特開 2024-161991 フォトンカウンティングＣＴ装置および物質分解方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024161991

(43)【公開日】2024-11-21

(54)【発明の名称】フォトンカウンティングＣＴ装置および物質分解方法

(51)【国際特許分類】

   A61B 6/03 20060101AFI20241114BHJP

   A61B 6/42 20240101ALI20241114BHJP

【ＦＩ】

A61B6/03 350H

A61B6/03 320Q

A61B6/03 373

【審査請求】未請求

【請求項の数】5

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2023077106

(22)【出願日】2023-05-09

(71)【出願人】

【識別番号】306037311

【氏名又は名称】富士フイルム株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】110000350

【氏名又は名称】ポレール弁理士法人

(72)【発明者】

【氏名】横井 一磨

【テーマコード（参考）】

4C093

【Ｆターム（参考）】

4C093AA22

4C093CA35

4C093EA07

4C093FC12

4C093FC30

(57)【要約】

【課題】Ｘ線の線質の差異によって変化するパイルアップの影響を低減可能なフォトンカウンティングＣＴ装置および物質分解方法を提供する。
【解決手段】フォトンカウンティングＣＴ装置であって、既知の物質である第１基底物質と第２基底物質とを組み合わせた較正部材を透過するＸ線のエネルギースペクトルを、前記第１基底物質の厚さと前記第２基底物質の厚さを変えながら基準となるＸ線量で取得して較正データとして予め記憶する記憶部と、前記較正部材を透過するＸ線のエネルギースペクトルを、前記第１基底物質の厚さと前記第２基底物質の厚さとＸ線量を変えながら取得して、エネルギービン毎のＸ線光子数とＸ線量との関係を示す補正テーブルを作成する補正テーブル作成部と、前記較正データと前記補正テーブルに基づいて、物質毎に分解された断層画像を生成する画像生成部を備えることを特徴とする。
【選択図】図４

【特許請求の範囲】

【請求項1】

被検体にＸ線を照射するＸ線源と、前記Ｘ線を検出して前記Ｘ線の光子エネルギーに対応する信号を出力する光子計数型検出器と、前記光子計数型検出器が出力する信号に基づいて前記被検体の断層画像を生成する画像生成部を備えるフォトンカウンティングＣＴ装置であって、
既知の物質である第１基底物質と第２基底物質とを組み合わせた較正部材を透過するＸ線のエネルギースペクトルを、前記第１基底物質の厚さと前記第２基底物質の厚さを変えながら基準となるＸ線量で取得して較正データとして予め記憶する記憶部と、
前記較正部材を透過するＸ線のエネルギースペクトルを、前記第１基底物質の厚さと前記第２基底物質の厚さとＸ線量を変えながら取得して、エネルギービン毎のＸ線光子数とＸ線量との関係を示す補正テーブルを作成する補正テーブル作成部と、
前記較正データと前記補正テーブルに基づいて、物質毎に分解された断層画像を生成する画像生成部を備えることを特徴とするフォトンカウンティングＣＴ装置。

【請求項2】

請求項１に記載のフォトンカウンティングＣＴ装置であって、
前記画像生成部は、前記補正テーブルとリファレンスデータに基づいて前記較正データを補正し、補正後の較正データを用いて前記被検体の投影データを物質分解することを特徴とするフォトンカウンティングＣＴ装置。

【請求項3】

請求項１に記載のフォトンカウンティングＣＴ装置であって、
前記画像生成部は、前記補正テーブルとリファレンスデータに基づいて前記被検体の投影データを補正し、補正後の投影データを、前記較正データを用いて物質分解することを特徴とするフォトンカウンティングＣＴ装置。

【請求項4】

請求項１に記載のフォトンカウンティングＣＴ装置であって、
前記補正テーブル作成部は、Ｘ線量の経時的な変動の範囲において、前記較正部材を透過するＸ線のエネルギースペクトルを取得することを特徴とするフォトンカウンティングＣＴ装置。

【請求項5】

被検体にＸ線を照射するＸ線源と、前記Ｘ線を検出して前記Ｘ線の光子エネルギーに対応する信号を出力する光子計数型検出器と、前記光子計数型検出器が出力する信号に基づいて前記被検体の断層画像を生成する画像生成部を備えるフォトンカウンティングＣＴ装置による物質分解方法であって、
既知の物質である第１基底物質と第２基底物質とを組み合わせた較正部材を透過するＸ線のエネルギースペクトルを、前記第１基底物質の厚さと前記第２基底物質の厚さを変えながら基準となるＸ線量で取得して較正データとして予め記憶するステップと、
前記較正部材を透過するＸ線のエネルギースペクトルを、前記第１基底物質の厚さと前記第２基底物質の厚さとＸ線量を変えながら取得して、エネルギービン毎のＸ線光子数とＸ線量との関係を示す補正テーブルを作成するステップと、
前記較正データと前記補正テーブルに基づいて、物質毎に分解された断層画像を生成するステップを備えることを特徴とする物質分解方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は光子計数型検出器を備えるＸ線ＣＴ（Computed Tomography）装置であるフォトンカウンティングＣＴ装置および物質分解方法に関する。

【背景技術】

【0002】

Ｘ線ＣＴ装置は、被検体へのＸ線の照射と被検体を透過するＸ線の検出とを複数の投影角度において実施することによって取得される複数の投影データを用いて、被検体の断層画像を生成する装置である。Ｘ線の検出に光子計数型検出器を用いるフォトンカウンティングＣＴ装置では、組成の異なる物質に分解された断層画像、例えば血管造影に用いられるヨード造影剤と軟組織とに分解された断層画像が得られる。

【0003】

被検体に照射されるＸ線の線量は経時的に変動し、Ｘ線量の経時的な変動はＸ線ＣＴ装置が生成する断層画像にアーチファクトを生じさせる。そこで、被検体を通過しないＸ線を検出するリファレンス検出器によって取得されるＸ線量の経時的な変動を含むリファレンスデータを用いて投影データを補正することにより断層画像のアーチファクトが抑制される。フォトンカウンティングＣＴ装置では、Ｘ線の線量率が増えるほどパイルアップの量も多くなるので、リファレンスデータによる投影データの補正にはパイルアップによるスペクトル変化の把握（較正）が必要となる。

【0004】

特許文献１には、Ｘ線の線量率を変化させたときにリファレンス検出器の検出信号がどのように変化するかを予め取得し、取得されたデータに基づいてパイルアップによる検出誤差を補正するフォトンカウンティングＣＴ装置が開示される。すなわち、Ｘ線の線量率が増加すると、パイルアップの量が多くなることによってリファレンス検出器の検出信号が低下するので、線量率の増加に対する検出信号の低下の程度が、パイルアップによる検出誤差の補正に用いられる。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0005】

【特許文献1】特許第６５６４３３０号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0006】

しかしながら特許文献１は、Ｘ線の線質の差異によってパイルアップの量が変化することに対する配慮がなされていない。光子計数型検出器の各チャネルに入射するＸ線は、被検体の中の透過経路に応じて線量率が変化するとともに線質も変化する。パイルアップの量は線量率だけでなく線質の変化によっても増減するので、線質の変化の影響が含まれていないと物質分解の精度が低下する。

【0007】

そこで、本発明は、Ｘ線の線質の差異によって変化するパイルアップの影響を低減可能なフォトンカウンティングＣＴ装置および物質分解方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0008】

上記目的を達成するために本発明は、被検体にＸ線を照射するＸ線源と、前記Ｘ線を検出して前記Ｘ線の光子エネルギーに対応する信号を出力する光子計数型検出器と、前記光子計数型検出器が出力する信号に基づいて前記被検体の断層画像を生成する画像生成部を備えるフォトンカウンティングＣＴ装置であって、既知の物質である第１基底物質と第２基底物質とを組み合わせた較正部材を透過するＸ線のエネルギースペクトルを、前記第１基底物質の厚さと前記第２基底物質の厚さを変えながら基準となるＸ線量で取得して較正データとして予め記憶する記憶部と、前記較正部材を透過するＸ線のエネルギースペクトルを、前記第１基底物質の厚さと前記第２基底物質の厚さとＸ線量を変えながら取得して、エネルギービン毎のＸ線光子数とＸ線量との関係を示す補正テーブルを作成する補正テーブル作成部と、前記較正データと前記補正テーブルに基づいて、物質毎に分解された断層画像を生成する画像生成部を備えることを特徴とする。

【0009】

また本発明は、被検体にＸ線を照射するＸ線源と、前記Ｘ線を検出して前記Ｘ線の光子エネルギーに対応する信号を出力する光子計数型検出器と、前記光子計数型検出器が出力する信号に基づいて前記被検体の断層画像を生成する画像生成部を備えるフォトンカウンティングＣＴ装置による物質分解方法であって、既知の物質である第１基底物質と第２基底物質とを組み合わせた較正部材を透過するＸ線のエネルギースペクトルを、前記第１基底物質の厚さと前記第２基底物質の厚さを変えながら基準となるＸ線量で取得して較正データとして予め記憶するステップと、前記較正部材を透過するＸ線のエネルギースペクトルを、前記第１基底物質の厚さと前記第２基底物質の厚さとＸ線量を変えながら取得して、エネルギービン毎のＸ線光子数とＸ線量との関係を示す補正テーブルを作成するステップと、前記較正データと前記補正テーブルに基づいて、物質毎に分解された断層画像を生成するステップを備えることを特徴とする。

【発明の効果】

【0010】

本発明によれば、Ｘ線の線質の差異によって変化するパイルアップの影響を低減可能なフォトンカウンティングＣＴ装置および物質分解方法を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【0011】

【図1】ＰＣＣＴ装置の全体構成を示す図である。

【図2】複数のエネルギービンに分けられるＸ線の一例を示す図である。

【図3】光子計数型検出器の較正について説明する図である。

【図4】補正テーブルを作成する処理の流れの一例を示す図である。

【図5】補正テーブルの一例について説明する図である。

【図6】物質毎に分解された断層画像を生成する処理の流れの一例を示す図である。

【図7】物質分解の処理の流れの一例を示す図である。

【図8】リファレンスデータに基づく較正データの補正について説明する図である。

【図9】物質分解の処理の流れの他の例を示す図である。

【図10】被検体の推定厚さを求める処理について説明する図である。

【発明を実施するための形態】

【0012】

以下、図面を参照して、本発明のフォトンカウンティングＣＴ装置および物質分解方法の実施形態を説明する。なお、以下の説明及び添付図面において、同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。

【実施例0013】

図１に本実施例のフォトンカウンティングＣＴ装置１０１の全体構成図を示す。なお、紙面の横方向をＸ軸、縦方向をＹ軸、ＸＹ面に直交する方向をＺ軸とする。フォトンカウンティングＣＴ装置１０１は、ガントリ１０２、Ｘ線管１０３、ボウタイフィルタ１０４、寝台１０５、検出器パネル１０７、演算装置１０８、入力装置１０９、表示装置１１０を備える。

【0014】

被検体１０６は寝台１０５に載せられ、ガントリ１０２に設けられる開口部１１２の中に配置される。Ｘ線管１０３から放射されたＸ線１１１は、ボウタイフィルタ１０４により被検体１０６の大きさに適したビーム形状に成形されて被検体１０６に照射され、被検体１０６を透過したのち検出器パネル１０７に検出される。Ｘ線管１０３と検出器パネル１０７は、被検体１０６を挟んで対向配置されるようにガントリ１０２に取り付けられ、ガントリ１０２の回転駆動部により被検体１０６の周りを回転させられる。Ｘ線管１０３からのＸ線照射と検出器パネル１０７でのＸ線計測が両者の回転とともに繰り返されることにより、様々な投影角度での投影データが取得される。

【0015】

取得された投影データが演算装置１０８にて画像再構成処理されることにより、被検体１０６の断層画像が生成され、表示装置１１０に表示される。また被検体１０６を載せた寝台１０５とガントリ１０２とがＺ軸方向に相対的に移動しながら投影データが取得されると、被検体１０６のボリューム画像が生成される。なお、Ｘ線管１０３から照射されるＸ線量や、ガントリ１０２の回転速度、ガントリ１０２と寝台１０５との相対移動速度は、入力装置１０９を介して操作者が入力するスキャン条件に基づいて設定される。また演算装置１０８は一般的なコンピュータ装置と同様のハードウェア構成であり、ＣＰＵ（Central Processing Unit）やメモリ、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）等を備え、投影データ等に対する補正処理や各部の制御を行う。

【0016】

検出器パネル１０７は、複数の検出素子ＰがＸ線管１０３のＸ線焦点を中心とした円弧形状に配置されて構成される。また検出器パネル１０７の端部には、被検体１０６を透過しないＸ線を検出するリファレンス検出器１０７Ｒが設けられる。リファレンス検出器１０７Ｒで得られるリファレンスデータには被検体１０６に照射されるＸ線量の経時的な変動が含まれるので、リファレンスデータは、Ｘ線量の経時的な変動の補正に用いられる。

【0017】

検出素子Ｐが光子計数型検出器である場合、入射するＸ線光子は個々に計数されるとともに、Ｘ線光子のエネルギーが計測される。図２には、Ｔ１～Ｔ２、Ｔ２～Ｔ３、Ｔ３～の三つのエネルギービンｂｉｎ１、ｂｉｎ２、ｂｉｎ３に分けられて計数されたＸ線光子数が示される。

【0018】

光子計数型検出器を備えるフォトンカウンティングＣＴ装置１０１では、被検体１０６の投影データに関する光子エネルギースペクトルが取得できるので、組成の異なる物質が分解された医用画像や複数のエネルギー成分に分けられた医用画像を生成できる。なお組成の異なる物質に分解された医用画像等を得るには、組成や厚さが既知の物質である複数の基底物質の組み合わせを光子計数型検出器で計測したときの出力と光子エネルギーとの関係を検出器素子毎に予め較正する必要がある。

【0019】

図３を用いて、光子計数型検出器の較正について説明する。光子計数型検出器の較正には、組成と厚さが既知の複数の基底物質を組み合わせた較正部材３００が用いられる。較正部材３００には、例えば第１基底物質３０１と第２基底物質３０２とを組み合わせたものであって、基底物質毎に複数の異なる厚さの板が用いられる。例えば第１基底物質３０１の厚さがＪ種類、第２基底物質３０２の厚さがＫ種類であれば、Ｊ×Ｋ種類の較正部材３００が用いられ、較正部材３００のそれぞれを透過したＸ線のエネルギースペクトルが較正データ３０３として検出器素子毎に取得される。図３ではＪ＝３、Ｋ＝３であるので、９種類のエネルギースペクトルが較正データ３０３として示される。取得された較正データ３０３は、演算装置１０８の記憶部に記憶され、被検体１０６の投影データの較正に用いられる。

【0020】

なお較正部材３００に照射されるＸ線量が増えるとパイルアップの量が多くなるため、較正部材３００を透過したＸ線のエネルギースペクトルはＸ線量によっても変化する。そこで本発明では、較正部材３００に照射されるＸ線量を変えながら取得されるエネルギースペクトルに基づいて、較正データ３０３や被検体１０６の投影データの補正に用いられる補正テーブルを作成する。

【0021】

図４を用いて、補正テーブルを作成する処理の流れの一例についてステップ毎に説明する。

【0022】

（Ｓ４０１）
第１基底物質３０１と第２基底物質３０２の組み合わせである較正部材３００が開口部１１２に設定される。第１基底物質３０１と第２基底物質３０２の組成と厚さは既知であり、例えば第１基底物質３０１にはアクリルが、第２基底物質３０２にはアルミニウムが用いられる。

【0023】

（Ｓ４０２）
演算装置１０８による制御によって、Ｓ４０１にて設定された較正部材３００を透過したＸ線のエネルギースペクトルが、基準のＸ線量で取得される。より具体的には、ガントリ１０２を静止させた状態で、基準値である管電流が設定されたＸ線管１０３から較正部材３００にＸ線が照射され、較正部材３００を透過したＸ線が検出器パネル１０７によって検出されることにより、エネルギースペクトルが検出素子毎に取得される。取得されたエネルギースペクトルは較正データ３０３として記憶部に記憶される。なお、リファレンス検出器１０７Ｒでは、較正部材３００を透過しないＸ線が検出され、較正データ３０３に対応付けられて記憶部に記憶される。

【0024】

（Ｓ４０３）
演算装置１０８による制御によって、Ｓ４０１にて設定された較正部材３００を透過したＸ線のエネルギースペクトルが、基準から変動させたＸ線量で取得される。より具体的には、基準値とは異なる管電流が設定されたＸ線管１０３からのＸ線照射と、検出器パネル１０７によるＸ線検出により、エネルギースペクトルが検出素子毎に取得される。リファレンス検出器１０７Ｒでは、Ｓ４０２と同様に、較正部材３００を透過しないＸ線が検出される。Ｓ４０３において設定される管電流は、Ｘ線量の経時的な変動に相当する範囲、例えば管電流の基準値が３００ｍＡであるとき、２９５ｍＡ～３０５ｍＡの範囲が好ましい。管電流が、Ｘ線量の経時的な変動に相当する範囲に設定されることにより、Ｘ線量の経時的な変動をより正確に補正することができる。

【0025】

（Ｓ４０４）
演算装置１０８は、Ｓ４０２とＳ４０３にて取得されたエネルギースペクトルを用いて、補正テーブルを作成する。補正テーブルは、エネルギービン毎のＸ線光子数とＸ線量との関係を示すものである。作成された補正テーブルは記憶部に記憶される。

【0026】

図５を用いて、補正テーブルの一例について説明する。図５に例示される補正テーブルは、縦軸に補正係数、横軸にカウント実現値を有する。なおカウント実現値は、Ｓ４０２やＳ４０３にて設定された管電流でのＸ線照射がなされたときのＸ線光子数の実測値である。また補正係数は、各カウント実現値において計数されたＸ線光子数を、カウント実現値が基準値であるときのＸ線光子数で除した値であり、エネルギービン毎に求められる。すなわち、カウント実現値が基準値であるとき補正係数は１を示し、カウント実現値が微増値であるとき補正係数は１より大きい値を、カウント実現値が微減値であるとき補正係数は１より小さい値を示す。

【0027】

なお補正テーブルは、検出素子毎に較正部材３００の種類の数だけ作成される。また補正テーブルは、異なる管電流にて計数された各Ｘ線光子数を直線近似した式や２次曲線で近似した式であっても良い。

【0028】

（Ｓ４０５）
演算装置１０８は、全ての較正部材３００に対してエネルギースペクトルを取得したか否かを判定する。全ての較正部材３００に対してエネルギースペクトルが取得されていれば処理の流れは終了となり、そうでなければＳ４０１へ処理が戻され、別の較正部材３００が設定される。

【0029】

図４を用いて説明した処理の流れによって、較正部材３００を透過するＸ線のエネルギースペクトルが、既知の物質である第１基底物質３０１の厚さと第２基底物質３０２の厚さと較正部材３００に照射されるＸ線量とを変えながら取得される。そして取得されたエネルギースペクトルに基づいて、較正データ３０３と補正テーブルが記憶部に記憶され、被検体１０６の物質分解に用いられる。

【0030】

図６を用いて、較正データ３０３と補正テーブルに基づいて、物質毎に分解された断層画像を生成する処理の流れの一例についてステップ毎に説明する。

【0031】

（Ｓ６０１）
演算装置１０８による制御によって、被検体１０６の投影データが取得される。より具体的には、ガントリ１０２を回転させた状態で、Ｘ線管１０３から被検体１０６にＸ線が照射され、被検体１０６を透過したＸ線が検出器パネル１０７によって検出されることにより、様々な投影角度での投影データが取得される。なお被検体１０６の投影データは、複数のエネルギービンに分けられて取得される。また被検体１０６の投影データとともにリファレンスデータが取得される。被検体１０６を透過しないＸ線を検出することで得られるリファレンスデータには、被検体１０６に照射されるＸ線量の経時的な変動が含まれる。

【0032】

（Ｓ６０２）
演算装置１０８は、記憶部から読み出される較正データ３０３と補正テーブルに基づいて、Ｓ６０１にて取得された被検体１０６の投影データを複数の物質、例えば第１基底物質３０１と第２基底物質３０２に分解する。

【0033】

図７を用いて、Ｓ６０２の処理の流れの一例についてステップ毎に説明する。

【0034】

（Ｓ７０１）
演算装置１０８は、Ｓ６０１にて取得されたリファレンスデータと補正テーブルに基づいて、較正データ３０３を補正する。例えば、図８に示すように、リファレンスデータが３０３ｍＡであった場合、補正テーブルからエネルギービンＡの補正係数Ｃ＿ＡとエネルギービンＢの補正係数Ｃ＿Ｂが求められ、補正係数Ｃ＿ＡやＣ＿Ｂに基づいて較正データ３０３が補正される。すなわち基準のＸ線量で取得された較正データ３０３のエネルギービンＡのＸ線光子数にＣ＿Ａが乗じられ、エネルギービンＢのＸ線光子数にＣ＿Ｂが乗じられることにより、補正された較正データが算出される。

【0035】

（Ｓ７０２）
演算装置１０８は、Ｓ７０１にて補正された較正データを用いて、被検体１０６の投影データを物質分解する。具体的には、まず補正後の較正データの中から被検体１０６の投影データのエネルギースペクトルに最も近いエネルギースペクトルが選択される。そして選択されたエネルギースペクトルに対応する第１基底物質３０１の厚さと第２基底物質３０２の厚さによって物質分解され、第１基底物質３０１の投影データと第２基底物質３０２の投影データが生成される。

【0036】

図７を用いて説明した処理の流れによって、リファレンスデータと補正テーブルに基づいて補正された較正データを用いて被検体１０６の投影データが物質分解される。リファレンスデータと補正テーブルに基づいて補正された較正データが物質分解に用いられるので、Ｘ線量の経時的な変動やＸ線の線質の差異によって変化するパイルアップの影響が低減され、物質分解の精度を向上できる。なお、Ｓ６０２の較正データ３０３と補正テーブルに基づく物質分解は、図７の処理の流れに限定されない。

【0037】

図９を用いて、Ｓ６０２の処理の流れの他の例についてステップ毎に説明する。

【0038】

（Ｓ９０１）
演算装置１０８は、Ｓ６０１にて取得されたリファレンスデータと補正テーブルに基づいて、被検体１０６の投影データを補正する。具体的には、まず較正データ３０３において第２基底物質３０２の厚さがゼロのデータを用いて、図１０に示されるような第１基底物質３０１の厚さと全Ｘ線光子数との関係が求められる。次に図１０に例示される関係と、被検体１０６の投影データとを対比することにより、被検体１０６の推定厚さＴ＿ｅｓｔが算出される。そして、推定厚さＴ＿ｅｓｔにおける補正テーブルからリファレンスデータに対する補正係数がエネルギービン毎に求められ、求められた補正係数に基づいて被検体１０６の投影データが補正される。すなわち、Ｘ線量の経時的な変動を含む被検体１０６の投影データがエネルギービン毎に補正係数で除されることにより、基準のＸ線量に相当する被検体１０６の投影データが算出される。

【0039】

（Ｓ９０２）
演算装置１０８は、較正データ３０３を用いて、Ｓ９０１にて補正された投影データを物質分解する。具体的には、まず較正データ３０３の中から、Ｓ９０１にて補正された投影データのエネルギースペクトルに最も近いエネルギースペクトルが選択される。そして選択されたエネルギースペクトルに対応する第１基底物質３０１の厚さと第２基底物質３０２の厚さによって物質分解され、第１基底物質３０１の投影データと第２基底物質３０２の投影データが生成される。

【0040】

図９を用いて説明した処理の流れによって、リファレンスデータと補正テーブルに基づいて補正された被検体１０６の投影データが較正データ３０３に基づいて物質分解される。リファレンスデータと補正テーブルに基づいて補正された被検体１０６の投影データが物質分解に用いられるので、Ｘ線量の経時的な変動やＸ線の線質の差異によって変化するパイルアップの影響が低減され、物質分解の精度を向上できる。また図７を用いて説明した処理の流れに比べ、演算装置１０８が使用するメモリ容量が小さく、演算時間を短縮できる。図６の説明に戻る。

【0041】

（Ｓ６０３）
演算装置１０８は、Ｓ６０２にて物質分解された投影データを用いて、物質毎の断層画像を再構成する。すなわち、第１基底物質３０１の断層画像と第２基底物質３０２の断層画像が再構成される。

【0042】

図６を用いて説明した処理の流れによって、較正データ３０３と補正テーブルに基づいて物質分解された投影データを用いて、被検体１０６の断層画像が物質毎に生成される。物質分解に較正データ３０３と補正テーブルが用いられるので、Ｘ線の線質の差異によって変化するパイルアップの影響が低減され、高精度に物質分解された断層画像を生成できる。

【0043】

以上、本発明のフォトンカウンティングＣＴ装置および物質分解方法の実施例について説明した。なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施例に開示されている複数の構成要素を適宜組み合わせても良い。さらに、上記実施例に示される全構成要素からいくつかの構成要素を削除しても良い。

【符号の説明】

【0044】

１０１：フォトンカウンティングＣＴ装置、１０２：ガントリ、１０３：Ｘ線管、１０４：ボウタイフィルタ、１０５：寝台、１０６：被検体、１０７：検出器パネル、１０７Ｒ：リファレンス検出器、１０８：演算装置、１０９：入力装置、１１０：表示装置、１１１：Ｘ線、１１２：開口部、３００：較正部材３００：第１基底物質３０１：第２基底物質３０２：較正データ、Ｐ：検出素子

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】

【図9】

【図10】