特許7096653IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

試験測定装置の操作のためのシステム及び方法に関し、特に、試験測定装置について、入力波形の形式を検出し、対応する測定設定を提案するシステム及び方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

複雑な操作インタフェースに固有の操作性の問題に対処するために、様々なアプローチが採用されてきた。例えば、広く使用される測定を、より簡単にアクセスするために、表示の上位に配置しても良い。しかし、このアプローチは、状況に応じたものではなく、一部のユーザにとって広く使用される測定も、他のユーザには広く使用されない可能性がある。別のアプローチでは、可能性のある測定を表示画面に自動的に追加することを含むが、そのようなアプローチは、受けた波形に合わせられず、過度に一般的な情報又は無関係な情報を含む可能性がある。更に別のアプローチでは、測定された波形のスナップショット・ウィンドウをユーザが選択でき、そのウィンドウに関連する全ての測定が、関連データと無関連データの両方を含めて表示される。このような手法では、入力波形に対して有用な測定オプションを見つけるために、ユーザが依然として無関係な情報を調べなければならない。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の実施形態としては、機械学習を使用して、入力波形や接続されたバスを分類し、この分類に基づいて測定又は他のアクション(動作)を提案するように構成されたオシロスコープがある。オシロスコープは、学習段階を経験し、ここでは、複数の分類子が、既知の分類に沿って特定の波形やバスを表すトーニング・データを受ける。分類子は、トレーニング・データに適用され、既知の分類に照らして、分類子によって出力された・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図1は、試験デバイス(DUT)からの複数の入力信号を受けるよう構成されたオシロスコープを含む試験システムの実施形態のブロック図である。
【図2】 図2は、オシロスコープの実施形態のブロック図である。
【図3】 図3は、波形を分類し、対応する測定及び動作(アクション)を提案するために機械学習を利用するよう構成された試験測定システムの実施形態のブロック図である。
【図4】 図4は、分類子及びモデル・データ・オブジェクトを含む機械学習オブジェクトの実施形態を示すブロック図である。
【図5】 図5は、試験測定システムにおいて学習段階を実現する方法の実施形態を説明するブロック図である。
【図6】 図6は、試験測定システムにおいて評価段階を実現する方法の実施形態を説明するブロック図である。

代表図 図1本件の代表的な図

100 試験システム 110 オシロスコープ 111 表示部 113 操作部 115 ポート 121 被試験デバイス(DUT)1 123 バス 125 測定データ 200 オシロスコープ 211 表示部 212 プロセッサ 213 ユーザ操作部 214 信号分析回路 215 入力ポート 216 機械学習モジュール 217 メモリ 300 試験測定システム 331 トレーニング・データ 333 機械学習モジュール 335 分類子 336 モデル 337 捕捉された波形測定値/デバイス状態 338 レコメンダ 339 出力部 400 機械学習オブジェクトs 435 分類子 436 モデル 441 決定フォレスト 443 決定木 444 決定フォレスト 445 信頼しきい値 446 提案されたアクション 447 信頼値

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