特開2024-35180荷電粒子顕微鏡デバイスのアプリケーション管理

発明の名称　荷電粒子顕微鏡デバイスのアプリケーション管理

出願人　エフ　イー　アイ　カンパニ　（識別番号 501233536）

　　　　特許公開件数ランキング 459 位（58件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 578 位（36件）（共同出願を含む）

公報番号　特開-2024-35180

公報発行日　2024年3月13

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2024-35180

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