特許7329471IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

同位体濃縮度測定方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

安定同位体比質量分析法及びキャビティーリングダウン分光法はいずれも高精度な同位体濃縮度の測定が可能な方法である。しかし、測定試料の同位体存在比が天然存在比から大きく逸脱する場合、標準物質が存在しないため、これらの方法では高精度な同位体濃縮度の測定が困難である。 これに対して、核磁気共鳴分光法(NMR法)では、測定する化合物ごとの検出感度差がなく、測定元素の物質量に比例するシグナル面積(積分値)が得られるため、測定試料と異なる化合物を標準物質として用いることができる。そのため、NMR法では、天然存在比から大きく逸脱する測定試料であっても、同位体濃縮度測定が可能である。 NMR法による同位体濃縮度測定では、通常、標準物質と測定試料の物質量に対するシグナル面積を比較することによって、同位体濃縮度を算出する。そのため、NMR法による同位体濃縮度測定では、通常、標準物質及び測定試料の精確な秤量が必須となる。 しかし、測定試料が気体である等、測定試料の精確な秤量が困難な場合、NMR法による精確な同位体濃縮度測定が困難である。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

前記課題は、以下の発明によって解決される。 [1] 安定同位体化合物の測定対象同位体の同位体濃縮度を核磁気共鳴装置で測定する同位体濃縮度測定方法であって、 1分子内の同位体比率が既知である標準物質を溶媒に溶解して標準溶液を調製する標準溶液調製工程と、 安定同位体化合物である測定試料を前記標準溶液に溶解してサンプル溶液を調製するサンプル溶液調製工程と、 核磁気共鳴装置を用いて・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれは、測定試料の同位体存在比が天然存在比から大きく逸脱している場合又は測定試料の精確な秤量が困難な場合のいずれにおいても、測定試料の同位体濃縮度を精確に測定できる同位体濃縮度測定方法を提供できる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図1は、本発明の同位体濃縮度測定方法の第1の実施形態を説明するフローチャートである。
【図2】 図2は、本発明の同位体濃縮度測定方法の第2の実施形態を説明するフローチャートである。
【図3】 図3は、実施例1における標準溶液及びサンプル溶液の1H-NMRシグナルを示す模式図である。(A)標準溶液、(B)サンプル溶液。
【図4】 図4は、比較例1における標準溶液及びサンプル溶液のD-NMRシグナルを示す模式図である。(A)標準溶液、(B)サンプル溶液。

代表図 図1本件の代表的な図

S1…標準溶液調製工程、S2…サンプル溶液調製工程、S3…サンプル溶液測定工程、S4,S14…同位体濃縮度算出工程、S11…標準溶液測定工程

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

[広告欄]

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります