特開 2024-78963 波長校正方法、および原子吸光光度計

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】公開特許公報(A)

(11)【公開番号】P2024078963

(43)【公開日】2024-06-11

(54)【発明の名称】波長校正方法、および原子吸光光度計

(51)【国際特許分類】

   G01N 21/31 20060101AFI20240604BHJP

   G01N 21/27 20060101ALI20240604BHJP

【ＦＩ】

G01N21/31 610B

G01N21/27 F

【審査請求】未請求

【請求項の数】9

【出願形態】ＯＬ

(21)【出願番号】P 2022191616

(22)【出願日】2022-11-30

(71)【出願人】

【識別番号】503460323

【氏名又は名称】株式会社日立ハイテクサイエンス

(74)【代理人】

【識別番号】110002000

【氏名又は名称】弁理士法人栄光事務所

(72)【発明者】

【氏名】山本 和子

(72)【発明者】

【氏名】西村 崇

(72)【発明者】

【氏名】奥本 豊治

(72)【発明者】

【氏名】石田 浩康

(72)【発明者】

【氏名】櫛田 芳昭

【テーマコード（参考）】

2G059

【Ｆターム（参考）】

2G059AA01

2G059BB01

2G059BB08

2G059CC02

2G059DD01

2G059DD12

2G059EE01

2G059EE12

2G059FF08

2G059GG03

2G059HH01

2G059HH02

2G059HH03

2G059JJ05

2G059MM04

2G059MM14

(57)【要約】

【課題】原子吸光光度計において、Ｈｇのホロカソードランプに限定せずに、様々な元素のホロカソードランプであっても共通の波長による波長校正を実現する。
【解決手段】希ガスが封入されたホロカソードランプを用いる原子吸光光度計における波長校正方法は、前記希ガスの発光線のうち、波長校正に用いられる波長を定義したデータベースに基づいて、波長校正用の波長を設定する設定工程と、前記波長校正用の波長を基準とした第１の波長範囲を走査することにより得られる最大の強度を有する第１の波長に基づいて、波長校正を行う校正工程と、を有する。
【選択図】図２

【特許請求の範囲】

【請求項1】

希ガスが封入されたホロカソードランプを用いる原子吸光光度計における波長校正方法であって、
前記希ガスの発光線のうち、波長校正に用いられる波長を定義したデータベースに基づいて、波長校正用の波長を設定する設定工程と、
前記波長校正用の波長を基準とした第１の波長範囲を走査することにより得られる最大の強度を有する第１の波長に基づいて、波長校正を行う校正工程と、
を有する波長校正方法。

【請求項2】

前記校正工程は、前記第１の波長を基準とした第２の波長範囲を走査することにより、前記第１の波長の強度の第１の割合以上であり、かつ、前記第１の波長よりも小さい強度を有する第２の波長が検出された場合、前記第１の波長を用いて波長校正を行う、請求項１に記載の波長校正方法。

【請求項3】

前記校正工程は、前記第１の波長を基準とした前記第２の波長範囲を走査することにより、前記第２の波長が検出されなかった場合、前記波長校正を行わない、請求項２に記載の波長校正方法。

【請求項4】

前記校正工程は、前記第１の波長を基準とした第２の波長範囲を走査することにより、前記第１の波長以上の強度を有する第２の波長が検出された場合、前記第２の波長を基準とした第３の波長範囲を更に走査し、前記第２の波長の強度の第２の割合以上であり、かつ、前記第２の波長よりも小さい強度を有する第３の波長が検出された場合、前記第２の波長を用いて波長校正を行う、請求項１に記載の波長校正方法。

【請求項5】

前記校正工程は、前記第２の波長を基準とした前記第３の波長範囲を走査することにより、前記第３の波長が検出されなかった場合、前記波長校正を行わない、請求項４に記載の波長校正方法。

【請求項6】

前記校正工程は、前記設定工程にて設定された波長校正用の波長に基づいて、走査する波長範囲を規定する、請求項１に記載の波長校正方法。

【請求項7】

前記希ガスは、Ｎｅガスである、請求項１に記載の波長校正方法。

【請求項8】

前記Ｎｅガスの波長校正に用いられる波長は、３１９．９ｎｍ、３３２．４ｎｍ、６９２．９ｎｍ、７０３．２ｎｍ、７１７．４ｎｍ、７２４．５ｎｍ、７４８．９ｎｍ、８３７．８ｎｍのうちの少なくともいずれかを含む、請求項７に記載の波長校正方法。

【請求項9】

希ガスが封入されたホロカソードランプを用いる原子吸光光度計であって、
前記希ガスの発光線のうち、波長校正に用いられる波長を定義したデータベースに基づいて、波長校正用の波長を設定する設定手段と、
前記波長校正用の波長を基準とした第１の波長範囲を走査することにより得られる最大の強度を有する第１の波長に基づいて、波長校正を行う校正手段と、
を有する原子吸光光度計。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、波長校正方法、および原子吸光光度計に関する。

【背景技術】

【0002】

従来、金属元素の濃度等を測定する原子吸光光度計では、一般に波長駆動機構の波長の校正には、Ｈｇ（水銀）を用いたホロカソードランプ（ＨＣＬ）や、Ｈｇを用いた他の光源ランプを利用している。このような光源では、Ｈｇの発光線（輝線）である２５３．７ｎｍ、５４６．１ｎｍ、８７１．６ｎｍ等の発光線を走査し、波長差を計測することで波長校正を行っている。

【0003】

計測の際の波長校正方法には様々な手法が知られている。例えば、特許文献１～特許文献３では、分光光度計を対象として、波長校正を行う構成が開示されている。例えば、特許文献２では、安価な機構部品を用いて波長の校正を行う手法が開示されている。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0004】

【特許文献1】特許第６６７７１０７号公報

【特許文献2】特開２０００－１３６９６５号公報

【特許文献3】特表２０２１－５２２４９２号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0005】

一方、原子吸光光度計にて用いられるホロカソードランプは、測定に利用する元素ごとに、元素に対応した波長の異なる輝線を生じさせる。そのため、測定対象に応じて、複数種類の元素の中から、所望の元素を用いたホロカソードランプを準備する必要がある。

【0006】

Ｈｇ以外の元素を用いるホロカソードランプを用いる場合でも、Ｈｇを用いるホロカソードランプと同様に発光線を走査し、波長差を計測することで波長校正を行いたいという要求がある。しかしながら、Ｈｇ以外の元素のホロカソードランプの場合、目的とする発光線の近傍に複数の発光線が存在することに起因して、波長校正が困難になる場合がある。また、ホロカソードランプでは利用する元素ごとに波長が異なってしまうため、共通の波長による波長校正が困難であるという課題もある。

【0007】

ホロカソードランプは放電管であり、その内部には希ガスが封入されている。従来のホロカソードランプの構成において、例えば、Ｎｅ（ネオン）が封入ガスとして共通して用いられるが、Ｎｅの発光線は上述したように複数存在するため、このような発光線は波長校正には用いられてこなかった。

【0008】

本発明は、上記課題を鑑み、測定光となる光束を発出する光源にホロカソードランプを用いる原子吸光光度計において、Ｈｇのホロカソードランプに限定せずに、様々な元素のホロカソードランプであっても共通の波長による波長校正を実現することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0009】

上記課題を解決するために本発明は以下の構成を有する。すなわち、希ガスが封入されたホロカソードランプを用いる原子吸光光度計における波長校正方法であって、
前記希ガスの発光線のうち、波長校正に用いられる波長を定義したデータベースに基づいて、波長校正用の波長を設定する設定工程と、
前記波長校正用の波長を基準とした第１の波長範囲を走査することにより得られる最大の強度を有する第１の波長に基づいて、波長校正を行う校正工程と、
を有する波長校正方法。

【0010】

また、本発明の別の形態は以下の構成を有する。すなわち、希ガスが封入されたホロカソードランプを用いる原子吸光光度計であって、
前記希ガスの発光線のうち、波長校正に用いられる波長を定義したデータベースに基づいて、波長校正用の波長を設定する設定手段と、
前記波長校正用の波長を基準とした第１の波長範囲を走査することにより得られる最大の強度を有する第１の波長に基づいて、波長校正を行う校正手段と、
を有する原子吸光光度計。

【発明の効果】

【0011】

本発明により、原子吸光光度計において、Ｈｇのホロカソードランプに限定せずに、様々な元素のホロカソードランプであっても共通の波長による波長校正を実現する。

【図面の簡単な説明】

【0012】

【図1】本発明の一実施形態に係る原子吸光光度計を用いる測定装置の構成例を示す概略図。

【図2】本発明の一実施形態に係る波長校正処理のフローチャート。

【図3】本発明の一実施形態に係るデータベースの構成例を示す概略図。

【図4】本発明の一実施形態に係る波長校正の具体例を説明するためのグラフ図。

【図5】本発明の一実施形態に係る波長校正の具体例を説明するためのグラフ図。

【図6】本発明の一実施形態に係る波長校正の具体例を説明するためのグラフ図。

【発明を実施するための形態】

【0013】

以下、本発明を実施するための形態について図面などを参照して説明する。なお、以下に説明する実施形態は、本発明を説明するための一実施形態であり、本発明を限定して解釈されることを意図するものではなく、また、各実施形態で説明されている全ての構成が本発明の課題を解決するために必須の構成であるとは限らない。また、各図面において、同じ構成要素については、同じ参照番号を付すことにより対応関係を示す。

【0014】

＜第１の実施形態＞
以下、本発明の第１の実施形態について説明を行う。

【0015】

［装置構成］
図１は、本発明に係る波長校正方法を適用可能な原子吸光光度計１００の構成例を示す概略図である。原子吸光光度計１００は、制御部１０１、操作部１０２、表示部１０３、記憶部１０４、ＩＦ（インターフェース）部１０５、および測定部１１０を含んで構成される。

【0016】

制御部１０１は、原子吸光光度計１００全体の制御を司る。制御部１０１は、例えば、測定部１１０による試料の測定動作や、得られた測定結果に基づいて分析処理などを行う。制御部１０１は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）、あるいはＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）のうち少なくとも１つを用いて構成されてよい。制御部１０１が、記憶部１０４に記憶された各種プログラムを読み出して実行することにより、制御部１０１における各種機能を実現してよい。

【0017】

また、制御部１０１は、操作部１０２を介して設定パラメータや各種情報を受け付け、当該情報に基づいて原子吸光光度計１００を動作させる。なお、本実施形態においては、原子吸光光度計１００の各部位を制御するための制御部１０１が、各部位を包括的に制御するものとして説明するが、部位ごとに別個の制御部を設け、それらが連携することで原子吸光光度計１００が動作するような構成であってもよい。また、本実施形態では、制御部１０１と、測定部１１０が一体となった装置構成の例を示すが、これに限定するものではなく、制御部（例えば、情報処理装置）と測定部が個々の装置として構成され、それらが連携して、後述する動作を実施するような構成であってもよい。

【0018】

操作部１０２は、原子吸光光度計１００のユーザから、各種指示や設定を受け付けるためのＵＩ（Ｕｓｅｒ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）部である。表示部１０３は、測定結果や入力されたパラメータ等を表示するための表示部である。なお、操作部１０２と表示部１０３とが一体となったタッチパネルディスプレイなどが用いられてもよい。記憶部１０４は、原子吸光光度計１００における測定動作に用いられる各種プログラムや設定データ等が保持される記憶領域である。記憶部１０４は、例えば、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、またはＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等の揮発性や不揮発性の記憶装置により構成される。ＩＦ部１０５は、外部装置と通信するための通信部などにより構成されるインターフェースである。

【0019】

測定部１１０は、制御部１０１からの指示に基づき、試料の測定を行う。測定部１１０は、ホロカソードランプ１１１、バーナ１１２、回折格子１１３、スリット１１４、および検出器１１５を含んで構成される。また、光源であるホロカソードランプ１１１からの光の光路上には、複数の反射部材が設置される。

【0020】

ホロカソードランプ１１１は、測定部１１０の輝光光源として機能し、着脱可能に構成される。ホロカソードランプ１１１は、１つのみが装着されてもよいし、複数が装着され、計測の際に切り替え可能に構成されてもよい。ホロカソードランプ１１１は、所定の波長の光を発出するために、測定元素に対応した複数種類の元素のうちのいずれかを利用する。よって、測定部１１０は、利用する元素の種類に応じた複数種類のホロカソードランプ１１１が利用可能である。本実施形態に係るホロカソードランプ１１１には、共通的にＮｅ（ネオン）を封入ガスとして用いる。ホロカソードランプ１１１は、制御部１０１からの指示に基づき、発出する光の量やタイミングが制御される。

【0021】

バーナ１１２は、測定対象である試料を燃やし、原子の状態にさせるための原子化部としての機能を有する。なお、本実施形態では、試料の原子化法として、フレーム法を例に挙げて説明するが、これに限定するものではなく、例えば、グラファイト炉法、水素化物発生法、または還元気化法などが用いられてもよい。バーナ１１２にて原子化された試料に対して、ホロカソードランプ１１１による輝光が照射される。

【0022】

回折格子１１３は、分光器として機能し、所定の波長の単色光を得るために光を分離する。回折格子１１３は、制御部１０１の制御により、受光する角度を調整可能に構成される。より具体的には、回折格子１１３には回転駆動機構（不図示）が設けられ、回転駆動により回折格子１１３の角度を変えることで、光から任意の波長の単色光を取り出す。不図示の回転駆動機構は、例えば、モータや減速機構などを含んで構成される。単色光を得るための精度は、回折格子１１３の角度制御の精度に依存する。なお、図１の例では、反射型の回折格子の例を示しているが、透過型の回折格子が用いられてもよい。また、プリズムなどの分光素子が用いられてもよい。スリット１１４は、測定部１１０の持つ分解能を調整する。スリット１１４は、回折格子１１３の前後の光路それぞれにて機能するように構成され、それぞれの光路上にて測定部１１０の持つ分解能を調整する。検出器１１５は、スリット１１４からの光を受光して、その光量を検出する。検出されたパラメータは、制御部１０１に通知される。

【0023】

したがって、本実施形態に係る原子吸光光度計１００の測定部１１０において、ホロカソードランプ１１１から発出される光は、バーナ１１２にて原子化された試料、スリット１１４、回折格子１１３、スリット１１４、検出器１１５を通る光路を形成する。

【0024】

（Ｎｅガスの利用）
本実施形態では、複数種類のホロカソードランプ１１１に共通的に封入されているＮｅガスに着目し、これを利用することで、ホロカソードランプ１１１の種類に関わらず利用可能な波長校正方法を提供する。

【0025】

上述したように、Ｎｅの発光線は、例えば、Ｈｇの発光線と比べて、多数の発光線が存在する。そこで、本実施形態では、Ｎｅの発光線のうち、波長校正に利用可能な発光線の情報に関し、データベース（ＤＢ）を予め定義する。図３は、本実施形態に係るＤＢ３００の構成例を示す。ここでは、Ｎｅの複数の発光線の波長のうち、波長校正に利用可能な波長として、８つを例に挙げて説明する。

【0026】

ＤＢ３００では、８つのＮｅの波長とこれらそれぞれに対応する強度、そして、波長間の波長差が定義される。波長校正に利用可能なＮｅの波長の例として、３１９．９、３３２．４、６９２．９、７０３．２、７１７．４、７２４．５、７４８．９、８３７．８［ｎｍ］を用いる。具体的なＤＢ３００の利用方法については、フローチャート等を用いて後述する。

【0027】

また、本実施形態に係る測定部１１０の回折格子１１３は、図３に示すＤＢ３００にて特定した、隣接する波長間にて誤検出が生じない精度にて駆動制御が行われる。つまり、回折格子１１３に設けられた回転駆動機構は、ＤＢ３００に定義されている波長の誤検出が生じない程度にて回転角の制御が可能であるものとする。

【0028】

［波長校正処理］
図２は、本実施形態に係る原子吸光光度計１００における波長校正処理のフローチャートである。本実施形態において、本処理フローは、制御部１０１が記憶部１０４に記憶されたプログラムを読み出して実行することで実現されてよい。本処理フローは、原子吸光光度計１００が起動した際に実行してもよいし、ユーザの指示等に基づいて任意のタイミングで実行されてもよい。

【0029】

Ｓ２０１にて、原子吸光光度計１００は、ホロカソードランプ１１１が装着されているか否かを判定する。ここでの判定は、例えば、ホロカソードランプ１１１の装着を検出するセンサ（不図示）の検出結果に基づいて行われてよい。ホロカソードランプ１１１が装着されている場合（Ｓ２０１にてＹＥＳ）、原子吸光光度計１００の処理は、Ｓ２０３へ進む。一方、ホロカソードランプ１１１が装着されていない場合（Ｓ２０１にてＮＯ）、原子吸光光度計１００の処理は、Ｓ２０２へ進む。

【0030】

Ｓ２０２にて、原子吸光光度計１００は、ホロカソードランプ１１１が装着されていないことを、表示部１０３等を介してユーザに通知し、装着を促す。そして、原子吸光光度計１００の処理はＳ２０１へ戻り、ホロカソードランプ１１１の装着が行われるまで待機する。なお、Ｓ２０１の判定処理において、ホロカソードランプ１１１の装着の有無の他、装着されているホロカソードランプ１１１の種類を判定するような構成であってもよい。この場合において、装着されているホロカソードランプ１１１の封入ガスが、上記のＤＢ３００に対応したＮｅガスではない場合には、ホロカソードランプ１１１が装着されていないものとして扱ってもよい。また、装着されているホロカソードランプ１１１がＨｇを用いるホロカソードランプである場合には、従来のＨｇの発光線を用いた波長校正処理を行うような構成であってもよい。

【0031】

Ｓ２０３にて、原子吸光光度計１００は、予め定義され、記憶部１０４に記憶されているＤＢ３００を参照し、校正用ピーク波長を設定する。ここでの校正用ピーク波長の設定では、ＤＢ３００に示される８つのＮｅの波長の中からいずれかが選択される。ここでの選択方法は特に限定するものでは無いが、波長を走査する際により精度良く検出するためには、例えば、図３のＤＢ３００に示す強度の値が高い波長を選択することが好ましい。または、波長校正の精度を向上させる帯域として着目している波長に基づいて選択してよい。例えば、図３に示すＤＢ３００では、Ｎｅの波長が３２０ｎｍ付近と、７２０ｎｍ付近、８３０ｎｍ付近に分けられるが、これらの帯域ごとに着目して波長校正を行ってもよい。

【0032】

Ｓ２０４にて、原子吸光光度計１００は、予め規定された初期値としてのパラメータを用いて、Ｓ２０３にて設定された校正用ピーク波長付近における第１の波長範囲を走査する。より具体的には、制御部１０１が回折格子１１３の回転駆動機構を駆動させることで、波長の走査が行われる。ここでの第１の波長範囲は特に限定するものではないが、例えば、校正用ピーク波長を基準として予め規定された範囲（例えば、±１０ｎｍ）であってよい。もしくは、第１の波長範囲は、校正用ピーク波長とその近傍のＮｅの波長との間の波長差に基づいて設定されてもよい。例えば、ＤＢ３００を参照すると、校正用ピーク波長が７２４．５ｎｍと設定されている場合、近傍のＮｅの波長は７１７．４ｎｍと７４８．９ｎｍであり、それらとの波長差は７．１ｎｍと２４．４ｎｍである。これらに基づき、例えば、隣接する波長との取り違えが生じないように、より小さい波長差である７．１ｎｍに基づいて、第１の波長範囲はこの値以下となるように設定してよい。

【0033】

Ｓ２０５にて、原子吸光光度計１００は、Ｓ２０４の走査結果に基づき、第１の波長範囲の中で最も強度が高い位置の波長を波長Ａとして設定する。

【0034】

Ｓ２０６にて、原子吸光光度計１００は、Ｓ２０５にて設定した波長Ａを基準として、第２の波長範囲を走査する。ここでの第２の波長範囲は特に限定するものではないが、例えば、予め規定された範囲（例えば、±１０ｎｍ）であってもよい。もしくは、第２の波長範囲は、校正用ピーク波長とその近傍のＮｅの波長との間の波長差に基づいて設定されてもよい。例えば、ＤＢ３００を参照すると、校正用ピーク波長が７２４．５ｎｍと設定されている場合、近傍のＮｅの波長は７１７．４ｎｍと７４８．９ｎｍであり、それらとの波長差は７．１ｎｍと２４．４ｎｍである。これらに基づき、より小さい波長差である７．１ｎｍに基づいて、第２の波長範囲はこの値以上となるように設定してよい。

【0035】

そして、原子吸光光度計１００は、走査の結果、波長Ａの強度に対して第１の割合以上のピークを有する波長Ｂが有るか否かを判定する。ここでの第１の割合は予め規定された割合（例えば、５０％）であってよい。もしくは、第１の割合は、ＤＢ３００に定義された、校正用ピーク波長とその近傍のＮｅの波長の強度に基づいて設定されてもよい。例えば、ＤＢ３００を参照すると、校正用ピーク波長が７２４．５ｎｍと設定されている場合、その強度は８００である。また、近傍のＮｅの波長は７１７．４ｎｍと７４８．９ｎｍであり、これらの強度は、７００と３００である。これらに基づき、校正用ピーク波長の強度（８００）と、近傍の波長のより小さい強度（３００）との比から、第１の割合を設定してもよい（例えば、３００／８００＝３７．５％）。第１の割合以上の波長が複数ある場合には、より強度が高い波長を波長Ｂとして設定してよい。走査により波長Ｂが検出できた場合（Ｓ２０６にてＹＥＳ）、原子吸光光度計１００の処理は、Ｓ２０７へ進む。一方、波長Ｂが検出できなかった場合（Ｓ２０６にてＮＯ）、原子吸光光度計１００の処理はＳ２１２へ進む。

【0036】

Ｓ２０７にて、原子吸光光度計１００は、波長Ａと波長Ｂを比較し、波長Ａの方が大きいか否かを判定する。波長Ａの方が大きい場合（Ｓ２０７にてＹＥＳ）、原子吸光光度計１００の処理はＳ２０８へ進む。一方、波長Ａが波長Ｂ以下である場合（Ｓ２０７にてＮＯ）、原子吸光光度計１００の処理はＳ２０９へ進む。

【0037】

Ｓ２０８にて、原子吸光光度計１００は、波長Ａを校正用ピーク波長に設定する。すなわち、走査にて検出されたピーク位置である波長Ａの位置が、Ｓ２０３にて最初に着目した校正用ピーク波長に対応する。したがって、走査にて検出した波長Ａの位置と、Ｓ２０３にて設定した校正用ピーク位置とに差が生じている場合には、測定誤差が生じていることとなる。そして、原子吸光光度計１００の処理はＳ２１３へ進む。

【0038】

Ｓ２０９にて、原子吸光光度計１００は、Ｓ２０６にて検出した波長Ｂを基準として、第３の波長範囲を走査する。ここでの第３の波長範囲は特に限定するものではないが、例えば、予め規定された範囲（例えば、±１０ｎｍ）であってもよい。もしくは、第３の波長範囲は、校正用ピーク波長とその近傍のＮｅの波長との間の波長差に基づいて設定されてもよい。例えば、ＤＢ３００を参照すると、校正用ピーク波長が７２４．５ｎｍと設定されている場合、近傍のＮｅの波長は７１７．４ｎｍと７４８．９ｎｍであり、それらとの波長差は７．１ｎｍと２４．４ｎｍである。これらに基づき、より小さい波長差である７．１ｎｍに基づいて、第３の波長範囲はこの値以上となるように設定してよい。走査対象となる第３の波長範囲は、第２の波長範囲と同じであってもよいし、異なっていてもよい。

【0039】

そして、原子吸光光度計１００は、走査の結果、波長Ｂの強度に対して第２の割合以上のピークを有する波長Ｃが有るか否かを判定する。ここでの第２の割合は予め規定された割合（例えば、５０％）であってよい。もしくは、第２の割合は、ＤＢ３００に定義された、校正用ピーク波長とその近傍のＮｅの波長の強度に基づいて設定されてもよい。例えば、ＤＢ３００を参照すると、校正用ピーク波長が７２４．５ｎｍと設定されている場合、その強度は８００である。また、近傍のＮｅの波長は７１７．４ｎｍと７４８．９ｎｍであり、これらの強度は、７００と３００である。これらに基づき、校正用ピーク波長の強度（８００）と、近傍の波長のより小さい強度（３００）との比から、第２の割合を設定してもよい（例えば、３００／８００＝３７．５％）。第２の割合は、第１の割合と同じであってもよいし、異なっていてもよい。第２の割合以上の波長が複数ある場合には、より強度が高い波長を波長Ｃとして設定してよい。走査により波長Ｃが検出できた場合（Ｓ２０９にてＹＥＳ）、原子吸光光度計１００の処理は、Ｓ２１０へ進む。一方、波長Ｃが検出できなかった場合（Ｓ２０９にてＮＯ）、原子吸光光度計１００の処理はＳ２１２へ進む。

【0040】

Ｓ２１０にて、原子吸光光度計１００は、波長Ｂと波長Ｃを比較し、波長Ｂの方が大きいか否かを判定する。波長Ｂの方が大きい場合（Ｓ２１０にてＹＥＳ）、原子吸光光度計１００の処理はＳ２１１へ進む。一方、波長Ｂが波長Ｃ以下である場合（Ｓ２１０にてＮＯ）、原子吸光光度計１００の処理はＳ２１２へ進む。

【0041】

Ｓ２１１にて、原子吸光光度計１００は、波長Ｂを校正用ピーク波長に設定する。すなわち、走査にて検出されたピーク位置である波長Ｂの位置が、Ｓ２０３にて最初に着目した校正用ピーク波長に対応する。したがって、走査にて検出した波長Ｂの位置と、Ｓ２０３にて設定した校正用ピーク位置とに差が生じている場合には、測定誤差が生じていることとなる。そして、原子吸光光度計１００の処理はＳ２１３へ進む。

【0042】

Ｓ２１２にて、原子吸光光度計１００は、表示部１０３等を介して、ユーザに波長校正ができない旨のエラーを通知する。ここでの通知方法は特に限定するものではなく、視覚的に画面上で通知してもよいし、聴覚的に音声で通知してもよい。また、波長校正ができなかった際には、ユーザに測定動作を継続するか否かを確認してもよいし、ホロカソードランプ１１１の交換を促すような通知を行ってもよい。そして、本処理フローを終了する。

【0043】

Ｓ２１３にて、原子吸光光度計１００は、設定された校正用ピーク波長に基づいて、波長校正を行う。ここでの波長校正は、予め規定されたＮｅの波長と、設定された校正用ピーク波長との波長差を用いて行われる。また、波長校正には、実際の試料の測定の際のパラメータ設定や、回折格子１１３の角度の設定などが含まれてよい。そして、本処理フローを終了する。

【0044】

［制御例］
図４～図６は、図２にて示した波長校正処理の途中における具体的な制御例を説明するためのグラフ図である。図４～図６の各グラフ図において、横軸は波長を示し、縦軸は走査にて検出された波長の強度を示す。

【0045】

（例１）
図４（ａ）において、まず、第１の波長範囲４００を走査して得られた最高強度の波長４０１が波長Ａとして設定される（図２のＳ２０４、Ｓ２０５）。その後、図４（ｂ）に示すように、波長Ａ（ここでは、波長４０１）を基準として第２の波長範囲４１０を走査して、波長４０２が波長Ｂとして検出されたとする（図２のＳ２０６にてＹＥＳ）。この場合、図４（ｂ）に示すように、波長Ａ（波長４０１）の方が波長Ｂ（波長４０２）よりも大きいため（図２のＳ２０７にてＹＥＳ）、波長Ａ（波長４０１）が校正用ピーク波長として設定され、この値が波長校正に用いられる。

【0046】

（例２）
図５（ａ）において、まず、第１の波長範囲５００を走査して得られた最高強度の波長５０１が波長Ａとして設定される（図２のＳ２０４、Ｓ２０５）。その後、図５（ｂ）に示すように、波長Ａ（ここでは、波長５０１）を基準として第２の波長範囲５１０を走査して、波長５０３が波長Ｂとして検出されたとする（図２のＳ２０６にてＹＥＳ）。この場合、図５（ｂ）に示すように、波長Ａ（波長５０１）が波長Ｂ（波長５０３）以下である（図２のＳ２０７にてＮＯ）。この場合、更に、波長Ｂ（波長５０３）を基準として第３の波長範囲５３０を走査した結果、波長５０１が波長Ａに代えて、波長Ｃとして検出したとする（Ｓ２０９にてＹＥＳ）。この場合、図５（ｃ）に示すように、波長Ｂ（波長５０３）の方が波長Ｃ（波長５０１）よりも大きいため（図２のＳ２１０にてＹＥＳ）、波長Ｂ（波長５０３）が校正用ピーク波長として設定され、この値が波長校正に用いられる。

【0047】

（例３）
図６（ａ）において、まず、第１の波長範囲６００を走査して得られた最高強度の波長６０１が波長Ａとして設定される（図２のＳ２０４、Ｓ２０５）。その後、図６（ｂ）に示すように、波長Ａ（ここでは、波長６０１）を基準として第２の波長範囲６１０を走査した結果、波長Ｂとして検出されなかったとする（図２のＳ２０６にてＮＯ）。この場合、波長校正はできないものとして、エラー表示が行われる（図２のＳ２１２）。

【0048】

以上、本実施形態により、原子吸光光度計において、Ｈｇのホロカソードランプに限定せずに、様々な元素のホロカソードランプであっても共通の波長による波長校正を行うことが可能となる。

【0049】

＜その他の実施形態＞
上記の実施形態では、ホロカソードランプに封入されている希ガスとしてＮｅ（ネオン）を例に挙げて説明したが、これに限定するものではない。ホロカソードランプに共通的に用いられている希ガスを対象としてＤＢを構成することで本発明を適用可能である。

【0050】

本発明において、上述した１つ以上の実施形態の機能を実現するためのプログラムやアプリケーションを、ネットワーク又は記憶媒体等を用いてシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。

【0051】

また、１つ以上の機能を実現する回路によって実現してもよい。なお、１つ以上の機能を実現する回路としては、例えば、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）やＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ）が挙げられる。

【0052】

以上の通り、本明細書には次の事項が開示されている。
（１） 希ガスが封入されたホロカソードランプ（例えば、１１１）を用いる原子吸光光度計（例えば、１００）における波長校正方法であって、
前記希ガスの発光線のうち、波長校正に用いられる波長を定義したデータベース（例えば、３００）に基づいて、波長校正用の波長を設定する設定工程（例えば、Ｓ２０３）と、
前記波長校正用の波長を基準とした第１の波長範囲を走査することにより得られる最大の強度を有する第１の波長に基づいて、波長校正を行う校正工程（例えば、Ｓ２０４～Ｓ２１３）と、
を有する波長校正方法。
この構成によれば、原子吸光光度計において、Ｈｇのホロカソードランプに限定せずに、様々な元素のホロカソードランプであっても共通の波長による波長校正を実現する。

【0053】

（２） 前記校正工程は、前記第１の波長を基準とした第２の波長範囲を走査することにより、前記第１の波長の強度の第１の割合以上であり、かつ、前記第１の波長よりも小さい強度を有する第２の波長が検出された場合、前記第１の波長を用いて波長校正を行う、（１）に記載の波長校正方法。
この構成によれば、走査結果に応じて、波長校正用の波長を切り替えることができ、構成精度を向上させることが可能となる。

【0054】

（３） 前記校正工程は、前記第１の波長を基準とした前記第２の波長範囲を走査することにより、前記第２の波長が検出されなかった場合、前記波長校正を行わない、（２）に記載の波長校正方法。
この構成によれば、走査結果に応じて、波長校正用の波長を切り替えることができ、構成精度を向上させることが可能となる。

【0055】

（４） 前記校正工程は、前記第１の波長を基準とした第２の波長範囲を走査することにより、前記第１の波長以上の強度を有する第２の波長が検出された場合、前記第２の波長を基準とした第３の波長範囲を更に走査し、前記第２の波長の強度の第２の割合以上であり、かつ、前記第２の波長よりも小さい強度を有する第３の波長が検出された場合、前記第２の波長を用いて波長校正を行う、（１）に記載の波長校正方法。
この構成によれば、走査結果に応じて、波長校正用の波長を切り替えることができ、構成精度を向上させることが可能となる。

【0056】

（５） 前記校正工程は、前記第２の波長を基準とした前記第３の波長範囲を走査することにより、前記第３の波長が検出されなかった場合、前記波長校正を行わない、（４）に記載の波長校正方法。
この構成によれば、走査結果に応じて、波長校正用の波長を切り替えることができ、構成精度を向上させることが可能となる。

【0057】

（６） 前記校正工程は、前記設定工程にて設定された波長校正用の波長に基づいて、走査する波長範囲を規定する、（１）に記載の波長校正方法。
この構成によれば、希ガスの発光線の複数の波長のうち、着目する波長に基づいて走査範囲を規定することが可能となる。

【0058】

（７） 前記希ガスは、Ｎｅガスである、（１）に記載の波長校正方法。
この構成によれば、ホロカソードランプに封入されたＮｅガスの特性に基づいて、波長校正を行うことが可能となる。

【0059】

（８） 前記Ｎｅガスの波長校正に用いられる波長は、３１９．９ｎｍ、３３２．４ｎｍ、６９２．９ｎｍ、７０３．２ｎｍ、７１７．４ｎｍ、７２４．５ｎｍ、７４８．９ｎｍ、８３７．８ｎｍのうちの少なくともいずれかを含む、（７）に記載の波長校正方法。
この構成によれば、ホロカソードランプに封入されたＮｅガスの発光線の所定の波長に基づいて、波長校正を行うことが可能となる。

【0060】

（９） 希ガスが封入されたホロカソードランプ（例えば、１１１）を用いる原子吸光光度計（例えば、１００）であって、
前記希ガスの発光線のうち、波長校正に用いられる波長を定義したデータベース（例えば、３００）に基づいて、波長校正用の波長を設定する設定手段（例えば、１０１）と、
前記波長校正用の波長を基準とした第１の波長範囲を走査することにより得られる最大の強度を有する第１の波長に基づいて、波長校正を行う校正手段（例えば、１０１）と、
を有する原子吸光光度計。
この構成によれば、原子吸光光度計において、Ｈｇのホロカソードランプに限定せずに、様々な元素のホロカソードランプであっても共通の波長による波長校正を実現する。

【0061】

また、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、適宜、変形、改良、等が可能である。その他、上述した実施形態における各構成要素の材質、形状、寸法、数値、形態、数、配置箇所、等は本発明を達成できるものであれば任意であり、限定されない。

【符号の説明】

【0062】

１００ 原子吸光光度計
１０１ 制御部
１０２ 操作部
１０３ 表示部
１０４ 記憶部
１０５ ＩＦ（インターフェース）部
１１０ 測定部
１１１ ホロカソードランプ
１１２ バーナ
１１３ 回折格子
１１４ スリット
１１５ 検出器
３００ データベース（ＤＢ）

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】