特許7011592スキャトロメトリ計測におけるプロセス変動の根本原因の解析

発明の名称　スキャトロメトリ計測におけるプロセス変動の根本原因の解析

出願人　ケーエルエー−テンカー　コーポレイション　（識別番号 500049141）

　　　　特許公開件数ランキング 347 位（82件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 278 位（92件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7011592

公報発行日　2022年1月26

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7011592

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