(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2022-06-13
(45)【発行日】2022-06-21
(54)【発明の名称】試料測定装置および試料測定方法
(51)【国際特許分類】
G01N 23/20033 20180101AFI20220614BHJP
G01T 7/08 20060101ALI20220614BHJP
【FI】
G01N23/20033
G01T7/08 Z
(21)【出願番号】P 2018204260
(22)【出願日】2018-10-30
【審査請求日】2021-04-27
(31)【優先権主張番号】P 2017223364
(32)【優先日】2017-11-21
(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP
(73)【特許権者】
【識別番号】000183303
【氏名又は名称】住友金属鉱山株式会社
(74)【代理人】
【識別番号】100091362
【氏名又は名称】阿仁屋 節雄
(74)【代理人】
【識別番号】100145872
【氏名又は名称】福岡 昌浩
(72)【発明者】
【氏名】永尾 晴美
(72)【発明者】
【氏名】小野 勝史
【審査官】嶋田 行志
(56)【参考文献】
【文献】特表2017-527353(JP,A)
【文献】特開2008-058233(JP,A)
【文献】特開2007-139613(JP,A)
【文献】特開2014-163777(JP,A)
【文献】特開2004-251624(JP,A)
【文献】米国特許出願公開第2015/0369761(US,A1)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G01N 23/00-G01N 23/2276
G01T 1/00-G01T 7/12
A61B 6/00-A61B 6/14
JSTPlus/JST7580/JSTChina(JDreamIII)
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
試料測定装置の本体に対して装着可能な付属部品であって一つの試料の測定の際に機能を発揮する付属部品を、前記試料測定装置のチャンバー内にて水平移動可能
であり、かつ、前記チャンバー内の床部に備えられた運搬機構を備え
ており、
前記運動機構は台車であり、
前記チャンバーは掘り込み型である試料測定装置。
【請求項2】
前記台車は、付属部品を載置するための載置部の下方に複数の車輪を設けたものである、請求項1に記載の試料測定装置。
【請求項3】
前記台車に対し、天地方向に伸縮自在な昇降機構が設けられた、請求項
1または2に記載の試料測定装置。
【請求項4】
前記試料測定装置はX線測定装置である、請求項1~
3のいずれかに記載の試料測定装置。
【請求項5】
前記付属部品は、X線の出射側付属部品、X線の検出側付属部品および測定中の試料の温度を調節する温調装置の少なくともいずれかである、請求項
4に記載の試料測定装置。
【請求項6】
試料測定装置の本体に対して装着可能な付属部品であって一つの試料の測定の際に機能を発揮する付属部品が載置され
、前記試料測定装置の掘り込み型のチャンバー内の床部に備えられた運搬機構
である台車を、
前記チャンバー内にて、前記付属部品の装着予定位置の近傍に水平移動させる運搬工程と、
前記運搬工程後、前記付属部品を前記試料測定装置の本体に装着する装着工程と、
前記装着工程後、試料を測定する測定工程と、
を有する、試料測定方法。
【請求項7】
前記測定工程後、前記試料測定装置の本体から前記付属部品を取り外し、前記運搬機構に載置する載置工程と、
前記載置工程後、前記付属部品ごと前記運搬機構を所定の場所に移動させる片付け工程と、
を有する、請求項
6に記載の試料測定方法。
【請求項8】
一つの試料の測定の際に機能を発揮する付属部品を試料測定装置の本体から取り外して、前記付属部品が装着されていた位置の近傍に配置され
、前記試料測定装置の掘り込み型のチャンバー内の床部に備えられた運搬機構
である台車に載置する載置工程と、
前記載置工程後、
前記チャンバー内にて、前記付属部品ごと前記運搬機構を所定の場所に水平移動させる片付け工程と、
を有する、試料測定方法。
【請求項9】
前記台車は、付属部品を載置するための載置部の下方に複数の車輪を設けたものである、請求項6~8のいずれかに記載の試料測定方法。
【請求項10】
前記台車に対し、天地方向に伸縮自在な昇降機構が設けられた、請求項
6~9のいずれかに記載の試料測定方法。
【請求項11】
前記試料測定装置はX線測定装置である、請求項
6~
10のいずれかに記載の試料測定方法。
【請求項12】
前記付属部品は、X線の出射側付属部品、X線の検出側付属部品および測定中の試料の温度を調節する温調装置の少なくともいずれかである、請求項
11に記載の試料測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、試料測定装置および試料測定方法に属する。
【背景技術】
【0002】
従来、鉱物、その他の物質の特性を調べる試料測定装置としては種々のものが知られている。物質の特性の一つである結晶構造を解析するための方法としてX線回折方法が存在する。X線回折方法において、利用されるX線回折装置には被検体試料の結晶構造が変化する瞬間の温度(相転移点)を得るために、試料を温度制御する小型の電気炉等の試料温調装置(以降、単に温調装置とも言う。)が試料部に装着され、この温調装置の試料及び検出器に対するX線照射ビームの角度を変化させ、各軸の角度と回折時のX線の量を検出することによって結晶構造の解析が行われる(例えば特許文献1)。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
X線回折装置に限らず、多くの場合、試料測定装置においては実際に測定を行う装置本体の全体を筐体が覆う構成を有している。筐体には開口部が設けられており、作業者は開口部越しに装置本体に対する試料のセットや装置本体の調整を行う。ただ、試料測定装置に設けられた開口部は大抵の場合は狭く、1名が作業する程度の広さしかない。そのため、試料測定装置のチャンバー内での作業は不自然な体勢で行わなければならない。例えば上記の温調装置を試料測定装置に取り付ける場合または取り外す場合、不自然な体勢で、チャンバー内での持ち運びを行わなければならない。その様子を示すのが
図1であり、
図1(a)は温調装置7をチャンバー3内の床部に載置した様子を示す試料測定装置100の概略正面図(実線はチャンバー3内部の構成、破線は筐体2の構成。以降同様。)であり、
図1(b)は温調装置7を作業者Fがチャンバー3内で持ち運んでいる様子を示す概略側面図である。
【0005】
しかも、X線回折装置に限らず、多くの場合、試料測定装置100に着脱可能な付属部品は重量のあるものがほとんどである。
【0006】
このような狭い場所且つ不自然な体勢での重量のあるものの運搬作業は困難であり、作業効率が低下するおそれがある。そのうえ、作業者Fが腰痛を抱えている場合は特に厳しい作業となる。また、肉体的な問題以外にも、試料測定装置のチャンバー3内も開口部21と同様狭い場合が多く、そのような狭い場所にて付属部品を手作業で移動させようとする際に、該付属部品を試料測定装置の他付属部品と衝突させてしまい付属部品を破損するおそれも否定できない。一般的に試料測定装置の付属部品は極めて高価であり、試料測定を行う上で看過できない課題である。
【0007】
試料測定装置がX線測定装置である場合には上記課題は特に顕著である。X線測定装置およびその付属品に使用される材質のほとんどは金属であり、小型サイズのものでも思っていた以上に実際には重量がある。不自然な体勢にて重いものを運搬することになり、上記課題が顕著となる。
【0008】
本発明の課題は、試料測定装置のチャンバー内であっても試料測定装置の付属部品を作業者的にも装置的にも安全かつ作業効率良く装着可能とすることである。
【課題を解決するための手段】
【0009】
本発明者は上記の知見に基づき、上記課題を解決するための手段を検討した。その結果、試料測定装置のチャンバー内にて上記付属部品を水平移動可能な運搬機構を設けることにより上記課題が解決可能となるという知見を得た。
【0010】
上記の知見に基づいて成された本発明の態様は、以下の通りである。
本発明の第1の態様は、
試料測定装置の本体に対して装着可能な付属部品であって一つの試料の測定の際に機能を発揮する付属部品を、前記試料測定装置のチャンバー内にて水平移動可能な運搬機構を備えた、試料測定装置である。
【0011】
本発明の第2の態様は、第1の態様に記載の発明において、
前記運搬機構は前記チャンバー内の床部に備えられる。
【0012】
本発明の第3の態様は、第1または第2の態様に記載の発明において、
前記運搬機構は台車である。
【0013】
本発明の第4の態様は、第3の態様に記載の発明において、
前記台車に対し、天地方向に伸縮自在な昇降機構が設けられる。
【0014】
本発明の第5の態様は、第1~第4のいずれかの態様に記載の発明において、
前記チャンバーは掘り込み型である。
【0015】
本発明の第6の態様は、第1~第5のいずれかの態様に記載の発明において、
前記試料測定装置はX線測定装置である。
【0016】
本発明の第7の態様は、第6の態様に記載の発明において、
前記付属部品は、X線の出射側付属部品、X線の検出側付属部品および測定中の試料の温度を調節する温調装置の少なくともいずれかである。
【0017】
本発明の第8の態様は、
試料測定装置の本体に対して装着可能な付属部品であって一つの試料の測定の際に機能を発揮する付属部品が載置された運搬機構を、前記試料測定装置のチャンバー内にて、前記付属部品の装着予定位置の近傍に水平移動させる運搬工程と、
前記運搬工程後、前記付属部品を前記試料測定装置に装着する装着工程と、
前記装着工程後、試料を測定する測定工程と、
を有する、試料測定方法である。
【0018】
本発明の第9の態様は、第8の態様に記載の発明において、
前記測定工程後、前記試料測定装置の本体から前記付属部品を取り外し、前記運搬機構に載置する載置工程と、
前記載置工程後、前記付属部品ごと前記運搬機構を所定の場所に移動させる片付け工程と、
を有する。
【0019】
本発明の第10の態様は、
一つの試料の測定の際に機能を発揮する付属部品を試料測定装置の本体から取り外して、前記付属部品が装着されていた位置の近傍に配置された運搬機構に載置する載置工程と、
前記載置工程後、前記試料測定装置のチャンバー内にて、前記付属部品ごと前記運搬機構を所定の場所に水平移動させる片付け工程と、
を有する、試料測定方法である。
【0020】
本発明の第11の態様は、第8~第10のいずれかの態様に記載の発明において、
前記運搬機構は前記チャンバー内の床部に備えられる。
【0021】
本発明の第12の態様は、第8~第11のいずれかの態様に記載の発明において、
前記運搬機構は台車である。
【0022】
本発明の第13の態様は、第12の態様に記載の発明において、
前記台車に対し、天地方向に伸縮自在な昇降機構が設けられる。
【0023】
本発明の第14の態様は、第8~第13のいずれかの態様に記載の発明において、
前記チャンバーは掘り込み型である。
【0024】
本発明の第15の態様は、第8~第14のいずれかの態様に記載の発明において、
前記試料測定装置はX線測定装置である。
【0025】
本発明の第16の態様は、第15の態様に記載の発明において、
前記付属部品は、X線の出射側付属部品、X線の検出側付属部品および測定中の試料の温度を調節する温調装置の少なくともいずれかである。
【発明の効果】
【0026】
本発明によれば、試料測定装置のチャンバー内であっても試料測定装置の付属部品を作業者的にも装置的にも安全かつ作業効率良く装着可能とする技術を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【0027】
【
図1】
図1(a)は温調装置をチャンバー内の床部に載置した様子を示す試料測定装置の概略正面図(実線はチャンバー内部の構成、破線は筐体の構成。以降同様。)であり、
図1(b)は温調装置を作業者がチャンバー内で持ち運んでいる様子を示す概略側面図である。
【
図2】
図2(a)は温調装置をチャンバー内の床部にある台車上に載置した様子を示す試料測定装置の概略正面図であり、
図2(b)は温調装置7を作業者Fがチャンバー3内で台車9により矢印方向へと楽に運搬している様子を示す概略側面図である。
【
図3】
図3(a)は台車の概略斜視図であり、
図3(b)は温調装置の概略斜視図であり、
図3(c)は台車に温調装置を載置した様子を示す概略斜視図である。
【
図4】
図4(a)は昇降機構を稼働する前の台車の概略正面図であり、
図4(b)は昇降機構を稼働した後の台車の概略正面図である。
【発明を実施するための形態】
【0028】
以下、本発明の実施の形態について、以下に説明する。本明細書において「~」は所定の値以上かつ所定の値以下のことを指す。
【0029】
<試料測定装置>
本実施形態における試料測定装置1は、
図2に示すように、試料測定装置1の本体に対して装着可能な付属部品であって一つの試料の測定の際に機能を発揮する付属部品を、試料測定装置1のチャンバー3内にて水平移動可能な運搬機構を備えたものである。
【0030】
本実施形態における試料測定装置1としては、筐体2と、筐体2に設けられた開口部21と、筐体2内のチャンバー3と、試料を測定するためにチャンバー3内に配置された試料測定装置1の本体(以降、単に装置本体4とも言う。)と、を備えたものならば特に限定は無く、公知のものを採用すればよい。
【0031】
ここで試料測定装置1に対して装着可能な付属部品とは、先にも述べた付属部品のことである。この付属部品については、一つの試料の測定の際に機能を発揮する付属部品であれば特に限定は無く、公知のものを採用すればよい。なお、一つの試料の測定が終了するとともに別の試料が搭載された試料ホルダーをセットするオートサンプラーは、本実施形態における付属部品には含まれない。
【0032】
本実施形態における付属部品としては、X線測定装置1の場合だと、X線の出射側付属部品5、X線の検出側付属部品6および測定中の試料の温度を調節する温調装置7の少なくともいずれかであるのが好ましい。これらの付属部品は重量が大きく、運搬機構を用いることの恩恵を十分に享受できる。
【0033】
上記付属部品のうち、特にX線測定に用いられる温調装置7は重量が大きい。例えば、温調装置7において試料を加熱する機構を備える場合、炉体の周面にヒータ線を巻いた傍熱式の温調装置7を使用することになる。この温調装置7では、ヒータ線として、白金線、ニクロム線、モリブデン線などの金属線を使用し、炉体の背面板に装着した試料を周囲から均一に加熱するようになっている。この温調装置7では、加熱限界温度が1000℃以上であるため、炉体はステンレス等の合金材料で構成されており、その重量は5kg以上にもなる。
【0034】
温調装置7としては公知のものを使用してもよく、通常、温調装置7には、
図3(b)に示すように、温調装置7内に試料を配置するためのステージを有する試料挿脱部71と熱電対72とを有し、電源や温度制御等のケーブルがX線測定装置1に接続されており、使用しない際は、装置本体4から取り外し、X線測定装置1のチャンバー3内に仮置きすることになる。但し、X線測定装置1においてチャンバー3内の開口部21近傍(すなわち温調装置7を用いない場合には装置本体4に取り付けられている試料保持部8の近傍)では、オートサンプラーを配置したり他の光学系ユニットの交換作業をしたりする。そのため、温調装置7は、X線測定装置1のチャンバー3内でも特に端の空きスペースに仮置きすることになる。温調装置7等をチャンバー3内に仮置きすると、先ほど本発明の課題の欄にて述べたように、狭い場所且つ不自然な体勢での重量のあるものの運搬作業を行うことになってしまい、作業者的にも装置的にも安全に作業ができるとは言い難い。
【0035】
そこで本実施形態においては、試料測定装置1のチャンバー3内にて水平移動可能な運搬機構を配備する。付属部品を運搬機構に載置しておけば、少なくとも人力で付属部品を持ち上げて移動させるよりは少ない力でチャンバー3内にて付属部品を水平移動させることが可能となり、作業効率が向上する。持ち上げ移動の機会がなくなることにより、従来に比べ、作業者的にも装置的にも安全に作業ができるようになる。
【0036】
この運搬機構の形態としては特に限定は無い。例えば、チャンバー3内の床部や天井部に運搬機構を備えてもよいが、床部であるのが好ましい。天井部に運搬機構(例えば天井部であって装置本体4直上の周囲に設けたレールと嵌合して水平方向に摺動可能なクレーン等)を設けた場合だと付属部品を装置本体4よりも上方へといちいち持ち上げなければならない。その一方、床部ならば、装置本体4に取り付けられていた付属部品を降ろすことにより運搬機構に載置させられる。
【0037】
また、運搬機構は付属部品を水平移動可能ならば機構に限定は無く、例えば床部であって装置本体4の周囲に設けたレールと嵌合して水平方向に移動可能な摺動機構であっても構わないが、レールを設けるスペースがチャンバー3内に存在しない場合もあるため、運搬機構は台車であるのが好ましい。台車であれば、狭いスペースでも台車自体を小さくすることにより付属部品の運搬をスムーズに行うことができるし、上述のレールを設けずとも自由にチャンバー3内を移動させることが可能となる。また、床部を台車で移動することにより、試料測定装置1の他の付属部品との接触機会を著しく減らすことも可能となる。その様子を示すのが
図2であり、
図2(a)は温調装置7をチャンバー3内の床部にある台車9上に載置した様子を示す試料測定装置1の概略正面図であり、
図2(b)は温調装置7を作業者Fがチャンバー3内で台車9により矢印方向へと楽に運搬している様子を示す概略側面図である。
【0038】
台車9としては、
図3(a)に示すように、付属部品を載置するための載置部の下方に複数の車輪を設けたものを採用すれば足りる。車輪の数は3つ以上であればよいが安定性を鑑みると4つが好ましい。載置部は付属部品を安定して載置可能なものであれば特に限定は無く、例えば平板状のものであればよい。また、付属部品の運搬中に付属部品が載置部から転落しないように、載置部の周縁に対して上方に向けた突出部(不図示)を設けても構わない。
【0039】
なお、X線測定装置1における温調装置7には試料挿脱部71が備えられており、温調装置7が転倒したときにこの試料挿脱部71がダメージを受けないようにストッパー73も備えられている。このストッパー73の存在を鑑み、
図3(a)に示すように、台車9(運搬機構)上にストッパー支え部91を設けても構わない。こうすることにより、
図3(c)に示すように、温調装置7を安定して台車9(運搬機構)上に載置することが可能となる。なお、この台車9(運搬機構)は、温調装置7を安定して台車9(運搬機構)上に載置するという課題、効果を有することから単独で発明足りうる。その構成は以下のようになる。
「X線測定装置における試料温調装置のストッパーを支えるストッパー支え部が設けられた運搬機構。」
【0040】
上記台車9(運搬機構)に対し、天地(垂直、上下)方向に伸縮自在な昇降機構92を設けてもよい。
図4(a)は昇降機構92を稼働する前の台車9の概略正面図であり、
図4(b)は昇降機構92を稼働した後の台車9の概略正面図である。
【0041】
この好適例としては、具体的には、台車9の上に昇降機構92をねじ止め等で固定して載置したものが挙げられる。昇降機構92としては例えば、温調装置7を載置可能なステージ921と、ステージ921を下から支えるパンタグラフ922とから構成されてもよい。ステージ921には上記ストッパー支え部91を設けてもよい。
【0042】
図4(a)が示す状態すなわち温調装置7がステージ921に載置された状態のパンダグラフを操作し、
図4(b)が示す状態すなわち温調装置7を上方に移動させる。この昇降機構92を採用することにより、温調装置7を装置本体4に取り付ける際の持ち上げ作業を行わなくて済む。
【0043】
その際、台車9は移動させずに装置本体4における温調装置7の取り付け箇所へとステージ921を水平方向に近づけるべく、スライド機構(不図示)を昇降機構92のステージ921に設けてもよい。
【0044】
なお、出射側付属部品5としては光源が挙げられ、例えば略線状のX線を出射して散乱光を集光させる集光法のための光源や、略帯状のX線を平行光として出射する平行法のための光源を、測定に応じて入れ替える際に、使用しない方の光源を上記運搬機構に載置してチャンバー3内の端に仮置きしてもよい。
【0045】
検出側付属部品6としては検出器が挙げられ、例えば集光法に用いられるアレイ型半導体検出器や、平行法に用いられるシンチレーションカウンター(SC)やプロポーションカウンター(PC)を、測定に応じて入れ替える際に、使用しない方の検出器を上記運搬機構に載置してチャンバー3内の端に仮置きしてもよい。また、コリメーションのためのスリット部材を上記運搬機構に載置してチャンバー3内の端に仮置してもよい。
【0046】
なお、温調装置7以外の付属部品すなわちX線の出射側付属部品5、X線の検出側付属部品6であっても上記運搬機構の恩恵を享受できる。出射側付属部品5にしても検出側付属部品6にしても極めて高価であり、無造作にチャンバー3内の床部に仮置きすることは推奨されておらず、付属部品の形状に応じた台座(不図示)が用意されていることもある。そのような台座は、付属部品を安定して保持するために非常に重量が大きい。その一方、本実施形態のように運搬機構を用意しておけば、付属部品を台座ごと水平移動させることが可能となり、上記温調装置7の場合と同様の恩恵が享受できる。
【0047】
また、試料測定装置1のチャンバー3は掘り込み型であるのが好ましい。その理由は、
図2(b)に示すように、チャンバー3が掘り込み型である場合、作業者Fが試料測定装置1の付属部品の着脱を行う場合、前屈みにて作業を行うことになる。これは、従来だと、重量のある付属部品を前屈みのまま仮置き場から移動させていたことを意味する(
図1(b))。前屈みの状態での重量のあるものの運搬は、作業者Fに与える身体的ダメージも大きいし、他の付属部品と当たらないようにするための注意も必要以上に行わなければならない(
図1(b))。その一方、本実施形態の運搬機構を採用することにより、上述の通り作業者的にも装置的にも安全を確保できる(
図2(b))。そのため、チャンバー3が掘り込み型である場合、本発明の技術的意義が更に大きくなる。但し、試料測定装置1のチャンバー3が非掘り込み型であっても上記運搬機構により本発明の効果が得られることに変わりはない。
【0048】
<試料測定方法>
上記の試料測定装置1を使用した試料測定方法に関しても本発明の技術的思想が反映されている。以降、試料測定方法について説明するが、特記無い事項(例えば好適例およびそれによりもたらされる効果)は上記<試料測定装置>と同様とする。
【0049】
本実施形態における試料測定方法は以下の通りである。
「試料測定装置の本体に対して装着可能な付属部品であって一つの試料の測定の際に機能を発揮する付属部品が載置された運搬機構を、前記試料測定装置のチャンバー内にて、前記付属部品の装着予定位置の近傍に水平移動させる運搬工程と、
前記運搬工程後、前記付属部品を前記試料測定装置の本体に装着する装着工程と、
前記装着工程後、試料を測定する測定工程と、
を有する、試料測定方法。」
【0050】
上記運搬工程においては、まず、付属部品が載置された運搬機構を、付属部品の装着予定位置の近傍に水平移動させる。ここで「付属部品の装着予定位置の近傍に水平移動」とは、付属部品の装着予定位置の近傍から離れたところから該近傍まで水平移動させることであり、例えば、仮置き場のようにチャンバー3の端から、温調装置7の場合だと装置本体4の試料保持部8の直下(天井部にクレーンを設けた場合だと直上)まで、温調装置7を運搬機構に載せたまま水平移動させることを意味する。
【0051】
その後、付属部品を装置本体4に装着する装着工程を行い、そして試料を測定する測定工程を行う。装着工程は、装置本体4および付属部品に応じた装着手法を採用すればよいし、測定工程は、試料測定装置1を使用して行えばよい。
【0052】
また、測定工程後、装置本体4から付属部品を取り外し、運搬機構に載置する載置工程と、載置工程後、付属部品ごと運搬機構を所定の場所に移動させる片付け工程と、を行ってもよい。運搬機構を設けているため、装着のみならず取り外しのときにも人力での水平移動が不要となり、本実施形態の効果を享受できる。ちなみに、片付け工程で行っている内容は、運搬機構に付属部品を載置したままチャンバー3内を水平移動させるという点では運搬工程と同じである。
【0053】
なお、本発明の技術的範囲は上述した実施の形態に限定されるものではなく、発明の構成要件やその組み合わせによって得られる特定の効果を導き出せる範囲において、種々の変更や改良を加えた形態も含む。
【0054】
例えば、先ほどの載置工程、片付け工程は、運搬工程~測定工程の後に行ったが、運搬機構を設けたことにより、載置工程、片付け工程のみを行う場合であっても、人力での水平移動が不要となることには変わらないため、本実施形態の効果を享受できる。載置工程、片付け工程に焦点を当てた構成は以下の通りである。
「一つの試料の測定の際に機能を発揮する付属部品を装置本体から取り外して、前記付属部品が装着されていた位置の近傍に配置された運搬機構に載置する載置工程と、
前記載置工程後、前記試料測定装置のチャンバー内にて、前記付属部品ごと前記運搬機構を所定の場所に水平移動させる片付け工程と、
を有する、試料測定方法。」
【符号の説明】
【0055】
1………試料測定装置(X線測定装置)
2………筐体
21……開口部
3………チャンバー
4………装置本体
5………出射側付属部品
6………検出側付属部品
7………温調装置
71……試料挿脱部
72……熱電対
73……ストッパー
8………試料保持部
9………台車
91……ストッパー支え部
92……昇降機構
921……ステージ
922……パンタグラフ
F………作業者
100…(従来の)試料測定装置(X線測定装置)