特許7093390IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

基板洗浄装置および基板洗浄方法ならびに基板洗浄装置用のロールスポンジ

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

このような問題点に鑑み、効果的に基板を洗浄できる基板洗浄装置および基板洗浄方法ならびに基板洗浄装置用のロールスポンジを提供する。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本開示の一態様によれば、基板を保持する基板保持部と、保持された前記基板に対して5度以上30度未満の照射角度で洗浄液を供給するノズル洗浄液供給部と、を備える基板洗浄装置が提供される。 適切な照射角度で洗浄液を基板に供給することで、効果的に基板を洗浄できる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本基板洗浄装置を備える基板処理装置の概略平面図。
【図2】 第1の基板洗浄装置を模式的に示す斜視図。
【図3】 基板Wとその表面上に付着した異物Pとを模式的に示す断面図。
【図4】 照射角度θと除去率との関係を模式的に示すグラフ。
【図5】 第2の基板洗浄装置を模式的に示す斜視図。
【図6】 洗浄工程における洗浄液供給を模式的に示す斜視図。
【図7】 リンス工程における洗浄液供給を模式的に示す斜視図。
【図8】 第3の基板洗浄装置の概略斜視図。
【図9】 第4の基板洗浄装置の概略斜視図。
【図10】 第5の基板洗浄装置の概略斜視図。
【図11】 第6の基板洗浄装置の概略斜視図。
【図12】 第7の基板洗浄装置を模式的に示す斜視図。
【図13】 ノズル32a,32bによる洗浄液供給タイミングを示す図。
【図14】 第8の実施形態の一例に係る洗浄液の供給流量を模式的に示す図。
【図15】 第8の実施形態の別の例に係る洗浄液の供給流量を模式的に示す図。
【図16】 ロールスポンジ33の第1例を示す図。
【図17】 ロールスポンジ33の第2例を示す図。
【図18】 ロールスポンジ33の第3例を示す図。
【図19】 ロールスポンジ33の第4例を示す図。
【図20】 ペンシルスポンジ38の第1例を示す図。
【図21】 ペンシルスポンジ38の第2例を示す図。
【図22】 ペンシルスポンジ38の第3例を示す図。
【図23】 ペンシルスポンジ38の第4例を示す図。
【図24】 ペンシルスポンジ38の第5例を示す図。
【図25】 別の洗浄部391を示す図。
【図26】 また別の洗浄部392を示す図。
【図27】 また別の洗浄部393を示す図。
【図28】 また別の洗浄部394を示す図。
【図29】 また別の洗浄部395を示す図。

代表図 図1本件の代表的な図

31 基板保持部 32,32a,32b ノズル 33,33a,33b ロールスポンジ 331 ロール本体 332 ノジュール部 60 ノズル制御部

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