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特許7343508イメージセンサ、位置センサ装置、リソグラフィシステム、及びイメージセンサの動作方法
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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2023-09-04
(45)【発行日】2023-09-12
(54)【発明の名称】イメージセンサ、位置センサ装置、リソグラフィシステム、及びイメージセンサの動作方法
(51)【国際特許分類】
   G03F 7/20 20060101AFI20230905BHJP
   G01B 11/00 20060101ALI20230905BHJP
【FI】
G03F7/20 503
G03F7/20 521
G01B11/00 H
【請求項の数】 15
(21)【出願番号】P 2020542732
(86)(22)【出願日】2019-02-11
(65)【公表番号】
(43)【公表日】2021-05-27
(86)【国際出願番号】 EP2019053298
(87)【国際公開番号】W WO2019155053
(87)【国際公開日】2019-08-15
【審査請求日】2022-02-10
(31)【優先権主張番号】102018202096.5
(32)【優先日】2018-02-12
(33)【優先権主張国・地域又は機関】DE
(73)【特許権者】
【識別番号】503263355
【氏名又は名称】カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー
(74)【代理人】
【識別番号】100147485
【弁理士】
【氏名又は名称】杉村 憲司
(74)【代理人】
【識別番号】230118913
【弁護士】
【氏名又は名称】杉村 光嗣
(74)【代理人】
【識別番号】100186716
【弁理士】
【氏名又は名称】真能 清志
(72)【発明者】
【氏名】ヤン ホルン
(72)【発明者】
【氏名】ウルリッチ ビアー
(72)【発明者】
【氏名】アンディ ゾット
(72)【発明者】
【氏名】マルクス デギュンター
【審査官】植木 隆和
(56)【参考文献】
【文献】特開平10-318911(JP,A)
【文献】特開2002-311200(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H01L 21/027
G03F 7/20
G01N 21/17
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
リソグラフィ装置(100、100A)の少なくとも1つのミラー(M1~M6)の位置を確認する位置センサ装置(140)のイメージセンサ(200)であって、
前記リソグラフィ装置(100、100A)の投影系(104)の真空引きされたハウジング内に配置される、前記位置センサ装置(140)の内部群(150)に含まれる、
複数N1本の集積光導波路(220)と、
N2≧N1である複数N2個の入力結合領域(210)であり、該N2個の入力結合領域(210)のそれぞれが前記N1本の集積光導波路(220)の1つに割り当てられ、且つ該割り当てられた集積光導波路(220)で光信号が生成されるように入射光を前記割り当てられた集積光導波路(220)に結合するよう構成された複数N2個の入力結合領域(210)と、
前記N1本の集積光導波路(220)に結合された、該N1本の集積光導波路(220)で生成された前記光信号をN1≧N3であるN3本の2次光導波路(240)に合波するマルチプレクサ装置(230)と、
前記ハウジングの外部に配置される、前記位置センサ装置(140)の外部群(170)に含まれる、
前記N3本の2次光導波路(240)に結合された、該N3本の2次光導波路(240)の前記光信号に基づき画像を再構成する画像再構成装置(250)と
を備えたイメージセンサ。
【請求項2】
請求項1に記載のイメージセンサにおいて、前記N2個の入力結合領域(210)、前記Nの集積光導波路(220)、及び前記マルチプレクサ装置(230)は、基板(202)に集積されることを特徴とするイメージセンサ。
【請求項3】
請求項1又は2に記載のイメージセンサにおいて、前記マルチプレクサ装置(230)は、時分割多重方式、周波数分割多重方式、及び/又は符号分割多重方式により前記光信号を合波するよう構成されることを特徴とするイメージセンサ。
【請求項4】
請求項1~3のいずれか1項に記載のイメージセンサにおいて、前記画像再構成装置(250)は、前記N3の2次光導波路前記(240)の前記光信号を取得する取得デバイス(252)と同期デバイス(254)とを備え、該同期デバイス(254)は、前記取得デバイス(252)により取得された各光信号がイメージセンサ(200)の前記N2個の入力結合領域(210)のうちの1つの入力結合領域(210)に一意に割当て可能であるように同期信号(260)により前記マルチプレクサ装置(230)を駆動するよう構成されることを特徴とするイメージセンサ。
【請求項5】
請求項1~4のいずれか1項に記載のイメージセンサにおいて、前記N2個の入力結合領域(210)の各入力結合領域(210)の表面が、前記入射光に対して所定の角度を有することを特徴とするイメージセンサ。
【請求項6】
請求項1~5のいずれか1項に記載のイメージセンサにおいて、イメージセンサ(200)により取得されるパターン提供デバイス(142)のパターン(144)をイメージセンサ(200)の前記N2個の入力結合領域(210)に結像する結像ユニット(204)を特徴とするイメージセンサ。
【請求項7】
請求項1~6のいずれか1項に記載のイメージセンサにおいて、N4本の2次集積光導波路(282)と、N5≧N4であるN5個の出力結合領域(284)であり、該N5個の出力結合領域(284)のそれぞれが、前記N4本の2次集積光導波路(282)の1つに割り当てられ、且つイメージセンサ(200)により取得されるパターン提供デバイス(142)のパターン(144)を照明するために前記割り当てられた2次集積光導波路(282)で生成された光信号を、該割り当てられた2次集積光導波路(282)から取り出すよう構成されたN5個の出力結合領域(284)とを特徴とするイメージセンサ。
【請求項8】
請求項7に記載のイメージセンサにおいて、照明光導波路(292)で光信号を生成する照明デバイス(290)と、前記照明光導波路(292)に結合された、該照明光導波路(292)で生成された前記光信号を前記N4本の2次集積光導波路(282)間に分配する分配装置(280)とを特徴とするイメージセンサ。
【請求項9】
請求項7又は8に記載のイメージセンサにおいて、前記N4本の2次集積光導波路(282)及び前記N5個の出力結合領域(284)及び/又は前記分配装置(280)は、前記基板(202)に集積されることを特徴とするイメージセンサ。
【請求項10】
請求項1~9のいずれか1項に記載のイメージセンサにおいて、16≦N2≦16384、又は256≦N2≦4096が当てはまることを特徴とするイメージセンサ。
【請求項11】
請求項1~10のいずれか1項に記載のイメージセンサにおいて、前記N1本の集積光導波路(220)及び/又は前記N4本の2次集積光導波路(282)の構造寸法は、100μm未満、又は10μm未満、又は1μm未満であることを特徴にするイメージセンサ。
【請求項12】
請求項1~11のいずれか1項に記載のイメージセンサにおいて、イメージセンサ(200)の画素のエッジ長さが、5μm~1mm、又は40μm~160μmの範囲にあることを特徴とするイメージセンサ。
【請求項13】
リソグラフィ装置(100、100A)の少なくとも1つのミラー(M1~M6)の位置を確認する位置センサ装置(140)であって、
前記ミラー(M1~M6)に結合された、1/(500μm)以上の空間周波数の情報量を有するパターン(144)を提供するパターン提供デバイス(142)と、
提供された前記パターン(144)を取得し且つ取得された前記パターン(144)の再構成画像を提供する請求項1~12のいずれか1項に記載のイメージセンサ(200)と、
前記再構成画像に基づき前記ミラー(M1~M6)の位置を確認する画像評価デバイス(146)と
を備えた位置センサ装置。
【請求項14】
リソグラフィ装置(100、100A)であって、請求項13に記載の位置センサ装置(140)を備えた少なくとも1つのミラー(M1~M6)を有する投影系(104)を有するリソグラフィ装置。
【請求項15】
リソグラフィ装置(100、100A)の少なくとも1つのミラー(M1~M6)の位置を確認する位置センサ装置(140)のイメージセンサ(200)の動作方法であって、
ここで、前記イメージセンサ(200)は、前記リソグラフィ装置(100、100A)の投影系(104)の真空引きされたハウジング内に配置される、前記位置センサ装置(140)の内部群(150)に含まれる、複数のN1本の集積光導波路(220)、複数のN2個の入力結合領域(210)及びマルチプレクサ装置(230)と、前記ハウジングの外部に配置される、前記位置センサ装置(140)の外部群(170)に含まれる画像再構成装置(250)とを備え、
前記N2個の入力結合領域(210)のうち1つの入力結合領域(210)に入射した光を前記N1本の集積光導波路(220)のうち割り当てられた集積光導波路(220)に結合するステップ(S1)と、
記N1本の集積光導波路(220)のうち前記割り当てられた集積光導波路(220)で光信号を生成するステップ(S2)と、
記N1本の集積光導波路(220)を前記マルチプレクサ装置(230)と結合するステップ(S3)と、
前記N1本の集積光導波路(220)で生成された前記光信号を前記マルチプレクサ装置(230)によりN3本の2次光導波路(240)に合波するステップ(S4)と、
前記N3本の2次光導波路(240)を前記画像再構成装置(250)と結合ステップ(S5)と、
前記N3本の2次光導波路(240)の前記光信号に基づき前記画像再構成装置(250)により画像を再構成するステップ(S6)と
を含む方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、位置センサ装置のイメージセンサ、当該イメージセンサを備えた位置センサ装置、当該位置センサ装置を備えたリソグラフィ装置、及びイメージセンサの動作方法に関する。
【0002】
優先権出願DE10 2018 202 096.5号の内容の全体を参照により援用する。
【背景技術】
【0003】
例として、リソグラフィ装置は集積回路又はICの製造において、例えばシリコンウェハ等の基板上にマスクのマスクパターンを結像するために使用される。その際に、光学系によって生成される光ビームを、マスクを通して基板上に指向させる。
【0004】
この場合、表現可能な構造寸法は、使用される光波長に大きく左右される。特に小さな構造を得るためには、特に短い波長の放射線の使用が望ましい。EUVリソグラフィ装置は、5nm~30nmの範囲、特に13.5nmの波長を有する光を使用する。「EUV」は「極紫外」を指す。このようなリソグラフィ装置の場合、大半の材料はこの波長の光の吸収性が高いので、反射光学ユニット、すなわちミラーを屈折光学ユニット、すなわちレンズ素子の代わりに使用しなければならない。さらに、ガスの存在さえもが放射線の吸収を高め得るので、結像光学ユニットが入れられるハウジングを真空引きしなければならない。
【0005】
各ミラーの最大6自由度の運動及びその結果としてミラーの相互に関する特にpm範囲の高精度位置決めを可能にするために、ミラーは、例えばフォースフレームに固定されて少なくとも部分的に操作可能又は傾斜可能に構成され得る。これにより、例えば熱的影響の結果としてリソグラフィ装置の動作中に例えば起こる光学特性の変化を補正することができる。
【0006】
特に6自由度でのミラーの位置合わせの目的で、制御ループにより駆動されるアクチュエータが上記ミラーに割り当てられる。例えば各ミラーの傾斜角を監視する装置が、制御ループの一部として設けられる。
【0007】
特許文献1は、イメージセンサがミラーに結合されたパターンを撮像し、イメージセンサ上のパターンの像と静止位置からのミラーの変位との間に既知の関係がある位置センサ装置を記載している。したがって、イメージセンサにより記録された像から静止位置に対するミラーの位置を推定することができる。
【0008】
特に真空引きされた露光システムの場合、システムの冷却が技術的問題となるが、それは個々のコンポーネント間の空間に伝熱媒体がないからである。したがって、動作中に発生させる熱ができる限り少ないように使用コンポーネントを設計することが望ましい。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0009】
【文献】独国特許出願公開第10 2015 209 259号明細書
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0010】
こうした背景から、本発明の目的は、イメージセンサの改良を可能にすることである。
【課題を解決するための手段】
【0011】
第1態様によれば、リソグラフィ装置の少なくとも1つのミラーの位置を確認する位置センサ装置のイメージセンサが提案される。イメージセンサは、複数N1本の集積光導波路と、N2≧N1である複数N2個の入力結合領域であり、N2個の入力結合領域のそれぞれがN1本の集積光導波路の1つに割り当てられ、且つ割り当てられた集積光導波路で光信号が生成されるように入射光を割り当てられた集積光導波路に結合するよう構成された複数N2個の入力結合領域とを備える。さらに、イメージセンサは、N1本の集積光導波路に結合された、N1本の集積光導波路で生成された光信号をN1≧N3であるN3本の2次光導波路に合波するマルチプレクサ装置と、N3本の2次光導波路に結合された、N3本の2次光導波路の光信号に基づき画像を再構成する画像再構成装置とを備える。
【0012】
特に、イメージセンサは、センサ前端とも称する内部群、信号接続部、及び外部群という3つのモジュールに分割されると考えることができる。内部群は、撮像すべき場所に、例えばEUVリソグラフィ装置の投影光学ユニットの真空引きされたハウジング内に配置される。外部群は、別の場所に、例えば投影光学ユニットのハウジングの外部に柔軟に配置され得る。信号接続部は、内部群と外部群との間で信号、特に光及び/又は電気信号を伝達する。
【0013】
特に、このイメージセンサには、イメージセンサのセンサ表面の場所での撮像のために使用する電子コンポーネントの数を減らすことができるという利点がある。特に、画像再構成装置を、センサ前端から遠隔の場所に、例えばリソグラフィ装置の真空引きされた投影光学ユニットの外部に配置することができる。したがって、光信号が特にデジタル画像として電子的に処理可能な信号に変換されるのは、例えばCCD又はCMOSセンサの場合のようにセンサ表面上では又は直接センサ表面では行われておらず、他の場所に配置された画像再構成装置でのみ行われる。結果として、センサ前端で生じる熱エネルギーが純電子的なイメージセンサに比べて少ない。
【0014】
センサ前端は、特に基板を含み、基板は、集積光学イメージセンサとして具現され、N1本の集積光導波路及びN2個の入力結合領域を少なくとも有する。これは、チップ又はマイクロチップとも称することができる。集積光学イメージセンサは、フォトニックイメージセンサとも称することができる。特に、撮像用のイメージセンサは、一体的に製造されたチップを含み、当該チップは、複数N1本の集積光導波路及び複数N2個の入力結合領域が集積された層構造を例えば有する。チップに考えられる基板材料として、特に、ケイ素、酸化ケイ素、炭化ケイ素、例えばリン化インジウム等のIII-V族半導体材料、及び溶融石英等の異なるガラスが挙げられる。集積光学構造、特に光導波路を作製するために、マイクロチップ製造から既知の方法、特に種々のコーティング及び/又はパターニング法が利用される。例として、こうして製造された集積光チップは、10μm未満の構造寸法を有し、例えば実質的に損失なく入力結合光を伝送するよう構成される。
【0015】
N1本の集積光導波路に光を結合するために、N2個の入力結合領域が設けられる。1つの入力結合領域が各集積光導波路に割り当てられる。ここで、複数の入力結合領域が同じ集積光導波路に割り当てられてもよい。特に、入力結合領域は、それが割り当てられる集積光導波路の始まりに配置される。始まりとは、集積光学イメージセンサの表面に配置された集積光導波路の端を特に意味すると理解される。例として、入力結合領域は、集積光導波路の始まりであると考えられ得る。特に、入力結合領域は、カラーフィルタ、ブラッグフィルタ、反射防止コーティング等のコーティングを有し且つ/又はパターン化され得る。例として、各入力結合領域は、光学的な観点から少なくとも部分的に透明な領域である。入力結合領域のうち集積光導波路を向いた側は、例えば入力結合側又は裏側と称する。集積光学イメージセンサの前の空間を向いた側は、例えば入力結合領域の表面と称する。
【0016】
光ビームを入力結合領域の表面に放射又は入射させた場合、光ビームの少なくとも一部が集積光導波路に結合され、したがって光信号が集積光導波路で生成される。特に、生成された光信号は、光源により新たに生成された光信号ではなく入射光ビームの入力結合部分を意味すると理解されたい。特に、生成された光信号は、光ビームの特性及び入力結合領域の特性に応じて変わる。特に、入射光ビームが搬送する情報は、光信号にも伝達される。さらに、例えば入力結合領域の適当な実施形態により、特に光ビームにより最初に搬送された情報が失われることなく、カラーフィルタ処理された光信号及び/又は偏光信号が生成され得る。
【0017】
マルチプレクサ装置がN1本の集積光導波路の他端に結合される。特に、マルチプレクサ装置は、能動集積光学コンポーネントとして具現される。マルチプレクサ装置は、N2個の入力結合領域及びN1本の集積光導波路と同じチップに集積され得る。代替として、マルチプレクサ装置は、1つ又は複数のさらに他のチップに集積され得る。マルチプレクサ装置は、N1本の集積光導波路により供給された光信号をN3本の2次光導波路に合波するよう構成される。この目的で、マルチプレクサ装置は、例えば複数の切換え可能な集積光学構造を含む。切換え可能な集積光学構造は、例えば音響光学及び/又は電気光学コンポーネントとして具現される。ここで、切換え可能な集積光学構造は、特に集積電子回路により駆動可能且つ/又は切換え可能である。各切換え可能な集積光学構造の切換え位置に応じて、光信号は、N1本の集積光導波路の1つからN3本の2次光導波路の1つに切換えられるか又は合波される。この過程で、光信号は各2次光導波路に結合され、その結果として対応する光信号が2次光導波路で生成される。
【0018】
特に、N3本の2次光導波路は、集積光導波路ではなく、例えば光ファイバとして具現される。したがって、N3本の2次光導波路は、ほぼ全ての経路に沿って光信号を伝達するよう構成される。N3本の2次光導波路における入力結合光信号の減衰は小さいので、N3本の2次光導波路は、数メートルの範囲の、例えば最大10m又は最大50mの長さを有し得るが、光信号を依然として取得することができる。
【0019】
N3本の2次光導波路は、入力結合光信号を画像再構成装置へ誘導するよう構成される。画像再構成信号は、特に、N3本の2次光導波路から光信号を取得して取得光信号に基づき画像を再構成するよう構成される。特に、画像再構成装置は、光信号を取得して電気信号に変換する1つ又は複数のフォトダイオード、アナログ-デジタル変換器(A/D変換器)、及び/又はイメージプロセッサ等の複数の電子コンポーネントを備える。光信号を取得するために、画像再構成装置を向いたN3本の2次光導波路の端は、光信号がN3本の2次光導波路から出てフォトダイオードに入射できるように配置される。フォトダイオードに加えて、又はフォトダイオードの代替として、CCDセンサ、CMOSセンサ、及び/又は光電子増倍管を設けることもできる。例として、光信号に基づきフォトダイオードが生成した電気信号は、A/D変換器によりデジタル信号に変換され、当該デジタル信号は、イメージプロセッサ又はCPU等のデジタル電子回路により処理可能である。イメージプロセッサは、ハードウェア的に且つ/又はソフトウェア的に実装され得る。ハードウェア的な実装の場合、イメージプロセッサは、例えばコンピュータとして又はマイクロプロセッサとして具現され得る。ソフトウェア的な実装の場合、イメージプロセッサは、コンピュータプログラム製品として、関数として、ルーチンとして、プログラムコードの一部として、又は実行可能オブジェクトとして具現され得る。
【0020】
画像再構成装置によりこのように再構成された画像は、特にN2個の画素を有し、再構成画像の各画素がN2個の入力結合領域のそれぞれに入射した光に相関する情報項目を有する。
【0021】
特に、光信号は、N2個の入力結合領域の1つへの各取得光信号の一意の割り当てが確保されるように取得される。この目的で、例えばイメージプロセッサの一部であり得る同期デバイスが、同期信号又はトリガ信号を提供する。例として、この同期信号を用いて、マルチプレクサ装置及びA/D変換器が駆動される。したがって、特定の時に取得されデジタル化された光信号をN1本の集積光導波路のうちのどれに割り当てるべきかは、例えば信号伝播時間を考慮して確認され得る。異なる入力結合領域の光信号が周波数符号化される場合、これは、例えばカラーフィルタホイールにより、光信号の取得時に適宜考慮される。
【0022】
以下において、一例によりイメージセンサの動作原理を説明する。例として、集積光学イメージセンサは、4列4行の行列状に配置された複数N2=16個の入力結合領域を有する。これは、4×4アレイとも称することができる。例として、集積光学イメージセンサは、N1=16本の集積光導波路を有する。16個の入力結合領域が1個ずつ、16本の集積光導波路のそれぞれに割り当てられる。例として、マルチプレクサ装置は、それぞれが4個の入力を1つの出力に合波する4個の切換え可能な集積光学構造を有し、集積光学構造の1つが集積光学イメージセンサの行にそれぞれ割り当てられる。これは、16×4マルチプレクサとも称することができる。1行の4本の集積光導波路は、この行に割り当てられた切換え可能な集積光学構造の4個の入力につながり、上記切換え可能な集積光学構造の出力には2次光導波路が結合される。したがって、この例では合計4本の2次光導波路が設けられ、それぞれがマルチプレクサ装置の切換え可能な集積光学構造の1つに結合される。4本の2次光導波路はそこに結合された光信号を画像再構成装置の各フォトダイオードへ誘導するので、画像再構成装置は4個の個別のフォトダイオードを有する。同期デバイスは、例えばマルチプレクサ装置の4個の切換え可能な集積光学構造のタイミングを取って、一定の時間間隔にわたって例えば第1列を形成する入力結合領域の光信号が2次光導波路に結合されて各フォトダイオードにより取得されるようにする。次の時間間隔には、例えば、第2列の光信号が取得されるようにする等の切換えがある。概して、これにより、画像情報項目、例えばN2個の入力結合領域を有する集積光学イメージセンサのセンサ表面上にあるパターンを取得することができる。一般性を失うことなく、N1=16、N2=16、N3=4、及び4個のフォトダイオードを上記例では選択した。
【0023】
イメージセンサの一実施形態によれば、複数N2個の入力結合領域、複数N1本の集積光導波路、及びマルチプレクサ装置は、基板に、特に一体基板に集積される。
【0024】
したがって、集積光学イメージセンサは、既知の製造方法を用いて単一のマイクロチップに形成され得る。特に、マイクロチップは、集積光学構造及び集積電子構造の両方を有する。例として、集積光学イメージセンサは、マルチプレクサ装置を駆動するための接点を有し、これらの接点は、マイクロチップの表側及び/又はマイクロチップの裏側に取り付けることができる。特に、同期信号及び/又はマルチプレクサ装置のさらなる制御信号が、これらの接点を介してマイクロチップへ伝達され得る。
【0025】
一体基板は、集積光学イメージセンサの全体が同じ元のウェハから作製されたものであり、繋ぎ合わせたものではないことを特に意味すると理解される。これは、モノリシック集積回路とも称することができる。
【0026】
イメージセンサのさらに別の実施形態によれば、マルチプレクサ装置は、時分割多重方式、周波数分割多重方式、及び/又は符号分割多重方式により光信号を合波するよう構成される。
【0027】
時分割多重方式では、異なる信号が時間的に相互に分離される。周波数分割多重方式では、異なる信号が異なる周波数で同時に伝達される。例として、このような信号は、カラーフィルタを用いて生成することができ、再度カラーフィルタを用いて分離することもできる。符号分割多重化方式では、複数の異なる信号が同時に且つ異なる符号系列、例えば拡散符号系列で符号化されて伝達される。特に、異なる信号は、N1本の集積光導波路においてN2個の入力結合領域により生成された異なる光信号に対応する。
【0028】
例として、時分割多重方式は、N1=N2の場合に用いることができる。N1<N2であれば、例えば周波数分割多重方式が、異なる入力結合領域により各集積光導波路で生成された光信号を識別するのに適している。例として、N2個の入力結合領域の表面は、この目的で異なるカラーフィルタを有する。
【0029】
イメージセンサのさらに別の実施形態によれば、画像再構成装置は、N3個の2次光導波路の光信号を取得する取得デバイスと同期デバイスとを備える。同期デバイスは、取得デバイスにより取得された各光信号がイメージセンサの複数N2個の入力結合領域のうちの1つの入力結合領域に一意に割当て可能であるように同期信号によりマルチプレクサ装置を駆動するよう構成される。
【0030】
特に、取得デバイスは、1つ又は複数のフォトダイオード、CCDセンサ、CMOSセンサ、及び/又は光電子増倍管を含む。特に、同期デバイスは、既知の一定の周波数でクロック信号を提供するクロックを含む。
【0031】
イメージセンサのさらに別の実施形態によれば、複数N2個の入力結合領域の各入力結合領域の表面が、入射光に対して所定の角度を有する。
【0032】
これは、入力結合角又は入射角とも称することができる。効率的な入力結合を得るために、表面を入射光と直交するように位置合わせすることが有利であり得るが、それは集積光導波路が特定のモード、例えば材料依存モード及び構造サイズ依存モードしか搬送できないからである。これらのモードは、特定の波数ベクトルの光により励起されることが好ましい。ここで、入射光の波長又は周波数も考慮することができる。
【0033】
特に、2つの入力結合領域の表面の角度は、例えば各入力結合領域が異なるフィルタを有するので異なる場合もある。
【0034】
イメージセンサのさらに別の実施形態によれば、イメージセンサは、イメージセンサによる取得対象であるパターン提供デバイスのパターンをイメージセンサの複数N2個の入力結合領域に結像する結像ユニットを含む。
【0035】
例として、結像ユニットは1つ又は複数のレンズ素子を含む。特に、結像ユニットは、1つ又は複数のレンズ素子が集積光学イメージセンサのN2個の入力結合領域それぞれに対して設けられる微小光学ユニットも含むことができる。
【0036】
特に、結像ユニットは、集積光学イメージセンサのセンサ表面の場所で取得されるパターンの像を生成するよう構成される。さらに、結像ユニットの利点は、特に、各入力結合領域に入射する光量を増加させることができることである。これにより、第1に信号対雑音比を改善することができ、第2に所要照明光量を減らすことができ、これは例えばリソグラフィ装置の真空引きされた投影系へのエネルギー流入の低減を可能にする。
【0037】
結像ユニットは、平面内になく湾曲したパターンの結像にも適し得る。さらに、結像ユニットは、パターンの結像がセンサ表面からパターン提供デバイスへの視線に対して傾斜面で実施されるように具現することができる。
【0038】
例として、パターン提供デバイスは、1/(500μm)以上の空間周波数の情報量を有するパターンを有する。
【0039】
イメージセンサのさらに別の実施形態によれば、N4本の2次集積光導波路と、N5≧N4であるN5個の出力結合領域とが設けられる。N5個の出力結合領域のそれぞれが、N4本の2次集積光導波路の1つに割り当てられ、且つイメージセンサにより取得されるパターンを照明するために割り当てられた2次集積光導波路で生成された光信号を、割り当てられた2次集積光導波路から取り出すよう構成される。
【0040】
N4本の2次集積光導波路及びN5個の出力結合領域は、例えば専用の基板に、又はその代替として同じ基板に、特に集積光学イメージセンサ又はチップに集積される。N4本の2次集積光導波路及びN5個の出力結合領域は、例えば照明機構を共に形成する。N4本の2次集積光導波路で生成された光信号は、N5個の出力結合領域へ誘導され、そこで各2次集積光導波路から少なくとも部分的に取り出される又は放出される。有利な放出挙動を得るために、入力結合領域のように、異なる出力結合領域は異なる特性を有し得る。特に、方向に依存した放出を達成するために、光学格子が各出力結合領域に設けられ得る。
【0041】
イメージセンサのさらに別の実施形態によれば、イメージセンサは、照明光導波路で光信号を生成する照明デバイスを含む。照明光導波路には、照明光導波路で生成された光信号をN4本の2次集積光導波路間に分配するよう構成された分配装置が結合される。
【0042】
照明デバイスは、1つ又は複数の発光体又は光源、例えばレーザ、ガス放電ランプ、白熱電球、発光ダイオード、及び/又はアークランプを含む。照明デバイスは、所定の光スペクトルをもたらすよう構成することができる。特に、広帯域又は単色光が提供され得る。光の波長は、100nm~10μmの範囲にあることが有利である。
【0043】
例として、照明光導波路はガラスファイバとして具現される。そのため、照明光導波路は、そこで生成された光信号を例えば10m又は50m等の比較的大きな距離にわたって搬送するよう構成される。したがって、照明デバイスは、照明デバイスにより生成された光が照明目的で用いられるべき場所から離れて配置することができる。特に、照明デバイスは、その結果として単純な技術手段を用いて効率的に冷却することもできる。
【0044】
1つ又は複数の照明光導波路は、分配デバイスに結合される。例として、分配デバイスは、N4本の2次集積光導波路が集積されたチップに配置される受動集積光学回路である。分配デバイスは、スプリッタとも称することができる。分配デバイスは、1つ又は複数の照明光導波路により供給された光信号をN4本の2次集積光導波路間に分配し、N4本の2次集積光導波路は、光信号をN5個の出力結合領域へ誘導する。
【0045】
この構成により、照明が用いられる領域で光源の廃熱が生じることなく取得されるパターンを有利に照明することができる。
【0046】
イメージセンサのさらに別の実施形態によれば、N4本の2次集積光導波路及びN5個の出力結合領域及び/又は分配装置は、基板に集積される。
【0047】
したがって、画像取得及び照明の両方が単一の集積光学基板上で行われ得ることが特に有利である。
【0048】
イメージセンサのさらに別の実施形態によれば、16≦N2≦16384、特に256≦N2≦4096が当てはまる。
【0049】
複数N2個の入力結合領域は、再構成画像の画素数を設定する。特に、再構成画像の各画素が入力結合領域1個ずつに対応する。
【0050】
イメージセンサのさらに別の実施形態によれば、N1本の集積光導波路及び/又はN4本の2次集積光導波路の構造寸法は、1μm未満、好ましくは500nm未満、特に150nm未満である。
【0051】
集積光導波路の構造寸法が小さいほど、高集積化が可能である。集積度が高いほど、基板面積をより効率的に用いることができ、生産コストを下げることができる。さらに、高分解能化がイメージセンサによる撮像の品質を改善し得る。
【0052】
イメージセンサのさらに別の実施形態によれば、イメージセンサの画素のエッジ長さが、5μm~500μm、特に40μm~160μmの範囲にある。
【0053】
イメージセンサのセンサ表面に関して、画素は、各入力結合領域が収まる正方形領域に特に対応する。例として、入力結合領域は、画素領域の一部を形成する。
【0054】
画素エッジ長さが100μmでN2=4096個の入力結合領域の場合、イメージセンサは、例えば正方行列状に配置され得る64×64画素を有し、その結果として、イメージセンサは、6.4×6.4mm=40.96mmのセンサ表面を有する。
【0055】
第2態様によれば、リソグラフィ装置の少なくとも1つのミラーの位置を確認する位置センサ装置が提案される。位置センサ装置は、ミラーに結合された1/(500μm)以上の空間周波数の情報量を有するパターンを提供するパターン提供デバイスと、提供されたパターンを取得し且つ取得されたパターンの再構成画像を提供するイメージセンサと、再構成画像に基づきミラーの位置を確認する画像評価デバイスとを備える。イメージセンサは、第1態様又は実施形態の1つのイメージセンサに対応する。
【0056】
本位置センサ装置は、提供されたパターンを撮像するので、画像ベース位置センサ装置又は画像ベース位置センサとも称することができる。
【0057】
1/(500μm)以上の空間周波数の情報量を有するパターンを用いることにより、本位置センサ装置は、高い測定精度をもたらすことができる。ここで、1/(500μm)以上の空間周波数により、本位置センサ装置により確保される位置判定の最小精度が決まる。パターンが1/(500μm)未満の空間周波数しか含まない場合でも、1μmよりもはるかに精密な測定精度が可能である。
【0058】
画像ベース位置センサ装置により、イメージセンサに対するパターン提供デバイスのスケーリング又は傾斜等の寄生効果を捕え且つそれらを補償することも可能である。イメージセンサは、再構成画像を特に提供パターンのデジタル画像として提供する。特に、デジタル画像は、電気信号として、又はミラーの位置に関する情報を含むか若しくはミラーの位置を表す電気信号列として具現される。
【0059】
特に、パターンを表す光信号は、最初にイメージセンサにより純光学的に画像再構成装置に内部供給され、上記光信号は、画像再構成装置によってのみデジタル化される。光信号の信号取り込み及びデジタル化の空間的な分離の結果として、画像再構成装置の配置及び演算能力に関して高い柔軟性が得られる。
【0060】
特に、パターンは、1/(500μm)以上の空間周波数の情報量を有する加工表面を意味すると理解されたい。例として、加工表面は、金属加工表面又は印刷表面である。例として、金属加工表面は、フライス削り又は研削により作製され得る。例として、パターンの材料は、金属、ケイ素、又はガラスであり得る。例として、パターンは、ミラーのキャリア構造の金属加工表面としても具現され得る。キャリア構造の表面、したがってパターンの情報量の構造化は、例えばキャリア構造のフライス削り又は研削により形成される。例として、パターンはリソグラフィにより作製されたパターンでもあり得る。
【0061】
特に、画像評価デバイスは、デジタル回路又はデジタルコンポーネントに組み込まれる。例として、画像評価デバイスは、画像再構成装置の一部であり得る。
【0062】
集積コンポーネントは、複数の集積回路を有する構成体及び/又は1つのキャリアプリント回路板又は複数のキャリアプリント回路板に配置された部品を意味すると理解されたい。集積コンポーネントは、集積センサエレクトロニクスとも称することができる。
【0063】
この場合、「集積回路」は、単一の半導体基板(ウェハ)に配置された電子回路(モノリシック回路とも称する)を意味すると理解されたい。
【0064】
例として、デジタル回路は、プログラマブルデジタル回路(フィールドプログラマブルゲートアレイ、FPGA)又は特定用途向けデジタル回路(特定用途向け集積回路、ASIC)である。
【0065】
第3態様によれば、第2態様による位置センサ装置を備えた少なくとも1つのミラーを有する投影系を有するリソグラフィ装置が提案される。
【0066】
特に、リソグラフィ装置は、EUV又はDUVリソグラフィ装置である。EUVは、「極紫外」を表し、0.1nm~30nmの使用光の波長を指す。DUVは、「深紫外」を表し、30nm~250nmの使用光の波長を指す。
【0067】
第4態様によれば、イメージセンサ、特に第1態様によるイメージセンサの動作方法が提案される。第1ステップにおいて、複数N2個の入力結合領域のうち1つの入力結合領域に入射した光を複数N1本の集積光導波路のうち割り当てられた集積光導波路に結合する。第2ステップにおいて、複数N1本の集積光導波路のうち割り当てられた集積光導波路で光信号を生成する。第3ステップにおいて、複数N1本の集積光導波路をマルチプレクサ装置と結合する。第4ステップにおいて、N1本の集積光導波路で生成された光信号をマルチプレクサ装置によりN3本の2次光導波路に合波する。第5ステップにおいて、N3本の2次光導波路を画像再構成装置と結合し、第6ステップにおいて、N3本の2次光導波路の光信号に基づき画像再構成装置により画像を再構成する。
【0068】
この方法は、光信号の形態の画像取得と取得された光信号の電気信号への変換とが相互に空間的に離れて行われるイメージセンサの有利な動作を可能にする。
【0069】
さらに、上述の方法をプログラム制御デバイスで実行させるコンピュータプログラム製品が提案される。
【0070】
例えばコンピュータプログラム手段等のコンピュータプログラム製品を、例えばメモリカード、USBスティック、CD-ROM、DVD等の記憶媒体として、又はネットワーク上のサーバからダウンロード可能なファイルの形態で、例えば提供又は供給することができる。例として、無線通信ネットワークにおいて、適当なファイルをコンピュータプログラム製品又はコンピュータプログラム手段で転送することによりこれを行うことができる。
【0071】
提案するイメージセンサについて記載した実施形態及び特徴は、提案する方法に対応して適用可能である。
【0072】
本発明のさらに他の可能な実施態様は、例示的な実施形態に関する上述又は後述の特徴又は実施形態の明示的に言及されない組み合わせも含む。この場合、当業者であれば、個々の態様を改良又は補足として本発明の各基本形態に加えることもあろう。
【0073】
本発明のさらに他の有利な構成及び態様は、従属請求項及び後述の本発明の例示的実施形態の主題である。下記の文章において、好ましい実施形態に基づき添付図面を参照して本発明をより詳細に説明する。
【図面の簡単な説明】
【0074】
図1】EUVリソグラフィ装置の概略図を示す。
図2】イメージセンサの第1例示的実施形態の断面の概略図を示す。
図3】イメージセンサの第2例示的実施形態の断面の概略図を示す。
図4】イメージセンサの第3例示的実施形態の断面の概略図を示す。
図5】イメージセンサの第4例示的実施形態の断面の概略図を示す。
図6】イメージセンサの第5例示的実施形態の断面の概略詳細図を示す。
図7】イメージセンサの第6例示的実施形態の断面の概略図を示す。
図8】イメージセンサの第7例示的実施形態の断面の概略図を示す。
図9】位置センサ装置の例示的実施形態の概略図を示す。
図10】集積光学イメージセンサの例示的実施形態の平面図を示す。
図11】イメージセンサの動作方法の例示的実施形態のブロック図を示す。
【発明を実施するための形態】
【0075】
同一の要素又は同一の機能を有する要素には、別段の指示のない限り図中では同じ参照符号を付した。さらに、図中の記載は必ずしも一定の縮尺ではない。
【0076】
図1は、ビーム整形・照明系102及び投影系104を備えたEUVリソグラフィ装置100Aの概略図を示す。EUVは、「極紫外」を表し、0.1nm~30nmの使用光の波長を指す。ビーム整形・照明系102及び投影系104は、それぞれ真空ハウジング内に設けられ、各真空ハウジングは、より詳細には図示しない真空引き装置を用いて真空引きされる。真空ハウジングは、これ以上詳細には説明しない機械室に囲まれ、機械室には例えば電気コントローラ等が設けられる。
【0077】
EUVリソグラフィ装置100Aは、EUV光源106Aを備える。EUV領域(極紫外域)の、すなわち例えば5nm~30nmの波長の放射線108Aを発するプラズマ源が、例えばEUV光源106Aとして設けられ得る。ビーム整形・照明系102において、EUV放射線108Aを集束させ、所望の作動波長をEUV放射線108Aからフィルタリングする。EUV光源106Aが発生させたEUV放射線108Aは、空気中の透過率が比較的低いという理由から、ビーム整形・照明系102及び投影系104におけるビームガイド空間が真空引きされる。
【0078】
図1に示すビーム整形・照明系102は、5個のミラー110、112、114、116、118を有する。ビーム整形・照明系102を通過した後に、EUV放射線108Aはフォトマスク(レチクル)120へ誘導される。フォトマスク102は、同様に反射光学素子として具現され、系102、104の外部に配置され得る。さらに、EUV放射線108Aは、ミラー122によりフォトマスクへ向けられ得る。フォトマスク120は、投影系104により縮小してウェハ124等に結像される構造を有する。
【0079】
投影系104は、フォトマスク120をウェハ124に結像する6個のミラーM1~M6を有する。この場合、投影系104の個々のミラーM1~M6が、投影系104の光軸126に対して対称に配置され得る。EUVリソグラフィ装置100Aのミラーの数は図示の数に制限されないことに留意されたい。設けられるミラーの数を増減することもできる。さらに、ミラーM1~M6は、ビーム整形用に前側が概して湾曲している。
【0080】
投影系104は、ミラーM1~M6の1つの位置を求める複数の位置センサ装置140もさらに有する。一般性を失うことなく、便宜上、図1は1つの位置センサ装置140を示す。図示の位置センサ装置140は、投影系140の真空引きされたハウジング内に配置される内部群150、ハウジングの外部に配置される外部群170、及び内部群150と外部群170との間で信号、特に光信号及び電気信号を伝達する信号接続部160を備える。
【0081】
位置センサ装置140の内部群150は、特に、各ミラーM1~M6に結合されたパターン提供デバイス142と、例えば集積光学回路を有する基板202を有するセンサ前端270(図2図8参照)とを含む。
【0082】
信号接続部160は、特に、複数N3本の2次光導波路240(図2図10参照)と、N4本の照明光導波路292(図7図9、又は図10参照)と、同期信号伝達用の少なくとも1つの電気信号ケーブル260(図6図7図9、又は図10参照)とを含む。
【0083】
位置センサ装置140の外部群170は、特に、画像再構成装置250(図2図9参照)と、画像評価デバイス146(図9参照)と、任意に照明デバイス290(図7又は図9参照)とを含む。
【0084】
複数の位置センサ装置140が設けられる場合、複数の内部群150が各信号接続部160を介してそれよりも少ない複数の外部群170に結合されるようにすることが有利であり得る。特に、1つのミラーM1~M6毎に6軸で位置を求めることが望まれ、例えば内部群150が6個必要な場合、これら6個の内部群150の画像信号の取得及び評価を採用する外部群170を1つのみとすることができる。したがって、この外部群170が、監視されたミラーM1~M6について6軸での完全な位置情報を供給する。
【0085】
図2は、例えば図1の位置センサ装置140で用いられ得るイメージセンサ200の第1例示的実施形態の断面の概略図を示す。イメージセンサ200は、複数の集積光学素子210、220、230を有する基板202を有するセンサ前端270と、2次光導波路240と、画像再構成装置250とを含む。
【0086】
この例では、基板202はN2=4個の入力結合領域210を有し、入力結合領域210は、そこに入射した光をN1=4本の集積光導波路220に結合するよう構成されて、光信号が集積光導波路220で生成されるようにする。4本の集積光導波路220は、同じ基板202に配置された集積光マルチプレクサ装置230へ光信号を誘導する。この図では、4本の集積光導波路220は、基板202の異なる深さの層に配置されている。しかしながら、これは説明を明確にするためだけのものである。実際の基板202では、N1本の集積光導波路は、同じ層に相互に並んで且つ/又は異なる層に上下に配置され得る。
【0087】
マルチプレクサ装置230は、供給された光信号をマルチプレクサ装置230に結合された2次光導波路240に合波するよう構成される。この例示的実施形態では、これは4×1マルチプレクサ装置230である。例として、2次光導波路240は、長さ10mのガラスファイバとして具現される。ガラスファイバ240は、マルチプレクサ装置230により入力結合された光信号を画像再構成装置250へ伝送する。
【0088】
画像再構成装置250は、供給された光信号を取得して光信号に基づき画像を再構成する。特に、再構成画像は、基板202の表面上にある像に対応する。例として、画像再構成装置250の詳細を図6に示す。
【0089】
図3は、例えば図1の位置センサ装置140で用いられ得るイメージセンサ200の第2例示的実施形態の断面の概略図を示す。第1例示的実施形態(図2参照)とは異なり、第2例示的実施形態は、2つの段232、234を有する集積光マルチプレクサ装置230を有し、それ以外の点では同一である。複数のマルチプレクサ段232、234の使用により、例えば、マルチプレクサ装置230の構造の複雑さを低減することが可能である。
【0090】
図4は、例えば図1の位置センサ装置140で用いられ得るイメージセンサ200の第3例示的実施形態の断面の概略図を示す。第3例示的実施形態は、複数N1=2本の集積光導波路220の数が減っている点が第1例示的実施形態(図2参照)とは異なる。この場合、2本の集積光導波路220のそれぞれに2個の入力結合領域210が割り当てられ(N2=4)、各入力結合領域210により集積光導波路220で生成された光信号が集積光導波路220の接合部222でマージされる。したがって、この例での集積光導波路220のそれぞれが、2つの光信号を伝送する。例として、光信号は、偏波又は周波数が異なり得る結果として、適当なフィルタにより識別され得る。イメージセンサ200のさらに他の特性は、第1例示的実施形態と同一である。
【0091】
図5は、例えば図1の位置センサ装置140で用いられ得るイメージセンサ200の第4例示的実施形態の断面の概略図を示す。第1例示的実施形態(図2参照)とは対照的に、この場合は2本の2次光導波路240が設けられる。したがって、図示のマルチプレクサ装置230は、4×2マルチプレクサとして具現される。画像再構成装置250は、それに応じて、2本の2次光導波路240から光信号を取得して取得光信号に基づき画像を再構成するよう構成される。その他詳細は、第1例示的実施形態のものに対応する。
【0092】
図6は、例えば図1の位置センサ装置140で用いられ得るイメージセンサ200の第5例示的実施形態の断面の概略図を示す。この第6例示的実施形態では、画像再構成装置250を特に詳細に示す。明確化のために、センサ前端270の詳細は図示しなかった(この点においては、例えば図2図5図7図8、又は図10参照)。
【0093】
したがって、画像再構成装置250は取得デバイス252を有し、これは、ここではフォトダイオードとして具現され、2次光導波路240により供給された光信号を取得してそれらを電気信号に変換するよう構成される。フォトダイオード252が生成した電気信号は、特に各光信号の輝度又は強度に相関する。フォトダイオード252が生成した電気信号は、アナログ-デジタル変換器256(A/D変換器)に供給される。さらに、フォトダイオード252の電気信号が増幅器(図示せず)に供給されるようにすることができ、増幅器は、電気信号を増幅して増幅信号をA/D変換器256に出力する。A/D変換器256は、電気信号をデジタルデータ信号に変換する。デジタルデータ信号は、例えば、輝度情報を含む12ビットのビット列である。結果として、このデジタルデータ信号を用いて4096個の輝度レベルを識別可能である。したがって、単一のデジタルデータ信号が、対応する入力結合領域210に入射した光に応じた情報項目を含む。デジタルデータ信号は、イメージプロセッサ258に出力される。複数N2個の受信デジタルデータ信号から、イメージプロセッサ258は、センサ前端270のセンサ表面上の像に情報量が対応するN2画素の画像を再構成する。
【0094】
さらに、画像再構成装置250は同期デバイス254を備える。同期デバイス254は、クロックとして具現されて同期信号260を提供する。この同期信号260又はそこから得られた同期信号は、第1に電気信号線を介してマルチプレクサ装置230へ伝達され、第2にA/D変換器256及びイメージプロセッサ258へも伝達される。同期信号260は、マルチプレクサ装置230、A/D変換器256、及びイメージプロセッサ258を同期させる働きをする。同期デバイス254は、マルチプレクサ装置230、A/D変換器256、及びイメージプロセッサ258と相互作用して、N2個の入力結合領域210の1つへの取得デバイス252が取得した光信号の一意の割り当てが確保されるようにする。これにより、全てのデジタルデータ信号が再構成画像の正しい画素に割り当てられる。
【0095】
図7は、例えば図1の位置センサ装置140で用いられ得るイメージセンサ200の第6例示的実施形態の断面の概略図を示す。特に、この第6例示的実施形態は、第1例示的実施形態(図2参照)及び第5例示的実施形態(図6参照)の特徴を有し、画像再構成装置250の詳細は明確化のために図示していない。さらに、入力結合領域210及び集積光導波路220の参照符号を明確化のために省いてある(例えば図2参照)。
【0096】
イメージセンサ200の第6例示的時実施形態はさらに、照明用の、例えばパターン144(例えば、図8又は図9参照)の照明用の光を提供するよう構成される。この目的で、センサ前端270は、付加的な集積光学構造を含む。特に、基板202は、基板202の表面に配置されたN5=3個の出力結合領域284へ光信号を誘導するよう構成されたN4=3本の2次集積光導波路282を有する。光信号は、3個の出力結合領域284を介して3本の2次集積光導波路282から出ることができる。さらに、外部から供給された光信号を3本の2次集積光導波路282間に分配する集積光分配装置280が設けられる。
【0097】
例えばレーザダイオードとして具現された照明デバイス290が、光信号を生成するために設けられる。最初に、レーザダイオード290は、例えばガラスファイバとして具現された照明光導波路292で光信号を生成する。例として、ガラスファイバ292は、10mを超える長さを有し得る。したがって、レーザダイオード290は、特に効率的な冷却が容易に実現可能な場所に柔軟に配置可能である。レーザダイオードの代替として、又はレーザダイオードに加えて、さらに別の照明デバイス290、例えばアークランプ又は任意の他の光源(図示せず)を設けることができる。さらに、ガラスファイバの代わりにガラスファイバ束を設けることができる(図示せず)。
【0098】
ガラスファイバ292は、分配装置280に結合される。この例では、分配装置280は、受動集積光学構造として、イメージセンサ200のセンサ前端270のさらに他の集積光学構造と同じ基板202に配置される。分配装置280は、ガラスファイバ282により入力結合された光信号を3本の2次集積光導波路282間に分配し、2次集積光導波路282は、光信号を3個の出力結合領域284へ誘導し、出力結合領域284は、光信号を2次集積光導波路282から出す。
【0099】
図7のこの第6例示的実施形態は、3本の2次集積光導波路282及び3個の出力結合領域284を示す。そこから逸脱して、設けられる2次集積光導波路282及び/又は出力結合領域284の数を増減することもできる。さらに、特に出力結合領域284の異なる配置を例えば基板202の縁部のみに設けることができる。分配装置280、2次集積光導波路282、及び出力結合領域284を専用の基板202に、すなわち入力結合領域210、集積光導波路220、及び/又はマルチプレクサ装置230とは別個に配置するようにすることもできる。この場合、センサ前端270は2つの基板202を含む(図示せず)。
【0100】
図8は、例えば図1の位置センサ装置140で用いられ得るイメージセンサ200の第7例示的実施形態の断面の概略図を示す。第7例示的実施形態のイメージセンサ200は、4個の入力結合領域210及び4本の集積光導波路220を含む基板202を備える。この例示的実施形態では、マルチプレクサ装置230は、集積光導波路220からの光信号を2次光導波路240に合波できるように基板202の隣に配置された別個の集積光学コンポーネントに配置される。マルチプレクサ装置230は、4×1マルチプレクサとして具現される。画像再構成装置250は、2次光導波路240により供給された光信号に基づき画像を再構成するよう構成される。
【0101】
特に、この例示的実施形態のイメージセンサ200は、入力結合領域210の側で基板202の空間的に上流に配置された結像装置204を備える。結像装置204は、この場合はパターン144の結像される物点を入力結合領域210に結像するよう構成された微小光学ユニットとして具現される。これを、破線を用いて描かれた光ビーム148で示す。したがって、微小光学ユニット204は、パターン144の画像表現を入力結合領域210が配置されるセンサ表面上に生成する。
【0102】
したがって、この例示的実施形態のセンサ前端270は、微小光学ユニット204と、入力結合領域210及び集積光導波路220を有する基板202と、マルチプレクサ装置230とを含む。
【0103】
イメージセンサ200に加えて、図8は、パターン144を提供するパターン提供デバイス142も示す。特に、パターン144は、基準位置からのパターン144の相対変位の判定を可能にする所定の空間周波数の情報量、例えば1/(500μm)の情報量を有する。パターン144の所要情報量及びイメージセンサ200の所要分解能の両方が、かかる相対変位の判定の所望の精度に特に応じて変わる。特に、イメージセンサ200の分解能は、複数N2個の入力結合領域210に対応する。
【0104】
図9は、図1に示すEUVリソグラフィ装置100AのミラーM1~M6の位置の確認に例えば用いられ得る位置センサ装置140の例示的実施形態の概略図を示す。位置センサ装置140は、図1にも示す内部群150と、外部群170と、信号接続部160とを含む。
【0105】
第1に、内部群150は、パターン144を有するパターン提供デバイス142を含み、これは、例えばEUVリソグラフィ装置100Aの投影系104の一部であるミラーM1(図1参照)に配置され、この場合はその位置を監視又は判定するものとする。さらに、内部群150はセンサ前端270を含む。明確化のために、センサ前端270の詳細はここには示していない。特に、センサ前端270は、図2図8に示す例示的実施形態の1つのように具現され得る。
【0106】
図10は、この場合は単一の基板202に集積されたセンサ前端270の例示的実施形態の平面図を示す。例として、図示の例示的実施形態は、図1図9の位置センサ装置140で使用可能である。
【0107】
この例示的実施形態は、基板202の表面に配置されたコンポーネント/機能単位を示すにすぎず、基板202の下層に埋設された機能単位は図示されていない。後者は特に、集積光導波路220(図2図8参照)、2次集積光導波路282(図7参照)、及び電気信号接続部である。
【0108】
図示の例示的実施形態では、矩形の4×4行列配置で配置されたN2=16個の入力結合領域210が表面に配置される。図示を明確に保つために、入力結合領域210の1つのみに参照符号を記してある。さらに、N5=4個の出力結合領域284が入力結合領域210間に配置あされる。この場合も、出力結合領域284の1つのみに参照符号を記す。図中の基板202の右側にマルチプレクサ装置230が配置され、2次光導波路240に結合される。入力結合領域210のそれぞれが、割り当てられた集積光導波路220(図示せず)で光信号を生成するよう構成される。集積光導波路220は、光信号をマルチプレクサ装置230へ誘導し、マルチプレクサ装置230は、それを指定の合波方法に従って2次光導波路240へ伝送する。図中のマルチプレクサ装置230の下に、同じく基板202の右側に分配装置280が配置される。当該分配装置は、照明光導波路292に結合される。例として、照明光導波路292は、ここには図示しない照明装置290(例えば図7又は図9参照)、例えばレーザ源により生成された単色光信号を分配装置280へ誘導する。分配装置280は、光信号をN4本の2次集積光導波路282(図示せず)間に分配し、2次集積光導波路282は光信号を4個の出力結合領域284に供給し、それにより光信号は2次集積光導波路282から取り出され得る。
【0109】
図中の基板202の左側には、信号線により例えば同期信号260を供給される合計5個の接点262が配置される。接点262は、マルチプレクサ装置230を駆動する目的で、基板202に集積されたここには図示しない電気信号線を介してマルチプレクサ装置230に接続される。個別の制御信号が、同期信号260により接点262のそれぞれに供給され得る。この図説の代替として、接点262を基板202の裏側に配置するようにすることができる。
【0110】
図11は、イメージセンサ200、例えば図2図8の例示的実施形態の1つのイメージセンサ200の動作方法の例示的実施形態のブロック図を示す。
【0111】
第1方法ステップS1において、光を入力結合領域210から集積光導波路220に結合する。第2方法ステップS2において、光信号を割り当てられた集積光導波路220で生成する。第3方法ステップにおいて、複数N1本の集積光導波路220をマルチプレクサ装置230と結合する。マルチプレクサ装置230は、第4方法ステップS4において光信号をN3本の2次光導波路240に合波するよう構成される。第5方法ステップS5において、N3本の2次光導波路240を画像再構成装置250と結合する。画像再構成装置250は、第6方法ステップS6において、光信号を取得して取得光信号に基づき画像を再構成する。
【0112】
本発明を例示的実施形態に基づいて説明したが、本発明は多様な方法で変更可能である。
【符号の説明】
【0113】
100 リソグラフィ装置
100A EUリソグラフィ装置
102 ビーム整形・照明系
104 投影系
106A EUV光源
108A EUV放射線
110 ミラー
112 ミラー
114 ミラー
116 ミラー
118 ミラー
120 フォトマスク
122 ミラー
124 ウェハ
126 投影系の光軸
136 ミラー
137 真空ハウジング
140 位置センサ装置
142 パターン提供デバイス
144 パターン
146 画像評価デバイス
148 光ビーム
150 内部群
160 信号接続部
170 外部群
200 イメージセンサ
202 基板
204 結像ユニット
210 入力結合領域
220 集積光導波路
230 マルチプレクサ装置
232 マルチプレクサ段
234 マルチプレクサ段
240 2次光導波路
250 画像再構成装置
252 取得デバイス
254 同期デバイス
256 アナログ-デジタル変換器
258 イメージプロセッサ
260 同期信号
262 接点
270 センサ前端
280 分配装置
282 2次集積光導波路
284 出力結合領域
290 照明デバイス
292 照明光導波路
M1 ミラー
M2 ミラー
M3 ミラー
M4 ミラー
M5 ミラー
M6 ミラー
S1 方法ステップ
S2 方法ステップ
S3 方法ステップ
S4 方法ステップ
S5 方法ステップ
S6 方法ステップ
図1
図2
図3
図4
図5
図6
図7
図8
図9
図10
図11