特開2024-173135分光測定装置およびその調整方法

発明の名称　分光測定装置およびその調整方法

出願人　株式会社日立ハイテクノロジーズ　（識別番号 501387839）

　　　　特許公開件数ランキング 221 位（145件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 78 位（300件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2024-173135

公報発行日　2024年12月12

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2024-173135

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