発明の名称 半導体フォトレジスト用組成物およびこれを利用したパターン形成方法
出願人 三星エスディアイ株式会社 (識別番号 590002817)
特許公開件数ランキング 96 位(106件)(共同出願を含む)
特許取得件数ランキング 227 位(43件)(共同出願を含む)
公報番号 特開-2026-49708
公報発行日 2026年3月18
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_A1-2026-49708
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