説明は、特定の特徴に言及している。本明細書における開示には、これらの特定の特徴の全ての可能な組み合わせが含まれると理解すべきである。ある特定の特徴が特定の態様又は実施例に関連して開示される場合、その特徴は、可能である限り、他の態様及び実施例との関連においても利用できる。

【0050】

また、本願において、２つ以上の定義されたステップ又は工程を有する方法に言及する場合、これら定義されたステップ又は工程は、状況的にそれらの可能性を排除しない限り、任意の順序で又は同時に実行しても良い。

【0051】

明細書、特許請求の範囲、要約書及び図面に開示される全ての機能、並びに開示される任意の方法又はプロセスにおける全てのステップは、そのような機能やステップの少なくとも一部が相互に排他的な組み合わせである場合を除いて、任意の組み合わせで組み合わせることができる。明細書、要約書、特許請求の範囲及び図面に開示される機能の夫々は、特に明記されない限り、同じ、等価、又は類似の目的を果たす代替の機能によって置き換えることができる。

【0052】

説明の都合上、本発明の具体的な実施例を図示し、説明してきたが、本発明の要旨と範囲から離れることなく、種々の変更が可能なことが理解できよう。従って、本発明は、添付の請求項以外では、限定されるべきではない。

【符号の説明】

【0053】

１０ 試験測定装置
１２ ＲＦ信号生成部
１４ 通信ポート
１５ アンテナ
１８ 通信ポート
１９ アンテナ
２０ 適応型ＲＦシステム（被試験システム：ＳＵＴ）
２２ 信号処理及びシステム制御ユニット
２３ アンテナ
２４ 通信ポート
２６ 送信機
２８ 受信機
３０ 機械学習システム
３２ 信号調整ユニット
４０ プロセッサ
４２ メモリ
４４ ポート
４６ ユーザ・ワークスペース
１００ 試験システム

【図1】

【図2】

【図3】