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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】公開特許公報(A)
(11)【公開番号】P2024052449
(43)【公開日】2024-04-11
(54)【発明の名称】偏光画像取得装置及び熱分析装置
(51)【国際特許分類】
G01N 25/20 20060101AFI20240404BHJP
G02B 21/30 20060101ALI20240404BHJP
【ＦＩ】
G01N25/20 F
G02B21/30
【審査請求】未請求
【請求項の数】5
【出願形態】ＯＬ
(21)【出願番号】P 2022159164
(22)【出願日】2022-10-01
(71)【出願人】
【識別番号】503460323
【氏名又は名称】株式会社日立ハイテクサイエンス
(74)【代理人】
【識別番号】100113022
【弁理士】
【氏名又は名称】赤尾 謙一郎
(74)【代理人】
【氏名又は名称】下田 昭
(72)【発明者】
【氏名】藤原 寛仁
(72)【発明者】
【氏名】山崎 緑平
【テーマコード（参考）】
2G040
2H052
【Ｆターム（参考）】
2G040AA02
2G040AB12
2G040BA02
2G040BA25
2G040CA02
2G040CA05
2G040CA12
2G040CA23
2G040DA03
2G040EA02
2G040FA10
2G040HA01
2G040ZA01
2H052AA01
2H052AC04
2H052AE13
2H052AF14
(57)【要約】
【課題】熱分析装置内の測定試料又は参照試料の偏光画像を取得できる偏光画像取得装置を提供する。
【解決手段】一対の試料容器と加熱炉とを備え、加熱炉は窓又は開口部を有し、該窓又は開口部を介して少なくとも測定試料を観察可能な熱分析装置に取り付けられる偏光画像取得装置であって、取付部と、光源と、光源からの照射光を偏光する偏光フィルタをなすポラライザと、カメラと、ハーフミラーと、前記ポラライザを透過した偏光が前記ハーフミラーから前記窓又は開口部を介して前記測定試料又は前記参照試料を照射し、その反射光を前記ハーフミラーを介して偏光して前記カメラに入光させる偏光フィルタをなすアナライザと、を有し、前記ポラライザ、前記アナライザ、前記ハーフミラー及び前記光源が固定部材に固定されて光学ユニットを構成し、前記アナライザを偏光させる向きに前記固定部材を回転させる回転機構をさらに有することを特徴とする。
【選択図】図４
【解決手段】一対の試料容器と加熱炉とを備え、加熱炉は窓又は開口部を有し、該窓又は開口部を介して少なくとも測定試料を観察可能な熱分析装置に取り付けられる偏光画像取得装置であって、取付部と、光源と、光源からの照射光を偏光する偏光フィルタをなすポラライザと、カメラと、ハーフミラーと、前記ポラライザを透過した偏光が前記ハーフミラーから前記窓又は開口部を介して前記測定試料又は前記参照試料を照射し、その反射光を前記ハーフミラーを介して偏光して前記カメラに入光させる偏光フィルタをなすアナライザと、を有し、前記ポラライザ、前記アナライザ、前記ハーフミラー及び前記光源が固定部材に固定されて光学ユニットを構成し、前記アナライザを偏光させる向きに前記固定部材を回転させる回転機構をさらに有することを特徴とする。
【選択図】図４
【特許請求の範囲】
【請求項1】
測定試料及び参照試料をそれぞれ収容する一対の試料容器と、前記試料容器を外側から取り囲む加熱炉とを備え、前記加熱炉は窓又は開口部を有し、該窓又は開口部を介して少なくとも前記測定試料を観察可能な熱分析装置に取り付けられる偏光画像取得装置であって、
前記熱分析装置に取り付けられる取付部と、
光源と、
前記光源からの照射光を偏光する偏光フィルタをなすポラライザと、
カメラと、
ハーフミラーと、
前記ポラライザを透過した偏光が前記ハーフミラーから前記窓又は開口部を介して前記測定試料又は前記参照試料を照射し、その反射光を前記ハーフミラーを介して偏光して前記カメラに入光させる偏光フィルタをなすアナライザと、
を有し、
前記ポラライザ、前記アナライザ、前記ハーフミラー及び前記光源が固定部材に固定されて光学ユニットを構成し、
前記アナライザを偏光させる向きに前記固定部材を回転させる回転機構をさらに有することを特徴とする偏光画像取得装置。
前記熱分析装置に取り付けられる取付部と、
光源と、
前記光源からの照射光を偏光する偏光フィルタをなすポラライザと、
カメラと、
ハーフミラーと、
前記ポラライザを透過した偏光が前記ハーフミラーから前記窓又は開口部を介して前記測定試料又は前記参照試料を照射し、その反射光を前記ハーフミラーを介して偏光して前記カメラに入光させる偏光フィルタをなすアナライザと、
を有し、
前記ポラライザ、前記アナライザ、前記ハーフミラー及び前記光源が固定部材に固定されて光学ユニットを構成し、
前記アナライザを偏光させる向きに前記固定部材を回転させる回転機構をさらに有することを特徴とする偏光画像取得装置。
【請求項2】
前記ハーフミラーがキューブ型ビームスプリッタであることを特徴とする請求項１記載の偏光画像取得装置。
【請求項3】
前記固定部材は、少なくとも前記ハーフミラーの光軸を調整する調整部材を有することを特徴とする請求項１又は２記載の偏光画像取得装置。
【請求項4】
前記ポラライザ及び前記アナライザを相対的に回転可能であることを特徴とする請求項１又は２記載の偏光画像取得装置。
【請求項5】
請求項１又２は記載の偏光画像取得装置を有することを特徴とする熱分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、試料の熱的挙動の測定を行う熱分析装置に取り付けられ、試料の偏光画像を取得する偏光画像取得装置、及び熱分析装置に関する。
【背景技術】
【0002】
従来から、試料の温度特性を評価する手法として、試料を加熱し、温度変化に伴う測定試料の熱的挙動（物理的変化）を測定する熱分析といわれる手法が行われている。熱分析は、JIS K 0129:2005 "熱分析通則"に定義されており、測定対象（測定試料）の温度をプログラム制御させた時の、測定試料の物理的性質を測定する手法が全て熱分析とされる。一般的に用いられる熱分析は、(1)温度（温度差）を検出する示差熱分析(DTA)、(2)熱流差を検出する示差走査熱量測定(DSC)、(3)質量（重量変化）を検出する熱重量測定(TG)、(4)力学的特性を検出する熱機械分析(TMA)、及び(5)動的粘弾性測定(DMA)の5つの方法がある。
【0003】
又、近年、熱分析の際の試料の状態を観察したいという要望があり、試料を覆うカバーや加熱炉に窓や開口部を設け、この窓や開口部を介して試料を観察可能とした熱分析装置が知られている（例えば、特許文献１～３参照）。
特許文献１の熱分析装置は熱流束型の示差走査熱量計（ＤＳＣ）であり、測定試料及び基準物質のホルダーを、熱抵抗を介してヒートシンクに設置し、測定試料と基準物質との温度差を温度の関数として測定するものである。ヒートシンクと各ホルダー間には熱抵抗を介して熱流が生じ、これらの熱流差が上記した温度差に比例することになる。そして、この温度差を熱電対等で検出することにより、ＤＳＣ信号として出力する。
この示差走査熱量計は、加熱炉の開口部分を覆うカバーの一部に透明材料からなる窓を設けるタイプである。
特許文献１の熱分析装置は熱流束型の示差走査熱量計（ＤＳＣ）であり、測定試料及び基準物質のホルダーを、熱抵抗を介してヒートシンクに設置し、測定試料と基準物質との温度差を温度の関数として測定するものである。ヒートシンクと各ホルダー間には熱抵抗を介して熱流が生じ、これらの熱流差が上記した温度差に比例することになる。そして、この温度差を熱電対等で検出することにより、ＤＳＣ信号として出力する。
この示差走査熱量計は、加熱炉の開口部分を覆うカバーの一部に透明材料からなる窓を設けるタイプである。
【0004】
特許文献２、３の熱分析装置は透明材料からなるファーナスチューブに一対の試料ホルダを内包し、加熱炉を前進させてファーナスチューブを露出させた部分を開口部としたり、加熱炉自体に開口部を設けるタイプである。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0005】
【特許文献1】特開平８－３２７５７３号公報
【特許文献2】特許５７９２６６０号公報
【特許文献3】特許６０６１８３６号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0006】
ところで、上述した窓や開口部を介して、熱分析中の試料を観察、撮像する場合に偏光画像を取得したい場合がある。このような偏光画像を観察するものとしてはいわゆる偏光顕微鏡が知られている。この偏光顕微鏡による観察法として、光源からの光をポラライザで直線偏光して試料に照射し、その反射光をアナライザを通して観察するクロスニコルが使用されている。
そして、偏光顕微鏡を使用する際には、ポラライザの回転位置を所定の位置に合わせ、試料ステージを回転させながら観察することで、試料の偏光画像が得られる。なお、アナライザは抜き差し式で回転できない。
そして、偏光顕微鏡を使用する際には、ポラライザの回転位置を所定の位置に合わせ、試料ステージを回転させながら観察することで、試料の偏光画像が得られる。なお、アナライザは抜き差し式で回転できない。
【0007】
しかしながら、熱分析装置の試料の偏光画像を観察したい場合に、試料、ひいては試料ホルダを回転させることは原理上及び装置の制約上、極めて困難であり、偏光顕微鏡をそのまま利用して試料の偏光画像を観察することができなかった。
【0008】
本発明は上記の課題を解決するためになされたものであり、熱分析装置内の測定試料又は参照試料の偏光画像を取得できる偏光画像取得装置及び熱分析装置の提供を目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0009】
上記の目的を達成するために、本発明の偏光画像取得装置は、測定試料及び参照試料をそれぞれ収容する一対の試料容器と、前記試料容器を外側から取り囲む加熱炉とを備え、前記加熱炉は窓又は開口部を有し、該窓又は開口部を介して少なくとも前記測定試料を観察可能な熱分析装置に取り付けられる偏光画像取得装置であって、前記熱分析装置に取り付けられる取付部と、光源と、前記光源からの照射光を偏光する偏光フィルタをなすポラライザと、カメラと、ハーフミラーと、前記ポラライザを透過した偏光が前記ハーフミラーから前記窓又は開口部を介して前記測定試料又は前記参照試料を照射し、その反射光を前記ハーフミラーを介して偏光して前記カメラに入光させる偏光フィルタをなすアナライザと、を有し、前記ポラライザ、前記アナライザ、前記ハーフミラー及び前記光源が固定部材に固定されて光学ユニットを構成し、前記アナライザを偏光させる向きに前記固定部材を回転させる回転機構をさらに有することを特徴とする。
【0010】
この偏光画像取得装置によれば、ポラライザの第１光路とアナライザの第２光路とがハーフミラーを介して平行でないので、ポラライザ及びアナライザを含む偏光画像取得装置を熱分析装置の窓又は開口部の外側に配置して、窓又は開口部の内部をカメラにて観察、撮像することができる。これに対し、第１光路と第２光路とが平行であると、熱分析装置の窓又は開口部の外側に配置して窓又は開口部の内部を観察することが不可能となる。
又、固定部材を回転させることでアナライザが回転可能であるので、熱分析装置の試料（試料ホルダ）を回転させることが原理上困難であっても、アナライザを適宜回転させることにより、窓又は開口部を介して熱分析装置内の測定試料又は参照試料の偏光画像を取得できる。
又、固定部材を回転させることでアナライザが回転可能であるので、熱分析装置の試料（試料ホルダ）を回転させることが原理上困難であっても、アナライザを適宜回転させることにより、窓又は開口部を介して熱分析装置内の測定試料又は参照試料の偏光画像を取得できる。
【0011】
さらに、アナライザのみを回転させて偏光させ、ポラライザ、ハーフミラー及び光源の相対位置を変化させない（これらは固定部材上で相対位置を保ったまま一体として回転する）ことで、観察画像の光量の変動を抑制できる。
これは、入射光に対し、仮にポラライザを回転させて偏光させて（偏光方向を変えて）ハーフミラーに導入すると、ハーフミラーに導入される光の偏光方向によって、ハーフミラーからの透過率が変化する特性があるためである。そして、入射光の偏光方向に対して透過率/反射率が変動すると、最終的にカメラで観察する偏光画像の光量が変動することになるからである。
これは、入射光に対し、仮にポラライザを回転させて偏光させて（偏光方向を変えて）ハーフミラーに導入すると、ハーフミラーに導入される光の偏光方向によって、ハーフミラーからの透過率が変化する特性があるためである。そして、入射光の偏光方向に対して透過率/反射率が変動すると、最終的にカメラで観察する偏光画像の光量が変動することになるからである。
【0012】
本発明の偏光画像取得装置において、前記ハーフミラーがキューブ型ビームスプリッタであってもよい。
ハーフミラーとしてプレート型ビームスプリッタを用いると、厚みがあるために透過光が屈折し、光路（位置）がズレてしまう。このため、固定部材の回転に伴ってプレート型ビームスプリッタが回転するにつれ、観察像Ｍ１が円を描くように偏心して移動してしまい、観察し難い場合がある。
そこで２個のプリズムの一方の斜面に光学薄膜を蒸着して合わせた構造であるキューブ型ビームスプリッタを用いると、ビームスプリッタとして機能する薄膜の厚みが極めて薄くなり、上述のプレート型ビームスプリッタのような透過光の屈折を防止し、光路（位置）のズレをほぼ無くすことができる。これにより、ポラライザを回転させて偏光させた際、観察像が偏心して移動してすることを抑制し、観察し易くなる。
ハーフミラーとしてプレート型ビームスプリッタを用いると、厚みがあるために透過光が屈折し、光路（位置）がズレてしまう。このため、固定部材の回転に伴ってプレート型ビームスプリッタが回転するにつれ、観察像Ｍ１が円を描くように偏心して移動してしまい、観察し難い場合がある。
そこで２個のプリズムの一方の斜面に光学薄膜を蒸着して合わせた構造であるキューブ型ビームスプリッタを用いると、ビームスプリッタとして機能する薄膜の厚みが極めて薄くなり、上述のプレート型ビームスプリッタのような透過光の屈折を防止し、光路（位置）のズレをほぼ無くすことができる。これにより、ポラライザを回転させて偏光させた際、観察像が偏心して移動してすることを抑制し、観察し易くなる。
【0013】
本発明の偏光画像取得装置において、前記固定部材は、少なくとも前記ハーフミラーの光軸を調整する調整部材を有してもよい。
この偏光画像取得装置によれば、固定部材を回転させたときのアナライザの光軸のズレ（傾き）、ひいては光軸の傾きによって生じる偏心移動を補正できる。
なお、ハーフミラーに加え、アナライザおよびこれらをマウントする固定部材の光軸（の傾き）を調整してもよい。
この偏光画像取得装置によれば、固定部材を回転させたときのアナライザの光軸のズレ（傾き）、ひいては光軸の傾きによって生じる偏心移動を補正できる。
なお、ハーフミラーに加え、アナライザおよびこれらをマウントする固定部材の光軸（の傾き）を調整してもよい。
【0014】
本発明の偏光画像取得装置において、前記ポラライザ及び前記アナライザを相対的に回転可能であってもよい。
この偏光画像取得装置によれば、ポラライザ及びアナライザの面方向の相対的な角度を調整し、偏光の効き具合を調整することができる。
この偏光画像取得装置によれば、ポラライザ及びアナライザの面方向の相対的な角度を調整し、偏光の効き具合を調整することができる。
【0015】
本発明の熱分析装置は、前記偏光画像取得装置を有することを特徴とする。
【発明の効果】
【0016】
本発明によれば、熱分析装置内の測定試料又は参照試料の偏光画像を取得できる。
【図面の簡単な説明】
【0017】
【図1】本発明の実施形態に係る偏光画像取得装置が取付けられる熱分析装置の一例の構成を示す斜視図である。
【図3】本発明の実施形態に係る偏光画像取得装置が取り付けられる熱分析装置である、示差走査熱量計（ＤＳＣ）を示す斜視図である。
【図5】偏光画像取得装置における光学ユニットを示す正面図である。
【図6】固定部材及び回転機構を示す上面斜視図である。
【図7】入射光に対してポラライザを回転させて偏光させ、ハーフミラーに導入したと仮定したときの構成を示す模式図である。
【図8】ハーフミラーに導入される光の偏光方向によって、ハーフミラーからの透過率が変化することを示す模式図である。
【図9】ハーフミラーとしてプレート型ビームスプリッタを用いたときの固定部材の回転による光路のズレを示す模式図である。
【図10】プレート型ビームスプリッタを回転させて偏光させたとき、観察像が偏心して移動する状態を示す模式図である。
【図11】本発明の実施形態に係る偏光画像取得装置が取付けられる熱分析装置である、熱重量測定(ＴＧ)装置の構成を示す断面図である。
【図13】ハーフミラーと光源の相対位置を定める方法を示す模式図である。
【図14】ハーフミラーと光源の相対位置が不適切な場合の不具合を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0018】
以下、本発明の実施形態について、図面を参照して説明する。
まず、図３，図４を参照し、熱分析装置１００である示差走査熱量計(DSC)について説明する。
熱分析装置１００は、加熱炉１０１の上蓋１１１全体を透明部材として窓としたこと以外は、従来の示差走査熱量計と同様の構成を有する。
具体的には、熱分析装置１００は、加熱炉１０１の内部に配置されて測定試料Ｓ１、参照試料Ｓ２をそれぞれ収納する試料容器５１、５２と、試料容器５１、５２と加熱炉１０１との間に接続されてこれらの間に熱流路を形成する熱抵抗体１１４と、測定試料側熱電対１０７と、参照試料側熱電対１０８と、を備えている。
加熱炉１０１の外周には巻線状のヒータ１０３が巻回されて加熱炉１０１を加熱する。
まず、図３，図４を参照し、熱分析装置１００である示差走査熱量計(DSC)について説明する。
熱分析装置１００は、加熱炉１０１の上蓋１１１全体を透明部材として窓としたこと以外は、従来の示差走査熱量計と同様の構成を有する。
具体的には、熱分析装置１００は、加熱炉１０１の内部に配置されて測定試料Ｓ１、参照試料Ｓ２をそれぞれ収納する試料容器５１、５２と、試料容器５１、５２と加熱炉１０１との間に接続されてこれらの間に熱流路を形成する熱抵抗体１１４と、測定試料側熱電対１０７と、参照試料側熱電対１０８と、を備えている。
加熱炉１０１の外周には巻線状のヒータ１０３が巻回されて加熱炉１０１を加熱する。
【0019】
加熱炉１０１は円筒状に形成され、軸方向に沿う断面がＨ字状になっている。そして、軸方向の中央から径方向内側に突出する環状突起の上方に略二重円板状の熱プレート１０５が載置されている。
さらに、熱プレート１０５の上面に、２つの熱抵抗体１１４を介してそれぞれ試料容器５１、５２が載置されている。
さらに、熱プレート１０５の上面に、２つの熱抵抗体１１４を介してそれぞれ試料容器５１、５２が載置されている。
【0020】
又、加熱炉１０１の上端開口には上蓋１１１が着脱可能に載置され、加熱炉１０１内部を外気から遮断している。
さらに、上蓋１１１全体が石英ガラス製の透明部材であるので、上蓋１１１が窓を形成し、この窓を通して加熱炉１０１内の試料容器５１、５２、ひいては測定試料Ｓ１、参照試料Ｓ２を観察可能である。
さらに、上蓋１１１全体が石英ガラス製の透明部材であるので、上蓋１１１が窓を形成し、この窓を通して加熱炉１０１内の試料容器５１、５２、ひいては測定試料Ｓ１、参照試料Ｓ２を観察可能である。
【0021】
測定試料側熱電対１０７と、参照試料側熱電対１０８は熱抵抗体１１４、熱プレート１０５を貫通し、それぞれの先端が試料容器５１、５２の下面にロウ付け等によって接続されている。一方、測定試料側熱電対１０７と参照試料側熱電対１０８の他端が加熱炉１０１の下方に引き出され、信号処理回路をなす増幅器１２４に接続されている。
このようにして、測定試料側熱電対１０７と、参照試料側熱電対１０８は、いわゆる示差熱電対を形成し、測定試料Ｓ１、参照試料Ｓ２の温度差を検知できるようになっている。この温度差が熱流差信号として記録される。一方、測定試料側熱電対１０７から測定試料の温度が記録される。
このようにして、測定試料側熱電対１０７と、参照試料側熱電対１０８は、いわゆる示差熱電対を形成し、測定試料Ｓ１、参照試料Ｓ２の温度差を検知できるようになっている。この温度差が熱流差信号として記録される。一方、測定試料側熱電対１０７から測定試料の温度が記録される。
【0022】
そして、図１に示すように、熱分析装置１００の全体がケーシング１０２の内部に設置されている。さらに、ケーシング１０２のうち、窓（上蓋）１１１の直上位置が矩形に開口しており、そのケーシング開口１０４における図１の左右方向の２辺には、偏光画像取得装置２００を設置及び移動させるためのレール１６１が取り付けられている。
【0023】
次に、図２、図４を参照し、本発明の実施形態に係る偏光画像取得装置２００について説明する。
図２に示すように、偏光画像取得装置２００は、熱分析装置１００に取り付けられる取付部２０２と、カバー２０４、２０６と、後述する回転ツマミ２３０とを有する。取付部２０２の全体は矩形の箱状になっており、図４に示すように、取付部２０２の裏面には、レール１６１と共にリニアガイド１６０を構成するブロック１６２が設置されている。従って、熱分析装置１００側のレール１６１に沿って、ブロック１６２が移動することで偏光画像取得装置２００が進退可能になっている。
なお、リニアガイド１６０は公知であり、ブロック１６２に設けられた転がり軸受がレール１６１に対して滑らかに動く。リニアガイド１６０としては、例えばＬＭガイド（登録商標）が挙げられる。又、偏光画像取得装置２００を進退させる機構はリニアガイドに限定されず、公知の種々のアクチュエータを使用できる。
図２に示すように、偏光画像取得装置２００は、熱分析装置１００に取り付けられる取付部２０２と、カバー２０４、２０６と、後述する回転ツマミ２３０とを有する。取付部２０２の全体は矩形の箱状になっており、図４に示すように、取付部２０２の裏面には、レール１６１と共にリニアガイド１６０を構成するブロック１６２が設置されている。従って、熱分析装置１００側のレール１６１に沿って、ブロック１６２が移動することで偏光画像取得装置２００が進退可能になっている。
なお、リニアガイド１６０は公知であり、ブロック１６２に設けられた転がり軸受がレール１６１に対して滑らかに動く。リニアガイド１６０としては、例えばＬＭガイド（登録商標）が挙げられる。又、偏光画像取得装置２００を進退させる機構はリニアガイドに限定されず、公知の種々のアクチュエータを使用できる。
【0024】
そして、図１の退避位置では、熱分析装置１００に対して偏光画像取得装置２００が最も離間し、ケーシング開口１０４及びケーシング開口１０４の内側の熱分析装置１００の上蓋（窓）１１１が露出している。
一方、図２の測定位置では、熱分析装置１００に対して偏光画像取得装置２００が近接し、上蓋（窓）１１１の直上に偏光画像取得装置２００が配置される。
一方、図２の測定位置では、熱分析装置１００に対して偏光画像取得装置２００が近接し、上蓋（窓）１１１の直上に偏光画像取得装置２００が配置される。
【0025】
図４に示すように、偏光画像取得装置２００はさらに、ＬＥＤ等の光源２１０と、光源からの照射光を偏光する偏光フィルタをなすポラライザ２１２と、ハーフミラー（キューブ型ビームスプリッタ）２１５と、ＣＣＤカメラ等のカメラ２２０と、ポラライザ２１２を透過した偏光がハーフミラー２１５から上蓋（窓）１１１を介して測定試料Ｓ１又は参照試料Ｓ２を照射し、その反射光をハーフミラー２１５を介して偏光してカメラ２２０に入光させる偏光フィルタをなすアナライザ２２２と、を有する。
さらに、取付部２０２の上面にはプーリー２４２が配置されプーリー２４２の上側に固定部材２６０が取り付けられている。
さらに、取付部２０２の上面にはプーリー２４２が配置されプーリー２４２の上側に固定部材２６０が取り付けられている。
【0026】
また、カメラ２２０はアナライザ２２２を上面から覆うようにベース２０８上に垂直方向に取り付けられている。なお、カメラ２２０とアナライザ２２２との間にはレンズ群２１９が配置され、アナライザ２２２から上方に出射された偏光がレンズ群２１９で適切にピント等を合わされてカメラ２２０に収束するようになっている。
また、固定部材２６０を囲むように４本の支柱２７０が取付部２０２の上面に取り付けられ、支柱２７０の上にはベース２０８が固定されている。さらに、４本の支柱２７２がベース２０８の上面に取り付けられ、支柱２７２の上にはレンズ群２１９及びカメラ２２０が固定されている。
また、固定部材２６０を囲むように４本の支柱２７０が取付部２０２の上面に取り付けられ、支柱２７０の上にはベース２０８が固定されている。さらに、４本の支柱２７２がベース２０８の上面に取り付けられ、支柱２７２の上にはレンズ群２１９及びカメラ２２０が固定されている。
【0027】
図５に示すように、ポラライザ２１２、アナライザ２２２、ハーフミラー２１５及び光源２１０は固定部材２６０の上に固定されており、これらの間の相対位置が一定に保たれた光学ユニットを構成する。
なお、「相対位置が一定に保たれる」とは、上記した光学ユニットの物理的な位置が変化しないという意味であり、ポラライザ２１２及びアナライザ２２２を面方向に回転させて偏光状態を変化させる場合も「相対位置が一定に保たれる」に含む。
また、ポラライザ２１２とアナライザ２２２の相対位置は一定に保たれるが、アナライザとポラライザの相対角度を調整することができる。このポラライザ２１２及びアナライザ２２２の回転については後述する。
なお、「相対位置が一定に保たれる」とは、上記した光学ユニットの物理的な位置が変化しないという意味であり、ポラライザ２１２及びアナライザ２２２を面方向に回転させて偏光状態を変化させる場合も「相対位置が一定に保たれる」に含む。
また、ポラライザ２１２とアナライザ２２２の相対位置は一定に保たれるが、アナライザとポラライザの相対角度を調整することができる。このポラライザ２１２及びアナライザ２２２の回転については後述する。
【0028】
固定部材２６０は、２枚の回転盤２６１、２６２、調整ネジ２６３、固定パネル２６５及び回転軸２６７を有している。
２枚の回転盤２６１、２６２は軸心ＡＸと同軸に配置され、回転盤２６１が上面側に位置する。そして回転盤２６１、２６２の軸方向に平行に、かつ回転盤２６１、２６２の周縁に沿って複数の調整ネジ２６３がネジ止めされている。一方、回転盤２６２の下方には回転軸２６７が軸心ＡＸと同軸に取り付けられ、回転軸２６７の外周に沿ってプーリー２４２が配置されている。
そして、調整ネジ２６３の締め付け深さを調整することで、回転盤２６２に対して回転盤２６１が面方向に傾き、回転盤２６１の回転軸２６７からの傾き（ズレ）を補正できるようになっている。これにより、固定部材２６０を回転させたときのハーフミラー２１５の光軸のズレを少なくとも補正できる。調整ネジ２６３が特許請求の範囲の「調整部材」に相当する。
２枚の回転盤２６１、２６２は軸心ＡＸと同軸に配置され、回転盤２６１が上面側に位置する。そして回転盤２６１、２６２の軸方向に平行に、かつ回転盤２６１、２６２の周縁に沿って複数の調整ネジ２６３がネジ止めされている。一方、回転盤２６２の下方には回転軸２６７が軸心ＡＸと同軸に取り付けられ、回転軸２６７の外周に沿ってプーリー２４２が配置されている。
そして、調整ネジ２６３の締め付け深さを調整することで、回転盤２６２に対して回転盤２６１が面方向に傾き、回転盤２６１の回転軸２６７からの傾き（ズレ）を補正できるようになっている。これにより、固定部材２６０を回転させたときのハーフミラー２１５の光軸のズレを少なくとも補正できる。調整ネジ２６３が特許請求の範囲の「調整部材」に相当する。
【0029】
これにより、固定部材を回転させたときのアナライザの光軸のズレ（傾き）、ひいては光軸の傾きによって生じる偏心移動を補正できる。
【0030】
光源２１０は回転盤２６１の右側上面に固定され、側方に光を照射するようになっている。又、ポラライザ２１２は光源２１０の照射側における回転盤２６１の上面に取り付けられている。そして、ハーフミラー２１５が回転盤２６１の上面に取り付けられ、ポラライザ２１２からの偏光を下方に向けて測定試料Ｓ１又は参照試料Ｓ２を照射する。
回転盤２６１の上面には固定パネル２６５が立設され、アナライザ２２２は固定パネル２６５に取り付けられ、ハーフミラー２１５の上方に配置される。アナライザ２２２の光軸が固定部材２６０の軸心ＡＸに合わせて配置されている。
回転盤２６１の上面には固定パネル２６５が立設され、アナライザ２２２は固定パネル２６５に取り付けられ、ハーフミラー２１５の上方に配置される。アナライザ２２２の光軸が固定部材２６０の軸心ＡＸに合わせて配置されている。
【0031】
なお、図１３に示すように、光源２１０からポラライザ２１２を通った光Ｌ１がハーフミラー２１５を介して下方に反射した反射光Ｌ２の光中心ＣＸが、回転盤２６１の軸心ＡＸに一致するよう、回転盤２６１上のハーフミラー２１５と光源２１０の相対位置を定める必要がある。
例えば、図１３の左と右は光中心ＣＸが軸心ＡＸに一致するが（完全一致とするとＣＸとＡＸが区別できないので、作図上ＣＸを少しずらしている）、中央は両者が一致しない。なお、図１３の右は、左に比べて光源２１０が上の位置にある場合を示す。
また、光中心とは、大きさのある光源の中心とみなせる点である。
例えば、図１３の左と右は光中心ＣＸが軸心ＡＸに一致するが（完全一致とするとＣＸとＡＸが区別できないので、作図上ＣＸを少しずらしている）、中央は両者が一致しない。なお、図１３の右は、左に比べて光源２１０が上の位置にある場合を示す。
また、光中心とは、大きさのある光源の中心とみなせる点である。
【0032】
図１３のように定める理由は、仮に図１３の中央のようにＣＸとＡＸがズレていると、図１４に示すように、回転盤２６１を回転させた時にサンプルへの光の照射密度が変動するからである。例えば図１４の左側の回転前はサンプルの右側が明るくなるのに対し、図１４の右側の回転後はサンプルの左側が明るくなり、観察がしにくくなる。
【0033】
ここで、ポラライザ２１２の第１光路（光軸）Ｃ１は水平方向であり、アナライザ２２２の第２光路（光軸）Ｃ２は垂直方向であり、Ｃ１とＣ２は平行でなく所定の角度θ（図５ではθ＝９０度）をなしている。
そして、ポラライザ２１２を透過して第１光路（光軸）Ｃ１に沿って側方に進んだ偏光は、ハーフミラー２１５により反射して９０度下方に進んで測定試料Ｓ１又は参照試料Ｓ２を照射し、その反射光がハーフミラー２１５を透過して第２光路（光軸）Ｃ２に沿って上方に進んでアナライザ２２２に入光し、アナライザ２２２で偏光されてカメラ２２０に入射するようになっている。
そして、ポラライザ２１２を透過して第１光路（光軸）Ｃ１に沿って側方に進んだ偏光は、ハーフミラー２１５により反射して９０度下方に進んで測定試料Ｓ１又は参照試料Ｓ２を照射し、その反射光がハーフミラー２１５を透過して第２光路（光軸）Ｃ２に沿って上方に進んでアナライザ２２２に入光し、アナライザ２２２で偏光されてカメラ２２０に入射するようになっている。
【0034】
一方、プーリー２４２を介して回転軸２６７及び固定部材２６０を回転させると、光学ユニット毎アナライザ２２２を偏光させることができる。
具体的には、図６に示すように、取付部２０２の上面には、プーリー２４２，２４４が配置され、各プーリー２４２，２４４の間にはベルト２４６が掛け渡されている。
プーリー２４２は取付部２０２の中央にて、固定部材２６０の下側（回転軸２６７）に取り付けられ、回転軸２６７とともに取付部２０２に軸支されている。そして、プーリー２４２が回転すると、回転軸２６７を介して固定部材２６０も同調して回転するようになっている。
なお、図６において、カバー２０４、２０６を外した状態としている。
具体的には、図６に示すように、取付部２０２の上面には、プーリー２４２，２４４が配置され、各プーリー２４２，２４４の間にはベルト２４６が掛け渡されている。
プーリー２４２は取付部２０２の中央にて、固定部材２６０の下側（回転軸２６７）に取り付けられ、回転軸２６７とともに取付部２０２に軸支されている。そして、プーリー２４２が回転すると、回転軸２６７を介して固定部材２６０も同調して回転するようになっている。
なお、図６において、カバー２０４、２０６を外した状態としている。
【0035】
プーリー２４４は取付部２０２の前側にて、回転ツマミ２３０に直結している。そして、ユーザが回転ツマミ２３０を回すと、プーリー２４４からベルト２４６を介して他のプーリー２４２も連動するようになっている。
また、回転ツマミ２３０には適宜基準位置が記され、回転ツマミ２３０の外周側にはドーナツ状の角度盤２４８が取り付けられている。そして、角度盤２４８と基準位置との間の位置関係を視認することで、回転ツマミ２３０の回転角度を認識可能になっている。
なお、ツマミ２３０、プーリー２４２，２４４、ベルト２４６が特許請求の範囲の「回転機構」に相当する。
また、回転ツマミ２３０には適宜基準位置が記され、回転ツマミ２３０の外周側にはドーナツ状の角度盤２４８が取り付けられている。そして、角度盤２４８と基準位置との間の位置関係を視認することで、回転ツマミ２３０の回転角度を認識可能になっている。
なお、ツマミ２３０、プーリー２４２，２４４、ベルト２４６が特許請求の範囲の「回転機構」に相当する。
【0036】
そして、ツマミ２３０を回すと、プーリー２４２を介して上述のようにポラライザ２１２、アナライザ２２２、ハーフミラー２１５及び光源２１０が固定部材２６０と一体として回転する。
このとき、アナライザ２２２の光軸が固定部材２６０の軸心ＡＸに合わせて配置されている。このため、アナライザ２２２を偏光させる向きに固定部材２６０が回転することになる。
なお、ポラライザ２１２、アナライザ２２２、ハーフミラー２１５及び光源２１０の相対位置（光学ユニット）は回転によっても変わらない。
このとき、アナライザ２２２の光軸が固定部材２６０の軸心ＡＸに合わせて配置されている。このため、アナライザ２２２を偏光させる向きに固定部材２６０が回転することになる。
なお、ポラライザ２１２、アナライザ２２２、ハーフミラー２１５及び光源２１０の相対位置（光学ユニット）は回転によっても変わらない。
【0037】
以上のように、ポラライザ２１２からの光をハーフミラー２１５を通すことで、ポラライザ２１２の第１光路（光軸）Ｃ１とアナライザ２２２の第２光路（光軸）Ｃ２とが平行でないので、ポラライザ２１２及びアナライザ２２２を含む偏光画像取得装置２００を熱分析装置１００の上蓋（窓）１１１の外側に配置して、上蓋（窓）１１１の内部をカメラ２２０にて観察、撮像することができる。
これに対し、Ｃ１とＣ２が平行であると、熱分析装置１００の上蓋（窓）１１１の外側に配置して上蓋（窓）１１１の内部を観察することが不可能となる。
これに対し、Ｃ１とＣ２が平行であると、熱分析装置１００の上蓋（窓）１１１の外側に配置して上蓋（窓）１１１の内部を観察することが不可能となる。
【0038】
又、固定部材２６０を回転させることでアナライザ２２２を偏光させることができ、熱分析装置１００の試料（試料ホルダ４１、４２）を回転させることが原理上困難であっても、アナライザ２２２を適宜回転させることにより、上蓋（窓）１１１を介して熱分析装置１００内の測定試料Ｓ１又は参照試料Ｓ２の偏光画像を取得できる。
【0039】
ここで、本発明において、アナライザ２２２のみを回転させて偏光させ、ポラライザ２１２、ハーフミラー２１５及び光源２１０の相対位置を変化させない（これらは固定部材２６０上で相対位置を保ったまま一体として回転する）理由について説明する。
図７に示すように、入射光に対してポラライザ２１２を回転させて偏光させ（偏光方向を変えて）、その偏光光をハーフミラー（ビームスプリッタ）２１５に導入したとする。
図７に示すように、入射光に対してポラライザ２１２を回転させて偏光させ（偏光方向を変えて）、その偏光光をハーフミラー（ビームスプリッタ）２１５に導入したとする。
【0040】
この場合、図８に示すように、ハーフミラー２１５に導入される光の偏光方向によって、ハーフミラー２１５からの透過率が変化してしまう。図８では、無偏光に対し、ｓ偏光では透過率が低下し、ｐ偏光では透過率が高くなる。
このように、入射光の偏光方向に対して透過率/反射率が変動すると、最終的にカメラ２２０で観察する測定試料Ｓ１又は参照試料Ｓ２の偏光画像の光量が変動してしまう。
そこで、ポラライザ２１２とハーフミラー２１５の相対位置を保つことで、観察画像の光量の変動を抑制できる。
このように、入射光の偏光方向に対して透過率/反射率が変動すると、最終的にカメラ２２０で観察する測定試料Ｓ１又は参照試料Ｓ２の偏光画像の光量が変動してしまう。
そこで、ポラライザ２１２とハーフミラー２１５の相対位置を保つことで、観察画像の光量の変動を抑制できる。
【0041】
具体的に、本発明者がポラライザ２１２を回転させたときのカメラ２２０に入る光の輝度の最小値と最大値を測定したところ、最小値１４、最大値６２であり、その差は３４２％であった。一方、図４の本発明の装置にてアナライザ２２２のみを回転させたときのカメラ２２０に入る光の輝度の最小値と最大値を測定したところ、最小値３６、最大値４１であり、その差は１４％に低減した。
なお、輝度は０～２５５の諧調である。
なお、輝度は０～２５５の諧調である。
【0042】
また、本発明において、ハーフミラーがキューブ型ビームスプリッタであることが好ましい。
図９は、ハーフミラーとしてプレート型ビームスプリッタ１０００を用いたときの固定部材２６０の回転による光路のズレを示す模式図である。
プレート型ビームスプリッタ１０００は厚みがあるため、図９に示すように、入射光である測定試料Ｓ１又は参照試料Ｓ２からの反射光Ｒ１がプレート型ビームスプリッタ１０００内で屈折し、透過光の光路（位置）がズレて第２光路Ｃ２としてカメラ２２０に入射する。
このため、図１０に示すように、固定部材２６０の回転に伴ってプレート型ビームスプリッタ１０００が回転するにつれ、観察像Ｍ１がＭ２、Ｍ３・・・と円を描くように偏心して移動してしまい、観察しずらい場合がある。
図９は、ハーフミラーとしてプレート型ビームスプリッタ１０００を用いたときの固定部材２６０の回転による光路のズレを示す模式図である。
プレート型ビームスプリッタ１０００は厚みがあるため、図９に示すように、入射光である測定試料Ｓ１又は参照試料Ｓ２からの反射光Ｒ１がプレート型ビームスプリッタ１０００内で屈折し、透過光の光路（位置）がズレて第２光路Ｃ２としてカメラ２２０に入射する。
このため、図１０に示すように、固定部材２６０の回転に伴ってプレート型ビームスプリッタ１０００が回転するにつれ、観察像Ｍ１がＭ２、Ｍ３・・・と円を描くように偏心して移動してしまい、観察しずらい場合がある。
【0043】
一方、キューブ型ビームスプリッターは、２個のプリズム（通常は直角プリズム）により構成され、一方のプリズムの斜面に光学薄膜を蒸着して２個のプリズムを合わせた構造である。このため、ビームスプリッターとして機能する薄膜の厚みが極めて薄くなり、上述のプレート型ビームスプリッタのような透過光の屈折を防止し、光路（位置）のズレをほぼ無くすことができる。
これにより、ポラライザ２１２を回転させて偏光させた際、観察像が偏心して移動してすることを抑制し、観察し易くなる。
これにより、ポラライザ２１２を回転させて偏光させた際、観察像が偏心して移動してすることを抑制し、観察し易くなる。
【0044】
本発明において、ポラライザ２１２及びアナライザ２２２を相対的に回転可能であってもよい。
この偏光画像取得装置によれば、ポラライザ２１２及びアナライザ２２２の面方向の相対的な角度を調整し、偏光の効き具合を調整することができる。
なお、固定部材２６０の回転に伴ってアナライザ２２２が回転する場合は、サンプルの偏光特性をスキャン、調整することになる。一方、アナライザ２２２のみの回転は、ポラライザ２１２とアナライザ２２２の相対角度をずらすことで、クロスニコル以外の偏光状態を観察する（偏光の効き具合を調整する）ために使う。
この偏光画像取得装置によれば、ポラライザ２１２及びアナライザ２２２の面方向の相対的な角度を調整し、偏光の効き具合を調整することができる。
なお、固定部材２６０の回転に伴ってアナライザ２２２が回転する場合は、サンプルの偏光特性をスキャン、調整することになる。一方、アナライザ２２２のみの回転は、ポラライザ２１２とアナライザ２２２の相対角度をずらすことで、クロスニコル以外の偏光状態を観察する（偏光の効き具合を調整する）ために使う。
【0045】
本発明は上記実施形態に限定されず、本発明の思想と範囲に含まれる様々な変形及び均等物に及ぶことはいうまでもない。
【0046】
熱分析装置は測定対象の加熱又は冷却による温度変化に伴う熱的挙動の測定を行う原理であればよく、上記した熱重量測定(TG)装置の他、JIS K 0129:2005 "熱分析通則"に定義され、測定対象（試料）の温度をプログラム制御させた時の、試料の物理的性質を測定する全ての熱分析に適用可能である。具体的には、 (1)温度（温度差）を検出する示差熱分析(DTA)、(2)熱流差を検出する示差走査熱量測定(DSC)、(3)質量（重量変化）を検出する熱重量測定(TG)、等が挙げられる。
【0047】
例えば図１１～図１２に示すように、熱分析装置１００Ｂは熱重量測定(TG)装置であってもよい。
なお、軸方向Ｏに沿ってファーナスチューブ９の先端部９ａ側を「先端（側）」とし、その反対側を「後端（側）」とする。又、図１１の熱分析装置１００Ｂは、上述の特許文献２、３の熱分析装置に対応する。
なお、軸方向Ｏに沿ってファーナスチューブ９の先端部９ａ側を「先端（側）」とし、その反対側を「後端（側）」とする。又、図１１の熱分析装置１００Ｂは、上述の特許文献２、３の熱分析装置に対応する。
【0048】
熱分析装置１００は熱重量測定(TG)装置を構成し、透明材料により形成されて筒状のファーナスチューブ９と、ファーナスチューブ９を外側から取り囲む筒状の加熱炉３と、ファーナスチューブ９の内部に配置される一対の試料ホルダ４１，４２と、支持台２０と、ファーナスチューブ９の軸方向Ｏの後端部９ｄに接続される測定室３０と、測定室３０内に配置されて試料Ｓ１、Ｓ２の重量変化を測定する重量検出器３２と、測定室３０を自身の上面に載置する基台１０と、を備えている。ここで、測定試料（サンプル）Ｓ１、参照試料Ｓ２は一対の試料容器１５１、１５２にそれぞれ収容され、各試料容器１５１、１５２が一対の試料ホルダ４１，４２上にそれぞれ載置されている。又、参照試料Ｓ２は、測定試料に対する基準物質（リファレンス）である。
【0049】
又、加熱炉３の下方を２つの支柱１８が支え、各支柱１８は支持台２０の上面に接続されている。又、ファーナスチューブ９の後端部９ｄの外側にフランジ部７が固定され、フランジ部７の下方を支柱１６が支え、支柱１６は支持台２０の上面に接続されている。
さらに、基台１０の軸方向Ｏに沿って形成された溝に、リニア（線形）アクチュエータ２２が配置され、リニアアクチュエータ２２により、支持台２０が上記溝に沿って軸方向Ｏに進退可能になっている。
加熱炉３は、加熱炉３の内面を形成する円筒状の炉心管３ｃと、炉心管３ｃに外嵌されたヒータ３ｂと、両端に側壁を有する円筒状の外筒３ａとを有する。そして、加熱炉３はファーナスチューブ９（及びその内部の試料Ｓ１、Ｓ２）を非接触で加熱するようになっている。
さらに、基台１０の軸方向Ｏに沿って形成された溝に、リニア（線形）アクチュエータ２２が配置され、リニアアクチュエータ２２により、支持台２０が上記溝に沿って軸方向Ｏに進退可能になっている。
加熱炉３は、加熱炉３の内面を形成する円筒状の炉心管３ｃと、炉心管３ｃに外嵌されたヒータ３ｂと、両端に側壁を有する円筒状の外筒３ａとを有する。そして、加熱炉３はファーナスチューブ９（及びその内部の試料Ｓ１、Ｓ２）を非接触で加熱するようになっている。
【0050】
さらに、加熱炉３の上面には、外筒３ａから炉心管３ｃへ向かって貫通する略矩形の開口部Ｗが形成されている。
ここで、測定試料Ｓ１を保持する試料容器１５１は、測定試料Ｓ１を観察できるよう、上面が開口するオープン型の有底円筒の容器になっている。一方、参照試料Ｓ２を保持する試料容器１５２は観察できなくてもよいので、オープン型の有底容器でなく密閉型の容器を用いてもよい。但し、各試料Ｓ１、Ｓ２がファーナスチューブ９内で同一の条件で確実に加熱されるためには、試料容器１５２は試料容器１５１と同一形状であることが好ましい。
そして、開口部Ｗを介し、透明なファーナスチューブ９に収容された試料Ｓ１、Ｓ２を外側から観察可能である。
ここで、測定試料Ｓ１を保持する試料容器１５１は、測定試料Ｓ１を観察できるよう、上面が開口するオープン型の有底円筒の容器になっている。一方、参照試料Ｓ２を保持する試料容器１５２は観察できなくてもよいので、オープン型の有底容器でなく密閉型の容器を用いてもよい。但し、各試料Ｓ１、Ｓ２がファーナスチューブ９内で同一の条件で確実に加熱されるためには、試料容器１５２は試料容器１５１と同一形状であることが好ましい。
そして、開口部Ｗを介し、透明なファーナスチューブ９に収容された試料Ｓ１、Ｓ２を外側から観察可能である。
【0051】
ファーナスチューブ９は先端部９ａに向かってテーパ状に縮径し、先端部９ａは細長いキャピラリ状に形成されてその先端に排気口９ｂが開口している。そして、ファーナスチューブ９には適宜パージガスが後端側から導入され、このパージガスや、加熱による試料の分解生成物等が排気口９ｂを通じて外部に排気される。
又、ファーナスチューブ９を構成する透明材料とは、可視光を所定の光透過率で透過する材料であり、半透明材料も含む。又、透明材料としては石英ガラス、サファイアガラス、又はＹＡＧ（イットリウム・アルミニウム・ガーネット）セラミックスを好適に用いることができる。
又、ファーナスチューブ９を構成する透明材料とは、可視光を所定の光透過率で透過する材料であり、半透明材料も含む。又、透明材料としては石英ガラス、サファイアガラス、又はＹＡＧ（イットリウム・アルミニウム・ガーネット）セラミックスを好適に用いることができる。
【0052】
試料ホルダ４１、４２には、軸方向Ｏ後端側に延びる天秤アーム４３、４４がそれぞれ接続されている。又、試料ホルダ４１、４２の直下には熱電対が設置され、試料温度を計測可能になっている。
測定室３０はファーナスチューブ９の後端に配置され、測定室３０とファーナスチューブ９は管状のベローズ３４で内部が連通している。
測定室３０内には、コイル、磁石及び位置検出部を備えた公知の重量検出器３２が配置されている。そして、天秤アーム４３、４４が水平になるように流した電流を測定することにより、天秤アーム４３、４４先端の各試料Ｓ１、Ｓ２の重量を測定するようになっている。
なお、試料Ｓ１、Ｓ２をセット（配置）又は交換する場合には、支持台２０をファーナスチューブ９の先端側に前進させ、各試料ホルダ４１、４２をファーナスチューブ９及び加熱炉３より後端側に露出させて行う。
測定室３０はファーナスチューブ９の後端に配置され、測定室３０とファーナスチューブ９は管状のベローズ３４で内部が連通している。
測定室３０内には、コイル、磁石及び位置検出部を備えた公知の重量検出器３２が配置されている。そして、天秤アーム４３、４４が水平になるように流した電流を測定することにより、天秤アーム４３、４４先端の各試料Ｓ１、Ｓ２の重量を測定するようになっている。
なお、試料Ｓ１、Ｓ２をセット（配置）又は交換する場合には、支持台２０をファーナスチューブ９の先端側に前進させ、各試料ホルダ４１、４２をファーナスチューブ９及び加熱炉３より後端側に露出させて行う。
【0053】
そして、図１２に示すように、ポラライザ２１２を透過して第１光路（光軸）Ｃ１に沿って側方に進んだ偏光は、ハーフミラー２１５により反射して９０度下方に進んで光Ｐ１として測定試料Ｓ１又は参照試料Ｓ２を照射し、その反射光Ｒ１がハーフミラー２１５を透過して第２光路（光軸）Ｃ２に沿って上方に進んでアナライザ２２２に入光するのは図４と同様である。
なお、図１２では、偏光画像取得装置２００を省略し、偏光画像取得装置１００Ｂの軸方向断面のみ示している。
なお、図１２では、偏光画像取得装置２００を省略し、偏光画像取得装置１００Ｂの軸方向断面のみ示している。
【符号の説明】
【0054】
３、１０１ 加熱炉
５１、５２、１５１、１５２ 試料容器
Ｓ１ 測定試料
Ｓ２ 参照試料
Ｗ 開口部
１１１Ｗ 窓
１００、１００Ｂ 熱分析装置
２００ 偏光画像取得装置
２０２ 取付部
２１０ 光源
２１２ ポラライザ
２１５ ハーフミラー
２２０ カメラ
２２２ アナライザ
２３０、２４２、２４４、２４６ 回転機構
２６０ 固定部材
２６３ 調整部材
Ｃ１ 第１光路
Ｃ２ 第２光路
５１、５２、１５１、１５２ 試料容器
Ｓ１ 測定試料
Ｓ２ 参照試料
Ｗ 開口部
１１１Ｗ 窓
１００、１００Ｂ 熱分析装置
２００ 偏光画像取得装置
２０２ 取付部
２１０ 光源
２１２ ポラライザ
２１５ ハーフミラー
２２０ カメラ
２２２ アナライザ
２３０、２４２、２４４、２４６ 回転機構
２６０ 固定部材
２６３ 調整部材
Ｃ１ 第１光路
Ｃ２ 第２光路
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
