(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024168216
(43)【公開日】2024-12-05
(54)【発明の名称】信号処理装置、画素回路、検出装置及び信号処理方法
(51)【国際特許分類】
H04N 25/47 20230101AFI20241128BHJP
H04N 25/707 20230101ALI20241128BHJP
H04N 25/772 20230101ALI20241128BHJP
【FI】
H04N25/47
H04N25/707
H04N25/772
【審査請求】未請求
【請求項の数】12
【出願形態】OL
(21)【出願番号】P 2023084699
(22)【出願日】2023-05-23
(71)【出願人】
【識別番号】000004352
【氏名又は名称】日本放送協会
(74)【代理人】
【識別番号】100141139
【弁理士】
【氏名又は名称】及川 周
(74)【代理人】
【識別番号】100171446
【弁理士】
【氏名又は名称】高田 尚幸
(74)【代理人】
【識別番号】100114937
【弁理士】
【氏名又は名称】松本 裕幸
(74)【代理人】
【識別番号】100171930
【弁理士】
【氏名又は名称】木下 郁一郎
(72)【発明者】
【氏名】後藤 正英
【テーマコード(参考)】
5C024
【Fターム(参考)】
5C024CY45
5C024GX03
5C024GX15
5C024GX16
5C024GY39
5C024GY41
5C024HX23
5C024HX32
5C024HX57
(57)【要約】
【課題】映像信号と、映像信号に所定の変化があったことを示す差分信号とを容易に取得する。
【解決手段】信号処理装置は、経時的に変化する1ビットのデジタル値を取得する取得部と、前記取得部により取得された値に応じてカウント動作を行い、所定の周期でカウンタ値がリセットされるカウンタ部と、前記カウンタ部がリセット前の時点において保持する値を、N倍(Nは2以上の自然数)に圧縮して記憶するメモリ部と、前記周期のうち、特定の時点において、前記カウンタ部が保持する値と、前記メモリ部に記憶された値とを互いに比較し、比較した結果として得られた値が所定の閾値以上である場合にトリガ信号を発生させるトリガ信号発生部とを備え、前記カウンタ部は、前記トリガ信号の発生有無に応じてカウント動作を停止する。
【選択図】
図2
【特許請求の範囲】
【請求項1】
経時的に変化する1ビットのデジタル値を取得する取得部と、
前記取得部により取得された値に応じてカウント動作を行い、所定の周期でカウンタ値がリセットされるカウンタ部と、
前記カウンタ部がリセット前の時点において保持する値を、N倍(Nは2以上の自然数)に圧縮して記憶するメモリ部と、
前記周期のうち、特定の時点において、前記カウンタ部が保持する値と、前記メモリ部に記憶された値とを互いに比較し、比較した結果として得られた値が所定の閾値以上である場合にトリガ信号を発生させるトリガ信号発生部とを備え、
前記カウンタ部は、前記トリガ信号の発生有無に応じてカウント動作を停止する
信号処理装置。
【請求項2】
前記特定の時点とは、前記カウンタ部がリセットされてから前記周期のN分の1が経過した時点である
請求項1に記載の信号処理装置。
【請求項3】
前記カウンタ部は、前記特定の時点において、前記トリガ信号が発生しなかった場合、カウント動作を停止する
請求項1又は請求項2に記載の信号処理装置。
【請求項4】
前記カウンタ部及び前記メモリ部は、いずれも1ビットのカウンタ素子が複数直列接続されたものであり、
前記カウンタ部が有するカウンタ素子の数は、前記メモリ部が有するカウンタ素子の数より多い
請求項1又は請求項2に記載の信号処理装置。
【請求項5】
前記カウンタ部の圧縮率Nは、2のべき乗である
請求項1又は請求項2に記載の信号処理装置。
【請求項6】
前記カウンタ部の圧縮率Nは、4又は8である
請求項5に記載の信号処理装置。
【請求項7】
入射する光の光量に応じた電流値を出力するフォトダイオードと、
前記フォトダイオードから出力された電流値を、1ビットのデジタル値に変換するA/D変換部と、
前記A/D変換部により変換された1ビットのデジタル値を取得する請求項1又は請求項2に記載の信号処理装置とを備え、
前記信号処理装置が備える前記カウンタ部は、前記フォトダイオードに入射した光の光量に応じたカウント動作を行い、フレームレートに応じた周期でカウンタ値がリセットされる、
画素回路。
【請求項8】
前記カウンタ部の圧縮率Nは、前記フレームレートに応じて決定される、
請求項7に記載の画素回路。
【請求項9】
前記カウンタ部の圧縮率Nは、動きが多い被写体を撮影する第1撮影モード、又は動きが少ない被写体を撮影する第2撮影モードのいずれかに応じて決定され、
前記第1撮影モードの場合における圧縮率Nは、前記第2撮影モードの場合における圧縮率Nより小さい、
請求項7に記載の画素回路。
【請求項10】
前記フォトダイオードと前記A/D変換部との間における電流の導通を制御する転送トランジスタと、
前記転送トランジスタと前記A/D変換部との間に接続され、電荷を蓄積するフローティングディフュージョンと、
を更に備える請求項7に記載の画素回路。
【請求項11】
特定の物理量を電流値に変換する検出センサと、
前記検出センサにより検出された電流値を1ビットのデジタル値に変換するA/D変換部と、
前記A/D変換部により変換され、経時的に変化する1ビットのデジタル値を取得する請求項1又は請求項2に記載の信号処理装置と、
を備える検出装置。
【請求項12】
経時的に変化する1ビットのデジタル値を取得する取得工程と、
前記取得工程により取得された値に応じてカウント動作を行い、所定の周期でカウンタ値がリセットされるカウンタ工程と、
前記カウンタ工程がリセット前の時点において保持する値を、N倍(Nは2以上の自然数)に圧縮して記憶するメモリ工程と、
前記周期のうち、特定の時点において、前記カウンタ工程により保持される値と、前記メモリ工程において記憶された値とを互いに比較し、比較した結果として得られた値が所定の閾値以上である場合にトリガ信号を発生させるトリガ信号発生工程とを有し、
前記カウンタ工程は、前記トリガ信号の発生有無に応じてカウント動作を停止する
信号処理方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、信号処理装置、画素回路、検出装置及び信号処理方法に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、アナログ値で表現されるセンサ値をモニターし続けることに代えて、アナログ値の変化量が閾値以上となった場合にトリガ信号を取得する技術が知られている。このような技術によれば、通信量を減らすことが可能となり、高速な応答が可能となる。このような技術で用いられるアナログ値としては、フォトダイオードにより検出される光量等を例示することができる。また、このようなアナログ値を扱うセンサとしては、動画像センサ等を例示することができる。
【0003】
近年、動画像センサの技術分野において、複数のフレーム画像を連続する映像信号として高速取得することに代えて、画素値の変化に応じた信号(以下、画素値の変化が所定の閾値以上である場合に出力される信号を差分信号と呼ぶ場合がある)を出力することにより、被写体の動きを検知するイベントベースのセンサの開発が進んでいる。このような技術を用いたセンサは、ダイナミックビジョンセンサなどとも呼ばれている。
【0004】
非特許文献1に記載された技術によれば、画素に対数応答の電流電圧変換回路と差分検出回路を搭載してイベントトリガを発生し、値が時間的に変化した画素の情報が出力される。したがって、非特許文献1に記載されたセンサは高速での応答が可能であり、省電力が実現でき、車載などへの応用などが期待できる。しかしながら、このようなセンサは、差分信号だけを出力するものであり、映像信号を出力するには別のカメラを併用する必要がある。したがって、映像信号と差分信号とを用いるシステムを構築しようとした場合、システムが大型化するといった問題があった。また、非特許文献1に記載された技術によれば、フォトダイオードにより得られた信号を、差分検出回路の入力範囲に収めるために対数圧縮しており、情報が圧縮されて線形性が失われてしまうといった問題があった。
【0005】
差分信号と映像信号の両方を取得するための装置として、非特許文献2に記載された技術を例示することができる。非特許文献2に記載された技術によれば、各画素が、差分検出回路によるイベントトリガ発生機能に加えて、通常のAPS(Active Pixel Sensor)方式での読み出し機能も備えており、差分信号と映像信号の両方を出力することができる。
【先行技術文献】
【非特許文献】
【0006】
【非特許文献1】T. Finateu et al., “A 1280×720 Back-Illuminated Stacked Temporal Contrast Event-Based Vision Sensor with 4.86μm Pixels, 1.066GEPS Readout, Programmable Event-Rate Controller and Compressive Data-Formatting Pipeline”ISSCC, 5.10, pp.112-113(2020)
【非特許文献2】G. Taverni et al., “Front and Back Illuminated Dynamic and ActivePixel Vision Sensors Comparison”IEEE Transactions on Circuits and Systems-II: Express Briefs, Vol. 65, No. 5 pages 677-681, (2018)
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0007】
ここで、非特許文献2に記載の技術により出力される差分信号はデジタル信号であるのに対し、映像信号はアナログ値により出力される。映像信号をデジタル信号として取り出すためには、画素エリアの外(例えば同一レイヤーの周辺部、あるいは異なるレイヤー)又はセンサチップの外(例えば異なるチップ)でA/D変換することが考えられる。いずれの構成を採用した場合であっても、システムが大型化し、差分信号との同期を取らなければならない。すなわち、非特許文献2に記載の技術を用いて、差分信号と映像信号の両方をデジタル値として用いる場合、システムが大型化し、差分信号との同期を取る制御が複雑化するといった問題があった。また、非特許文献2に記載された技術は、非特許文献1に記載された技術と同様に、フォトダイオードにより得られた信号を、差分検出回路の入力範囲に収めるために対数圧縮しており、情報が圧縮されて線形性が失われてしまうといった問題があった。
【0008】
そこで本発明は、映像信号と、映像信号に所定の変化があったことを示す差分信号とをデジタル値として容易に取得可能な信号処理装置、画素回路、検出装置及び信号処理方法を提供しようとするものである。
【課題を解決するための手段】
【0009】
[1]上記の課題を解決するため、本発明の一態様による信号処理装置は、経時的に変化する1ビットのデジタル値を取得する取得部と、前記取得部により取得された値に応じてカウント動作を行い、所定の周期でカウンタ値がリセットされるカウンタ部と、前記カウンタ部がリセット前の時点において保持する値を、N倍(Nは2以上の自然数)に圧縮して記憶するメモリ部と、前記周期のうち、特定の時点において、前記カウンタ部が保持する値と、前記メモリ部に記憶された値とを互いに比較し、比較した結果として得られた値が所定の閾値以上である場合にトリガ信号を発生させるトリガ信号発生部とを備え、前記カウンタ部は、前記トリガ信号の発生有無に応じてカウント動作を停止するものである。
【0010】
[2]また、本発明の一態様は、上記[1]に記載の信号処理装置において、前記特定の時点とは、前記カウンタ部がリセットされてから前記周期のN分の1が経過した時点である。
【0011】
[3]また、本発明の一態様は、上記[1]又は[2]に記載の信号処理装置において、前記カウンタ部は、前記特定の時点において、前記トリガ信号が発生しなかった場合、カウント動作を停止するものである。
【0012】
[4]また、本発明の一態様は、上記[1]から[3]のいずれかに記載の信号処理装置において、前記カウンタ部及び前記メモリ部は、いずれも1ビットのカウンタ素子が複数直列接続されたものであり、前記カウンタ部が有するカウンタ素子の数は、前記メモリ部が有するカウンタ素子の数より多いものである。
【0013】
[5]また、本発明の一態様は、上記[1]から[4]のいずれかに記載の信号処理装置において、前記カウンタ部の圧縮率Nは、2のべき乗である。
【0014】
[6]また、本発明の一態様は、上記[1]から[5]のいずれかに記載の信号処理装置において、前記カウンタ部の圧縮率Nは、4又は8である。
【0015】
[7]また、本発明の一態様による画素回路は、入射する光の光量に応じた電流値を出力するフォトダイオードと、前記フォトダイオードから出力された電流値を、1ビットのデジタル値に変換するA/D変換部と、前記A/D変換部により変換された1ビットのデジタル値を取得する上記[1]から[6]に記載の信号処理装置とを備え、前記信号処理装置が備える前記カウンタ部は、前記フォトダイオードに入射した光の光量に応じたカウント動作を行い、フレームレートに応じた周期でカウンタ値がリセットされるものである。
【0016】
[8]また、本発明の一態様は、上記[7]に記載の画素回路において、前記カウンタ部の圧縮率Nは、前記フレームレートに応じて決定されるものである。
【0017】
[9]また、本発明の一態様は、上記[7]又は[8]に記載の画素回路において、前記カウンタ部の圧縮率Nは、動きが多い被写体を撮影する第1撮影モード、又は動きが少ない被写体を撮影する第2撮影モードのいずれかに応じて決定され、前記第1撮影モードの場合における圧縮率Nは、前記第2撮影モードの場合における圧縮率Nより小さいものである。
【0018】
[10]また、本発明の一態様は、上記[7]から[9]のいずれかに記載の画素回路において、前記フォトダイオードと前記A/D変換部との間における電流の導通を制御する転送トランジスタと、前記転送トランジスタと前記A/D変換部との間に接続され、電荷を蓄積するフローティングディフュージョンと、を更に備えるものである。
【0019】
[11]また、本発明の一態様に係る検出装置は、特定の物理量を電流値に変換する検出センサと、前記検出センサにより検出された電流値を1ビットのデジタル値に変換するA/D変換部と、前記A/D変換部により変換され、経時的に変化する1ビットのデジタル値を取得する請求項1又は請求項2に記載の信号処理装置と、を備えるものである。
【0020】
[12]また、本発明の一態様による信号処理方法は、経時的に変化する1ビットのデジタル値を取得する取得工程と、前記取得工程により取得された値に応じてカウント動作を行い、所定の周期でカウンタ値がリセットされるカウンタ工程と、前記カウンタ工程がリセット前の時点において保持する値を、N倍(Nは2以上の自然数)に圧縮して記憶するメモリ工程と、前記周期のうち、特定の時点において、前記カウンタ工程により保持される値と、前記メモリ工程において記憶された値とを互いに比較し、比較した結果として得られた値が所定の閾値以上である場合にトリガ信号を発生させるトリガ信号発生工程とを有し、前記カウンタ工程は、前記トリガ信号の発生有無に応じてカウント動作を停止するものである。
【発明の効果】
【0021】
本発明によれば、映像信号と、映像信号に所定の変化があったことを示す差分信号とをデジタル値として容易に取得することができる。
【図面の簡単な説明】
【0022】
【
図1】第1の実施形態に係る固体撮像素子を三次元構造化した場合の一例を示す模式図である。
【
図2】第1の実施形態に係る画素回路の回路構成の一例を示す回路図である。
【
図3】第1の実施形態に係るフォトダイオードに光が入射した際のパルス発生タイミングについて説明するタイミングチャートである。
【
図4】第1の実施形態に係る信号処理装置により出力されるトリガ信号の出力タイミングと、カウンタ値及びメモリ値の変化について示すタイミングチャートである。
【
図5】第2の実施形態に係る画素回路の回路構成の一例を示す回路図である。
【
図6】第3の実施形態に係る画素回路の回路構成の一例を示す回路図である。
【
図7】第4の実施形態に係る画素回路の回路構成の一例を示す回路図である。
【発明を実施するための形態】
【0023】
[実施形態]
まず、実施形態の前提となる事項を説明する。本実施形態に係る信号処理装置、画素回路、検出装置及び信号処理方法は、特定の物理量の時間的変動を検出するセンサを対象として、処理を行う。特定の物理量の時間的変動を検出するセンサとは、具体的には、物理量を電流値に変換するセンサであってもよい。物理量を電流値に変換するセンサの一例としては、イメージセンサ、光センサ、磁気センサ、圧力センサ、音センサ、温度センサ、湿度センサ等を例示することができる。以下の一例においては、本実施形態に係る信号処理装置、画素回路、検出装置及び信号処理方法が、フォトダイオードの光電効果を用いて出力される信号を処理する固体撮像素子に適用される場合の一例について説明する。当該固体撮像素子は、撮像装置等に用いられる。
【0024】
[第1の実施形態]
以下、本発明の第1の実施形態について、図面を参照しながら説明する。
【0025】
図1は、第1の実施形態に係る固体撮像素子を三次元構造化した場合の一例を示す模式図である。固体撮像素子5は、複数の階層構造を有する。同図は、第1階層L1、第2階層L2及び第3階層L3の3層構造を有する場合の一例を示している。各階層には、半導体構造物により回路素子が形成される。各階層間は、層間絶縁膜により絶縁される。層間絶縁膜にヴィアホール(コンタクトホール)を形成することにより、各階層に形成された回路素子が接続される。
【0026】
第1階層L1には、複数のフォトダイオード(画素)が形成される。フォトダイオードは、入射した光を電気信号に変換する。具体的には、フォトダイオードは、光電効果により、入射した光の強さに応じた電気信号を出力する。ここで、フォトダイオードにより出力された電気信号を取り出すためには、A/D変換回路等の所定の電気回路を要する。
図1に示すような階層構造を有せず、単層構造を採用する場合、当該所定の電気回路をフォトダイオードと同一面に形成することになるため、複数のフォトダイオード間の配置間隔が大きくなってしまう。しかしながら、
図1に示すような階層構造を採用することにより、複数のフォトダイオード間に所定の電気回路を設けることを要せず、複数のフォトダイオード間の配置間隔を小さくすることができる。したがって、階層構造を採用することにより、より高密度でフォトダイオードを配置することができる。すなわち高解像度の固体撮像素子5を提供することができる。
【0027】
第2階層L2には、フォトダイオードにより出力された電気信号をパルス信号に変換するための回路が形成される。そのため、第2階層L2に形成される回路を、A/D変換回路と呼ぶこともできる。第2階層L2に形成される回路は、例えば複数のインバータを直列接続したインバータ―チェーン回路であってもよい。インバータチェーン回路は、フォトダイオードに接続されるインバータ素子の入力閾値電圧に応じてHレベル又はLレベルの電圧を出力する。
【0028】
なお、第2階層L2には、インバータチェーン回路が形成される場合の一例に代えて、コンパレータ回路が形成されていてもよい。コンパレータ回路は、フォトダイオードにより出力された電気信号と、所定の基準電圧とを比較し、比較した結果に応じてHレベル又はLレベルの電圧を出力する。また、第2階層L2には、所定の遅延回路が含まれていてもよい。
【0029】
第3階層L3には、カウンタ回路やメモリ回路等が形成される。カウンタ回路は、第2階層L2に形成された回路により出力されるパルス信号の数をカウントする。また、カウンタ回路は、例えば12ビットのカウンタ素子を有し、1から4096までの値をカウントする。固体撮像素子5が映像信号を出力する場合、カウンタ回路は、所定期間内に入力されたパルス数をカウントし、カウントした値をメモリ回路や、制御回路等に出力する。固体撮像素子5が作動信号を出力する場合、カウンタ回路は、所定の時点において入力されたパルス信号の数が所定の閾値を超えたか否かを検出し、閾値を超えたと検出された場合にトリガ信号を不図示の制御回路に出力する。また、トリガ信号が出力された場合、カウンタ回路は、パルス信号の数のカウントを停止する。
【0030】
なお、固体撮像素子5が備えるカウンタ回路とメモリ回路とが形成される階層は、互いに異なっていてもよい。例えば、1つの画素がカウンタ回路及びメモリ回路を有する場合、第3階層L3に加えて、第4階層L4を備えることにより、互いに異なる階層にカウンタ回路及びメモリ回路が形成されていてもよい。すなわち、固体撮像素子5は、同図に示した3層構造を有する場合の一例に限定されず、4層以上の階層構造を有していてもよいし、階層構造を有していなくてもよい(すなわち、単相基板上に各素子が形成されていてもよい)。
【0031】
以下の説明において、1つの画素及び当該画素に対応する周辺回路(例えば、A/D変換回路やカウンタ回路)を含む構成を、画素回路1と呼ぶ場合がある。
図1に示す一例では、画素回路1は、第1階層L1から第3階層L3の一部を含む3層構造を有している。画素回路1は、同図に示すように複数の階層構造を有して構成されてもよいし、単層基板上に形成されてもよい。
【0032】
図2は、第1の実施形態に係る画素回路の回路構成の一例を示す回路図である。同図を参照しながら、画素回路1の回路構成の一例について説明する。画素回路1は、信号処理装置10と光量検出装置20とを備える。信号処理装置10は第3階層L3に、光量検出装置20は第1階層L1及び第2階層L2に形成されてもよい。なお、以下の説明において、画素回路1の機能を便宜上、信号処理装置10と光量検出装置20とに分けて説明するが、光量検出装置20の構成の一部又は全部は、信号処理装置10に含まれていてもよい。
【0033】
まず、光量検出装置20の構成について説明する。光量検出装置20は、フォトダイオード21と、インバータチェーン22と、リセットトランジスタ23とを備える。フォトダイオード21は第1階層L1に、インバータチェーン22及びリセットトランジスタ23は第2階層L2に形成されてもよい。光量検出装置20は、フォトダイオード21に入射した光の量に応じてパルス信号を出力する。画素回路1は、光量検出装置20から出力されたパルス信号の数をカウントすることにより、入射した光の量を検出することができる。
【0034】
フォトダイオード21は、アノード端子とカソード端子とを有する。アノード端子は接地され、カソード端子はインバータチェーン22の入力端子に接続される。フォトダイオード21は、入射した光の量に応じて電荷を生成する。フォトダイオード21により生成された電荷は、生成された電荷の量に応じた電圧値としてインバータチェーン22に入力される。具体的には、フォトダイオード21により生成された電荷は、フォトダイオード21のカソード端子と、インバータチェーン22の入力端子との間に存在する不図示の容量成分に蓄積される。蓄積された電荷は、当該容量成分の大きさに応じて電圧となって現れ、インバータチェーン22の入力端子に入力される。フォトダイオード21は、入射する光の光量に応じた電流値を出力するということもできる。当該容量成分をフローティングディフュージョンと呼ぶ場合がある。また、フォトダイオード21のカソード端子の電圧を電圧VPDと呼ぶ場合がある。
【0035】
インバータチェーン22は、複数の直列接続されたインバータ素子を備える。当該インバータ素子は、具体的には、CMOS(Complementary metal―oxide―semiconductor)インバータであってもよい。
図2に示す一例では、インバータチェーン22は、インバータ221と、インバータ222と、…、インバータ22nとを備える(nは1以上の自然数)。各インバータ素子は、それぞれ入力端子と出力端子とを有しており、出力端子には入力端子の電圧レベルと逆の電圧レベルが出力される。例えば、各インバータ素子の入力端子に1(ハイレベル)が入力されると、当該インバータ素子の出力端子には0(ローレベル)が出力される。また、インバータ素子の入力端子に0が入力されると、当該インバータ素子の出力端子には1が出力される。各インバータ素子は、入力閾値電圧を有し、入力端子に入力される電圧値と閾値とに応じた値を出力する。
【0036】
ここで、インバータチェーン22に備えられるインバータ素子の数は奇数個であることが好適である。奇数個のインバータ素子がインバータチェーン22に備えられることにより、インバータチェーン22全体として信号レベルを反転することが可能となる。すなわち、インバータチェーン22全体として、インバータチェーン22の入力端子に入力された電圧レベルを反転させ、出力端子に出力することが好適である。インバータチェーン22により出力される電圧を、出力電圧VOUTと呼ぶ場合がある。
【0037】
ここで、インバータチェーン22に備えられるインバータ素子の数を多くすることにより、光量検出装置20から出力されるパルス信号のパルス幅を長くすることができる。また、インバータチェーン22に備えられるインバータ素子の数を少なくすることにより、当該パルス幅を短くすることができる。インバータチェーン22に備えられるインバータ素子の数は、光量検出装置20に出力させたいパルス信号のパルス幅に応じて設定されてもよい。
【0038】
また、インバータチェーン22が備える複数のインバータ素子のうち、フォトダイオード21に最も近いインバータ素子、すなわちインバータ221の入力閾値電圧を調整することにより、光量検出装置20から出力される1パルスに応じた光の量を調整することができる。例えば入力閾値電圧を小さくすることによって、フォトダイオード21により多くの光が入射してからパルスが出力されるようになる。また、入力閾値電圧を大きくすることによって、フォトダイオード21により少ない光が入射してからパルスが出力されるようになる。
【0039】
入力閾値電圧をより柔軟に設定するため、インバータチェーン22に接続される初段のインバータ素子(インバータチェーン22が備える複数のインバータ素子のうち、フォトダイオード21に最も近いインバータ素子、すなわちインバータ221)に代えて、不図示のコンパレータ回路を用いてもよい。当該コンパレータ回路の入力端子の一端には、フォトダイオード21のカソード端子が接続される。また、当該コンパレータ回路の入力端子の他端には、所定の基準電圧が入力される。当該コンパレータ回路は、フォトダイオード21のカソード端子に接続された入力端子の電圧と基準電圧とに応じた電圧を出力端子に出力する。当該コンパレータ回路の後段には、所定の遅延回路が設けられていてもよい。また、遅延回路付きのコンパレータ回路を用いることにより、後段の遅延回路(例えばインバータチェーン)を省略することができる。
【0040】
ここで、インバータチェーン22は、アナログ値をデジタル値に変換するA/D変換部としての役割を有する。A/D変換部としてのインバータチェーン22は、フォトダイオード21の出力に応じたアナログ値と、所定の閾値(例えばインバータ素子の入力閾値電圧)との比較結果に応じて、アナログ値をデジタル値に変換する。A/D変換部は、フォトダイオード21から出力された電流値を、1ビットのデジタル値に変換するということもできる。
【0041】
リセットトランジスタ23は、インバータチェーン22の出力電圧に応じて、フォトダイオード21にリセット電圧VRSTを供給する。リセットトランジスタ23は、フォトダイオード21にリセット電圧VRSTを供給することにより、フォトダイオード21の電圧レベルをリセットする。換言すれば、リセットトランジスタ23は、インバータチェーン22により出力されるデジタル値に応じて、フォトダイオード21にリセット電圧を印加するか否かを決定する。リセットトランジスタ23は、例えばNチャネル型のMOSFET(金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ:metal-oxide-semiconductor field-effect transistor)であってもよい。リセットトランジスタ23がNチャネル型のMOSFETである場合、ゲート端子は、インバータチェーン22の出力端子に接続される。ソース端子は、リセット電圧VRSTを供給する電源に接続される。ドレイン端子は、フォトダイオード21のカソード端子に接続される。
【0042】
ここで、リセットトランジスタ23をエンハンスメント型のNチャネル型MOSFETとする場合、リセット電圧VRSTがリセットトランジスタ23の閾値分だけ減少してフォトダイオード21に伝わる。そこで、リセットトランジスタ23をデプレッション型のNチャネル型MOSFETとしてもよい。なお、リセットトランジスタ23をPチャネル型のMOSFETとすることも可能である。この場合、リセットトランジスタ23のゲート端子にインバータ回路を挿入する。Pチャネル型のMOSFETを用いることにより、リセット電圧VRSTがリセットトランジスタ23の閾値分だけ減少してフォトダイオード21に伝わることを抑止することができる。
【0043】
通常時、すなわちフォトダイオード21に光が入射していない場合、フォトダイオード21の電圧VPDはハイレベルである。フォトダイオード21の電圧VPDが光入射により低下し、インバータ221の入力閾値電圧に達すると、インバータチェーン22の出力電圧VOUTが反転し、ローレベルからハイレベルになる。インバータチェーン22によりハイレベルが出力されると、リセットトランジスタ23のソース-ドレイン間がオンし、フォトダイオード21にリセット電圧VRSTが供給され、フォトダイオード21の電圧VPDは、リセット電圧VRSTとなる。再びインバータチェーンが反転し、インバータチェーン22の出力電圧VOUTがローレベルとなると、リセットトランジスタ23のソース-ドレイン間がオフする。この動作を繰り返すことでインバータチェーン22の出力端子にはパルス信号が現れる。
【0044】
次に、信号処理装置10の構成について説明する。信号処理装置10には、光量検出装置20からの出力値が入力される。光量検出装置20からの出力値とは、出力電圧VOUTであり、経時的に値が変化する1ビットのデジタル値である。信号処理装置10は、入力された信号に応じてカウント動作を行う。当該カウント動作とは、カウントアップ動作であってもよいし、カウントダウン動作であってもよい。信号処理装置10は、カウント動作の結果得られたたカウンタ値と、カウンタ値が所定の閾値を超えた場合に出力される差分信号とを出力する。差分信号とは、カウンタ値の変化が所定の閾値以上である場合に出力される信号である。以下の説明においては、信号処理装置10が、カウントアップ動作を行う場合の一例について説明する。
【0045】
信号処理装置10は、パルス信号取得部11と、カウンタ部12と、メモリ部13と、トリガ信号発生部14とを備える。以下の説明において、パルス信号取得部11を、単に取得部と呼ぶ場合がある。
【0046】
パルス信号取得部11は、信号処理装置10と、光量検出装置20とが、互いに接続される点である。パルス信号取得部11には、出力電圧VOUTが入力される。出力電圧VOUTとは、経時的に変化する1ビットのデジタル値である。したがって、パルス信号取得部11は、経時的に変化する1ビットのデジタル値を取得するということもできる。また、出力電圧VOUTは入射する光量に応じたパルス信号であるということもできるため、パルス信号取得部11は、パルス信号を取得するということもできる。パルス信号取得部11により取得された値は、カウンタ部12に入力される。
【0047】
カウンタ部12は、パルス信号取得部11により取得された値に応じてカウント動作を行う。カウンタ部12は、一定の期間に発生したパルスの数をカウントする。一定の期間とは、予め定められた所定の周期である。例えば画素回路1が、所定のフレームレートで動画を撮影可能なカメラに用いられる場合、一定の期間とは、動画撮影に用いられるフレームレートに応じた期間であってもよい。フレームレートに応じた期間とは、具体的にはフレームレートの逆数であってもよい。カウンタ部12は、フレームレートに応じた期間、カウント動作を行い、当該期間ごとにカウンタ値のリセットが行われる。すなわち、カウンタ部12は、所定の周期でカウンタ値がリセットされる。
【0048】
カウンタ部12は、イネーブル端子ENを備える。イネーブル端子ENがHighレベルの場合、カウンタ部12はカウント動作を行う。イネーブル端子ENがLowレベルの場合、カウンタ部12はカウント動作を行わない。以下、イネーブル端子ENに入力される信号を、イネーブル信号ENと呼ぶ場合がある。
【0049】
また、カウンタ部12には、不図示のカウンタリセット信号CRSTが入力される。カウンタリセット信号CRSTがHighレベルの場合、カウンタ部12はカウンタの値を初期値に設定する。カウンタリセット信号CRSTがLowレベルの場合、カウンタ部12は通常のカウント動作を行う。
【0050】
メモリ部13は、特定の時点においてカウンタ部12が保持する値を圧縮して記憶する。すなわちメモリ部13は、ラッチ回路であるということもできる。メモリ部13は、カウンタ部12のリセット前の時点におけるカウンタ値を記憶する。メモリ部13の圧縮率Nは、2以上の整数であることが好適である。すなわち、メモリ部13は、カウンタ部12がリセット前の時点において保持する値を、N倍(Nは2以上の自然数)に圧縮して記憶する。
【0051】
トリガ信号発生部14は、カウンタ部12が保持する値と、メモリ部13に記憶された値とを互いに比較し、比較した結果として得られた値が所定の閾値以上である場合にトリガ信号TRと符号Sとを出力する。
図2には、カウンタ部12が保持する値をCと記載し、メモリ部13に記憶された値をMと記載している。トリガ信号発生部14は、カウンタ部12がカウント動作を行う所定の周期のうち、特定の時点において、比較動作を行う。特定の時点とは、例えばメモリ部13の圧縮率Nに応じて定められてもよい。
【0052】
トリガ信号TRとは、フォトダイオード21に入射する光量の変化の有無を示す信号である。トリガ信号TRとは、具体的には、所定期間にカウンタ部12に入力されるパルス信号の数と、前の周期におけるカウンタ値との差分が、所定の閾値以上であるか否かを示す信号である。判定に用いられる所定の閾値は、前の周期におけるカウンタ値に応じて決定されるものであってもよい。すなわち、トリガ信号TRとは、所定期間にカウンタ部12に入力されるパルス信号の数と、前の周期におけるカウンタ値との差分が、所定の閾値以上である場合に出力される差分信号であってもよい。一例として、トリガ信号TRとは、当該差分が所定の閾値以上である場合にHighレベル(H)となり、当該差分が所定の閾値より小さい場合にLowレベル(L)となる信号であってもよい。また、その他の一例として、トリガ信号TRとは、当該差分が所定の閾値以上であるか否かに応じて出力されるパルス信号であってもよい。
【0053】
当該閾値は、イベントトリガを発生させるために要する光量差についての要求に応じて設定されることができる。例えば閾値を小さく設定することにより、より少ない光量で(換言すれば、より敏感に)トリガ信号TRが出力されることとなる。また、閾値を大きく設定することにより、より多い光量で(換言すれば、より鈍感に)トリガ信号TRが出力されることとなる。
【0054】
図3は、第1の実施形態に係るフォトダイオードに光が入射した際のパルス発生タイミングについて説明するタイミングチャートである。同図を参照しながら、フォトダイオード21に光が入射した際にインバータチェーン22が出力する出力電圧V
OUTのパルス発生タイミングについて説明する。同図には、横軸を時間として、フォトダイオード21の電圧V
PDの変化を波形W11として示す。また、インバータチェーン22の出力電圧V
OUTを波形W12として示す。同図には、フォトダイオード21に一定の光量の光が入射し続ける場合の一例について説明する。
【0055】
同図を参照しながら行う説明において、リセットトランジスタ23により供給される電圧をリセット電圧VRST、インバータチェーン22の入力閾値電圧を閾値電圧VTHと呼ぶ場合がある。また、インバータチェーン22が出力する出力電圧VOUTは、Lowレベル(L)又はHighレベル(H)の2値で記載する。
【0056】
時刻t0以前において、フォトダイオード21に光は入射していないので、フォトダイオード21の電圧VPDはリセット電圧VRSTである。また、この状態においてインバータチェーン22にはHが入力されるため、出力電圧VOUTはLである。
【0057】
時刻t0から時刻t11にかけて、フォトダイオード21に光が入射する。
図3に示す一例では、フォトダイオード21に一定の光量の光が入射し続けるため、フォトダイオード21の電圧V
PDは一定の傾きで低下する。
【0058】
時刻t11においてフォトダイオード21の電圧VPDが閾値電圧VTHまで低下すると、インバータチェーン22の出力電圧VOUTが反転し、Hを出力する。インバータチェーン22の出力電圧VOUTがHになると、リセットトランジスタ23がオンし、フォトダイオード21の電圧VPDはリセット電圧VRSTとなる。電圧VPDがリセット電圧VRSTとなると、インバータチェーン22にはHが入力され、出力電圧VOUTは再度反転してLとなる。
【0059】
フォトダイオード21には一定の光量の光が入射し続けているため、フォトダイオード21の電圧VPDは、再度リセット電圧VRSTから一定の傾きで低下し始める。このように、時刻t11において行われた動作が、繰り返し行われる。結果として、インバータチェーン22の出力電圧VOUTはパルス信号を出力する。図示する一例では、時刻t11から時刻t14の間に4パルス出力されている。
【0060】
インバータチェーンが反転を開始してから、電圧VPDがリセット電圧VRSTとなるまでの応答時間(遅延時間)により、インバータチェーン22の出力電圧VOUTのパルス幅が決定される。したがって、インバータチェーン22に含まれるインバータ素子それぞれの遅延時間の合計がパルス幅となる。
【0061】
図4は、第1の実施形態に係る信号処理装置により出力されるトリガ信号の出力タイミングと、カウンタ値及びメモリ値の変化について示すタイミングチャートである。同図を参照しながら、信号処理装置10により出力されるトリガ信号TRの出力タイミングと、カウンタ部12及びメモリ部13によりそれぞれ出力されるカウンタ値及びメモリ値の変化について説明する。
【0062】
なお、本実施形態では信号処理装置10が固体撮像素子5に適用される一例について説明する。したがって、各期間をフレームと呼ぶ場合がある。図示する一例において、時刻0から時刻t1までを第1フレーム、時刻t1から時刻t3までを第2フレーム、時刻t3から時刻t5までを第3フレーム、時刻t5から時刻t7までを第4フレームと呼ぶ場合がある。
【0063】
図4には、横軸を時間として、カウンタ部12が保持する値の変化と、メモリ部13が記憶する値の変化とを示す。図示する一例において、カウンタ部12は12ビットの信号を保持し、メモリ部13は10ビットの信号を記憶する。メモリ部13は、カウンタ部12に保持された値を4倍に圧縮して記憶する。すなわち図示する一例において、圧縮率Nは、4である。また、以下の説明において、カウンタ部12が保持する値をカウンタ値と記載し、メモリ部13が記憶する値をメモリ値と呼ぶ場合がある。
【0064】
また、同図には、横軸を時間として、トリガ信号TR、符号S、カウンタリセット信号CRST、及び出力信号OUTの時間的変化を示す。これらの信号は、1ビットのデジタル値である。トリガ信号TR、符号S、カウンタリセット信号CRST、及びイネーブル信号ENの詳細については、
図2を参照しながら既に説明しているため、説明を省略する。出力信号OUTは、画素値の読み出し時に出力される1ビットのデジタル信号である。出力信号OUTは、イメージセンサに備えられる複数の画素の読出し時に出力されるため、画素回路1のカウンタ値COUTが読み出されるか否かに関わらず、各周期において出力されるものである。出力信号OUTがHighレベルの時は、カウンタ値COUT、トリガ信号TR、符号Sの出力動作が行われていることを示す。なお、符号情報を必要としない場合、符号Sは省略して、トリガ信号TRのみ生成及び出力されることとしてもよい。
【0065】
まず、第1フレームについて説明する。時刻0において、カウンタリセット信号CRSTがONし、カウンタ値が0にリセットされる。また、カウンタ値が0にリセットされた後、イネーブル信号ENがONし、第1フレームの露光が行われる。具体的には、カウンタ部12により、フォトダイオード21に入射する光の量に応じたアップカウント動作が行われる。以下、フレーム周期をTと呼ぶ場合がある。
【0066】
時刻t1では、第1フレームの信号値がカウンタ部12に保持されており、全画素のカウンタ値COUTが出力される。具体的には、出力信号OUTがONし、カウンタ値が読み出される。各画素回路1からの出力は、たとえばXYアドレス方式等によりカウンタ部12を順次選択して読み出される。同様に、時刻t1では、カウンタ部12からメモリ部13に値が転送される。図示する一例において、圧縮率Nは4であるため、メモリ部13には、時刻t1にけるカウンタ値を4で割った値が転送される。換言すれば、メモリ部13に記憶された値をM、カウンタ部12に保持された値をCとすると、M=C/NとなるようなMが、メモリ部13に格納される。
【0067】
ここで、第2フレーム以降においては、前のフレームにおけるカウンタ値との差分に応じて、動作が異なる。図示する一例においては、第2フレーム及び第4フレームでは差分がある場合(より詳細には、差分が所定の閾値以上である場合)の一例について説明し、第3フレームでは差分がない場合(より詳細には、差分が所定の閾値より小さい場合)の一例について説明する。
【0068】
次に、第2フレームについて説明する。時刻t1において、カウンタリセット信号CRSTがONし、カウンタ値が再び0にリセットされる。また、カウンタ値が0にリセットされた後、イネーブル信号ENがONし、第2フレームの露光が行われる。第2フレーム以降は、フレーム周期のうち、1/N経過時(すなわちT/N経過時)に、トリガ信号発生部14による判定が行われる。トリガ信号発生部14による判定では、カウンタ部12に保持された値と、メモリ部13に記憶された値とが比較される。比較の結果、カウンタ部12に保持された値が、メモリ部13に記憶された値より大きければ符号Sは1となる。反対に、カウンタ部12に保持された値が、メモリ部13に記憶された値より小さければ符号Sは0となる。また、トリガ信号TRは、差分があったか否かを示すものである。トリガ信号発生部14による判定において、カウンタ部12に保持された値と、メモリ部13に記憶された値との絶対値が算出され、算出された値が閾値以上であればトリガ信号TRは1となり、閾値より小さければトリガ信号TRは0となる。判定に用いられる閾値は、どのくらいの光量差でイベント信号を発生するかの要求によって、設定されることとなる。
【0069】
ここで、第2フレームは差分がある場合の一例である。すなわち、時刻t2においては、トリガ信号TRが1となる。また、カウンタ部12に保持された値は、メモリ部13に記憶された値より小さいため、符号Sは0となる。この場合、カウンタ部12は、1フレーム分の蓄積を続け、第2フレーム終了時の時刻t3においてカウンタ値COUTを出力する。また、時刻t3において、M=C/NとなるようなMがメモリ部13に格納される。
【0070】
次に、第3フレームについて説明する。第3フレームは差分がない場合の一例である。すなわち、T/N経過時の時刻t4においてトリガ信号発生部14による判定が行われ、トリガ信号TRが0となる。この場合、カウンタ部12に保持されたカウンタ値の出力、及びメモリ部13に記憶されたメモリ値の更新をする必要はないと判断される。また、イネーブル端子ENがLowにセットされ、カウンタ部12のカウント動作が停止させられる。すなわち、カウンタ部12は、トリガ信号TRの発生の有無に応じて、カウント動作を停止するということもできる。カウンタ部12のカウント動作が停止させられることにより、消費電力を低減することができる。第3フレーム終了時の時刻t5においては、カウンタ値COUTが出力されず、メモリ値の更新も行われない。なお、カウンタ部12のカウント動作の停止は、イネーブル端子ENをLowに設定する他、カウンタ部12に供給する電力を遮断する方法(すなわち、パワーゲーティング)等が用いられてもよい。
【0071】
なお、図示する一例において、時刻t4から次の周期が始まる時刻t5にかけて、カウンタ部12には、時刻t4時の値が保持されている。しかしながらこの一例に限定されず、カウンタリセット信号CRSTをONすることにより、カウンタ値が0にリセットされてもよい。
【0072】
第4フレームは、第2フレームと同様に、差分がある場合の一例である。第4フレームについては、第2フレームと略同様の動作を行うため、同様の動作についての詳細な説明は省略する。第4フレームにおいては、カウンタ値の傾きが急峻である(すなわちフォトダイオード21に入射する光量が多い)点において第2フレームとは異なる。この場合、符号Sは1となる。
【0073】
なお、トリガ信号TRは、画素アレイの周辺又は画素内に備えられるアドレス生成回路(不図示)に送信され、トリガ信号TRが1であった画素のアドレス情報(XY座標)が符号Sとともに出力される。
【0074】
また、第1フレームにおいて出力信号OUTは、全画素出力することが好適である。第2フレーム以降においては、全画素出力するのではなく、トリガ信号TRが1であった画素の映像信号だけを読み出すことが好適である。ここで、各画素のカウンタ部12からの出力には、それぞれ一定の時間を要する。したがって、各画素のカウンタ部12からの出力時間がパルス出力の周期よりも長い場合には、図示するようにイネーブル信号ENをLowレベルに設定して、カウンタ部12の動作を停止しておくことが好適である。イネーブル信号ENをLowレベルに設定することにより、カウント値が変化してしまうのを防ぐことができる。
【0075】
また、図示する一例において、トリガ信号TRと符号Sとは、トリガ信号発生部14による判定の時刻(すなわち時刻t2、時刻t4、及び時刻t6)まで、その値を保持している。しかしながら本実施形態はこの一例に限定されず、トリガ信号TRと符号Sとは、出力信号OUTが出力される時点まで保持されていればよい。したがって、各フレームの最初、例えばカウンタリセット信号CRSTがONするタイミングで、トリガ信号TRと符号Sの値が0にリセットされてもよい。
【0076】
ここで、周期Tを圧縮率Nで割った時点において差分の判定ができるのは、周期Tの期間、光量が一定とみなせる場合となる。すなわち、光電流をI、信号電荷をQとすると、Q(t)=Itの関係がある場合となる。1フレーム期間の信号電荷Q(T)=I×Tに対して、T/Nの時間での信号電荷は、Q(T/N)=I×T/Nとなり、Q(T)の1/Nの大きさになるが、比較対象のメモリ値を1/N倍することにより、Nの値によらず、両者を互いに比較することができる。
【0077】
トリガ信号TRが1の場合、メモリ値の更新は、T/Nの時点でのカウンタ値をそのまま転送することによっても、映像信号を取得可能である。しかしながらS/N向上の観点から、露光時間をなるべく長くして(カウンタの値を大きくして)メモリの値を決めたほうが、より精度の高い映像信号を取得することが可能である。したがって、上述したように、フレーム期間終了時にメモリの値を更新することが望ましい。
【0078】
また、上述した説明では、第1フレームのみトリガ判定を行わず、全画素出力する方法について説明した。しかしながら本実施形態はこの一例に限定されず、第1フレームであっても、メモリ部13に何らかの初期値(たとえば0)を入力しておき、第2フレーム以降と同様に最初から差分判定を行ってもよい。
【0079】
[第1の実施形態のまとめ]
以上説明した実施形態によれば、信号処理装置10は、パルス信号取得部11と、カウンタ部12と、メモリ部13と、トリガ信号発生部14とを備える。パルス信号取得部11は、経時的に変化する1ビットのデジタル値を取得し、カウンタ部12は、パルス信号取得部11により取得された値に応じてカウント動作を行い、所定の周期(例えばフレームレートに応じた周期)でカウント値がリセットされ、メモリ部13は、カウンタ部12がリセットされる前の時点において保持する値を、N倍(Nは2以上の自然数)に圧縮して記憶し、トリガ信号発生部14は、カウンタ部12がリセットされる周期のうち、特定の時点において、カウンタ部12が保持する値と、メモリ部13に記憶された値とを互いに比較し、比較した結果が所定の閾値以上である場合にトリガ信号TRを発生させる。ここで、トリガ信号TRとは、カウント値に所定の変化があったことを示す差分信号である。また、信号処理装置10が画素回路1に適用される場合、カウンタ部12が保持する値とは、すなわち映像信号を示すデジタル値である。したがって、信号処理装置10によれば、映像信号と、映像信号に所定の変化があったことを示す差分信号とを、小さい回路規模で、複雑な演算を要しないで、取得することができる。よって、信号処理装置10によれば、映像信号と、映像信号に所定の変化があったことを示す差分信号とをデジタル値として容易に取得することができる。
【0080】
また、カウンタ部12は、トリガ信号TRの発生有無に応じてカウント動作を停止する。具体的には、カウンタ部12は、トリガ信号TRに基づき、前のフレームと差分が無いと判定された場合に、カウント動作を停止する。ここで、前のフレームと差分が無い場合には、前のフレームと同様のカウンタ値(映像信号)を用いることができるため、カウント動作をすることは、電力を消費することとなる。したがって、本実施形態によれば、信号処理装置10は、トリガ信号TRの発生有無に応じてカウント動作を停止するため、消費電力を抑止することができる。
【0081】
また、上述した実施形態によれば、差分の有無が判定される特定の時点とは、カウンタ部12がリセットされる周期(例えば1フレーム)のN分の1が経過した時点である。ここで、メモリ部13には、前のフレーム終了時においてカウンタ部12が保持していた値が記憶される。よって、本実施形態によれば、N分の1が経過した時点において、N分の1に圧縮されたカウンタ値と比較することにより、差分の有無を容易に判定することができる。
【0082】
なお、本実施形態によれば、差分の有無が判定される特定の時点とは、N分の1が経過した時点に限定されるものではない。例えば、N分の1が経過した時点ではない時点において差分の有無を判定することも可能である。N分の1が経過した時点ではない時点において差分の有無を判定する場合、メモリ部13に格納された値を操作することを要する場合がある。
【0083】
ここで、カウンタ部12に保持された値がメモリ部13に格納される場合に適用される圧縮率Nと、消費電力削減の効果は、対応関係を有する。すなわち、圧縮率Nを大きくするほど、より早い時点において差分の有無を判定することとなり、より早い時点においてカウンタ部12のカウント動作を停止することができるため、消費電力削減の効果も大きくなる。一方、圧縮率Nを小さくするほど、より遅い時点において差分の有無を判定することとなり、より遅い時点においてカウンタ部12のカウント動作を停止することとなるため、消費電力削減の効果も小さくなる。しかしながら、圧縮率Nを大きくし過ぎると、差分が無いと判定されたフレームの中で、判定後に差分が生じるような場合、すなわち1フレームの途中で光量が変化するような場合、誤判定をしてしまう可能性がある。更に、圧縮率Nを大きくし過ぎたことにより、差分判定までの時間が短くなると、ショットノイズ等の影響が生じる場合がある。
【0084】
このような誤判定を抑止し、ショットノイズ等の影響を軽減するため、好適な圧縮率Nに設定することが望まれる。好適な圧縮率Nとは、例えばフレームレートに応じて決定されることが好適である。例えば、フレームレートが大きい場合、すなわち1周期が短い場合、Nを小さく設定することが好適である。また、フレームレートが小さい場合、すなわち1周期が長い場合、Nを大きく設定することが好適である。また、圧縮率Nは、1周期をN分の1に圧縮した場合の時間に応じて決定されていてもよい。更に、1周期をN分の1に圧縮した場合の時間を所定の閾値と比較することにより、圧縮率Nの最大値が定められていてもよい。
【0085】
また、信号処理装置10が動画を撮影する撮影装置に用いられる場合、カウンタ部12の圧縮率Nは、動画の撮影モードに応じて決定されてもよい。例えば、撮影装置が、動きが多い被写体を撮影する第1撮影モードと、動きが少ない被写体を撮影する第2撮影モードとを有する場合、圧縮率Nは、第1撮影モード又は第2撮影モードのいずれであるかに応じて決定されてもよい。この場合、第1撮影モードの場合における圧縮率Nは、第2撮影モードの場合における圧縮率Nより小さいことが好適である。
【0086】
[第2の実施形態]
次に、
図5を参照しながら第2の実施形態について説明する。第2の実施形態においては、カウンタ部12及びメモリ部13の具体的な構成について説明する。第2の実施形態とは、第1の実施形態の具体的態様であるということもできる。
【0087】
図5は、第2の実施形態に係る画素回路の回路構成の一例を示す回路図である。同図を参照しながら、画素回路1Aの回路構成の一例について説明する。画素回路1Aは、光量検出装置20と、信号処理装置10Aとを備える。すなわち、画素回路1Aは、信号処理装置10に代えて信号処理装置10Aを備える点において、第1の実施形態とは異なる。画素回路1Aの説明において、画素回路1と同様の構成については、同様の符号を付すことにより説明を省略する場合がある。信号処理装置10は、パルス信号取得部11と、カウンタ部12Aと、メモリ部13Aと、トリガ信号発生部14とを備える。
【0088】
カウンタ部12Aは、所定の期間に入力されたパルス信号の数をカウントする非同期式のカウンタ回路を含む。当該カウンタ回路は、複数ビットのカウンタ素子を含んで構成される。同図を参照しながら、複数ビットのカウンタ素子の一例として、12ビットのカウンタ素子121乃至カウンタ素子1212を含む場合の一例について説明する。
【0089】
カウンタ部12Aは、既存の技術を使って任意に設計可能である。以下の説明では、一例として、カウンタ素子としてTフリップフロップ(T-FF)を用いる場合について説明する。なお、Dフリップフロップ等を用いて、Tフリップフロップの構成を実現してもよい。
【0090】
次に、複数ビットのカウンタ素子に共通する構成について説明する。カウンタ素子は、入力端子と、出力端子とを備える。入力端子には、前段からの出力信号が入力される。最下位ビットであるカウンタ素子121には、パルス信号取得部11により取得されたパルス信号が入力される。カウンタ素子間の接続において、入力端子には、それぞれ前段のカウンタ素子の出力信号が入力される。出力端子は、Tフリップフロップの非反転出力端子又は反転出力端子のいずれかの信号が出力される。出力端子は、入力端子に入力された信号を、次段のカウンタ素子に出力する。
【0091】
12ビットのカウンタ素子121乃至カウンタ素子1212のうち、最下位ビットであるカウンタ素子121は、イネーブル端子を備える。イネーブル端子には、1ビットのデジタル信号が入力される。イネーブル端子に入力される1ビットのデジタル信号は、入力信号が有効であるか否かを決定するものである。具体的には、カウンタ素子121は、イネーブル端子を備えることにより、入力される電圧レベルに応じて、入力端子の入力を有効又は無効に制御することができる。最下位ビットについての入力端子の入力を無効にすることにより、最下位ビットがカウント動作を行わなくなるため、カウンタ部12Aに備えられる他のカウンタ素子についても、カウント動作を無効化することができる。
【0092】
また、各カウンタ素子には、不図示のカウンタリセット信号CRSTが入力されてもよい。カウンタリセット信号CRSTがハイレベルの時には、各カウンタ素子のカウンタの値が初期値に設定され、ローレベルの時には、各カウンタ素子は通常のカウンタ動作を行う。
【0093】
なお、図示する一例においてカウンタ出力信号COUTは、最上位ビットであるカウンタ素子1212から出力されているが、実際の接続としては、各カウンタ素子から並列に出力されるものであってもよい。
【0094】
メモリ部13Aは、カウンタ部12Aから出力されたカウンタ値を記憶するメモリ回路を含む。当該メモリ回路は、複数ビットのメモリ素子を含んで構成される。同図を参照しながら、複数ビットのメモリ素子の一例として、10ビットのメモリ素子131乃至メモリ素子1310を含む場合の一例について説明する。
【0095】
メモリ部13Aは、既存の技術を使って任意に設計可能である。以下の説明では、一例として、カウンタ部12Aと同様に、メモリ素子としてTフリップフロップ(T-FF)を用いる場合について説明する。なお、Dフリップフロップ等を用いて、Tフリップフロップの構成を実現してもよい。
【0096】
メモリ素子の構成については、上述したカウンタ素子と同様であるため、説明を省略する。カウンタ部12Aからメモリ部13Aに値が転送される際は、値を1/4に圧縮するため、カウンタ部12Aの3ビット目から12ビット目が、メモリ部13Aの1ビット目から10ビット目にそれぞれ対応するように転送すればよい。
【0097】
また、トリガ信号発生部14による比較は、下位10ビット(1ビット目から10ビット目)により行えばよい。具体的には、カウンタ素子121乃至カウンタ素子1210と、メモリ素子131乃至メモリ素子1310とを互いに比較すればよい。たとえば4ビットを閾値値とする場合は、カウンタ部12Aが保持する値と、メモリ部13Aに記憶される値との絶対値を、上位ビットから順に見て、何ビット目に初めて1が現れるかを検出し、それが4ビット目以上であればトリガ信号TRを1とすればよい。
【0098】
図示するようにカウンタ部12A及びメモリ部13Aは、いずれも1ビットのカウンタ素子又はメモリ素子が複数直列接続されたものであるため、圧縮率Nの値が2のべき乗であれば、ビットをシフトするだけで転送や比較が容易になる。したがって、圧縮率Nは、2のべき乗であることが好適である。より好適には、圧縮率Nは、4又は8程度であることが好適である。圧縮率Nを4又は8程度とすることにより、ショットノイズの影響が低減され、更に消費電力低減の効果を得ることができる。
【0099】
[第2の実施形態のまとめ]
以上のような構成を採用することによって、映像信号と差分信号を出力することができる。映像信号及び差分信号は、いずれもデジタル信号であり、画素回路1Aは、インバータチェーンとカウンタ(1ビットカウンタの直列接続)という、比較的少ないトランジスタ数からなるシンプルな回路構成により、2種類のデジタル信号を出力することができる。また、光量とパルス数の関係は線形であり、撮影対象を反映した正確な映像情報及び差分情報を得ることができる。
【0100】
図1に示したような三次元構造を用いることにより、画素サイズの増大を防ぎ、高解像度な映像信号とイベント情報を出力するセンサを実現することができる。更に、用途に応じて、常時イベント情報だけを出力、イベント情報に加えて全画素の映像信号を出力、イベント情報と変化のあった映像信号だけを出力、又はこれらの複数のモードを切り替えながら撮影することもできる。本実施形態によれば、通常のカメラと比較して、イベント情報が出力されることにより、動き情報の検出が可能となる。また、本実施形態によれば、全画素の映像信号を出力するモード以外では、有効な情報を削減せずにデータを削減することができるようになる。
【0101】
[第3の実施形態]
次に、第3の実施形態について説明する。第3の実施形態に係る画素回路1Bは、画素回路1又は画素回路1Aの変形例である。
【0102】
図6は、第3の実施形態に係る画素回路の回路構成の一例を示す回路図である。同図を参照しながら、画素回路1Bの回路構成の一例について説明する。画素回路1Bは、光量検出装置20Bと、信号処理装置10とを備える。すなわち、画素回路1Bは、光量検出装置20に代えて光量検出装置20Bを備える点において、第1の実施形態及び第2の実施形態とは異なる。画素回路1Bの説明において、画素回路1又は画素回路1Aと同様の構成については、同様の符号を付すことにより説明を省略する場合がある。光量検出装置20Bは、埋め込みフォトダイオードを有する構成である点において、光量検出装置20とは異なる。光量検出装置20Bは、フォトダイオード21に代えて、埋め込みフォトダイオードであるフォトダイオード21Bを備え、更に転送トランジスタ24と、フローティングディフュージョン25とを備える。
【0103】
転送トランジスタ24は、埋め込みフォトダイオードであるフォトダイオード21Bと、インバータチェーン22との間に備えられる。フローティングディフュージョン25は、転送トランジスタ24と、インバータチェーン22との間に備えられる。転送トランジスタ24は、不図示の制御部により制御され、フォトダイオード21Bにより生成された電荷をフローティングディフュージョン25に転送する。すなわち、転送トランジスタ24は、フォトダイオード21BとA/D変換部としてのインバータチェーン22との間における電流の導通を制御するものである。フローティングディフュージョン25は、フォトダイオード21Bにより生成された電荷を蓄積する。
【0104】
[第4の実施形態]
次に、第4の実施形態について説明する。
図7は、第4の実施形態に係る画素回路の回路構成の一例を示す回路図である。同図を参照しながら、検出回路1Cについて説明する。第4の実施形態に係る検出回路1Cは、画素回路1、画素回路1A又は画素回路1Bの変形例である。検出回路1Cは、フォトダイオード21に代えて、検出センサ21Cを備える点において、画素回路1とは異なる。検出センサ21Cは、特定の物理量を電流値に変換するものである。検出センサ21Cは、特定の物理量の変化を連続的に検出する。すなわち、検出センサ21Cとは、特定の物理量の時間的変動をとらえるセンサである。検出回路1Cは、このような検出センサ21Cを採用する検出装置や、計測装置についても適用することができる。また、検出回路1Cは、広くロジック回路、駆動回路、通信回路、記録素子、ディスプレイ、アクチュエータ等にも応用することができる。
【0105】
本明細書に記載された効果は、あくまで説明的または例示的なものであって限定的ではない。つまり、本開示に係る技術は、上記の効果とともに、または上記の効果に代えて、本明細書の記載から当業者には明らかな他の効果を奏しうる。また、本発明はこうした実施形態に何ら限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内において種々の変形及び置換を加えることができる。
【符号の説明】
【0106】
5 固体撮像素子
1 画素回路
10 信号処理装置
11 パルス信号取得部
12 カウンタ部
13 メモリ部
14 トリガ信号発生部
TR トリガ信号
S 符号
20 光量検出装置
21 フォトダイオード
22 インバータチェーン
23 リセットトランジスタ