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ラピスセミコンダクタ株式会社
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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第1445位 3件
（
2024年：第848位 29件）
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第1697位 2件
（2024年：第522位 50件）
（ランキング更新日：2025年3月14日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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ラピスセミコンダクタ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7611668 | 半導体装置および半導体ウェハ | 2025年 1月10日 | |
| 特許 7611795 | 測定装置、測定方法、イオン感応半導体デバイス | 2025年 1月10日 |
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7611668 7611795
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