(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2023-08-23
(45)【発行日】2023-08-31
(54)【発明の名称】基準板、校正用部材、光沢計、及び、基準板の製造方法
(51)【国際特許分類】
G01N 21/57 20060101AFI20230824BHJP
G01N 21/01 20060101ALI20230824BHJP
【ＦＩ】
G01N21/57
G01N21/01 A
【請求項の数】
6
(21)【出願番号】P 2019239257
(22)【出願日】2019-12-27
(65)【公開番号】P2021107787
(43)【公開日】2021-07-29
【審査請求日】2021-12-07
(73)【特許権者】
【識別番号】000155023
【氏名又は名称】株式会社堀場製作所
(74)【代理人】
【識別番号】100094145
【弁理士】
【氏名又は名称】小野 由己男
(72)【発明者】
【氏名】辰巳 浩規
【審査官】伊藤 裕美
(56)【参考文献】
【文献】実開昭５５－００４４０３（ＪＰ，Ｕ）
【文献】特開２０１７－２０７２８８（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開昭６３－１００３１０（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１０－１２７６６１（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１７－０２６５７１（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１１－２３４２４６（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１１－２３４２４５（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開昭５５－１３０５６５（ＪＰ，Ａ）
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｇ０１Ｎ ２１／００－ Ｇ０１Ｎ ２１／６１
Ｇ０１Ｊ ３／００ － Ｇ０１Ｊ ３／５２
Ｇ０１Ｂ １１／００ － Ｇ０１Ｂ １１／３０
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
基板と、前記基板の表面上に形成され、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する第１光沢度表面と、
前記基板の表面上に形成され、前記第１光沢度よりも大きな光沢度を有しかつ第２面積を有する第２光沢度表面と、を備え、
前記基板の表面上において、１つの前記第１光沢度表面と１つの前記第２光沢度表面とは互いに隣接して配置され、
互いに隣接して配置された１つの前記第１光沢度表面と１つの前記第２光沢度表面との組により構成される複数の単位が、前記基板の表面上において互いに隣接して配置される基準板を用いた光沢度の測定方法であって、
照射範囲に互いに隣接して配置された１つの前記第１光沢度表面と１つの前記第２光沢度表面との組を少なくとも二以上含むように検査光を照射するステップと、
前記照射範囲に前記検査光を照射することで発生する反射光を測定するステップと、
前記反射光の強度に基づいて前記基準板の光沢度を算出するステップと、
を備える、測定方法。
【請求項2】
前記第１光沢度表面は複数存在する、請求項１に記載の測定方法。
【請求項3】
前記第２光沢度表面は複数存在する、請求項１又は２に記載の測定方法。
【請求項4】
前記第１光沢度表面は、一辺が前記基板の一辺の長さと同じ長さを有し前記第１面積を有する矩形であり、前記第２光沢度表面は、一辺が前記基板の一辺の長さと同じ長さを有し前記第２面積を有する矩形であり、
前記第１光沢度表面及び前記第２光沢度表面は、前記基板の一辺が延びる方向とは垂直な方向に並んで配置される、請求項１～３のいずれかに記載の測定方法。
【請求項5】
前記基板の表面は大きい光沢度を有し、前記第１光沢度表面は、前記基板の表面に形成された光を散乱する微小な凹凸を有し、
前記第２光沢度表面は、凹凸が少ない表面である、
請求項１～４のいずれかに記載の測定方法。
【請求項6】
前記基板は、光学ガラス板、又は、金属板のいずれかである、請求項１～５のいずれかに記載の測定方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、光沢度測定において光沢度の基準となる基準板、当該基準板を固定した校正用部材、当該基準板を固定した校正用部材と組み合わせて使用する光沢計、及び、当該基準板の製造方法に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、測定対象の表面の光沢度を測定する光沢計が知られている（例えば、特許文献１を参照）。この光沢計は、測定対象の表面に検査光を照射したときに、当該表面にて検査光が反射することで発生する反射光の強度に基づいて、光沢度を算出する。この光沢計の校正は、ＪＩＳ規格などの規格により光沢度が定まっている校正板により行われる。
【0003】
また、光沢計による実際の測定時には、校正板による光沢計の校正が適切に行われ、測定対象の表面の光沢度が適切に測定されているかを評価するために、例えば、校正板の光沢度とは異なるある程度既知の光沢度を有する市販の部材（例えば、市販の白色のタイル表面）の光沢度を測定する。上記部材の光沢度の測定値が、上記のある程度既知の光沢度に近い値を示していれば、光沢計が適切に校正され、光沢度を適切に測定できていると評価されていた。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0004】
【文献】特開２０１０－１２７６６１号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0005】
しかしながら、市販の部材は、一般的に、測定対象となる表面の表面処理条件（例えば、塗装条件）が不明であること、また、表面処理条件にバラツキがあることから、信頼性が高い光沢度を有しているとは言えない。ここで、信頼性は高い光沢度とは、上記の校正板のように、部材毎に光沢度のバラツキが存在しないか、又は、バラツキがあったとしても所定の誤差範囲内であることを意味する。従って、市販の部材を用いた評価では、光沢計が適切に校正され光沢度を適切に測定できているとの評価結果の信頼性が低い。
【0006】
本発明の目的は、信頼性の高い任意の光沢度を有する基準板を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0007】
以下に、課題を解決するための手段として複数の態様を説明する。これら態様は、必要に応じて任意に組み合せることができる。
本発明の一見地に係る基準板は、基板と、第１光沢度表面と、第２光沢度表面と、を備える。第１光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する。第２光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度よりも大きい第２光沢度を有しかつ第２面積を有する。上記の基板の表面上において、１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面とは互いに隣接して配置される。また、互いに隣接して配置された１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面との組により構成される複数の単位が、基板の表面上において互いに隣接して配置される。
上記の基準板では、基板の表面上において、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する第１光沢度表面と、第２光沢度を有しかつ第２面積を有する第２光沢度表面とが、互いに隣接して配置され、かつ、１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面との組により構成される複数の単位が互いに隣接して配置されている。これにより、上記の基準板は、基準板の表面全体にわたってほぼ均一的に、第１面積、第２面積、第１光沢度、及び第２光沢度により決定される信頼性の高い任意の光沢度を有する。
本発明の一見地に係る基準板は、基板と、第１光沢度表面と、第２光沢度表面と、を備える。第１光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する。第２光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度よりも大きい第２光沢度を有しかつ第２面積を有する。上記の基板の表面上において、１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面とは互いに隣接して配置される。また、互いに隣接して配置された１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面との組により構成される複数の単位が、基板の表面上において互いに隣接して配置される。
上記の基準板では、基板の表面上において、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する第１光沢度表面と、第２光沢度を有しかつ第２面積を有する第２光沢度表面とが、互いに隣接して配置され、かつ、１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面との組により構成される複数の単位が互いに隣接して配置されている。これにより、上記の基準板は、基準板の表面全体にわたってほぼ均一的に、第１面積、第２面積、第１光沢度、及び第２光沢度により決定される信頼性の高い任意の光沢度を有する。
【0008】
上記の基準板において、第１光沢度表面は複数存在する。これにより、基準板の表面全体において光沢度をほぼ均一とできる。
【0009】
上記の基準板において、第２光沢度表面は複数存在する。これにより、基準板の表面全体において光沢度をほぼ均一とできる。
【0010】
上記の基準板において、第１光沢度表面は、一辺が前記基板の一辺の長さと同じ長さを有し前記第１面積を有する矩形である。第２光沢度表面は、一辺が基板の一辺の長さと同じ長さを有し第２面積を有する矩形である。
また、第１光沢度表面及び第２光沢度表面は、基板の当該一辺が伸びる方向とは垂直な方向に並んで配置される。
これにより、基準板の表面において縞状に第１光沢度表面と第２光沢度表面が配置されるので、基準板の表面全体において光沢度をほぼ均一とできる。
また、第１光沢度表面及び第２光沢度表面は、基板の当該一辺が伸びる方向とは垂直な方向に並んで配置される。
これにより、基準板の表面において縞状に第１光沢度表面と第２光沢度表面が配置されるので、基準板の表面全体において光沢度をほぼ均一とできる。
【0011】
基板の表面は大きい光沢度を有する。この場合、第１光沢度表面は、当該基板の表面に形成された光を散乱する微小な凹凸を有する。一方、第２光沢度表面は、凹凸が少ない表面である。
これにより、基板の表面に第１光沢度表面に対応するよう微小な凹凸構造を形成するだけで、基準板を容易に製造できる。
これにより、基板の表面に第１光沢度表面に対応するよう微小な凹凸構造を形成するだけで、基準板を容易に製造できる。
【0012】
基板は、光学ガラス板、又は、金属板のいずれかである。これにより、特定の光沢度を有する基準板を容易に製造できる。
【0013】
本発明の他の見地に係る校正用部材は、光沢度を測定する測定部を有する光沢計の校正に用いる校正用部材である。校正用部材は、カバーと、基準板と、を備える。カバーは、光沢計において測定部と対向するよう装着可能である。基準板は、カバーにおいて、当該カバーが光沢計に装着されたときに測定部と対向する位置に固定される。
上記の基準板は、基板と、第１光沢度表面と、複数の第２光沢度表面と、を有する。第１光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する。第２光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度よりも大きい第２光沢度を有しかつ第２面積を有する。
上記の基板の表面上において、１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面とは互いに隣接して配置される。また、互いに隣接して配置された１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面との組により構成される複数の単位が、基板の表面上において互いに隣接して配置される。
上記の基準板は、基板と、第１光沢度表面と、複数の第２光沢度表面と、を有する。第１光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する。第２光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度よりも大きい第２光沢度を有しかつ第２面積を有する。
上記の基板の表面上において、１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面とは互いに隣接して配置される。また、互いに隣接して配置された１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面との組により構成される複数の単位が、基板の表面上において互いに隣接して配置される。
【0014】
上記の基準板では、基板の表面上において、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する第１光沢度表面と、第２光沢度を有しかつ第２面積を有する第２光沢度表面とが、互いに隣接して配置され、かつ、１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面との組により構成される複数の単位が互いに隣接して配置されている。
これにより、上記の基準板は、基準板の表面全体にわたって均一的に、第１面積、第２面積、第１光沢度、及び第２光沢度により決定される任意の光沢度を有することとなる。その結果、この基準板を有する校正用部材を用いることで、任意の光沢度において信頼性の高い光沢計の校正を実行できる。
これにより、上記の基準板は、基準板の表面全体にわたって均一的に、第１面積、第２面積、第１光沢度、及び第２光沢度により決定される任意の光沢度を有することとなる。その結果、この基準板を有する校正用部材を用いることで、任意の光沢度において信頼性の高い光沢計の校正を実行できる。
【0015】
本発明のさらなる他の見地に係る光沢計は、筐体と、測定部と、カバーと、基準板と、を備える。測定部は、筐体に設けられ、測定対象の光沢度を測定する。カバーは、筐体において測定部と対向するよう装着可能である。基準板は、カバーにおいて、カバーが筐体に装着されたときに測定部と対向する位置に固定される。
上記の基準板は、基板と、第１光沢度表面と、複数の第２光沢度表面と、を有する。第１光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する。第２光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度よりも大きい第２光沢度を有しかつ第２面積を有する。
上記の基板の表面上において、１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面とは互いに隣接して配置される。また、互いに隣接して配置された１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面との組により構成される複数の単位が、基板の表面上において互いに隣接して配置される。
上記の基準板は、基板と、第１光沢度表面と、複数の第２光沢度表面と、を有する。第１光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する。第２光沢度表面は、基板の表面上に形成され、第１光沢度よりも大きい第２光沢度を有しかつ第２面積を有する。
上記の基板の表面上において、１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面とは互いに隣接して配置される。また、互いに隣接して配置された１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面との組により構成される複数の単位が、基板の表面上において互いに隣接して配置される。
【0016】
上記の基準板では、基板の表面上において、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する第１光沢度表面と、第２光沢度を有しかつ第２面積を有する第２光沢度表面とが、互いに隣接して配置され、かつ、１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面との組により構成される複数の単位が互いに隣接して配置されている。
これにより、上記の基準板は、基準板の表面全体にわたって均一的に、第１面積、第２面積、第１光沢度、及び第２光沢度により決定される任意の光沢度を有することとなる。その結果、この基準板を有する光沢計では、任意の光沢度に対して適切に光沢計の校正を実行できる。
これにより、上記の基準板は、基準板の表面全体にわたって均一的に、第１面積、第２面積、第１光沢度、及び第２光沢度により決定される任意の光沢度を有することとなる。その結果、この基準板を有する光沢計では、任意の光沢度に対して適切に光沢計の校正を実行できる。
【0017】
上記の光沢計において、測定部による光沢度の測定対象範囲内には、互いに隣接して配置された１つの第１光沢度表面と１つの第２光沢度表面との組が少なくとも二以上含まれる。これにより、光沢計によって基準板の異なる位置で光沢度を測定しても、ほぼ同一の光沢度の測定結果を得ることができる。
【0018】
本発明のさらなる他の見地に係る基準板の製造方法は、以下のステップを備える。
◎第１光沢度よりも大きい第２光沢度を有する基板の表面上に、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する第１光沢度表面を、１つの第１光沢度表面が他の第１光沢度表面と互いに隣接しないよう形成するステップ。
これにより、第１光沢度を有する第１光沢度表面の第１面積と、第１光沢度よりも大きい第２光沢度を有する基板の表面上の残りの面積と、により定まる任意の光沢度を有する基準板を容易に製造できる。
◎第１光沢度よりも大きい第２光沢度を有する基板の表面上に、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する第１光沢度表面を、１つの第１光沢度表面が他の第１光沢度表面と互いに隣接しないよう形成するステップ。
これにより、第１光沢度を有する第１光沢度表面の第１面積と、第１光沢度よりも大きい第２光沢度を有する基板の表面上の残りの面積と、により定まる任意の光沢度を有する基準板を容易に製造できる。
【0019】
第１光沢度表面を形成するステップは、基板の表面をブラスト処理するステップ、基板の表面をエッチング処理するステップ、又は、前記基板の表面をフライス処理するステップのいずれかを含む。これにより、第１光沢度表面に対して光を散乱させる凹凸構造を形成して、容易に光沢度の小さい第１光沢度表面を形成できる。
【発明の効果】
【0020】
信頼性の高い任意の光沢度を有する基準板を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【0021】
【図1】光沢計の斜視図。
【図2】光沢計内部の構成を示す図。
【図3】測定部の構成を示す図。
【図4】校正基準板又は基準板における測定対象範囲の例を示す図。
【図5】基準板の斜視図。
【図6】基準板の上面図。
【図7】第１光沢度表面と第２光沢度表面の辺の長さの定義を模式的に示す図。
【図8】第１光沢度表面の面積比率が異なる基準板を模式的に示す図。
【図9】第１光沢度表面の面積比率と基準板の光沢度との関係を表す図。
【図10】単位表面の大きさと光沢計の測定対象範囲との関係を模式的に示す図。
【図11】基準板の製造方法を示すフローチャート。
【図12A】変形例１に係る基準板の上面図。
【図12B】変形例２に係る基準板の上面図。
【図13】基準板の他の実施形態の一例を示す図。
【図14】基準板のさらなる他の実施形態の一例を示す図。
【発明を実施するための形態】
【0022】
１．第１実施形態
（１）光沢計の構成
以下、図１及び図２を用いて、第１実施形態に係る基準板が使用される光沢計１００を説明する。図１は、光沢計の斜視図である。図２は、光沢計内部の構成を示す図である。光沢計１００は、測定対象の表面（以後、測定対象表面ＳＵと呼ぶ）の光沢度を測定する装置である。本実施形態の光沢計１００は、ユーザが把持して移動可能なポータブル型の光沢計であって、検査光Ｌ１（図３）を測定対象表面ＳＵに向けて照射し、検査光Ｌ１が当該表面で反射することで発生する反射光Ｌ２（図３）の強度に基づいて光沢度を測定する。光沢計１００で測定可能な測定対象としては、例えば、タイル、床、壁、机などの平面を有する物品がある。
（１）光沢計の構成
以下、図１及び図２を用いて、第１実施形態に係る基準板が使用される光沢計１００を説明する。図１は、光沢計の斜視図である。図２は、光沢計内部の構成を示す図である。光沢計１００は、測定対象の表面（以後、測定対象表面ＳＵと呼ぶ）の光沢度を測定する装置である。本実施形態の光沢計１００は、ユーザが把持して移動可能なポータブル型の光沢計であって、検査光Ｌ１（図３）を測定対象表面ＳＵに向けて照射し、検査光Ｌ１が当該表面で反射することで発生する反射光Ｌ２（図３）の強度に基づいて光沢度を測定する。光沢計１００で測定可能な測定対象としては、例えば、タイル、床、壁、机などの平面を有する物品がある。
【0023】
光沢計１００は、筐体１と、測定部２と、表示部３と、制御部４と、バッテリー５と、第１操作部６と、保護カバー７を備える。筐体１は、光沢計１００の本体を構成する。本実施形態において、筐体１は、ユーザが片手で把持できる大きさ及び形状を有している。すなわち、光沢計１００は、ユーザが把持して移動させることで測定対象及び／又は測定位置を変更可能なポータブル型の測定装置である。
【0024】
測定部２は、筐体１の内部かつ底部ＢＯに設けられ、筐体１の底部ＢＯと接している測定対象表面ＳＵの光沢度を算出するためのデータ（反射光Ｌ２の強度）を測定する。ユーザが筐体１を把持して移動させることで、光沢計１００における測定対象の変更及び同一対象における測定位置の変更が容易となる。
【0025】
詳細な構成は後述するが、測定部２は、筐体１の底部ＢＯと接している測定対象表面ＳＵに向けて検査光Ｌ１を照射し、検査光Ｌ１が測定対象表面ＳＵにて反射することで発生する反射光Ｌ２を検出する。光沢度は、測定部２により検出された反射光Ｌ２の強度に基づいて算出される。
【0026】
表示部３は、筐体１の上面に設けられ、光沢計１００に関する各種情報を表示する。表示部３に表示される情報は、例えば、現在測定中の表面の光沢度、バッテリー５の残量、現在時刻、光沢計１００の状態、などである。表示部３は、例えば、液晶ディスプレイ、有機ＥＬディスプレイなどの薄型の表示装置である。
【0027】
制御部４は、ＣＰＵ、記憶装置（例えば、ＲＡＭ、ＲＯＭなど）、各種インターフェースからなるコンピュータシステムであり、光沢計１００の各構成要素（測定部２、表示部３、第１操作部、第２操作部など）を制御する。また、制御部４は、測定部２にて測定された反射光Ｌ２の強度に基づいて、測定対象表面ＳＵの光沢度を算出し、表示部３に表示する。
なお、制御部４は、ＣＰＵ、記憶装置、各種インターフェースを個別の構成要素として含むシステムであってもよいし、これらの全部又は一部を１チップに集積したＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）であってもよい。バッテリー５は、光沢計１００を動作させる電力の供給源である。
なお、制御部４は、ＣＰＵ、記憶装置、各種インターフェースを個別の構成要素として含むシステムであってもよいし、これらの全部又は一部を１チップに集積したＳｏＣ（Ｓｙｓｔｅｍ ｏｎ Ｃｈｉｐ）であってもよい。バッテリー５は、光沢計１００を動作させる電力の供給源である。
【0028】
第１操作部６は、筐体１の上面に設けられ、光沢計１００の操作を行うための複数のボタンにより構成される。具体的には、第１操作部６は、光沢計１００の各構成要素への電力供給を開始する電源ボタン６１、光沢計１００の校正を実行するための校正ボタン６２を有する。その他、第１操作部６には、例えば、光沢度の測定値の保存、消去等を行うボタン、光沢計１００の設定を行うためのボタン、などが設けられてもよい。
第１操作部６は制御部４に接続されており、第１操作部６の複数のボタンのいずれかが押されると、制御部４は、押されたボタンに対応した機能を実行する。
第１操作部６は制御部４に接続されており、第１操作部６の複数のボタンのいずれかが押されると、制御部４は、押されたボタンに対応した機能を実行する。
【0029】
保護カバー７は、筐体１の底部ＢＯに装着可能な部材である。筐体１の底部ＢＯに装着された場合、保護カバー７は、測定部２を外部から隔離し、測定部２の光学系（光照射部２１、光検出部２３）が塵埃により汚れてしまうことを防止すると共に、他の部材により接触して傷つくことを防止できる。
また、保護カバー７の内側（筐体１の底部ＢＯと対向する面）であって、筐体１の底部ＢＯに装着したときに測定部２と対向する位置には、校正基準板７１が設けられている。校正基準板７１は、ＪＩＳ規格等で決められた基準となる光沢度を有する板状の部材であり、例えば、板状のホウケイ酸ガラス（例えばＢＫ７、光沢度：９０程度）である。
また、保護カバー７の内側（筐体１の底部ＢＯと対向する面）であって、筐体１の底部ＢＯに装着したときに測定部２と対向する位置には、校正基準板７１が設けられている。校正基準板７１は、ＪＩＳ規格等で決められた基準となる光沢度を有する板状の部材であり、例えば、板状のホウケイ酸ガラス（例えばＢＫ７、光沢度：９０程度）である。
【0030】
保護カバー７を筐体１の底部ＢＯに装着したとき、測定部２は、校正基準板７１と対向する。すなわち、測定部２は、校正基準板７１に検査光Ｌ１を照射し、検査光Ｌ１が校正基準板７１にて反射されることで発生する反射光Ｌ２を検出できる。
従って、例えば、保護カバー７を筐体１の底部ＢＯに装着した状態で測定部２により反射光Ｌ２の強度を測定中に校正ボタン６２を押し、校正ボタン６２を押したタイミングでの反射光Ｌ２の強度と校正基準板７１の光沢度（例えば、９０程度）とを関連付けて記憶することで、光沢計１００を校正できる。
従って、例えば、保護カバー７を筐体１の底部ＢＯに装着した状態で測定部２により反射光Ｌ２の強度を測定中に校正ボタン６２を押し、校正ボタン６２を押したタイミングでの反射光Ｌ２の強度と校正基準板７１の光沢度（例えば、９０程度）とを関連付けて記憶することで、光沢計１００を校正できる。
【0031】
上記の校正基準板７１のみによる光沢計１００の校正では、校正基準板７１に近い光沢度を有する測定対象表面ＳＵの測定に対しては適切に光沢計１００の校正ができる一方で、校正基準板７１とは光沢度が一定以上の差を有する測定対象表面ＳＵの測定に対しては、校正基準板７１による校正では適切な校正がなされない可能性がある。
従って、本実施形態の光沢計１００は、校正基準板７１が有する光沢度以外でも校正を可能とするために、校正基準板７１とは光沢度が一定以上の差を有する校正用の部材を固定した予備カバー７'（カバーの一例）をさらに備えている。予備カバー７’は、筐体１の底部ＢＯに装着可能な部材である。筐体１の底部ＢＯに装着された場合、予備カバー７’の内側は筐体１の底部ＢＯと対向する。
従って、本実施形態の光沢計１００は、校正基準板７１が有する光沢度以外でも校正を可能とするために、校正基準板７１とは光沢度が一定以上の差を有する校正用の部材を固定した予備カバー７'（カバーの一例）をさらに備えている。予備カバー７’は、筐体１の底部ＢＯに装着可能な部材である。筐体１の底部ＢＯに装着された場合、予備カバー７’の内側は筐体１の底部ＢＯと対向する。
【0032】
予備カバー７'の底部ＢＯと対向する内側であって、予備カバー７'を筐体１の底部ＢＯに装着したときに測定部２と対向する位置には、校正基準板７１とは光沢度が一定以上の差を有する部材（以降、基準板７１’と呼ぶ）が固定されている。
【0033】
予備カバー７’を筐体１の底部ＢＯに装着した状態で測定部２により反射光Ｌ２の強度を測定中に校正ボタン６２を押し、校正ボタン６２を押したタイミングでの反射光Ｌ２の強度と、当該予備カバー７’に固定された基準板７１’の光沢度とを関連付けて記憶することで、この基準板７１’が有する光沢度、すなわち、校正基準板７１の光沢度とは一定以上の差がある光沢度の近傍において光沢計１００を適切に校正できる。
【0034】
なお、予備カバー７'は複数存在してもよい。この場合、複数の予備カバー７'のそれぞれには、異なる光沢度を有する基準板７１'が固定される。これにより、当該複数の予備カバー７'を用いてより多くの光沢度範囲にて光沢計１００の校正を適正に行えるので、任意の測定対象表面ＳＵの光沢度の測定に対して適切に光沢計１００を校正できる。
なお、複数の予備カバー７'に設けられる基準板７１'の光沢度は、それぞれが、一定の差を有する程度に異なっていることが好ましい。
なお、複数の予備カバー７'に設けられる基準板７１'の光沢度は、それぞれが、一定の差を有する程度に異なっていることが好ましい。
【0035】
光沢計１００は、上記の構成以外の他の構成を備えてもよい。具体的には、光沢計１００は、第２操作部８を備えてもよい。第２操作部８は、筐体１の側面に設けられたボタンであり、第１操作部６を用いて実行できる機能以外の追加機能を制御部４に実行させることができる。例えば、第２操作部８を操作する（ボタンが押される）ことで、現在の光沢度の測定値を記憶できる。
【0036】
さらに、光沢計１００は、外部接続端子９を備えてもよい。外部接続端子９は、外部の装置（例えば、コンピュータ）と光沢計１００とを接続するための端子である。外部接続端子９を備えることで、例えば、外部の装置を用いて光沢計１００を制御し、及び／又は、光沢計１００に保存した光沢度の測定値を外部の装置に転送できる。外部接続端子９は、例えば、ＵＳＢ端子である。
【0037】
（２）測定部の具体的構成
次に、図３を用いて、測定部２の具体的構成を説明する。図３は、測定部の構成を示す図である。測定部２は、測定対象表面ＳＵに検査光Ｌ１を照射したときに生じる反射光Ｌ２を検出する。具体的には、測定部２は、光照射部２１と、光検出部２３と、を有する。
光照射部２１は、筐体１の底部ＢＯの法線方向に対して角度αにて傾斜した状態で筐体１の内部に固定され、測定対象表面ＳＵに検査光Ｌ１を照射する。筐体１の底部ＢＯの法線方向に対して角度αにて傾斜した状態で固定されているので、光照射部２１は、検査光Ｌ１を測定対象表面ＳＵに入射角αにて入射する。
次に、図３を用いて、測定部２の具体的構成を説明する。図３は、測定部の構成を示す図である。測定部２は、測定対象表面ＳＵに検査光Ｌ１を照射したときに生じる反射光Ｌ２を検出する。具体的には、測定部２は、光照射部２１と、光検出部２３と、を有する。
光照射部２１は、筐体１の底部ＢＯの法線方向に対して角度αにて傾斜した状態で筐体１の内部に固定され、測定対象表面ＳＵに検査光Ｌ１を照射する。筐体１の底部ＢＯの法線方向に対して角度αにて傾斜した状態で固定されているので、光照射部２１は、検査光Ｌ１を測定対象表面ＳＵに入射角αにて入射する。
【0038】
光照射部２１は、ある特定の波長若しくはある範囲の波長を有する光（例えば、８００ｎｍ以上の波長を有する近赤外光）を発生させる発光ダイオードと、その光に適切な処理を施す機構（例えば、発光ダイオードから出力した光を平行光に変換して検査光Ｌ１とする平行レンズ）と、により構成される。
【0039】
光照射部２１が上記の構成を有することで、光照射部２１は、楕円形状（例えば、短径が３ｍｍであり長径が６ｍｍ）の検査光Ｌ１を測定対象表面ＳＵに照射できる。すなわち、本実施形態において、光沢度の測定範囲（以後、測定対象範囲ＭＡと呼ぶ）は、測定対象表面ＳＵのうち検査光Ｌ１が照射される上記楕円形状の範囲である。なお、この楕円形状の大きさ、すなわち測定対象範囲ＭＡは、例えば、光照射部２１と筐体１の底部ＢＯ（測定対象表面ＳＵ）との間の距離を調整することで調整できる。
【0040】
保護カバー７又は予備カバー７’を筐体１に装着したときに、光照射部２１は、図４に示すように、校正基準板７１又は基準板７１'の中心近傍の楕円形状の検査光Ｌ１を表面に照射する。すなわち、校正基準板７１又は基準板７１'における測定対象範囲ＭＡは、校正基準板７１又は基準板７１'の中心近傍の楕円形状の範囲である。図４は、校正基準板又は基準板における測定対象範囲の例を示す図である。
【0041】
光検出部２３は、筐体１の底部ＢＯの法線方向に対して角度βにて傾斜した状態で筐体１の内部に固定され、光照射部２１により照射された検査光Ｌ１が測定対象表面ＳＵにて反射されることで発生する反射光Ｌ２を検出する。筐体１の底部ＢＯの法線方向に角度βにて傾斜した状態で固定されているので、光検出部２３は、測定対象表面ＳＵにおいて反射角βで反射した反射光Ｌ２を主に検出する。
光検出部２３は、上記の光照射部２１から照射された検査光Ｌ１が有する特定の波長若しくは波長範囲を検出可能な光検出器（上記の例であれば、例えば、近赤外光を検出するフォトダイオード）と、反射光Ｌ２に適切な処理を施す機構（例えば、光検出器の受光面に集光させる集光レンズ）と、により構成される。
光検出部２３は、上記の光照射部２１から照射された検査光Ｌ１が有する特定の波長若しくは波長範囲を検出可能な光検出器（上記の例であれば、例えば、近赤外光を検出するフォトダイオード）と、反射光Ｌ２に適切な処理を施す機構（例えば、光検出器の受光面に集光させる集光レンズ）と、により構成される。
【0042】
なお、光照射部２１が筐体１に固定される角度αと光検出部２３が筐体１に固定される角度βは等しく設定される（例えば、６０°に設定される）。一般的に、入射光（本実施形態では検査光Ｌ１）の入射角と反射光（本実施形態では反射光Ｌ２）の反射角は等しくなるので、上記の角度αと角度βを等しくすることで、検査光Ｌ１の反射により発生した反射光Ｌ２を確実に検出できる。
【0043】
（３）基準板
以下、図５及び図６を用いて、上記にて説明した構成を有する光沢計１００で用いられる基準板７１'を説明する。図５は、基準板の斜視図である。図６は、基準板の上面図である。図５及び図６に示すように、基準板７１'は、基板Ｂと、複数の第１光沢度表面７３と、複数の第２光沢度表面７５と、を備える。基板Ｂは、基準板７１'全体を構成する板状部材である。基板Ｂは、例えば、ホウケイ酸塩クラウン光学ガラス（ＢＫ７）などの光学ガラス板、光沢のある金属板などである。すなわち、基板Ｂの表面は、凹凸が少なく平坦であり、光沢計１００による測定対象となりうる測定対象表面ＳＵが有する光沢度よりも大きな光沢度を有することが好ましい。
なお、本実施形態において、基板Ｂは、長辺と短辺とを有する長方形を有している。図５及び図６においては、基板Ｂの短辺方向をＸ方向とし、長辺方向をＹ方向として矢印で示す。また、基板Ｂにおいて第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５とが形成された表面が、光沢計で測定される測定対象となる。
以下、図５及び図６を用いて、上記にて説明した構成を有する光沢計１００で用いられる基準板７１'を説明する。図５は、基準板の斜視図である。図６は、基準板の上面図である。図５及び図６に示すように、基準板７１'は、基板Ｂと、複数の第１光沢度表面７３と、複数の第２光沢度表面７５と、を備える。基板Ｂは、基準板７１'全体を構成する板状部材である。基板Ｂは、例えば、ホウケイ酸塩クラウン光学ガラス（ＢＫ７）などの光学ガラス板、光沢のある金属板などである。すなわち、基板Ｂの表面は、凹凸が少なく平坦であり、光沢計１００による測定対象となりうる測定対象表面ＳＵが有する光沢度よりも大きな光沢度を有することが好ましい。
なお、本実施形態において、基板Ｂは、長辺と短辺とを有する長方形を有している。図５及び図６においては、基板Ｂの短辺方向をＸ方向とし、長辺方向をＹ方向として矢印で示す。また、基板Ｂにおいて第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５とが形成された表面が、光沢計で測定される測定対象となる。
【0044】
複数の第１光沢度表面７３は、基板Ｂの表面上に形成された、基板Ｂの表面の光沢度よりも小さい第１光沢度を有する表面である。具体的には、複数の第１光沢度表面７３は、それぞれ、光を散乱させる微小な凹凸を有している。基準板７１'の光沢度を光沢計で測定する場合、第１光沢度表面７３は入射された検査光を微小な凹凸により散乱させるので、光沢計は第１光沢度表面７３からの反射光をほとんど検出しない。この結果、第１光沢度表面７３は、反射光の強度に基づいて光沢度を測定する光沢計にとっては、小さな光沢度を有する表面となる。
【0045】
検査光を散乱させる微小な凹凸を有する第１光沢度表面７３は、例えば、基板Ｂの表面に対して微小粒子を噴射して当該表面に凹凸を形成するブラスト処理、又は、基板Ｂの表面を化学反応により腐食させて凹凸を形成する化学エッチングにより形成できる。
その他、「フライス」と呼ばれる多数の刃を持つ工具で表面の切削加工を行うフライス加工によっても第１光沢度表面７３を形成できる。
その他、「フライス」と呼ばれる多数の刃を持つ工具で表面の切削加工を行うフライス加工によっても第１光沢度表面７３を形成できる。
【0046】
複数の第２光沢度表面７５は、好ましくは光沢計１００による測定対象となりうる測定対象表面ＳＵが有する光沢度よりも大きく、上記の複数の第１光沢度表面７３の光沢度よりも大きな第２光沢度を有する表面である。本実施形態において、複数の第２光沢度表面７５は、光沢度が大きい基板Ｂの表面と同じ光沢度を有する。すなわち、複数の第２光沢度表面７５は、基板Ｂの表面全体のうち、基板Ｂの表面に凹凸を形成する処理により複数の第１光沢度表面７３を形成した残りの部分に対応する。より具体的には、複数の第２光沢度表面７５は、基板Ｂの表面をそのまま利用して形成される。
【0047】
このように、複数の第２光沢度表面７５を、第１光沢度表面７３と比較して凹凸（微小なもの、比較的なだらかなものを含む）が少なく、好ましくは測定対象表面ＳＵよりも光沢度が大きい基板Ｂの表面をそのまま利用して形成することで、凹凸が少なく好ましくは測定対象表面ＳＵよりも光沢度が大きい表面である第２光沢度表面７５を形成するために基板Ｂに処理を施す必要がなくなる。言い換えると、複数の第１光沢度表面７３を形成する処理を基板Ｂの表面に対して行うのみで、容易に基準板７１’を製造できる。
【0048】
大きな光沢度を有する第２光沢度表面７５は、基準板７１’の光沢度を光沢計で測定する場合、入射された検査光の大部分を反射する。その結果、第２光沢度表面７５にて発生する反射光の大部分は、光沢計で検出される。
【0049】
第１実施形態に係る基準板７１’の第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５の形状について、図５及び図６に示すように、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５は、Ｘ方向（すなわち、基板Ｂの短辺方向）に伸びる矩形を有している。具体的には、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５は、Ｘ方向の辺が基板Ｂの短辺と同じ長さを有する矩形を有している。
一方、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５のＹ方向（基板Ｂの長辺方向）の辺の長さは、基準板７１’が有する光沢度、基板Ｂの表面に形成すべき光沢度表面の数により決定される。基準板７１’の光沢度と第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５のＹ方向の辺の長さとの関係、及び、基板Ｂの表面に形成すべき光沢度表面の数については、後ほど詳しく説明する。
一方、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５のＹ方向（基板Ｂの長辺方向）の辺の長さは、基準板７１’が有する光沢度、基板Ｂの表面に形成すべき光沢度表面の数により決定される。基準板７１’の光沢度と第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５のＹ方向の辺の長さとの関係、及び、基板Ｂの表面に形成すべき光沢度表面の数については、後ほど詳しく説明する。
【0050】
一方、第１実施形態に係る基準板７１’の第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５の配置について、図５及び図６に示すように、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５とは、基板Ｂの表面において、Ｙ方向（基板Ｂの長辺方向）に並んで交互に配置されている。すなわち、基板Ｂの表面において、第１光沢度表面７３が連続して配置された箇所、又は、第２光沢度表面７５が連続して配置された箇所は存在しない。
【0051】
このように、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５とを交互に配置することで、基板Ｂの場所によって第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率が大きく異なることを抑制できる。後述するように、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率が基準板７１’の光沢度を決定するので、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５とを交互に配置することで、基板Ｂの場所によって光沢度が大きく異なることを抑制できる。
【0052】
なお、複数の第１光沢度表面７３と複数の第２光沢度表面７５とがＹ方向に交互に配置されることは、１つの第１光沢度表面７３と１つの第２光沢度表面７５との一組により形成される単位が、複数個Ｙ方向に並んで配置されていると見ることもできる。以後の説明において、上記の１つの第１光沢度表面７３と１つの第２光沢度表面７５との一組により形成される単位を、便宜上「単位表面Ａ」と呼ぶ。
【0053】
（３）第１光沢度表面と第２光沢度表面の比率と光沢度の関係
次に、単位表面Ａ内における１つの第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率と、基準板７１’の光沢度と、の関係を具体的に説明する。第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率と光沢度との関係の具体的な説明の前に、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５の辺の長さを定義する。
具体的には、図７に示すように、単位表面Ａ内の第１光沢度表面７３のＹ方向の辺の長さをｄ１、第２光沢度表面７５のＹ方向の辺の長さをｄ２、と定義する。また、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５のＸ方向の辺の長さ、すなわち、基板Ｂの短辺の長さをＷとする。図７は、第１光沢度表面と第２光沢度表面の辺の長さの定義を模式的に示す図である。
次に、単位表面Ａ内における１つの第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率と、基準板７１’の光沢度と、の関係を具体的に説明する。第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率と光沢度との関係の具体的な説明の前に、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５の辺の長さを定義する。
具体的には、図７に示すように、単位表面Ａ内の第１光沢度表面７３のＹ方向の辺の長さをｄ１、第２光沢度表面７５のＹ方向の辺の長さをｄ２、と定義する。また、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５のＸ方向の辺の長さ、すなわち、基板Ｂの短辺の長さをＷとする。図７は、第１光沢度表面と第２光沢度表面の辺の長さの定義を模式的に示す図である。
【0054】
図７に示す定義に従うと、単位表面Ａは、Ｘ方向の辺の長さがＷ、Ｙ方向の辺の長さがｄ１＋ｄ２であるので、Ｗ＊（ｄ１＋ｄ２）の面積を有する。
一方、第１光沢度表面７３は、Ｘ方向の辺の長さがＷ、Ｙ方向の辺の長さがｄ１であるので、Ｗ＊ｄ１の面積を有する。従って、１つの単位表面Ａ内において、第１光沢度表面７３は、単位表面Ａ全体の（Ｗ＊ｄ１）／｛Ｗ＊（ｄ１＋ｄ２）｝＝ｄ１／（ｄ１＋ｄ２）の割合の面積を占める。上記のｄ１／（ｄ１＋ｄ２）との式で表される割合を「第１割合」と呼ぶ。
一方、第１光沢度表面７３は、Ｘ方向の辺の長さがＷ、Ｙ方向の辺の長さがｄ１であるので、Ｗ＊ｄ１の面積を有する。従って、１つの単位表面Ａ内において、第１光沢度表面７３は、単位表面Ａ全体の（Ｗ＊ｄ１）／｛Ｗ＊（ｄ１＋ｄ２）｝＝ｄ１／（ｄ１＋ｄ２）の割合の面積を占める。上記のｄ１／（ｄ１＋ｄ２）との式で表される割合を「第１割合」と呼ぶ。
【0055】
また、第２光沢度表面７５は、Ｘ方向の辺の長さがＷ、Ｙ方向の辺の長さがｄ２であるので、Ｗ＊ｄ２の面積を有する。従って、１つの単位表面Ａ内において、第２光沢度表面７５は、単位表面Ａ全体の（Ｗ＊ｄ２）／｛Ｗ＊（ｄ１＋ｄ２）｝＝ｄ２／（ｄ１＋ｄ２）の割合の面積を占める。上記のｄ２／（ｄ１＋ｄ２）との式で表される割合を「第２割合」と呼ぶ。
上記の式に示されるように、第１割合と第２割合の合計は１（１００％）となる。また、１つの単位表面Ａ内において、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５とはオーバラップしない。すなわち、第２光沢度表面７５は、１つの単位表面Ａ内において第１光沢度表面７３が占有する表面以外を占有することで、単位表面Ａ全体の第２割合の面積を占有する。
上記の式に示されるように、第１割合と第２割合の合計は１（１００％）となる。また、１つの単位表面Ａ内において、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５とはオーバラップしない。すなわち、第２光沢度表面７５は、１つの単位表面Ａ内において第１光沢度表面７３が占有する表面以外を占有することで、単位表面Ａ全体の第２割合の面積を占有する。
【0056】
以下の説明では、単位表面Ａ内における第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率を、１つの単位表面Ａに含まれる第１光沢度表面７３の面積の割合（第１割合）を基準として、ｄ１／（ｄ１＋ｄ２）と定義する。以下の説明では、この比率を「面積比率」と呼ぶ。
【0057】
次に、上記面積比率と基準板７１’の光沢度との関係を具体的に説明する。本実施形態の基準板７１’は、測定対象の表面に所定の入射角にて検査光Ｌ１を照射したときに、当該測定対象の表面にて検査光Ｌ１が反射されることで発生する反射光Ｌ２の強度に基づいて光沢度を測定する光沢計１００に対して用いられる。また、小さな光沢度を有する第１光沢度表面７３から発生する反射光Ｌ２の強度は弱い一方、大きな光沢度を有する第２光沢度表面７５から発生する反射光Ｌ２の強度は強い。
【0058】
上記の光沢計の測定原理、及び、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５の性質に基づくと、１つの単位表面Ａ内における第１光沢度表面７３の面積比率（ｄ１／（ｄ１＋ｄ２））を、当該１つの単位表面Ａから発生する反射光Ｌ２が予め定めた強度になるよう決定することで、基準板７１’全体の光沢度を決定できる。
【0059】
具体的には、図８に示すように、第１光沢度表面７３の面積比率（ｄ１／（ｄ１＋ｄ２））が小さい基準板７１’の場合、基板Ｂの表面全体における第２光沢度表面７５の占める割合（第２割合）が大きくなる（図８の（１））。この結果、強度の大きい反射光Ｌ２を発生する第２光沢度表面７５の割合が大きい一方、ごくわずかな反射光Ｌ２しか発生しない第１光沢度表面７３の割合は小さいので、基準板７１’全体から発生する反射光Ｌ２の強度が大きくなる。従って、この基準板７１’を光沢計１００で測定すると、大きい光沢度が測定結果として得られる。図８は、第１光沢度表面の面積比率が異なる基準板を模式的に示す図である。
【0060】
一方、第１光沢度表面７３の面積比率が大きくなるに従って、基板Ｂの表面全体における第２光沢度表面７５の占める割合（第２割合）が小さくなる（図８の（２）、（３））。この結果、強度の大きい反射光Ｌ２を発生する第２光沢度表面７５の割合が小さくなる一方、ごくわずかな反射光Ｌ２しか発生しない第１光沢度表面７３の割合が大きくなるので、基準板７１’全体から発生する反射光Ｌ２の強度が小さくなる。従って、この基準板７１’を光沢計１００で測定すると、小さい光沢度が測定結果として得られる。
【0061】
上記の面積比率と光沢度との関係をグラフに表すと、図９のようになる。具体的には、基板Ｂの表面全体が第２光沢度表面７５のみである場合（面積比率：０％）、基準板７１’の光沢度は、第２光沢度表面７５の第２光沢度、つまり、基板Ｂの表面の光沢度と同じになる（図９では、Ｋ２と表している）。例えば、基板ＢとしてＢＫ７を用いた場合、面積比率が０％のときの基準板７１’の光沢度は、９０程度である。図９は、第１光沢度表面の面積比率と基準板の光沢度との関係を表す図である。
【0062】
一方、基板Ｂの表面における第１光沢度表面７３の割合が増加するに従って、すなわち、面積比率が増加するに従って、直線的に基準板７１’の光沢度が低下し、基板Ｂの表面全体が第１光沢度表面７３のみである場合（面積比率：１００％）、基準板７１’の光沢度は、第１光沢度表面７３の第１光沢度と同じになる（図９では、Ｋ１と表している）。例えば、基板ＢとしてＢＫ７を用い、第１光沢度表面７３をブラスト処理にて形成した場合、面積比率が１００％のときの基準板７１’の光沢度は、ほぼ０である。
【0063】
このように、図９に示すグラフを参照して第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５の面積比率を決定することで、Ｋ１（第１光沢度）～Ｋ２（第２光沢度）までの任意の光沢度を有する基準板７１’を製造できる。
なお、図９に示すグラフは、例えば、基板Ｂの表面全体が第２光沢度表面７５の場合（面積比率：０％）の第１光沢度と、基板Ｂの表面全体が第１光沢度表面７３の場合（面積比率：１００％）の第２光沢度と、を光沢計で測定し、面積比率が０％のときの第２光沢度と面積比率が１００％のときの第１光沢度とを結ぶ直線の式（Ｙ＝ａＸ＋Ｂ、Ｙ：光沢度、Ｘ：面積比率）を算出することで導出できる。
なお、図９に示すグラフは、例えば、基板Ｂの表面全体が第２光沢度表面７５の場合（面積比率：０％）の第１光沢度と、基板Ｂの表面全体が第１光沢度表面７３の場合（面積比率：１００％）の第２光沢度と、を光沢計で測定し、面積比率が０％のときの第２光沢度と面積比率が１００％のときの第１光沢度とを結ぶ直線の式（Ｙ＝ａＸ＋Ｂ、Ｙ：光沢度、Ｘ：面積比率）を算出することで導出できる。
【0064】
このように、基準板７１’の光沢度と第１光沢度表面７３の面積比率（第１割合）とは図９に示すような関係で表すことができるので、第１実施形態に係る基準板７１’は、「基板Ｂの表面全体において、第１光沢度を有する部分が第１割合を占め、第２光沢度の部分が残りの第２割合を占めているので、第１光沢度、第１割合、第２光沢度、第２割合とのパラメータで決まる特定の光沢度を有する」と光沢度に対する理論的な説明が可能な基準板である。
【0065】
（４）単位表面と光沢計の測定範囲との関係
次に、図１０を用いて、単位表面の大きさ（すなわち、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５の大きさ）と、図４を用いて説明した光沢計１００の測定部２による光沢度の測定対象範囲ＭＡとの関係を説明する。図１０は、単位表面の大きさと測定対象範囲との関係を模式的に示す図である。
第１実施形態に係る基準板７１’においては、第１光沢度表面７３からの反射光の強度と第２光沢度表面７５からの反射光の強度との合計から、基準板７１’の光沢度が決定される。従って、基準板７１’の光沢度を光沢計で測定した結果と基準板７１’の意図した光沢度との間の誤差を小さくするには、光沢計が基準板７１’に照射する検査光Ｌ１の照射範囲（すなわち、測定対象範囲ＭＡ）内に含まれる第１光沢度表面７３の面積と第２光沢度表面７５の面積との割合と、１つの単位表面Ａ内の第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率との間の誤差を小さくする必要がある。
次に、図１０を用いて、単位表面の大きさ（すなわち、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５の大きさ）と、図４を用いて説明した光沢計１００の測定部２による光沢度の測定対象範囲ＭＡとの関係を説明する。図１０は、単位表面の大きさと測定対象範囲との関係を模式的に示す図である。
第１実施形態に係る基準板７１’においては、第１光沢度表面７３からの反射光の強度と第２光沢度表面７５からの反射光の強度との合計から、基準板７１’の光沢度が決定される。従って、基準板７１’の光沢度を光沢計で測定した結果と基準板７１’の意図した光沢度との間の誤差を小さくするには、光沢計が基準板７１’に照射する検査光Ｌ１の照射範囲（すなわち、測定対象範囲ＭＡ）内に含まれる第１光沢度表面７３の面積と第２光沢度表面７５の面積との割合と、１つの単位表面Ａ内の第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率との間の誤差を小さくする必要がある。
【0066】
光沢計が基準板７１’に照射する検査光Ｌ１の照射範囲（測定対象範囲ＭＡ）内に含まれる第１光沢度表面７３の面積と第２光沢度表面７５の面積との割合と、１つの単位表面Ａ内の第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率との間の誤差を小さくするためには、測定対象範囲ＭＡ内に、第１光沢度表面７３（の一部）と第２光沢度表面７５（の一部）との組が複数（少なくとも２以上）含まれていることが好ましい。
【0067】
具体的には、図１０の（１）及び（２）に示すように、単位表面Ａの面積を小さくして第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５の面積を小さくすることで、より多くの第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との組を測定対象範囲ＭＡ内に含ませることが好ましい。
また、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５の面積を小さくすることで、測定対象範囲ＭＡが移動して光沢度の測定位置が変化しても、測定対象範囲ＭＡに含まれる第１光沢度表面７３の面積と第２光沢度表面７５の面積との割合は変化しにくくなる。その結果、基準板７１’の測定位置によって光沢度が大きく異なることを抑制できる。
また、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５の面積を小さくすることで、測定対象範囲ＭＡが移動して光沢度の測定位置が変化しても、測定対象範囲ＭＡに含まれる第１光沢度表面７３の面積と第２光沢度表面７５の面積との割合は変化しにくくなる。その結果、基準板７１’の測定位置によって光沢度が大きく異なることを抑制できる。
【0068】
一方、図１０の（３）に示すように、測定対象範囲ＭＡに比較して単位表面Ａの面積が過大となると、測定対象範囲ＭＡに含まれる第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との組の数が少なくなるので、測定対象範囲ＭＡ内に含まれる第１光沢度表面７３の面積と第２光沢度表面７５の面積との比率と、単位表面Ａ内の第１光沢度表面７３の面積と第２光沢度表面７５の面積との比率との間の誤差が大きくなる。
例えば、図１０の（３）に示すように、測定対象範囲ＭＡの上端部に含まれる第１光沢度表面７３の面積と測定対象範囲ＭＡの下端部に含まれる第２光沢度表面７５の面積との割合が、単位表面Ａ内の第１光沢度表面７３の面積と第２光沢度表面７５の面積との比率とは異なる。
例えば、図１０の（３）に示すように、測定対象範囲ＭＡの上端部に含まれる第１光沢度表面７３の面積と測定対象範囲ＭＡの下端部に含まれる第２光沢度表面７５の面積との割合が、単位表面Ａ内の第１光沢度表面７３の面積と第２光沢度表面７５の面積との比率とは異なる。
【0069】
また、単位表面Ａの面積が過大であると、測定対象範囲ＭＡが移動して光沢度の測定位置が変化すると、測定対象範囲ＭＡに含まれる第１光沢度表面７３の面積と第２光沢度表面７５の面積との割合が大きく変化する。その結果、基準板７１’の測定位置によって光沢度が大きく異なることとなる。
【0070】
（５）基準板の製造方法
次に、図１１を用いて、上記の構成を有する基準板７１’の製造方法を説明する。図１１は、基準板の製造方法を示すフローチャートである。
まず、ステップＳ１において、例えば図９に示すグラフなどを用いて、製造しようとする基準板７１’が所望の光沢度を有するよう、１つの単位表面Ａ内における第１光沢度表面７３と第２光沢度表面との比率を決定する。すなわち、上記の第１割合及び第２割合を決定する。
次に、ステップＳ２において、基準板７１’を用いて測定値を評価する対象の光沢計の光沢度の測定対象範囲ＭＡの大きさに応じて、１つの単位表面Ａの大きさを決定する。また、基板Ｂの表面における複数の単位表面Ａの配置を決定する。
次に、図１１を用いて、上記の構成を有する基準板７１’の製造方法を説明する。図１１は、基準板の製造方法を示すフローチャートである。
まず、ステップＳ１において、例えば図９に示すグラフなどを用いて、製造しようとする基準板７１’が所望の光沢度を有するよう、１つの単位表面Ａ内における第１光沢度表面７３と第２光沢度表面との比率を決定する。すなわち、上記の第１割合及び第２割合を決定する。
次に、ステップＳ２において、基準板７１’を用いて測定値を評価する対象の光沢計の光沢度の測定対象範囲ＭＡの大きさに応じて、１つの単位表面Ａの大きさを決定する。また、基板Ｂの表面における複数の単位表面Ａの配置を決定する。
【0071】
その後、ステップＳ３において、光沢度の大きい基板Ｂ（例えば、ＢＫ７などの光学ガラス板）を用意し、上記のステップＳ２で大きさ及び配置を決定した複数の単位表面Ａ内の第１光沢度表面７３に対応する基板Ｂの表面に、２つの第１光沢度表面７３が互いに隣接しないよう、微小な凹凸を形成する処理を施す。
このとき、凹凸を形成する処理を行う対象の単位表面Ａ全体のうち、ステップＳ１で決定した第１割合の面積に対して凹凸を形成する処理を施す。本実施形態の基準板７１’の場合には、処理対象の単位表面Ａ内において、Ｙ方向の長さがｄ１でありＸ方向の長さがＷ（基板Ｂの短辺と同じ長さ）である矩形領域に対して微小な凹凸を形成する処理を施す。
このとき、凹凸を形成する処理を行う対象の単位表面Ａ全体のうち、ステップＳ１で決定した第１割合の面積に対して凹凸を形成する処理を施す。本実施形態の基準板７１’の場合には、処理対象の単位表面Ａ内において、Ｙ方向の長さがｄ１でありＸ方向の長さがＷ（基板Ｂの短辺と同じ長さ）である矩形領域に対して微小な凹凸を形成する処理を施す。
【0072】
ステップＳ３の凹凸を形成する処理をブラスト処理にて行う場合には、具体的には、以下のようにして微小な凹凸が形成される。
まず、ステップＳ１及びＳ２を実行することにより決定される第１光沢度表面７３の寸法に対応した開口を、マスク部材に形成する。マスク部材は、ブラスト処理の実行時に基板Ｂの表面を覆う板状の部材であり、基板Ｂの表面のうちマスク部材に覆われた箇所にブラスト処理が施されないようにする部材である。
まず、ステップＳ１及びＳ２を実行することにより決定される第１光沢度表面７３の寸法に対応した開口を、マスク部材に形成する。マスク部材は、ブラスト処理の実行時に基板Ｂの表面を覆う板状の部材であり、基板Ｂの表面のうちマスク部材に覆われた箇所にブラスト処理が施されないようにする部材である。
【0073】
次に、上記のようにして開口を形成したマスク部材を、基準板７１’とする基板Ｂの表面上に配置して、基板Ｂにブラスト処理を実行する。これにより、マスク部材のうち開口が設けられた部分、すなわち、基板Ｂの表面の第１光沢度表面７３に対応する箇所にはブラスト処理が施されて微小な凹凸が形成される。一方、マスク部材のうち開口が設けられていない部分、すなわち、基板Ｂの表面の第２光沢度表面７５に対応する箇所にはブラスト処理が施されず、当該箇所の光沢度は基板Ｂの光沢度と同じになる。
【0074】
上記のステップＳ１～Ｓ３を実行することで、凹凸が少なく好ましくは測定対象表面ＳＵよりも光沢度が大きい基板Ｂの表面のうち第１光沢度表面７３に対応する箇所にのみ２つの第１光沢度表面７３が互いに隣接しないよう微小な凹凸を形成する処理を実行するだけで、光を散乱する微小な凹凸を有する第１光沢度表面７３のみをブラスト加工などにより形成しつつ、第２光沢度表面７５については大きい光沢度の基板Ｂの表面に対して加工を施すことなくそのまま利用して、意図した光沢度を有する基準板７１’を容易に製造できる。
【0075】
（６）変形例
以下、第１実施形態に係る基準板７１’の変形例を説明する。上記の第１実施形態において、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５は、Ｘ方向（基板Ｂの短辺）に長い矩形を有し、Ｙ方向に並んで配置されていた。これにより、基準板７１’の光沢度の測定位置（測定対象範囲ＭＡ）によって、光沢度の測定値が大きく異なることを抑制できる。
しかし、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面の形状及び配置はこれに限られず、図１２Ａに示すように、変形例１に係る基準板７１’'の第１光沢度表面７３'及び第２光沢度表面７５'は、四角形を有し互いに隣接しないように交互に配置される。すなわち、変形例１に係る基準板７１’’において、第１光沢度表面７３'及び第２光沢度表面７５'は、基板Ｂの表面において市松模様を形成する。図１２Ａは、変形例１に係る基準板の上面図である。
以下、第１実施形態に係る基準板７１’の変形例を説明する。上記の第１実施形態において、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５は、Ｘ方向（基板Ｂの短辺）に長い矩形を有し、Ｙ方向に並んで配置されていた。これにより、基準板７１’の光沢度の測定位置（測定対象範囲ＭＡ）によって、光沢度の測定値が大きく異なることを抑制できる。
しかし、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面の形状及び配置はこれに限られず、図１２Ａに示すように、変形例１に係る基準板７１’'の第１光沢度表面７３'及び第２光沢度表面７５'は、四角形を有し互いに隣接しないように交互に配置される。すなわち、変形例１に係る基準板７１’’において、第１光沢度表面７３'及び第２光沢度表面７５'は、基板Ｂの表面において市松模様を形成する。図１２Ａは、変形例１に係る基準板の上面図である。
【0076】
また、図１２Ｂに示すように、変形例２に係る基準板７１’’’の第１光沢度表面７３''及び第２光沢度表面７５''は、第１実施形態とは逆に、Ｙ方向（基板Ｂの長辺）に長い矩形を有し、Ｘ方向に並んで配置される。図１２Ｂは、変形例２に係る基準板の上面図である。
【0077】
上記の変形例１及び変形例２のように第１光沢度表面及び第２光沢度表面が配置されていても、光沢計の測定対象範囲ＭＡ内に複数の第１光沢度表面及び第２光沢度表面の組が含まれていれば、意図した光沢度を測定結果として出力できる信頼性の高い基準板を提供できる。
【0078】
（７）まとめ
上記の第１実施形態は、以下のような機能及び効果を有する。
第１実施形態に係る基準板７１’では、基板Ｂの表面上において、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する第１光沢度表面７３と、第２光沢度を有しかつ第２面積を有する第２光沢度表面７５とが、互いに隣接して配置され、かつ、１つの第１光沢度表面７３と１つの第２光沢度表面７５との組により構成される複数の単位が互いに隣接して配置されている。これにより、上記の基準板７１’は、基準板７１’の表面全体にわたってほぼ均一的に、第１面積、第２面積、第１光沢度、及び第２光沢度により決定される、信頼性の高い任意の光沢度を有する。
上記の第１実施形態は、以下のような機能及び効果を有する。
第１実施形態に係る基準板７１’では、基板Ｂの表面上において、第１光沢度を有しかつ第１面積を有する第１光沢度表面７３と、第２光沢度を有しかつ第２面積を有する第２光沢度表面７５とが、互いに隣接して配置され、かつ、１つの第１光沢度表面７３と１つの第２光沢度表面７５との組により構成される複数の単位が互いに隣接して配置されている。これにより、上記の基準板７１’は、基準板７１’の表面全体にわたってほぼ均一的に、第１面積、第２面積、第１光沢度、及び第２光沢度により決定される、信頼性の高い任意の光沢度を有する。
【0079】
基準板７１’において、第１光沢度表面７３は、一辺が基板Ｂの一辺の長さと同じ長さを有し第１面積を有する矩形である。また、第２光沢度表面７５は、一辺が基板Ｂの一辺の長さと同じ長さを有し第２面積を有する矩形である。また、第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５は、基板Ｂの当該一辺が伸びる方向とは垂直な方向に並んで配置される。
これにより、基準板７１'の表面において縞状に第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５が配置されるので、基準板７１’の表面全体において光沢度をほぼ均一とできる。
これにより、基準板７１'の表面において縞状に第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５が配置されるので、基準板７１’の表面全体において光沢度をほぼ均一とできる。
【0080】
第１光沢度表面７３が基板Ｂの表面に形成された光を拡散する微小な凹凸を有し、第２光沢度表面７５が基板Ｂをそのまま利用して形成されることにより、基準板７１’を容易に製造できる。
【0081】
基板Ｂが光学ガラス板、又は、金属板のいずれかであることにより、特定の光沢度を有する基準板７１’を容易に製造できる。
【0082】
光沢計１００による光沢度の測定対象範囲ＭＡには、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との組が複数含まれることにより、光沢度の測定位置によって光沢計１００で測定される光沢度が異なることを抑制できる。
【0083】
第１光沢度表面７３に微小な凹凸を形成するステップが、基板Ｂの表面をブラスト処理するステップ、基板Ｂの表面をエッチング処理するステップ、又は、基板Ｂの表面をフライス加工するステップのいずれかであることにより、容易に光沢度の小さい第１光沢度表面７３を形成できる。
【0084】
２．他の実施形態
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。特に、本明細書に書かれた複数の実施形態及び変形例は必要に応じて任意に組み合せ可能である。
（Ａ）基準板７１’においては、光沢計の測定対象範囲ＭＡ内に含まれる第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率の平均が意図した比率（図９に示すグラフを用いて決定した比率）と一致していれば、信頼性の高い光沢度を測定結果として得られる。従って、例えば、測定対象範囲ＭＡ内に多数の第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との組が含まれる場合には、一部において第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５とが交互に配置されていなくてもよい。すなわち、一部において第１光沢度表面７３が連続して配置されてもよいし、第２光沢度表面７５が連続して配置されてもよい。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で種々の変更が可能である。特に、本明細書に書かれた複数の実施形態及び変形例は必要に応じて任意に組み合せ可能である。
（Ａ）基準板７１’においては、光沢計の測定対象範囲ＭＡ内に含まれる第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率の平均が意図した比率（図９に示すグラフを用いて決定した比率）と一致していれば、信頼性の高い光沢度を測定結果として得られる。従って、例えば、測定対象範囲ＭＡ内に多数の第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との組が含まれる場合には、一部において第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５とが交互に配置されていなくてもよい。すなわち、一部において第１光沢度表面７３が連続して配置されてもよいし、第２光沢度表面７５が連続して配置されてもよい。
【0085】
（Ｂ）第１光沢度表面７３及び第２光沢度表面７５の形状は四角形以外の任意の形状とできる。また、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５との比率が単位表面Ａ内でほぼ同じとできる限り、これら表面の形状が異なっていてもよい。例えば、四角形である第２光沢度表面の中心部分に、四角形以外の形状（例えば、三角形、多角形、円形など）の第１光沢度表面を形成してもよい。
【0086】
（Ｃ）上記の第１実施形態においては、凹凸が少なく好ましくは測定対象表面ＳＵよりも光沢度が大きい基板Ｂの表面の一部に微小な凹凸を形成して、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５とが形成されていた。これとは逆に、例えば、全体に微小な凹凸が形成されて光沢度が小さい基板Ｂの表面の一部を平坦化して光沢度の大きい部分を形成して、第１光沢度表面７３と第２光沢度表面７５とを形成することもできる。
例えば、微小な凹凸を有する表面をダイヤモンドペーストなどにより塗装して微小な凹凸を埋めて平坦化することにより、光沢度の小さな表面に光沢度の大きい表面を形成できる。
例えば、微小な凹凸を有する表面をダイヤモンドペーストなどにより塗装して微小な凹凸を埋めて平坦化することにより、光沢度の小さな表面に光沢度の大きい表面を形成できる。
【0087】
（Ｄ）上記の基準板７１’は、表面粗さ計、走査型プローブ顕微鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ、ＳＰＭ）、放射温度計などの測定結果の評価等に使用できる。例えば、放射温度計に用いる場合には、光沢度が小さい第１光沢度表面７３の放射率が、第２光沢度表面７５の放射率よりも大きく、この原理を用いて放射温度計の測定結果を評価できる。
【0088】
（Ｅ）図１３に示すように、基板ＢのＸ方向の端部においてもブラスト処理により微小な凹凸を形成してもよい。すなわち、Ｘ方向に延びＹ方向に並んで配置される第１光沢度表面７３を上記のブラスト処理した表面により接続し、第１光沢度表面７３を１つとしてもよい。図１３は、基準板の他の実施形態の一例を示す図である。
【0089】
（Ｆ）図１４に示すように、基板ＢのＸ方向の端部をブラスト処理等することなく凹凸が少ない表面としてもよい。すなわち、Ｘ方向に延びＹ方向に並んで配置される第２光沢度表面７５を凹凸が少ない表面により接続し、第２光沢度表面７５を１つとしてもよい。図１４は、基準板のさらなる他の実施形態の一例を示す図である。
【産業上の利用可能性】
【0090】
本発明は、光沢度測定において光沢度の基準となる基準板に広く適用できる。
【符号の説明】
【0091】
１００ 光沢計
１ 筐体
２ 測定部
２１ 光照射部
２３ 光検出部
３ 表示部
４ 制御部
５ バッテリー
６ 第１操作部
６１ 電源ボタン
６２ 校正ボタン
７ 保護カバー
７１ 校正基準板
７’ 予備カバー
７１’、７１’’、７１’’’ 基準板
Ｂ 基板
Ａ 単位表面
７３、７３’、７３’’ 第１光沢度表面
７５、７５’、７５’’ 第２光沢度表面
８ 第２操作部
９ 外部接続端子
ＢＯ 底部
Ｌ１ 検査光
Ｌ２ 反射光
ＭＡ 測定対象範囲
ＳＵ 測定対象表面
１ 筐体
２ 測定部
２１ 光照射部
２３ 光検出部
３ 表示部
４ 制御部
５ バッテリー
６ 第１操作部
６１ 電源ボタン
６２ 校正ボタン
７ 保護カバー
７１ 校正基準板
７’ 予備カバー
７１’、７１’’、７１’’’ 基準板
Ｂ 基板
Ａ 単位表面
７３、７３’、７３’’ 第１光沢度表面
７５、７５’、７５’’ 第２光沢度表面
８ 第２操作部
９ 外部接続端子
ＢＯ 底部
Ｌ１ 検査光
Ｌ２ 反射光
ＭＡ 測定対象範囲
ＳＵ 測定対象表面
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12A】
【図12B】
【図13】
【図14】