特許7053204遅延時間測定装置、半導体装置及び遅延時間の測定方法

発明の名称　遅延時間測定装置、半導体装置及び遅延時間の測定方法

出願人　ラピスセミコンダクタ株式会社　（識別番号 308033711）

　　　　特許公開件数ランキング 1025 位（23件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 2496 位（6件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7053204

公報発行日　2022年4月12

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7053204

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