特許7382151半導体装置及びそのテスト方法

発明の名称　半導体装置及びそのテスト方法

出願人　ラピスセミコンダクタ株式会社　（識別番号 308033711）

　　　　特許公開件数ランキング 1019 位（23件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 2439 位（6件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7382151

公報発行日　2023年11月16

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7382151

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