(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2022-02-28
(45)【発行日】2022-03-08
(54)【発明の名称】放射線検出器、放射線画像撮影装置及び放射線検出器の製造方法
(51)【国際特許分類】
G01T 1/20 20060101AFI20220301BHJP
【FI】
G01T1/20 B
G01T1/20 E
G01T1/20 G
(21)【出願番号】P 2020502935
(86)(22)【出願日】2019-02-14
(86)【国際出願番号】 JP2019005334
(87)【国際公開番号】W WO2019167648
(87)【国際公開日】2019-09-06
【審査請求日】2020-08-14
(31)【優先権主張番号】P 2018034555
(32)【優先日】2018-02-28
(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP
(73)【特許権者】
【識別番号】306037311
【氏名又は名称】富士フイルム株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】110001519
【氏名又は名称】特許業務法人太陽国際特許事務所
(72)【発明者】
【氏名】岩切 直人
(72)【発明者】
【氏名】中津川 晴康
【審査官】藤本 加代子
(56)【参考文献】
【文献】特開2010-101722(JP,A)
【文献】特開2011-247881(JP,A)
【文献】特開2003-070776(JP,A)
【文献】特開2015-004560(JP,A)
【文献】特開2012-141242(JP,A)
【文献】特開平11-223891(JP,A)
【文献】特開昭58-204400(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G01T 1/20
G21K 4/00
A61B 6/00
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
可撓性を有する基板と、
前記基板の表面に設けられ、光電変換素子をそれぞれ含む複数の画素と、
前記基板に積層され、複数のコーナ部を有するシンチレータと、
を含み、
前記シンチレータの前記コーナ部の各々の外縁が、当該コーナ部を共有する各辺の延長線よりも、前記基板の内側に配置されて
おり、かつ前記シンチレータは、前記複数の画素の各々を覆っている
放射線検出器。
【請求項2】
前記シンチレータの前記コーナ部の各々は、面取りされている
請求項1に記載の放射線検出器。
【請求項3】
前記シンチレータの前記コーナ部の各々の外縁が、当該コーナ部を共有する各辺と交差する少なくとも1つの辺を有する
請求項1または請求項2に記載の放射線検出器。
【請求項4】
前記シンチレータの前記コーナ部の各々の外縁が丸みを帯びた形状である
請求項1または請求項2に記載の放射線検出器。
【請求項5】
請求項1または請求項2に記載の放射線検出器と、
前記光電変換素子の各々によって生成され、前記複数の画素の各々に蓄積された電荷の読み出しを行う読み出し部と、
前記複数の画素の各々から読み出された電荷に基づいて画像データを生成する生成部と、
を含む放射線画像撮影装置。
【請求項6】
可撓性を有する基板の表面に、光電変換素子をそれぞれ含む複数の画素を形成する工程と、
複数のコーナ部を有し、
前記複数の画素の各々を覆っており、前記コーナ部の各々の外縁が、当該コーナ部を共有する各辺の延長線よりも、前記基板の内側に配置されているシンチレータを、前記基板に積層する工程と、
を含む
放射線検出器の製造方法。
【請求項7】
前記シンチレータを前記基板に積層する工程は、
前記シンチレータの外形に対応した形状の開口部を有するマスクを、前記基板の上に配置する工程と、
前記基板の、前記開口部から露出した部分に前記シンチレータの材料物質を堆積させる工程と、
を含む請求項
6に記載の製造方法。
【請求項8】
前記シンチレータを前記基板に積層する工程は、
前記シンチレータの外形に対応した形状の開口部を有するマスクを、前記基板とは別の基板上に配置する工程と、
前記別の基板の、前記開口部から露出した部分に前記シンチレータの材料物質を堆積させて前記シンチレータを得る工程と、
前記別の基板に形成された前記シンチレータを、前記基板に貼り付ける工程と、
含む請求項
6に記載の製造方法。
【請求項9】
前記シンチレータを前記基板に積層する工程は、
シンチレータシートを、前記シンチレータの外形に応じた形状に加工して前記シンチレータを得る工程と、
前記シンチレータシートの加工により得られた前記シンチレータを、前記基板に貼り付ける工程と、
を含む請求項
6に記載の製造方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
開示の技術は、放射線検出器、放射線画像撮影装置及び放射線検出器の製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
放射線画像撮影装置に関する技術として、以下の技術が知られている。例えば特開2015-064284号公報(特許文献1)には、多角形の板形状をしたシンチレータ本体及びシンチレータ本体の少なくとも1つの角部から外側に突出した突出部を有し、放射線を可視光に変換するシンチレータと、シンチレータを支持する基板と、シンチレータ本体及び突出部の表面を覆い、周縁部が基板に密着されたシンチレータ保護膜と、を備える放射線画像検出装置が記載されている。
【0003】
一方、特開2003-075594号公報(特許文献2)には、2枚のシート状剛性体とその間に設けられた枠体とによって形成された密閉空間に少なくとも蛍光体層が収容されていて、枠体の内側隅部が曲線形状もしくは各角度が90度以上の多角形状であることを特徴とする放射線像変換パネルが記載されている。
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
放射線画像撮影装置に用いられる放射線検出器として、基板と、基板の表面に設けられた光電変換素子をそれぞれ含む複数の画素と、基板に積層されたシンチレータと、を含むものが知られている。近年、放射線検出器を構成する基板の材料として、樹脂フィルム等の可撓性を有する材料が用いられている。基板が可撓性を有する場合、シンチレータのコーナ部は、シンチレータの他の部分と比較して、基板との接触面積が小さいので、コーナ部において剥離が生じやすい。
【0005】
開示の技術は、シンチレータのコーナ部の各々の外縁が、当該コーナ部を共有する各辺の延長線上または延長線よりも基板の外側に配置されている場合と比較して、シンチレータが基板から剥離するリスクを低減させることを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
開示の技術の第1の態様に係る放射線検出器は、可撓性を有する基板と、基板の表面に設けられ、光電変換素子をそれぞれ含む複数の画素と、基板に積層され、複数のコーナ部を有するシンチレータと、を含み、シンチレータのコーナ部の各々の外縁が、当該コーナ部を共有する各辺の延長線よりも、基板の内側に配置されている。
【0007】
開示技術の第2の態様に係る放射線検出器において、シンチレータのコーナ部の各々は、面取りされている。
【0008】
開示技術の第3の態様に係る放射線検出器において、シンチレータのコーナ部の各々の外縁が、当該コーナ部を共有する各辺と交差する少なくとも1つの辺を有する。
【0009】
開示技術の第4の態様に係る放射線検出器において、シンチレータのコーナ部の各々の外縁が丸みを帯びた形状である。
【0010】
開示技術の第5の態様に係る放射線検出器において、シンチレータは、複数の画素の各々を覆っている。
【0011】
開示技術の第6の態様に係る放射線画像撮影装置は、第1乃至第5の態様のいずれかに係る放射線検出器と、光電変換素子の各々によって生成され、複数の画素の各々に蓄積された電荷の読み出しを行う読み出し部と、複数の画素の各々から読み出された電荷に基づいて画像データを生成する生成部と、を含む。
【0012】
開示技術の第7の態様に係る放射線検出器の製造方法は、可撓性を有する基板の表面に、光電変換素子をそれぞれ含む複数の画素を形成する工程と、複数のコーナ部を有し、コーナ部の各々の外縁が、当該コーナ部を共有する各辺の延長線よりも、基板の内側に配置されているシンチレータを、基板に積層する工程と、を含む。
【0013】
開示技術の第8の態様に係る製造方法において、シンチレータを基板に積層する工程は、シンチレータの外形に対応した形状の開口部を有するマスクを、基板の上に配置する工程と、基板の、開口部から露出した部分にシンチレータの材料物質を堆積させる工程と、を含む。
【0014】
開示技術の第9の態様に係る製造方法において、シンチレータを基板に積層する工程は、シンチレータの外形に対応した形状の開口部を有するマスクを、上記基板とは別の基板上に配置する工程と、上記別の基板の、開口部から露出した部分にシンチレータの材料物質を堆積させてシンチレータを得る工程と、上記別の基板に形成されたシンチレータを、基板に貼り付ける工程と、含む。
【0015】
開示技術の第10の態様に係る製造方法において、シンチレータを基板に積層する工程は、シンチレータシートを、シンチレータの外形に応じた形状に加工してシンチレータを得る工程と、シンチレータシートの加工により得られたシンチレータを、基板に貼り付ける工程と、を含む。
【発明の効果】
【0016】
開示の技術の第1の態様によれば、シンチレータのコーナ部の各々の外縁が、当該コーナ部を共有する各辺の延長線上または延長線よりも基板の外側に配置されている場合と比較して、シンチレータが基板から剥離するリスクを低減することができる。
【0017】
開示の技術の第2の態様によれば、シンチレータが基板から剥離するリスクを低減させる効果を促進できる。
【0018】
開示の技術の第3の態様によれば、シンチレータが基板から剥離するリスクを低減させる効果を促進できる。
【0019】
開示の技術の第4の態様によれば、シンチレータが基板から剥離するリスクを低減させる効果を促進できる。
【0020】
開示の技術の第5の態様によれば、複数の画素の各々を有効に機能させることができる。
【0021】
開示の技術の第6の態様によれば、シンチレータが基板から剥離するリスクを低減することができる。
【0022】
開示の技術の第7の態様によれば、シンチレータのコーナ部の各々の外縁が、当該コーナ部を共有する各辺の延長線上または延長線よりも基板の外側に配置されている場合と比較して、シンチレータが基板から剥離するリスクを低減することができる。
【0023】
開示の技術の第8の態様に係る製造方法は、例えば、気相成長法により基板上にシンチレータを直接形成する場合に適用することができる。
【0024】
開示の技術の第9の態様に係る製造方法は、例えば、気相成長法により別の基板上に形成したシンチレータを用いる場合に適用することができる。
【0025】
開示の技術の第10の態様に係る製造方法は、例えばシンチレータシートを用いる場合に適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【0026】
【
図1】開示の技術の実施形態に係る放射線画像撮影装置の構成の一例を示す斜視図である。
【
図2】開示の技術の実施形態に係る放射線画像撮影装置の構成の一例を示す断面図である。
【
図3】開示の技術の実施形態に係る放射線画像撮影装置の構成の一例を示す平面図である。
【
図4】
図3における一点鎖線で囲んだ領域の拡大図である。
【
図5】開示の技術の実施形態に係る放射線画像撮影装置の電気的構成の一例を示す図である。
【
図6A】開示の技術の実施形態に係る放射線検出器の製造方法の一例を示す断面図である。
【
図6B】開示の技術の実施形態に係る放射線検出器の製造方法の一例を示す断面図である。
【
図6C】開示の技術の実施形態に係る放射線検出器の製造方法の一例を示す断面図である。
【
図6D】開示の技術の実施形態に係る放射線検出器の製造方法の一例を示す断面図である。
【
図6E】開示の技術の実施形態に係る放射線検出器の製造方法の一例を示す断面図である。
【
図7】開示の技術の実施形態に係るシンチレータの形成に用いるマスクの平面図である。
【
図8】開示の技術の実施形態に係る放射線画像撮影装置の構成の一例を示す平面図である。
【
図9】開示の技術の実施形態に係る放射線検出器の構成の一例を示す断面図である。
【
図10A】開示の技術の実施形態に係るシンチレータシートの平面図である。
【
図10B】開示の技術の実施形態に係るシンチレータシートを切断することにより得られるシンチレータの平面図である。
【
図11A】開示の技術の実施形態に係る放射線画像撮影装置の部分的な構成の一例を示す平面図である。
【
図11B】開示の技術の実施形態に係る放射線画像撮影装置の部分的な構成の一例を示す平面図である。
【発明を実施するための形態】
【0027】
以下、開示の技術の実施形態の一例を、図面を参照しつつ説明する。なお、各図面において同一または等価な構成要素および部分には同一の参照符号を付与している。
【0028】
図1は、開示の技術の実施形態に係る放射線画像撮影装置10の構成の一例を示す斜視図である。放射線画像撮影装置10は、可搬型の電子カセッテの形態を有する。放射線画像撮影装置10は、放射線検出器30(FPD: Flat Panel Detectors)と、制御ユニット12と、支持板16と、放射線検出器30、制御ユニット12及び支持板16を収容する筐体14と、を含んで構成されている。
【0029】
筐体14は、例えば、X線等の放射線の透過性が高く、軽量で耐久性の高い炭素繊維強化樹脂(カーボンファイバー)により構成されたモノコック構造を有する。筐体14の上面は、放射線源(図示せず)から出射され、被写体(図示せず)を透過した放射線が入射する放射線入射面15とされている。筐体14内には、放射線入射面15側から順に、放射線検出器30、支持板16が配置されている。
【0030】
支持板16は、信号処理等を行う集積回路チップが搭載された回路基板19(
図2参照)を支持しており、筐体14に固定されている。制御ユニット12は、筐体14内の端部に配置されている。制御ユニット12は、バッテリ(図示せず)及び制御部29(
図5参照)を含んで構成されている。
【0031】
図2は、放射線画像撮影装置10の構成の一例を示す断面図である。放射線検出器30は、可撓性を有する基板34と、基板34の表面に設けられ、光電変換素子36(
図5参照)をそれぞれ含む複数の画素41と、基板34に積層されたシンチレータ32と、基板34を支持する支持部材60と、を有する。
【0032】
基板34は、可撓性を有するフレキシブル基板である。本明細書において、基板34が可撓性を有するとは、矩形状の基板34の4辺のうち1辺を固定したときに、基板34の重量により、基板34の固定辺から10cm離れた部位の高さが、固定辺の高さよりも2mm以上低くなることを意味する。例えば、基板34の材料として、樹脂基板、金属箔基板、厚さ0.1mm程度の薄ガラスを用いることができ、特に高耐熱性ポリイミドフィルムであるXenomax(登録商標)等の樹脂フィルムを好適に用いることができる。複数の画素41は、それぞれ、基板34の第1の面S1上に設けられている。
【0033】
シンチレータ32は、基板34の第1の面S1の側に積層されている。シンチレータ32は、照射された放射線を光に変換する蛍光体を含む。シンチレータ32は、一例としてCsI:Tl(タリウムが添加されたヨウ化セシウム)を含む柱状結晶の集合体によって構成されている。CsI:Tlの柱状結晶は、例えば気相成長法によって基板34上に直接形成することができる。なお、基板34とは別の基板に形成したCsI:Tlの柱状結晶を、基板34に貼り付けてもよい。また、シンチレータ32の材料としてGd
2O
2S:Tb(テルビウムが添加された酸硫化ガドリニウム)を用いることができる。複数の画素41を構成する光電変換素子36(
図5参照)の各々は、シンチレータ32から発せられた光に基づいて電荷を生成する。本明細書において、基板34上の複数の画素41が設けられた領域を、アクティブエリア40と称する。
【0034】
シンチレータ32の、基板34との接触面とは反対側の面S3及び面S3と交差する面S4は、反射膜50によって覆われている。反射膜50は、シンチレータ32から発せられた光を基板34側に反射させる機能を有する。反射膜50の材料として、例えば、Al2O3を用いることができる。反射膜50は、シンチレータ32の面S3及び面S4を覆い且つシンチレータ32の周辺部において基板34上をも覆っている。なお、反射膜50が設けられていなくても放射線画像撮影装置10において所望の画質の放射線画像を得ることができる場合には、反射膜50を省略することが可能である。
【0035】
反射膜50の表面は、封止膜51によって覆われている。封止膜51は、反射膜50を介してシンチレータ32の面S3及び面S4を覆い且つシンチレータ32の周辺部において基板34上をも覆っている。封止膜51は、シンチレータ32を封止することで、シンチレータ32への水分の侵入を防ぐ防湿機能を有する。封止膜51の材料として、ポリエチレンテレフタレート、ポリフェニレンサルファイド、ポリエチレンナフタレート等の樹脂を用いることができる。
【0036】
本実施形態において、放射線画像撮影装置10は、放射線の入射側に基板34を配置する、表面読取方式(ISS: Irradiation Side Sampling)による撮影方式を採用している。表面読取方式を採用することで、放射線の入射側にシンチレータ32を配置する、裏面読取方式(PSS: Penetration Side Sampling)を採用した場合と比較して、シンチレータ32における強発光位置と画素41との間の距離を短くすることができ、その結果、放射線画像の解像度を高めることができる。なお、放射線画像撮影装置10は、裏面読取方式を採用するものであってもよい。
【0037】
支持板16は、シンチレータ32の放射線入射側とは反対側に配置されている。支持板16とシンチレータ32との間には、隙間が設けられている。支持板16は、筐体14の側部に固定されている。支持板16のシンチレータ32側とは反対側の面には、回路基板19が設けられている。回路基板19には、画像データを生成する信号処理部26や、信号処理部26により生成された画像データを記憶する画像メモリ28等が搭載されている。
【0038】
回路基板19と基板34とは、フレキシブルプリント基板(FPC:Flexible Printed Circuit)やTCP(Tape Carrier Package)またはCOF(Chip On Film)20にプリントされた配線を介して電気的に接続されている。COF20上には、画素41から読み出された電荷を電気信号に変換するチャージアンプ24が搭載されている。回路基板19と基板34とを電気的に接続する、
図2において図示されていない別のフレキシブルプリント基板上には、ゲート線駆動部22(
図5参照)が搭載されている。
【0039】
支持部材60は、基板34の第1の面S1とは反対側の第2の面S2の側に積層されている。支持部材60は、基板34がシンチレータ32を支持するのに必要な剛性を、基板34に付与する役割を担う。すなわち、支持部材60を設けることで、支持部材60を設けない場合と比較して、シンチレータ32の重量による基板34の撓みが抑制される。
【0040】
支持部材60の材料として、例えば、ポリフェニレンサルファイド(PPS)、ポリアリレート(PAR)、ポリサルフォン(PSF)、ポリエーテルサルフォン(PES)、ポリエーテルイミド(PEI)、ポリアミドイミド(PAI)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、フェノール樹脂、ポリテトラフルオロエチレン、ポリクロロトリフルオロエチレン、シリコーン樹脂、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリカーボネート等の樹脂を用いることができる。また、支持部材60の材料として、アルミニウム、鉄、またはこれらの合金等の金属を用いることもできる。また、支持部材60の材料として、樹脂及び金属を積層した積層体を用いることもできる。支持部材60の、基板34との接触面とは反対側の面S5は、接着層18を介して筐体14の内壁に貼り付けられている。
【0041】
図3は、筐体14、基板34、アクティブエリア40及びシンチレータ32の位置関係及びこれらの外形の一例を示す平面図である。
【0042】
筐体14及び基板34の外形は、例えば矩形である。基板34は、筐体14との間にクリアランスA1を有して筐体14の内部に収容されている。すなわち、基板34の各辺と、筐体14の内壁との間には間隙が設けられている。これにより、例えば、放射線画像撮影装置10が落下するなどして放射線画像撮影装置10に衝撃が加わった場合において、筐体14が変形した場合でも、基板34及び基板34に搭載されている各部材が破損するリスクを抑制することができる。
【0043】
基板34のアクティブエリア40の全体は、シンチレータ32によって覆われている。すなわち、シンチレータ32は、複数の画素41の各々を覆っている。シンチレータ32のサイズは、基板34のサイズよりも小さく、シンチレータ32の全体が基板34と接している。本実施形態において、シンチレータ32は、4つのコーナ部32C1、32C2、32C3、32C4と、4つの辺32L1、32L2、32L3、32L4とを有する。辺32L1と辺32L2とがコーナ部32C1を共有し、辺32L2と辺32L3とがコーナ部32C2を共有し、辺32L3と辺32L4とがコーナ部32C3を共有し、辺32L4と辺32L1とがコーナ部32C4を共有している。なお、辺32L1と辺32L2とがコーナ部32C1を共有しているとは、コーナ部32C1の一端に辺32L1が接続され、コーナ部32C1の他端に辺32L2が接続されていることを意味する。他のコーナ部32C2~32C4についても同様である。
【0044】
ここで、
図4は、
図3における一点鎖線で囲んだコーナ部32C
1の周辺の領域Rの拡大図である。以下の説明においては、コーナ部32C
1について説明するが、他のコーナ部32C
2、32C
3、32C
4についても同様である。シンチレータ32のコーナ部32C
1は、面取りされており、シンチレータ32のコーナ部32C
1の外縁32Eは、当該コーナ部32C
1を共有する辺32L
1及び辺32L
2の延長線32bよりも、基板34の内側(中央側)に配置されている。換言すれば、シンチレータ32のコーナ部32C
1の外縁32Eは、当該コーナ部32C
1を共有する辺32L
1及び辺32L
2の延長線32bから後退した位置に配置されている。なお、コーナ部32C
1の外縁32Eとは、当該コーナ部32C
1を共有する辺32L
1及び辺32L
2に接続された、これらの辺32L
1及び辺32L
2に対して屈曲または湾曲したシンチレータ32の縁である。
図4に示すコーナ部32C
1以外の他のコーナ部32C
2、32C
3、32C
4についても同様である。
【0045】
なお、シンチレータ32の面取りとは、シンチレータ32の各コーナ部32C1~32C4の先端の角を除去し、各コーナ部32C1~32C4に角面または丸面を形成することを意味する。シンチレータ32の各コーナ部32C1~32C4における面取りの角度(すなわち、各コーナ部32C1~32C4の外縁32Eと延長線32bとの角度)φは、典型的には45°であるが、これに限定されるものではない。シンチレータ32の各コーナ部32C1~32C4を面取りすることで、シンチレータ32の各コーナ部32C1~32C4における屈曲部の角度θ1、θ2を、それぞれ鈍角とすることができる。
【0046】
アクティブエリア40の端部と、シンチレータ32の対応する辺との間の距離をBとし、シンチレータ32の面取り寸法をCとすると、下記の(1)式を満たすことが好ましい。下記の(1)式を満たすことで、シンチレータの各コーナ部32C1~32C4を面取りしてもアクティブエリア40の全体をシンチレータ32で覆うことが可能となる。
C<2B ・・・(1)
【0047】
また、シンチレータ32の各辺32L1~32L4と、基板34の対応する辺との間の距離をDとし、アクティブエリア40の端部と、筐体14との間の距離をLとすると、下記の(2)式を満たすことが好ましい。下記の(2)式は、基板34と筐体14との間のクリアランスがゼロよりも大きいことを意味する。また、(1)式及び(2)式より、(3)式を導くことができる。
L-B-D>0 ・・・(2)
C<2B<2(L-D) ・・・(3)
【0048】
図5は、放射線画像撮影装置10の電気的構成の一例を示す図である。基板34の第1の面S1には、複数の画素41がマトリクス状に配置されている。画素41の各々は、シンチレータ32から発せられた光に基づいて電荷を発生させる光電変換素子36と、光電変換素子36において生成された電荷を読み出す際にオン状態とされるスイッチング素子としてのTFT(Thin Film Transistor)42とを含んでいる。光電変換素子36は、例えば、アモルファスシリコンによって構成されるフォトダイオードであってもよい。
【0049】
基板34の第1の面S1には、画素41の配列に沿って一方向(行方向)に伸びるゲート線43と、ゲート線43の伸びる方向と交差する方向(列方向)に伸びる信号線44が設けられている。画素41の各々は、ゲート線43と信号線44との各交差部に対応して設けられている。
【0050】
ゲート線43の各々は、ゲート線駆動部22に接続されている。ゲート線駆動部22は、制御部29から供給される制御信号に基づいて、画素41に蓄積された電荷の読み出しを行う。信号線44の各々は、チャージアンプ24に接続されている。チャージアンプ24は複数の信号線44の各々に対応して設けられている。チャージアンプ24は、画素41から読み出された電荷に基づいて電気信号を生成する。チャージアンプ24の出力端子は、信号処理部26に接続されている。信号処理部26は、制御部29から供給される制御信号に基づいて、チャージアンプ24から供給される電気信号に対して所定の処理を施すことで、画像データを生成する。信号処理部26には、画像メモリ28が接続されている。画像メモリ28は、制御部29から供給される制御信号に基づいて信号処理部26によって生成された画像データを記憶する。
【0051】
制御部29は、有線または無線の通信部(図示せず)を介して、放射線源と接続されたコンソール(図示せず)と通信して、ゲート線駆動部22、信号処理部26及び画像メモリ28を制御することで、放射線画像撮影装置10の動作を制御する。制御部29は、例えばマイクロコンピュータを含んで構成されていてもよい。なお、ゲート線駆動部22は、開示の技術における読み出し部の一例である。信号処理部26は、開示の技術における生成部の一例である。
【0052】
以下に、放射線画像撮影装置10の動作の一例について説明する。放射線源(図示せず)から出射され被写体を透過した放射線が放射線画像撮影装置10の放射線入射面15から入射すると、シンチレータ32は、放射線を吸収して可視光を発する。画素41を構成する光電変換素子36は、シンチレータ32から発せられた光を電荷に変換する。光電変換素子36によって生成された電荷は、対応する画素41に蓄積される。光電変換素子36によって生成された電荷の量は、対応する画素41の画素値に反映される。
【0053】
放射線画像を生成する場合、ゲート線駆動部22は、制御部29から供給される制御信号に基づいて、ゲート線43を介してゲート信号をTFT42に供給する。TFT42は、このゲート信号により行単位でオン状態とされる。TFT42がオン状態とされることにより画素41に蓄積された電荷が信号線44に読み出され、チャージアンプ24に供給される。チャージアンプ24は、信号線44に読み出された電荷に基づいて電気信号を生成し、これを信号処理部26に供給する。
【0054】
信号処理部26は、複数のサンプルホールド回路、マルチプレクサ、アナログデジタル変換器(いずれも図示せず)を備えている。複数のサンプルホールド回路は、複数の信号線44の各々に対応して設けられている。チャージアンプ24から供給された電気信号は、サンプルホールド回路で保持される。個々のサンプルホールド回路で保持された電気信号は、マルチプレクサを介してアナログデジタル変換器に入力され、デジタル信号に変換される。信号処理部26は、アナログデジタル変換器によって生成されたデジタル信号と画素41の位置情報とを対応付けたデータを画像データとして生成し、画像データを画像メモリ28に供給する。画像メモリ28は、信号処理部26によって生成された画像データを記憶する。
【0055】
以下に、放射線検出器30の製造方法について説明する。
図6A~
図6Eは、放射線検出器30の製造方法の一例を示す断面図である。
【0056】
はじめに、基板34の第1の面S1に複数の画素41を形成する(
図6A)。なお、基板34を支持するための支持体(図示せず)により基板34を支持した状態で、画素41の形成を行ってもよい。
【0057】
次に、基板34の第1の面S1とは反対側の第2の面S2に支持部材60を貼り付ける(
図6B)。
【0058】
次に、基板34の第1の面S1上にマスク70を形成する(
図6C)。ここで、
図7は、マスク70の構成の一例を示す平面図である。
図7に示すように、マスク70は後の工程において形成されるシンチレータ32の外形に対応する形状の開口部71を有する。
【0059】
次に、基板34の第1の面S1における、マスク70の開口部71から露出している部分に、シンチレータ32を形成する(
図6D)。シンチレータ32は、例えば気相成長法を用いて、TlをドープしたCsIの柱状結晶を、基板34上に直接成長させることにより形成することができる。シンチレータ32を形成する際にマスク70を用いることで、シンチレータ32の外形は、マスク70の開口部71の形状に応じた形状となる。すなわち、シンチレータの各コーナ部32C
1~32C
4は面取りされ、
図4に示すように、例えば、シンチレータ32のコーナ部32C
1の外縁32Eは、当該コーナ部32C
1を共有する辺32L
1及び辺32L
2の延長線32bよりも、基板34の内側(中央側)に配置される。シンチレータ32の形成後、マスク70を除去する。
【0060】
次に、シンチレータ32の、基板34との接触面とは反対側の面S3及び面S3と交差する面S4を覆う反射膜50を形成する。続いて、反射膜50を覆う封止膜51を形成する(
図6E)。反射膜50及び封止膜51を含む積層膜は、シンチレータ32の周辺部において基板34上をも覆うように形成される。
【0061】
基板が可撓性を有する場合、例えば、放射線検出器の製造工程において、基板をハンドリングする際に、基板に撓みが生じやすく、シンチレータが基板から剥離するおそれがある。特に、シンチレータのコーナ部は、シンチレータの他の部分と比較して、基板との接触面積が小さいので、コーナ部において剥離が生じやすい。開示の技術の実施形態に係る放射線検出器30及び放射線画像撮影装置10によれば、シンチレータ32の各コーナ部32C1~32C4が面取りされ、各コーナ部32C1~32C4の外縁32Eが、当該コーナ部32C1~32C4を共有する各辺の延長線よりも、基板34の内側(中央側)に配置されている。従って、シンチレータ32の各コーナ部32C1~32C4の外縁が、当該コーナ部32C1~32C4を共有する各辺の延長線上または延長線よりも基板の外側に配置されている場合と比較して、シンチレータ32の各コーナ部32C1~32C4における基板34との接触面積を大きくすることができ、シンチレータ32が基板34から剥離するリスクを低減させることができる。
【0062】
また、シンチレータ32の各コーナ部32C1~32C4が面取りされることで、面取りされない場合と比較して、反射膜50及び封止膜51を含む積層膜の、シンチレータ32のコーナ部32C1~32C4を覆う部分における折れの発生を抑制することができる。更に、反射膜50及び封止膜51を含む積層膜の、シンチレータ32のコーナ部32C1~32C4の近傍における、基板34との接触面積を大きくすることができる。これにより、反射膜50及び封止膜51を含む積層膜がシンチレータ32から剥離するリスクを抑制することができ、また、上記積層膜の破れ等の破損の発生を抑制することができる。
【0063】
ここで、
図8は、基板として可撓性を有さないガラス基板を使用した場合の基板の外縁E2及びこの場合のシンチレータの外縁E4と、開示の技術の実施形態に係る基板34の外縁E1及びシンチレータ32の外縁E3と併せて示した図である。開示の技術の実施形態に係る放射線画像撮影装置10によれば、基板34が樹脂フィルム等の可撓性を有する材料によって構成されているので、基板34と筐体14との間のクリアランスA1を、ガラス基板を用いる場合のクリアランスA2よりも小さくすることができる。開示の技術の実施形態に係る基板34のサイズを、ガラス基板のサイズよりも大きくすることができる。従って、開示の技術の実施形態に係るシンチレータ32のサイズを、ガラス基板を使用する場合のシンチレータのサイズよりも大きくすることができる。従って、開示の技術の実施形態に係る放射線検出器30及び放射線画像撮影装置10によれば、シンチレータ32のコーナ部32C
1~32C
4が面取りされるものの、アクティブエリア40の全体を、シンチレータ32で覆うことが可能である。これにより、複数の画素41の各々を有効に機能させることができ、放射線画像撮影装置10により得られる放射線画像の全体に亘り高画質を得ることができる。
【0064】
図9は、開示の技術の実施形態に係る放射線検出器30の断面図である。シンチレータ32を気相成長法によって形成すると、
図9に示すように、シンチレータ32の端部の面S4は傾斜面となる。上記のように、開示の技術の実施形態に係る放射線検出器30によれば、ガラス基板を使用する場合と比較して、基板34のサイズを大きくすることができる。従って、シンチレータ32の面S4の傾斜角度αを、ガラス基板を使用する場合と比較して小さくすることができる。これにより、反射膜50及び封止膜51を含む積層膜をシンチレータ32の表面に形成する際の、上記積層膜とシンチレータ32との位置あわせ精度を、ガラス基板を使用する場合と比較して緩和することができる。
【0065】
なお、
図9に示すように、シンチレータ32の傾斜している面S4と重なる位置に画素41を配置してもよい。この場合、シンチレータ32の傾斜部の画素41を覆う部分の厚さが、シンチレータ32の平坦部における厚さTの70%以上であることが好ましい。これにより、複数の画素41の各々を有効に機能させることができ、放射線画像撮影装置10により得られる放射線画像の全体に亘り高画質を得ることができる。
【0066】
なお、上記の実施形態では、気相成長法によりシンチレータ32を基板34上に直接成長させる場合について例示したが、この態様に限定されるものではない。例えば、気相成長法により、基板34とは別の基板に形成したシンチレータ32を、基板34に貼り付けてもよい。この場合、シンチレータ32の外形に対応した形状の開口部を有するマスクを、基板34とは別の基板上に配置し、上記別の基板の、マスクの開口部から露出した部分にCsI:Tlの柱状結晶を成長させることで、上記別の基板上にシンチレータ32を形成する。その後、別の基板に形成されたシンチレータ32を基板34に貼り付ける。
【0067】
Gd
2O
2S:Tb等の柱状結晶構造を有さない材料からなるシンチレータは、シンチレータシートの状態で提供されることが一般的である。シンチレータ32の材料として、シンチレータシートを用いる場合、
図10Aに示すように、シンチレータ32の外形に応じた切断線Lcに沿って、シンチレータシート32Sを切断する。これにより、
図10Bに示すように各コーナ部32C
1~32C
4が面取りされたシンチレータ32をシンチレータシート32Sから切り出す。その後、シンチレータシート32Sから切り出されたシンチレータ32を基板34に貼り付ける。
【0068】
また、上記の実施形態では、シンチレータ32の各コーナ部32C
1~32C
4における面取りの形態として、シンチレータ32の各コーナ部32C
1~32C
4の外縁32Eが、当該コーナ部を共有する各辺と交差する方向に伸びる1つの辺を含む形態を例示したが、この形態に限定されるものではない。例えば、
図11Aに示すように、シンチレータ32の各コーナ部32C
1~32C
4の外縁32Eが、当該コーナ部を共有する各辺と交差する方向に伸びる2つの辺を有していてもよい。また、シンチレータ32の各コーナ部32C
1~32C
4の外縁32Eが、当該コーナ部を共有する各辺と交差する方向の伸びる3つ以上の辺を有していてもよい。シンチレータ32の各コーナ部32C
1~32C
4の外縁32Eが、当該コーナ部を
共有する各辺と交差する少なくとも1つの辺を有することで、シンチレータ32は上記少なくとも1つの辺において基板
34と接することができ、シンチレータ32が基板34から剥離するリスクを低減させる効果を促進できる。
【0069】
また、
図11Bに示すように、シンチレータ32の各コーナ部32C
1~32C
4の外縁32Eが丸みを帯びた形状であってもよい。この場合、外縁32Eは、円または楕円の弧に相当する形状であってもよいし、円または楕円以外の曲線形状であってもよい。シンチレータ32の各コーナ部32C
1~32C
4の外縁32Eを、丸みを帯びた形状とすることで、シンチレータ32は、上記丸みを帯びた外縁32Eにおいて基板34と接することができ、シンチレータ32が基板34から剥離するリスクを低減させる効果を促進できる。
【0070】
ここで、アクティブエリア40の端部と、シンチレータ32の対応する辺との間の距離をBとし、シンチレータ32の各辺32L1~32L4と、基板34の対応する辺との間の距離をDとし、アクティブエリア40の端部と、筐体14との間の距離をLとすると、下記の(4)式を満たすことが好ましい。下記の(4)式は、基板34と筐体14との間のクリアランスがゼロよりも大きいことを意味する。
L-B-D>0 ・・・(4)
【0071】
また、シンチレータ32の各コーナ部32C1~32C4の外縁32Eにおける曲率半径をRとすると、シンチレータ32の各コーナ部32C1~32C4の頂部Pを通り且つアクティブエリア40の端部と平行な仮想線Qと、シンチレータの各辺32L1~32L4との距離Fは、下記の(5)式によって示される。また、B>Fであるから、(6)式を導くことができる。更に、(4)式及び(6)式から(7)式を導くことができる。
F=R-R/√2 ・・・(5)
B>R-R/√2 ・・・(6)
R<(2+√2)B<(2+√2)×(L-D) ・・・(7)
【0072】
図11A及び
図11Bに示す各形態においても、シンチレータ32の各コーナ部32C
1~32C
4の外縁32Eは、当該コーナ部を共有する各辺の延長線よりも、基板34の内側(中央側)に配置される。従って、シンチレータが基板から剥離するリスクを、開示の技術を適用しない場合と比較して低減することが可能である。
【0073】
日本出願特願2018-034555号の開示はその全体が参照により本明細書に取り込まれる。
【0074】
本明細書に記載された全ての文献、特許出願、および技術規格は、個々の文献、特許出願、および技術規格が参照により取り込まれることが具体的かつ個々に記された場合と同程度に、本明細書中に参照により取り込まれる。
【符号の説明】
【0075】
10 放射線画像撮影装置
12 制御ユニット
14 筐体
15 放射線入射面
16 支持板
18 接着層
19 回路基板
20 COF
22 ゲート線駆動部
24 チャージアンプ
26 信号処理部
28 画像メモリ
29 制御部
30 放射線検出器
32 シンチレータ
32C コーナ部
32E 外縁
32S シンチレータシート
32a 辺
32b 延長線
34 基板
36 光電変換素子
40 アクティブエリア
41 画素
42 TFT
43 ゲート線
44 信号線
50 反射膜
51 封止膜
60 支持部材
70 マスク
71 開口部
α 傾斜角度
θ1、θ2、θ3、φ 角度
A1、A2 クリアランス
Lc 切断線
S1、S2、S3、S4、S5 面