特許7180646IP Force 特許公報全文掲載

ホーム > 特許ランキング > 株式会社ニコン > 特許7180646

技術分野

検出装置、情報処理装置、検出方法、検出プログラム、及び検出システム

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

上述のような技術においては、対象物の形状情報とテクスチャ情報との少なくとも一方を含むモデル情報、あるいはモデル情報の生成に使われる情報を容易に処理できることが望まれる。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の態様に従えば、対象物を含む検出領域内の複数の検出点までの距離を検出する検出部と、検出領域内の複数の検出点が対象物の特徴点であるかの確からしさを示す確度情報を算出する確度算出部と、複数の検出点のデータを用いて、対象物のモデル情報を算出する情報算出部と、確度情報を用いて、モデル情報および複数の検出点のデータの少なくとも一方を含む第１の情報からデータ量を低減し・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 第１検出装置の一例を示す図である。
【図2】 第１情報処理部の処理を示す概念図である。
【図3】 第１検出部の一例を示す図である。
【図4】 第１情報算出部、確度算出部、情報処理部、及び記憶部を示すブロック図である。
【図5】 第１検出部の光学特性に基づく確度情報の説明図である。
【図6】 第１距離に基づいた確度情報の説明図である。
【図7】 第１距離の分布に基づいた確度情報の説明図である。
【図8】 第１情報処理部の処理を示す概念図である。
【図9】 第１検出方法を示すシーケンス図である。
【図10】 図９から続くシーケンス図である。
【図11】 第２検出システムを示す図である。
【図12】 第２検出システムを示すブロック図である。
【図13】 第３検出システムを示す図である。
【図14】 第３検出システムを示すブロック図である。
【図15】 本実施形態におけるモデル統合処理の一例を示す概念図である。

代表図 図1本件の代表的な図

１・・・検出装置、２・・・検出部、３・・・確度算出部、４・・・情報算出部、５・・・情報処理部、１１・・・撮像部、１２・・・測距部、２１・・・点群データ生成部、２２・・・サーフェス情報生成部、２３・・・テクスチャ情報生成部、２５・・・線情報生成部、２６・・・面情報生成部、３１・・・デプス情報調整部、３２・・・点群データ調整部、３３・・・線情報調整部、３４・・・面情報調整部、３５・・・テクスチャ情報調整部

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

［広告欄］

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります

Copyright © Science Impact Inc. All Rights Reserved.