特許 7383559 光学フィルムの検査方法及び光学フィルムの製造方法

(19)【発行国】日本国特許庁(JP)

(12)【公報種別】特許公報(B2)

(11)【特許番号】

(24)【登録日】2023-11-10

(45)【発行日】2023-11-20

(54)【発明の名称】光学フィルムの検査方法及び光学フィルムの製造方法

(51)【国際特許分類】

   G01N 21/892 20060101AFI20231113BHJP

【ＦＩ】

G01N21/892 A

【請求項の数】 10

(21)【出願番号】P 2020084469

(22)【出願日】2020-05-13

(65)【公開番号】P2020190553

(43)【公開日】2020-11-26

【審査請求日】2022-07-13

(31)【優先権主張番号】P 2019091996

(32)【優先日】2019-05-15

(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP

(73)【特許権者】

【識別番号】000002093

【氏名又は名称】住友化学株式会社

(74)【代理人】

【識別番号】100088155

【弁理士】

【氏名又は名称】長谷川 芳樹

(74)【代理人】

【識別番号】100128381

【弁理士】

【氏名又は名称】清水 義憲

(74)【代理人】

【識別番号】100124062

【弁理士】

【氏名又は名称】三上 敬史

(74)【代理人】

【識別番号】100176658

【弁理士】

【氏名又は名称】和田 謙一郎

(72)【発明者】

【氏名】川上 武志

(72)【発明者】

【氏名】尾崎 麻耶

(72)【発明者】

【氏名】曽我部 里恵

【審査官】横尾 雅一

(56)【参考文献】

【文献】特開２００６－０６５３０９（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１５－１２９７０６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２００６－０７８４２６（ＪＰ，Ａ）

【文献】特開２０１９－０７０６１７（ＪＰ，Ａ）

(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)

Ｇ０１Ｎ ２１／８４ － Ｇ０１Ｎ ２１／９５８

Ｇ０２Ｂ ５／３０

Ｇ０１Ｂ １１／００ － Ｇ０１Ｂ １１／３０

Ｇ０１Ｎ ２１／００ － Ｇ０１Ｎ ２１／６１

Ｇ０１Ｍ １１／００

(57)【特許請求の範囲】

【請求項1】

第１位相差層と第２位相差層と前記第１位相差層及び第２位相差層の間に配置される第１接着層とを有する光学フィルムの検査面に、前記検査面側に配置された光源部から検査光を照射するとともに、前記光源部から照射され前記光学フィルムで反射した光を、前記検査面側に配置された検出部によって検出する検出工程と、
前記検出部によって検出された光の輝度に基づいて、前記光学フィルムにおける断面に沿った輝度分布を取得し、前記輝度分布に基づいて光学フィルムが良品か否かを判定する判定工程と、
を備え、
前記検出工程では、前記光源部からの前記検査光を、第１偏光フィルターを通して前記検査面に照射するとともに、前記光源部から前記光学フィルムに照射され前記光学フィルムで反射した光を、第２偏光フィルターを通して、前記検出部によって検出し、
互いに直交するｘ軸及びｙ軸を前記検査面に仮想的に設定し、前記検査面側からみて前記ｘ軸及び前記ｙ軸の一方を基準軸とし、前記基準軸に対して反時計回りを正の角度方向と称した場合において、
前記第１偏光フィルターの第１吸収軸及び前記第２偏光フィルターの第２吸収軸が、下記条件（Ａ）の条件を満たすように、前記第１偏光フィルター及び前記第２偏光フィルターが前記光学フィルムに対して配置されている、
光学フィルムの検査方法。
（Ａ）＋７０°＜θ６＜＋１１０°（θ６は、前記第１吸収軸と前記第２吸収軸との間の角度）

【請求項2】

前記光学フィルムを搬送しながら検出工程及び判定工程を行う、
請求項１に記載の光学フィルムの検査方法。

【請求項3】

前記断面は、光学フィルムの幅方向における断面である、
請求項１又は２に記載の光学フィルムの検査方法。

【請求項4】

前記第１位相差層および前記第２位相差層のうち一方は１／２波長層であり、他方は１／４波長層であり、
前記第１位相差層の第１遅相軸及び前記第２位相差層の第２遅相軸が下記条件（１）～（３）を満たすように、前記光学フィルムにおいて、前記第１位相差層及び前記第２位相差層が配置されており、
前記第１偏光フィルターの第１吸収軸及び前記第２偏光フィルターの第２吸収軸が、下記条件（４）及び（５）の条件を満たすように、前記第１偏光フィルター及び前記第２偏光フィルターが前記光学フィルムに対して配置されている、
請求項１～３の何れか１項に記載の光学フィルムの検査方法。
（１）－４０°＜θ１＜－１０°（θ１は、前記第１遅相軸と前記基準軸との間の角度）
（２）＋１５°＜θ２＜＋５０°（θ２は、前記第２遅相軸と前記基準軸との間の角度）
（３）＋５５°＜θ３＜＋６５°（θ３は、前記第１遅相軸と前記第２遅相軸との間の角度）
（４）－２０°＜θ４＜＋２０°（θ４は、前記第１吸収軸と及び前記第２吸収軸のうちの一方と前記基準軸との間の角度）
（５）＋７０°＜θ５＜＋１１０°（θ５は、前記第１吸収軸と及び前記第２吸収軸のうちの他方と前記基準軸との間の角度）

【請求項5】

前記光学フィルムは、
積層方向において、前記１／２波長層からみて前記１／４波長層と反対側に位置する偏光板と、
前記偏光板と前記１／２波長層との間に位置する第２接着層と、
を有する、
請求項４に記載の光学フィルムの検査方法。

【請求項6】

前記第１接着層は、活性エネルギー線硬化型接着剤の硬化層である、
請求項１～５の何れか一項に記載の光学フィルムの検査方法。

【請求項7】

前記光学フィルムを搬送しながら前記検出工程を実施する、
請求項１～６の何れか一項に記載の光学フィルムの検査方法。

【請求項8】

前記検査光のピーク波長は、４００ｎｍ～７５０ｎｍの範囲内である、
請求項１～７の何れか一項に記載の光学フィルムの検査方法。

【請求項9】

前記光学フィルムを支持板の主面上に配置した状態で前記検出工程を実施し、
前記主面の正反射率が４５％以下である、
請求項１～８の何れか一項に記載の光学フィルムの検査方法。

【請求項10】

請求項１～９の何れか一項に記載の光学フィルムの検査方法を含む、光学フィルムの製造方法。

【発明の詳細な説明】

【技術分野】

【0001】

本発明は、光学フィルムの検査方法及び光学フィルムの製造方法に関する。

【背景技術】

【0002】

光学フィルムとして、第１位相差層と第２位相差層とを有する位相差積層体がある。位相差積層体において、第１位相差層と第２位相差層とは接着層（例えば紫外線硬化樹脂接着剤で形成される層）を介して接合されている。位相差積層体の例は、有機エレクトロルミネッセンス（有機ＥＬ）画像表示装置に適用される円偏光板である（特許文献１参照）。

【先行技術文献】

【特許文献】

【0003】

【文献】特開２０１８－１７９９６号公報

【発明の概要】

【発明が解決しようとする課題】

【0004】

第１位相差層、接着層及び第２位相差層をこの順に有する光学フィルムを例えば画像表示装置に適用する場合には、上記光学フィルムの干渉ムラを低減することが求められている。そのため、光学フィルムを形成した後、光学フィルムの干渉ムラの程度に応じた良否検査を行う。この良否検査は、通常、光学フィルムに光を照射し、目視検査で行われていた。しかしながら、目視検査では、光学フィルムの良否が、検査者の主観、体調などに依存し易いため、光学フィルムの性能の信頼性が低下し易い。

【0005】

そこで、本発明は、性能信頼性の向上を図ることができる光学フィルムの検査方法及び光学フィルムの製造方法を提供することを目的とする。

【課題を解決するための手段】

【0006】

本発明の一側面に係る光学フィルムの検査方法は、第１位相差層と第２位相差層と上記第１位相差層及び第２位相差層の間に配置される第１接着層とを有する光学フィルムの検査面に、上記検査面側に配置された光源部から検査光を照射するとともに、上記光源部から照射され上記光学フィルムで反射した光を、上記検査面側に配置された検出部によって検出する検出工程と、上記検出部によって検出された光の輝度に基づいて、上記光学フィルムにおける断面に沿った輝度分布を取得し、上記輝度分布に基づいて光学フィルムが良品か否かを判定する判定工程と、を備える。

【0007】

上記検査方法では、検出部によって検出された光の輝度に基づいて、上記光学フィルムにおける断面に沿った輝度分布を取得し、上記輝度分布に基づいて光学フィルムを良品か否かを判定する。そのため、客観的に光学フィルムの良否を判定できることから、光学フィルムの性能信頼性が向上する。

【0008】

上記光学フィルムを搬送しながら検出工程及び判定工程を行ってもよい。

【0009】

上記断面は、光学フィルムの幅方向における断面であってよい。

【0010】

上記検出工程では、上記光源部からの上記検査光を、第１偏光フィルターを通して上記検査面に照射するとともに、上記光源部から上記光学フィルムに照射され上記光学フィルムで反射した光を、第２偏光フィルターを通して、上記検出部によって検出してもよい。この場合、例えば、第１偏光フィルター及び第２偏光フィルターの配置関係を調整することで、光学フィルムの表面反射の影響を低減でき、より正確に光学フィルムを検査できる。

【0011】

上記第１位相差層および上記第２位相差層のうち一方は１／２波長層であり、他方は１／４波長層であり、互いに直交するｘ軸及びｙ軸を上記検査面に仮想的に設定し、上記検査面側からみて上記ｘ軸及び上記ｙ軸の一方を基準軸とし、上記基準軸に対して反時計回りを正の角度方向と称した場合において、上記第１位相差層の第１遅相軸及び上記第２位相差層の第２遅相軸が下記条件（１）～（３）を満たすように、上記光学フィルムにおいて、上記第１位相差層及び上記第２位相差層が配置されており、上記第１偏光フィルターの第１吸収軸及び上記第２偏光フィルターの第２吸収軸が、下記条件（４）、（５）及び（６）の条件を満たすように、上記第１偏光フィルター及び上記第２偏光フィルターが上記光学フィルムに対して配置されていてもよい。
（１）－４０°＜θ１＜－１０°（θ１は、上記第１遅相軸と上記基準軸との間の角度）
（２）＋１５°＜θ２＜＋５０°（θ２は、上記第２遅相軸と上記基準軸との間の角度）
（３）＋５５°＜θ３＜＋６５°（θ３は、上記第１遅相軸と上記第２遅相軸との間の角度）
（４）－２０°＜θ４＜＋２０°（θ４は、上記第１吸収軸と及び上記第２吸収軸のうちの一方と上記基準軸との間の角度）
（５）＋７０°＜θ５＜＋１１０°（θ５は、上記第１吸収軸と及び上記第２吸収軸のうちの他方と上記基準軸との間の角度）
（６）＋７０°＜θ６＜＋１１０°（θ６は、上記第１吸収軸と上記第２吸収軸との間の角度）

【0012】

上記構成では、光学フィルムの表面反射を一層低減できる。

【0013】

上記光学フィルムは、積層方向において、上記１／２波長層からみて上記１／４波長層と反対側に位置する偏光板と、上記偏光板と上記１／２波長層との間に位置する第２接着層と、を有してもよい。

【0014】

上記第１接着層は、活性エネルギー線硬化型接着剤の硬化層でもよい。

【0015】

上記光学フィルムを搬送しながら上記検出工程を実施してもよい。

【0016】

上記検査光のピーク波長は、４００ｎｍ～７５０ｎｍの範囲内でもよい。

【0017】

上記光学フィルムを支持板の主面上に配置した状態で上記検出工程を実施し、上記主面の正反射率が４５％以下でもよい。この場合、支持板の主面での反射の影響を低減できるので、光学フィルムの良否を正確に判定し易い。

【0018】

本発明の他の側面に係る光学フィルムの製造方法は、本発明に係る上記光学フィルムの検査方法を含む。

【0019】

上記検査方法では、上記検出部によって検出された光の輝度に基づいて、上記光学フィルムにおける断面に沿った輝度分布を取得し、上記輝度分布に基づいて光学フィルムを良品か否かを判定する。そのため、客観的に光学フィルムの良否を判定できることから、光学フィルムの性能信頼性が向上する。その結果、性能信頼性の向上した光学フィルムを製造できる。

【発明の効果】

【0020】

本発明によれば、性能信頼性の向上を図ることができる光学フィルムの検査方法及び光学フィルムの製造方法を提供できる。

【図面の簡単な説明】

【0021】

【図1】図１は、一実施形態に係る検査方法を含む光学フィルムの製造方法のフローチャートである。

【図2】図２は、一実施形態に係る光学フィルムの製造方法で製造される光学フィルムの概略構成を示す模式図である。

【図3】図３は、光学フィルムの変形例の概略構成を示す模式図である。

【図4】図４は、一実施形態に係る光学フィルムの検査方法を説明するための図面である。

【図5】図５は、光学フィルムが有する第１位相差層及び第２位相差層の配置関係を説明する図面である。

【図6】図６は、光学フィルムに対する第１偏光フィルター及び第２偏光フィルターの配置関係を説明する図面である。

【図7】図７は、実験例で使用したサンプルＳ１～Ｓ４の検出結果を示す図表である。

【図8】図８は、目視検査に使用した光学フィルムの概略構成を示す模式図である。

【発明を実施するための形態】

【0022】

以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。図面において同一又は相当の部分に対しては同一の符号を付し、重複する説明を省略する。図面の寸法比率は、説明のものと必ずしも一致していない。

【0023】

図１は、一実施形態に係る検査方法を含む光学フィルムの製造方法のフローチャートである。光学フィルムの製造方法は、光学フィルムの形成工程Ｓ０１と、光学フィルムの検査工程Ｓ０２と、光学フィルムの形成条件の変更工程Ｓ０３と、良品である光学フィルムの回収工程Ｓ０４とを有する。

【0024】

［形成工程］
形成工程Ｓ０１では、図２に示した光学フィルム１０を形成する。光学フィルム１０は、円偏光板であり、例えば、有機エレクトロルミネッセンス装置に適用され得る。

【0025】

光学フィルム１０は、位相差積層体１１を有する。位相差積層体１１は、第１位相差層１２と、第２位相差層１３と、それらを接着する第１接着層１４とを有する。通常、光学フィルム１０は、位相差積層体１１を保護する第１保護層１５及び第２保護層１６の少なくとも一方を有する。以下では、断らない限り、光学フィルム１０が第１保護層１５と第２保護層１６を有する場合を説明する。

【0026】

＜第１位相差層＞
第１位相差層１２は、例えば、λ／２の位相差を与えるλ／２板（１／２波長層）である。第１位相差層１２の厚さの例は、１μｍ～３μｍである。第１位相差層１２の面内位相差（Ｒ０）の例は、２３６ｎｍ±４ｎｍ、２３４ｎｍ±５ｎｍ及び２４０ｎｍ±５ｎｍを含む。上記面内位相差の例は、例えば波長５５０ｎｍに対する例である。本実施形態における面内位相差は、例えばＡｘｏＳｃａｎ（Ａｘｏｍｅｔｒｉｃｓ社製）によって測定され得る。

【0027】

第１位相差層１２は、１／２波長層である場合、透光性を有する熱可塑性樹脂のフィルムに、λ／２の位相差を与えるように延伸処理等を施すことによって製造され得る。この場合、第１位相差層１２は、複屈折性フィルムである。熱可塑性樹脂の例は、トリアセチルセルロース等のセルロースエステル系樹脂である。

【0028】

第１位相差層１２は、基材フィルム上に、λ／２の位相差を与える第１液晶層、第１配向層等を形成することで製造されてもよい。この場合、第１液晶層、第１配向層等が第１位相差層１２に相当する。基材フィルムは、第１位相差層１２を形成した後、剥離されてもよい。或いは、上記基材フィルムも第１位相差層１２の構成要素であってもよい。基材フィルムの例は、第１保護層１５と同じである。第１保護層１５が基材フィルムを兼ねてもよい。

【0029】

＜第２位相差層＞
第２位相差層１３は、例えば、λ／４の位相差を与えるλ／４板（１／４波長層）である。第２位相差層１３の厚さの例は、０．１μｍ～２μｍである。第２位相差層１３の面内位相差（Ｒ０）の例は、１１６ｎｍ±４ｎｍ及び１２０ｎｍ±５ｎｍを含む。第１位相差層１２の面内位相差が、２３６ｎｍ±４ｎｍ又は２３４ｎｍ±５ｎｍである場合、第２位相差層１３の面内位相差は、１１６ｎｍ±４ｎｍであり得る。第１位相差層１２の面内位相差が、２４０ｎｍ±５ｎｍである場合、第２位相差層１３の面内位相差は、１１６ｎｍ±４ｎｍであり得る。上記面内位相差の例は、例えば波長５５０ｎｍに対する例である。第２位相差層１３の遅相軸（後述する第２遅相軸１３ａ）と第１位相差層１２の遅相軸（後述する第１遅相軸１２ａ）とのなす角度は、光学フィルム１０が円偏光板として機能するように配置されていればよく、通常６０°±１°である。

【0030】

第２位相差層１３は、１／４波長層である場合、透光性を有する熱可塑性樹脂のフィルムに、λ／４の位相差を与えるように延伸処理等が施すことによって製造され得る。この場合、第２位相差層１３は、複屈折性フィルムである。熱可塑性樹脂の例は、第１位相差層１２の場合と同様である。

【0031】

第２位相差層１３は、基材フィルム上に、λ／４の位相差を与える液晶層、配向層等を形成することで製造されてもよい。この場合、第２液晶層、第２配向層等が第２位相差層１３に相当する。基材フィルムは、第２位相差層１３を形成した後、剥離されてもよい。或いは、上記基材フィルムも第２位相差層１３の構成要素であってもよい。基材フィルムの例は、第２保護層１６と同じである。第２保護層１６が基材フィルムを兼ねてもよい。

【0032】

第１位相差層１２及び第２位相差層１３は、位相差を与える層であれば特に限定されず、それぞれ１／２波長層、１／４波長層、ポジティブＣ層等であってもよく、逆波長分散性を示す逆位相差層であってもよい。
ポジティブＣ層の面内位相差値Ｒｅ（５５０）は通常０～１０ｎｍの範囲、好ましくは０～５ｎｍの範囲であり、厚さ方向の位相差値Ｒｔｈは通常－１０～－３００ｎｍの範囲、好ましくは－２０～－２００ｎｍの範囲である。

【0033】

光学フィルム１０は、第１位相差層１２が上記λ／４層であり、第２位相差層１３が上記λ／２層である光学フィルムであってもよい。
光学フィルム１０は、上記第１位相差層１２が上記λ／４層であり、第２位相差層１３がポジティブＣ層である光学フィルムであってもよいし、上記第１位相差層１２がポジティブＣ層であり、第２位相差層１３がλ／４層である光学フィルムであってもよい。
光学フィルム１０は、上記第１位相差層１２、第２位相差層１３に加え、更に位相差層を含む光学フィルムであってよい。例えば、上記第１位相差層１２が上記λ／２層であり、第２位相差層１３が上記λ／４層である場合、更に、ポジティブＣ層や逆位相差層を含んでもよい。

【0034】

＜第１接着層＞
第１接着層１４は、第１位相差層１２と第２位相差層１３との間に配置され、第１位相差層１２及び第２位相差層１３を接着する層である。第１接着層１４の厚さの例は、０．１μｍ～５．０μｍであり、好ましくは０．５μｍ～４．０μｍであり、更に好ましくは１．０μｍ～３．０μｍである。第１接着層１４は、粘着剤または接着剤によって形成することができる。第１接着層１４の例は、活性エネルギー線硬化型接着剤の硬化層である。活性エネルギー線硬化接着剤は、紫外線、可視光、電子線、Ｘ線等の活性エネルギー線の照射によって硬化する接着剤である。

【0035】

第１接着層１４は、硬化性の樹脂成分を水に溶解又は分散させた公知の水系接着剤で形成されてもよい。水系接着剤に含有される樹脂成分としては、ポリビニルアルコール系樹脂やウレタン樹脂等が挙げられる。ポリビニルアルコール系樹脂を含む水系組成物は、硬化性成分や架橋剤を更に含有することができる。ウレタン樹脂を含む水系組成物としては、ポリエステル系アイオノマー型ウレタン樹脂とグリシジルオキシ基を有する化合物とを含む水系組成物が挙げられる。ポリエステル系アイオノマー型ウレタン樹脂とは、ポリエステル骨格を有するウレタン樹脂であって、その中に少量のイオン性成分（親水成分）が導入されたものである。

【0036】

上記粘着剤としては、アクリル系共重合体及び架橋剤を含むアクリル系粘着剤を使用することができる。上記アクリル系共重合体は、炭素数１～１２のアルキル基を有する（メタ）アクリレート単量体と、架橋可能な官能基を有する重合性単量体をラジカル重合させて製造することができる。上記（メタ）アクリレートはアクリレート及びメタクリレートを意味する。
上記炭素数１～１２のアルキル基を有する（メタ）アクリレート単量体の具体的な例としては、ｎ－ブチル（メタ）アクリレート、２－ブチル（メタ）アクリレート、ｔ－ブチル（メタ）アクリレート、２－エチルヘキシル（メタ）アクリレート、エチル（メタ）アクリレート、メチル（メタ）アクリレート、ｎ－プロピル（メタ）アクリレート、イソプロピル（メタ）アクリレート、ペンチル（メタ）アクリレート、 ｎ－オクチル（メタ）アクリレート、イソオクチル（メタ）アクリレート、ノニル（メタ）アクリレート、デシル（メタ）アクリレート、ラウリル（メタ）アクリレートなどを挙げることができ、これらの中でｎ－ブチルアクリレート、メチルアクリレートまたはこれらの混合物が好ましい。これらは単独または２種以上混合して使用することができる。
上記架橋可能な官能基を有する重合性単量体は、下記架橋剤との化学結合によって粘着剤の凝集力または粘着強度を補強して耐久性と切断性を付与するための成分として、例えば、ヒドロキシ基を有する単量体、カルボキシ基を有する単量体、アミド基を有する単量体、３次アミン基を有する単量体などを挙げることができ、これらは単独または２種以上混合して使用することができる。
架橋剤は、共重合体を適切に架橋することで粘着剤の凝集力を強化するための成分として、その種類は特に限定されない。例えば、イソシアネート系化合物、エポキシ系化合物などを挙げることができ、これらは単独または２種以上混合して使用することができる。
上記粘着剤を構成する各成分を酢酸エチルなどの適当な溶剤に溶解させて粘着剤組成物を得て、該粘着剤組成物を基材上に塗布した後に乾燥させて、接着層が形成される。一部溶剤に溶解しない成分がある場合には、それらは系中に分散した状態であってもよい。

【0037】

本実施形態において、第１保護層１５及び第２保護層１６は、位相差積層体１１の両面に設けられている。具体的には、第１保護層１５は、第１位相差層１２からみて第１接着層１４と反対側に設けられている。第２保護層１６は、第２位相差層１３からみて第１接着層１４と反対側に設けられている。

【0038】

第１保護層１５及び第２保護層１６の材料の例は、環状ポリオレフィン系樹脂；トリアセチルセルロース、ジアセチルセルロース等の酢酸セルロース系樹脂；ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＴ）、ポリブチレンテレフタレート等のポリエステル系樹脂；ポリカーボネート系樹脂フィルム；（メタ）アクリル系樹脂；ポリプロピレン系樹脂等、当分野において材料を挙げることができる。第１保護層１５及び第２保護層１６の厚さの例は、３０μｍ～１００μｍである。第１保護層１５及び第２保護層１６の厚さは異なっていてもよい。

【0039】

光学フィルム１０は、各層を準備した後、それらを積層することによって形成され得る。各層は、形成工程Ｓ０１で製造してもよいし、購入品を使用してもよい。光学フィルム１０を形成する際、例えば、第１位相差層１２と第２位相差層１３とを第１接着層１４を介して貼合することによって位相差積層体１１を形成した後、位相差積層体１１に第１保護層１５及び第２保護層１６を貼合してもよい。或いは、第１位相差層１２に第１保護層１５を貼合するとともに、第２位相差層１３に第２保護層１６を貼合した後、第１位相差層１２と第２位相差層１３とを第１接着層１４を介して貼合してもよい。

【0040】

形成工程Ｓ０１で製造する光学フィルム１０は、図３に示した光学フィルム１０Ａでもよい。光学フィルム１０Ａは、第１位相差層１２上に、第２接着層１８を介して偏光板１７が積層されている点で、主に光学フィルム１０と相違する。この相違点を中心に光学フィルム１０Ａを説明する。

【0041】

＜偏光板＞
偏光板１７は、直線偏光板である。偏光板１７は、直線偏光特性を有する偏光子を有する。偏光板は、偏光子の片面又は両面に積層された熱可塑性樹脂フィルムを有してもよい。

【0042】

偏光子は、例えば、吸収異方性を有する色素を吸着させた延伸フィルム（又は延伸層）である。吸収異方性を有する色素としては、例えば、二色性色素が挙げられる。二色性色素として、具体的には、ヨウ素や二色性の有機染料が用いられる。偏光子の材料の例は、ポリビニルアルコール系樹脂である。偏光子は、吸収異方性を有する色素を基材フィルムに塗布し硬化させてなる層等でもよい。基材フィルムは、偏光子の一部でもよいし、偏光子を形成した後に剥離されてもよい。基材フィルムの材料は、熱可塑性樹脂フィルムと同じであり、熱可塑性樹脂フィルムが基材フィルムを兼ねてもよい。

【0043】

偏光子の厚みは、通常３０μｍ以下であり、好ましくは１８μｍ以下、より好ましくは１５μｍ以下である。偏光子の厚みは、通常１μｍ以上であり、例えば５μｍ以上であってよい。

【0044】

熱可塑性樹脂フィルムの材料の例は、第１保護層１５（又は第２保護層１６）の材料の例と同様とし得る。熱可塑性樹脂フィルムの厚みは、好ましくは５μｍ以上１５０μｍ以下、より好ましくは５μｍ以上１００μｍ以下、さらに好ましくは１０μｍ以上５０μｍ以下である。

【0045】

偏光板１７の吸収軸と第１位相差層１２の遅相軸（後述する第１遅相軸１２ａ）との角度は、好ましくは７１°～７４°である。

【0046】

＜第２接着層＞
第２接着層１８は、第１接着層１４と同じ接着剤又は粘着剤から形成された層であっても良いし、異なる接着剤又は粘着剤から形成された層であっても良い。第２接着層１８は、粘着剤によって形成された層でもよい。粘着剤の例は、（メタ）アクリル系樹脂、ゴム系樹脂、ウレタン系樹脂、エステル系樹脂、シリコーン系樹脂、ポリビニルエーテル系樹脂等を主成分とする粘着剤組成物である。第２接着層１８の厚さは、例えば０．１μｍ～１０μｍである。

【0047】

光学フィルム１０Ａは、偏光板１７上に、第１保護層１５Ａを有してもよい。第１保護層１５Ａの材料の例は、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリプロピレン（ＰＰ）、ポリエチレン（ＰＥ）を含む。第１保護層１５Ａの厚さの例は、３０μｍ～１００μｍである。

【0048】

光学フィルム１０Ａは、光学フィルム１０の場合と同様に、各層を準備した後、それらを積層することによって製造され得る。各層は、形成工程Ｓ０１で製造されてもよいし、購入品を使用してもよい。

【0049】

以下では、断らない限り、形成工程Ｓ０１で光学フィルム１０を形成し、それを検査する場合を説明する。

【0050】

［検査工程］
検査工程Ｓ０２では、第１接着層１４と第１位相差層１２の屈折率差及び第１接着層１４と第２位相差層１３の屈折率差の少なくとも一方に起因する界面反射、第１接着層１４の厚さの均一性などの影響で生じる干渉ムラの程度が許容範囲か否かを検査する。

【0051】

図４は、光学フィルム１０を検査する検査方法を説明するための図面である。本実施形態では、第１位相差層１２側の面（図２の構成では、第１保護層１５の表面）を検査面１０ａとし、光源部２１及び検出部２２を有する検査光学系２０を利用して光学フィルム１０を検査する。検査光学系２０は、光源部２１及び検出部２２が、光学フィルム１０に対して同じ側に位置する反射光学系である。検査方法は、図１に示したように、検出工程Ｓ０２Ａと、判定工程Ｓ０２Ｂとを有する。

【0052】

＜検出工程＞
検出工程Ｓ０２Ａでは、光学フィルム１０を図４の白抜き矢印方向に搬送しながら、検査面１０ａに、光源部２１から検査光Ｌ１を照射するとともに、光源部２１から照射され光学フィルム１０で反射した光（以下、「反射光Ｌ２」と称す）を、検出部２２によって検出する。
光学フィルム１０が枚葉状である場合、光学フィルム１０は、例えばベルトコンベアで搬送され得る。光学フィルム１０が長尺である場合、光学フィルム１０は、例えば搬送ロールなどで搬送され得る。以下、光学フィルム１０の幅方向（搬送方向に直交する方向）をＴＤ方向と称し、光学フィルム１０の搬送方向をＭＤ方向と称す。搬送速度の例は、１ｍ／ｍｉｎ～１００ｍ／ｍｉｎである。

【0053】

検査光学系２０が有する光源部２１及び検出部２２を説明する。

【0054】

光源部２１は、検査光Ｌ１を出力する。検査光Ｌ１のピーク波長は、例えば４００ｎｍ～７５０ｎｍであり、好ましくは５００ｎｍ～７００ｎｍであり、より好ましくは５５０ｎｍ～６８０ｎｍであり、更に好ましくは６００ｎｍ～６５０ｎｍである。

【0055】

検査光Ｌ１の光源部２１における照度は、光源部２１からの距離が１５ｍｍの位置において、通常１０００～２５０００［ｌｘ］となる範囲であり、好ましくは１０００～１５０００［ｌｘ］となる範囲であり、より好ましくは５０，００～１００００［ｌｘ］となる範囲である。

【0056】

検査光Ｌ１は、検査面１０ａ上の１点に照射されてもよいし、フィルム幅全体にわたって照射されてもよい。

【0057】

光源部２１は、例えば、複数のＬＥＤがライン状に配置されたラインＬＥＤ光源である。この場合、光源部２１の延在方向は、光学フィルム１０の法線ｎに直交するとともに、例えばＭＤ方向に直交する方向である。

【0058】

光源部２１は、検査面１０ａ側に配置されている。光源部２１と検査面１０ａとの間の距離ｄ１は、通常、１００ｍｍ～２０００ｍｍである。距離ｄ１は、例えば光源部２１の光出射面と検査面１０ａとの間の距離である。光源部２１の光軸と、検査面１０ａの法線ｎ（光学フィルム１０の厚さ方向）との角度α１［°］は、通常、１°～６０°であり、好ましくは５°～５０°であり、更に好ましくは１０°～４５°である。

【0059】

検出部２２は、検査面１０ａからの反射光Ｌ２を受光する。検出部２２は２次元輝度計である。検出部２２の例は、エリアセンサカメラ（２次元センサカメラ）であり、エリアセンサカメラの例は、ＣＣＤカメラである。検出部２２は、ライン状の輝度計（例えば、ラインセンサカメラ）でもよい。

【0060】

検出部２２は、検査面１０ａ側において、光学フィルム１０によって検査光Ｌ１が反射した反射光Ｌ２を受光可能に配置されている。検出部２２の光軸と検査面１０ａの法線ｎとのなす角度α２の大きさは、角度α１の大きさと実質的に同じである。検出部２２と検査面１０ａとの間の距離ｄ２の例は、１００ｍｍ～２０００ｍｍである。検出部２２と検査面１０ａとの間の距離ｄ２は、検出部２２の受光面と検査面１０ａとの距離であり得る。

【0061】

本実施形態の検出工程Ｓ０２Ａでは、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４を使用する。第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４は検査光学系２０の一部でもよい。

【0062】

第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４は、直線偏光特性を有するフィルターである。第１偏光フィルター２３は、光源部２１と光学フィルム１０の間に配置されている。第２偏光フィルター２４は、光学フィルム１０と検出部２２との間に配置されている。したがって、光源部２１から出力された検査光Ｌ１は、第１偏光フィルター２３を通過して直線偏光光として光学フィルム１０に照射される。光学フィルム１０で反射された検査光Ｌ１である反射光Ｌ２は、第２偏光フィルター２４を介して検出部２２に入射する。第１偏光フィルター２３は検査光Ｌ１の光路上に配置されており、第２偏光フィルター２４は反射光Ｌ２の光路上に配置されていれば、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４の配置位置は限定されない。ただし、第１偏光フィルター２３は、光源部２１から発せられる熱の影響を加味し、光源部２１から距離を置いた方がより好ましい。光源部２１から第１偏光フィルター２３までの距離は、５０ｍｍ以上が好ましい。

【0063】

図５及び図６を利用して、検査工程Ｓ０２Ａでの光学フィルム１０、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４の配置関係を説明する。配置関係の説明において、第１位相差層１２の面内位相差は、２３６ｎｍ±４ｎｍ又は２３４ｎｍ±５ｎｍであり、第２位相差層１３の面内位相差は、１１６ｎｍ±４ｎｍである。或いは、第１位相差層１２の面内位相差が２４０ｎｍ±５ｎｍであり、第２位相差層１３の面内位相差は１２０ｎｍ±４ｎｍである。

【0064】

図５は、光学フィルム１０が有する第１位相差層１２及び第２位相差層１３の配置関係を説明する図面である。図５では、第１位相差層１２が有する第１遅相軸１２ａと、第２位相差層１３が有する第２遅相軸１３ａとの関係で、第１位相差層１２と第２位相差層１３の配置関係を示している。

【0065】

図５中のｘ軸及びｙ軸は、検査面１０ａに設定した仮想的な軸である。ｘ軸及びｙ軸は互いに直交していれば任意に設定され得る。一例として、ｘ軸方向はＭＤ方向である。第１遅相軸１２ａ及び第２遅相軸１３ａの角度を規定するために、ｙ軸を基準軸ＲＡとする。基準軸ＲＡに対する角度を規定する場合、光学フィルム１０を検査面１０ａ側からみた場合に基準軸ＲＡに対して反時計回り（左回り）を正の角度方向とし、時計回り（右回り）を負の角度方向とする。

【0066】

図５に示したように、第１遅相軸１２ａと基準軸ＲＡとの間の角度をθ１とし、第２遅相軸１３ａと基準軸ＲＡとの間の角度をθ２とし、第１遅相軸１２ａと第２遅相軸１３ａとの間の角度をθ３としたとき、第１位相差層１２及び第２位相差層１３は、角度θ１、角度θ２及び角度θ３が下記の条件（１）～条件（３）を満たすように、配置されている。
（１）－４０°＜θ１＜―１０°
（２）＋１５°＜θ２＜＋５０°
（３）＋５５°＜θ３＜＋６５°
図５では、θ１及びθ２の許容範囲をハッチングで示している。条件（３）を満たすことで、光学フィルム１０が円偏光板として機能する。

【0067】

図６は、光学フィルム１０に対する第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４の配置関係を説明する図面である。図６では、第１偏光フィルター２３が有する第１吸収軸２３ａと、第２偏光フィルター２４が有する第２吸収軸２４ａとの関係で、第１偏光フィルター２３と第２偏光フィルター２４の配置関係を示している。図６中のｘ軸及びｙ軸は、図５中のｘ軸及びｙ軸と同じである。換言すれば、図６中の第１吸収軸２３ａは、図４において、第１偏光フィルター２３を、法線ｎと直交する位置まで移動（角度α１が０°になるように回転）させた状態で、第１偏光フィルター２３の第１吸収軸２３ａを検査面１０ａに投影した軸に相当する。図６中の第２吸収軸２４ａについても同様である。

【0068】

図６に示したように、第１吸収軸２３ａと基準軸ＲＡとの間の角度をθ４とし、第２吸収軸２４ａと基準軸ＲＡとの間の角度をθ５とし、第１吸収軸２３ａと第２吸収軸２４ａとの間の角度をθ６としたとき、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４は、角度θ４、角度θ５及び角度θ６が下記の条件（４）～条件（６）を満たすように、配置されている。
（４）－２０°＜θ４＜＋２０°
（５）＋７０°＜θ５＜＋１１０°
（６）＋７０°＜θ６＜＋１１０°
図６では、θ４及びθ５の許容範囲をハッチングで示している。条件（６）は、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４がクロスニコル状態にある点を、第１吸収軸２３ａ及び第２吸収軸２４ａが理想的に直交している状態に対して一定の許容範囲を考慮して表した式である。以下、説明の便宜のため、条件（６）を満たす第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４の配置関係を、クロスニコル状態と称す。

【0069】

条件（１）～条件（６）の角度θ１～角度θ６は、共通の基準軸ＲＡに対して規定されているため、条件（１）～条件（６）は、検出工程Ｓ０２Ａにおける第１位相差層１２、第２位相差層１３、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４の配置関係を規定している。図５及び図６を利用した条件（１）～条件（６）の関係の説明では、ｙ軸を基準軸ＲＡとした。しかしながら、基準軸ＲＡはｘ軸でもよい。換言すれば、光学フィルム１０を±９０°又は１８０°回転させてもよいし、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４の配置関係を反転させてもよい。

【0070】

光学フィルム１０の形成時における第１位相差層１２及び第２位相差層１３の配置関係並びに光学フィルム１０の検査時における光学フィルム１０、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４の配置関係を調整することによって、条件（１）～条件（６）の角度θ１～角度θ６が実現され得る。

【0071】

図４に示したように、光学フィルム１０は、背面板（支持板）２５上に配置されていてもよい。背面板２５の主面２５ａ（光学フィルム１０側の面）の正反射率は、例えば４５％以下である。背面板２５は、上記例示した範囲の正反射率を有する材料で形成された板を使用してもよいし、板部材の表面に上記例示した範囲の正反射率を有する材料の例えばシートを貼合した構成を有してもよい。

【0072】

＜判定工程＞
判定工程Ｓ０２Ｂでは、検出部２２によって検出された反射光Ｌ２の輝度に基づいて、光学フィルム１０における幅方向（ＴＤ方向）の断面に沿った輝度分布を取得する。次いで、輝度分布に基づいて光学フィルム１０を良品か否かを判定する。上記輝度分布は、例えば、解析装置で検出部２２によって取得した輝度データに基づいて作成され得る。解析装置は、例えば、検出方法を実施するための専用の装置でもよいし、解析用のプログラムがインストールされたパーソナルコンピュータでもよい。

【0073】

判定工程Ｓ０２Ｂでは、輝度分布に表される干渉縞（振幅の変化）において、干渉ムラを判定可能な指標（判定指標）に従って判定すればよい。例えば、輝度分布における最大輝度に対する最小輝度の比（［最小輝度／最大輝度］（％））を判定指標として判定を行ってもよいし、最大輝度と、輝度分布の平均値（平均輝度）との差（［最大輝度－平均輝度］を判定指標として判定を行ってもよい。光学フィルム１０が良品か否かは、判定方法に応じて例えば予め実験などに応じて基準を設定すればよい。

【0074】

判定工程Ｓ０２Ｂで、光学フィルム１０が不良品と判定された場合（判定工程Ｓ０２Ｂで「ＮＯ」）、変更工程Ｓ０３を実施する。

【0075】

［変更工程］
変更工程Ｓ０３では、光学フィルム１０の形成条件を変更する。形成条件の変更は、例えば、第１接着層１４の厚さの変更、第１接着層１４の下地となる部材の平坦性の調整、第１接着層１４の材料である接着剤の特性などの調整を含む。

【0076】

変更工程Ｓ０３を実施した場合、再度形成工程Ｓ０１を実施する。判定工程Ｓ０２Ｂで光学フィルム１０が良品と判定されるまで、形成工程Ｓ０１、検査工程Ｓ０２及び変更工程Ｓ０３を繰り返せばよい。

【0077】

判定工程Ｓ０２Ｂで、光学フィルム１０が良品と判定された場合（判定工程Ｓ０２Ｂで「ＹＥＳ」）、回収工程Ｓ０４を実施する。

【0078】

［回収工程］
回収工程Ｓ０４では、検査用の光学フィルム１０を形成した場合と同じ条件で、光学フィルム１０を形成し、形成された光学フィルム１０を回収すればよい。例えば、光学フィルム１０が長尺であり、検査工程Ｓ０２を、形成工程Ｓ０１で形成した光学フィルム１０を搬送しながら実施する場合、検査工程Ｓ０２を経た光学フィルム１０を、例えば巻き取ることで光学フィルム１０を回収してもよい。

【0079】

本実施形態の検査方法では、上記のように、光源部２１から検査光Ｌ１を光学フィルム１０に照射し、その反射光Ｌ２を検出部２２で検出する。検出部２２で検出された反射光Ｌ２の輝度データに基づいて光学フィルム１０のＴＤ方向における断面の輝度分布を取得し、その輝度分布に基づいて光学フィルム１０の良否を判定する。そのため、客観的に光学フィルム１０の良否を判定できる。

【0080】

例えば目視検査を行う場合、検査結果は、検査者間の個人差（見る角度の違いなども含む）、同じ検査者の状態（例えば体調、検査中の疲れ等）、及び光学フィルム１０の製造工場間の違い等が生じる可能性がある。これに対して、本実施形態の光学フィルムの検査方法では、検査光学系２０と光学フィルム１０の配置関係及び使用する検査光Ｌ１等が固定されており且つ輝度分布に基づいて判定を行うため、検査者間（或いは同一検査者間）の違い、工場間の検査方法の違いなどが除去されている。そのため、客観的に光学フィルム１０の良否を判定できる。

【0081】

光学フィルム１０の製造方法では、上記検査方法で、光学フィルム１０の良否を客観的に判定することから、良品の光学フィルム１０を効率的に製造できる。その結果、光学フィルム１０の製造歩留まりが向上する。

【0082】

光学フィルム１０の製造方法では、上述の検出工程Ｓ０２Ａと判定工程Ｓ０２Ｂを、光学フィルム１０を搬送しながら自動的に行うことが可能なので、不良品の発生を直ぐに検出することができる。その結果、良品の光学フィルム１０を更に効率的に製造できる。

【0083】

判定工程Ｓ０２Ｂで使用する輝度分布は、反射光Ｌ２の干渉縞を現している。したがって、輝度分布に基づいて干渉ムラを評価可能である。

【0084】

輝度分布における最大輝度に対する最小輝度の比を、判定指標として使用する場合、光学フィルム１０の材料などの違いの影響を低減できる。そのため、上記最大輝度に対する最小輝度の比は、汎用性を有し得る。

【0085】

第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４を使用する場合、検査面１０ａでの表面反射の影響を低減できる。光学フィルム１０、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４が上記条件（１）～条件（６）を満たすように配置された場合に、表面反射の影響を一層低減できるので、第１接着層１４の影響（第１接着層１４に隣接する層の界面の影響も含む）で生じる干渉ムラをより正確に評価できる。そのため、光学フィルム１０、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４が上記条件（１）～条件（６）を満たすように配置して、検出工程Ｓ０２Ａを実施することで、光学フィルム１０の良否を一層正確に判定できる。

【0086】

光源部２１から出力される検査光Ｌ１のピーク波長が、例えば４００ｎｍ～７５０ｎｍ、好ましくは５００ｎｍ～７００ｎｍ、より好ましくは６００ｎｍ～６５０ｎｍの範囲である場合、波長領域が限定されていることから、干渉ムラを検知し易い。更に、輝度分布の最大値と最小値がデータ上、より明確になる。この観点でも干渉ムラをより検知しやすい。その結果、より正確に光学フィルム１０の良否を判定できる。

【0087】

光源部２１と光学フィルム１０の間の距離ｄ１が１００ｍｍ～２０００ｍｍである場合、検査光学系２０の設置スペースを縮小できる。更に、反射光Ｌ２の輝度が向上しやすい。同様に、光学フィルム１０と検出部２２との間の距離ｄ２が１００ｍｍ～２０００ｍｍである場合、検査光学系２０の設置スペースを縮小できる。

【0088】

背面板２５の正反射率が４５％以下であれば、背面板２５からの反射の影響を低減できる。その結果、より正確に光学フィルム１０の良否を判定できる。

【0089】

以下、光学フィルム１０のサンプルを用いた実験例を説明する。

【0090】

［実験例］
実験例では、光学フィルム１０の具体的なサンプルとして、サンプルＳ１、サンプルＳ２、サンプルＳ３及びサンプルＳ４を準備した。各サンプルの幅は１３４０ｍｍであった。

【0091】

（サンプルＳ１）
サンプルＳ１は、図２に示した構成を有していた。すなわち、サンプルＳ１は、第２保護層１６、第２位相差層１３、第１接着層１４、第１位相差層１２及び第１保護層１５を有し、第２位相差層１３、第１接着層１４、第１位相差層１２及び第１保護層１５が、この順に第２保護層１６上に積層されていた。サンプルＳ１の平面視形状は矩形であった。

【0092】

第１保護層１５及び第２保護層１６は、トリアセチルセルロース樹脂フィルムであった。第１保護層１５及び第２保護層１６の厚さは、８０μｍであった。

【0093】

第１位相差層１２はλ／２板であった。面内位相差は２３６ｎｍであった。第２位相差層１３はλ／４板であった。面内位相差は１１６ｎｍであった。第１位相差層１２の第１遅相軸１２ａと第２位相差層１３の第２遅相軸１３ａとの間の角度θ３（図５参照）は６０°であった。第１位相差層１２の厚さは２μｍ、第２位相差層１３の厚さは、１μｍであった。

【0094】

第１接着層１４の材料はエポキシ樹脂系紫外線硬化性接着剤（波長５８９ｎｍでの屈折率が１．５４）であった。第１接着層１４の厚さは、３．０μｍであった。

【0095】

（サンプルＳ２）
サンプルＳ２は、第１接着層１４の厚さが、２．５μｍであった点以外は、サンプルＳ１と同じ構成を有していた。
（サンプルＳ３）
サンプルＳ３は、第１接着層１４の厚さが、２．０μｍであった点以外は、サンプルＳ１と同じ構成を有していた。
（サンプルＳ４）
サンプルＳ４は、第１接着層１４の材料としてエポキシ樹脂系紫外線硬化性接着剤（波長５８９ｎｍでの屈折率が１．５１）を使用した点、及び、第１接着層１４の厚さが１．５μｍであった点以外は、サンプルＳ１と同じ構成を有していた。

【0096】

準備したサンプルＳ１～Ｓ４に対して、図４を用いて説明した検出工程Ｓ０２Ａを実施した。検査対象が異なる点以外の条件は同じであったため、サンプルＳ１～Ｓ４をサンプルＳと称して、実験例における検出工程Ｓ０２Ａを具体的に説明する。

【0097】

光源部２１として、複数の赤色ＬＥＤが配置されたライン光源を用いた。光源部２１は、検査対象のフィルム（サンプルＳ）における幅中央部に検査光Ｌ１が照射されるよう設置した。検査光Ｌ１のピーク波長は、６００ｎｍ～６５０ｎｍであった。光源部２１の光軸と検査面１０ａとの法線ｎとの間の角度α１は２０°であった。同様に、検査面１０ａとの法線ｎと検出部２２の法線ｎとの間の角度α２は、２０°であった。光源部２１と検査面１０ａとの間の距離は１３５ｍｍであった。検査面１０ａと検出部２２との間の距離ｄ２は７６０ｍｍであった。なお、検査光Ｌ１の照度は、光源部２１からの距離が１５ｍｍの位置において６５７０［ｌｘ］となる照度で行った。

【0098】

検出工程Ｓ０２Ａでは、エリアスキャンカメラ（商品名：Ｇ０－５０００Ｍ－ＰＧＥ、ＪＡＩ社製）、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４を使用した。条件（１）～条件（６）を満たすように、サンプルＳ、第１偏光フィルター２３及び第２偏光フィルター２４を配置した。具体的には、角度θ１～角度θ６は次のとおりであった。
角度θ１：－２６．５°
角度θ２： ３３．５°
角度θ３： ６０°
角度θ４： ０°
角度θ５： ９０°
角度θ６： ９０°
サンプルＳを搬送速度５００ｍｍ／ｓで搬送しながら、検出工程Ｓ０２Ａを実施した。

【0099】

図７は、サンプルＳ１～Ｓ４の検出結果を示す図表である。図中の輝度分布は、サンプルＳ１～Ｓ４の短手方向（幅方向）の中央部における断面の輝度分布（幅方向に沿った輝度分布）である。輝度分布の横軸は幅方向の位置（単位：ｍｍ、検出箇所の一端での位置を０ｍｍとして表示）を示し、縦軸は輝度を示している。

【0100】

図７に示した輝度分布において、最大輝度に対する最小輝度の比（［最小輝度／最大輝度］）（％）を判定指標とし、目視評価との関係を検証した。

【0101】

目視評価には、次のサンプルＳ１ａ、サンプルＳ２ａ、サンプルＳ３ａ及びサンプルＳ４ａを使用した。サンプルＳ１ａ、サンプルＳ２ａ、サンプルＳ３ａ及びサンプルＳ４ａは、サンプルＳ１、サンプルＳ２、サンプルＳ３及びサンプルＳ４の目視評価用のサンプルに対応する。

【0102】

（サンプルＳ１ａ）
図８に示したように、サンプルＳ１ａとして、第３接着層３２、第２位相差層１３、第１接着層１４、第１位相差層１２、第２接着層１８及び偏光板３３からなる光学フィルム３０を作製した。

【0103】

サンプルＳ１ａを構成する第２位相差層１３、第１接着層１４及び第１位相差層１２は、サンプルＳ１の対応する層と同じであった。第２接着層１８（厚み５μｍ）及び第３接着層３２（厚み２５μｍ）の材料はアクリル系粘着剤であった。すなわち、第２接着層１８及び第３接着層３２は粘着層であった。偏光板３３は、図３を利用して説明した偏光板１７と同様の直線偏光板であった。偏光板３３の吸収軸と第１位相差層１２の第１遅相軸１２ａとの間の角度は７２．１°～７２．９°であった。

【0104】

目視評価の際には、サンプルＳ１ａを支持するために、第３接着層３２の面を、支持体としての黒アクリル板３１上に配置した。更に、偏光板３３の表面の色むらを低減するために、偏光板３３の面上に順に水層３４（厚み約１ｍｍ）及びガラス板３５（厚み１．１ｍｍ）を積層した（図８参照）。

【0105】

（サンプルＳ２ａ～Ｓ４ａ）
サンプルＳ２ａ～Ｓ４ａとしての光学フィルムの構成は、サンプルＳ２～Ｓ４とサンプルＳ１との違いと同じ違いを有する点以外は、光学フィルム３０の構成と同じであった。サンプルＳ２ａ～Ｓ４ａを目視評価する際にも、サンプルＳ１ａの場合と同様に、サンプルＳ２ａ～Ｓ４ａを黒アクリル板３１上に配置し、サンプルＳ２ａ～Ｓ４ａが有する偏光板３３の面上に、水層３４及びガラス板３５を積層した。

【0106】

目視評価は、目視の結果を１～４で評価した（数字が大きい方が高評価）。目視評価は、４人が予め定めていた目視評価方法に従って行い、各サンプルＳ１ａ～Ｓ４ａに対する４人の平均を各サンプルＳ１ａ～Ｓ４ａの目視評価結果として採用した。サンプルＳ１ａ～サンプルＳ４ａをサンプルＳａと称した場合、目視評価は次のように行った。すなわち、サンプルＳａを、水平面に対して傾けて配置した。上記水平面に直交する方向からサンプルＳａに３波長蛍光灯から光を照射した。傾けられたサンプルＳａをその表面に垂直な方向から見て、上記蛍光灯からサンプルＳａに入射し反射した光による干渉ムラを目視観察した。サンプルＳ１ａ～サンプルＳ４ａは、サンプルＳ１～Ｓ４の違いと同じ違いを有する点以外の構成は同じであった。そのため、サンプルＳ１ａ～サンプルＳ４ａの目視評価の違いは、サンプルＳ１～Ｓ４の目視評価の違いに相当する。

【0107】

目視評価と、定量評価（検出工程Ｓ０２Ａでの輝度データを用いた評価）との関係は表１のとおりであった。表１の結果より、目視評価と、輝度分布に基づいた評価（定量評価）との間に、高い相関関係を有することがわかった。すなわち、検出工程Ｓ０２Ａを実施して得られる輝度分布に基づいて、客観的に光学フィルム１０の良否を判定できることが検証できた。

【表1】

【0108】

以上説明した実施形態とともに、種々の変形例を説明した。しかしながら、本発明は、上記実施形態及び種々の変形例に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

【0109】

例えば、光学フィルム１０の検査面１０ａは、第２位相差層１３側の面（図２及び図３に示した構成では、第２保護層１６の表面）であってもよい。光学フィルム１０を用いて、検査工程Ｓ０２以降を説明したが、光学フィルム１０の代わりに光学フィルム１０Ａを用いてもよい。光学フィルムは、第１位相差層と第２位相差層と、それらを接着する接着層とを有していればよい。

【0110】

第１位相差層はλ／２の位相差を与える層に限定されず、第２位相差層は、λ／４の位相差を与える層に限定されない。第１位相差層及び第２位相差層が与える位相差は、それらを含む光学フィルムの所望の光学特性を実現できるように設定された位相差であればよい。第１位相差層及び第２位相差層がそれぞれλ／２及びλ／４の位相差を与える層でない場合、条件（１）～条件（６）に相当する条件は、第１位相差層及び第２位相差層が与える位相差に応じ、光学フィルムの良否判定に適したように設定されればよい。

【0111】

検出工程では、光学フィルムを搬送しなくてもよい。

【0112】

本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、上述した種々の実施形態及び変形例は、適宜、組み合わされてもよい。

【符号の説明】

【0113】

１０，１０Ａ…光学フィルム、１０ａ…検査面、１１…位相差積層体、１２…第１位相差層、１２ａ…第１遅相軸、１３…第２位相差層、１３ａ…第２遅相軸、１４…第１接着層、１５，１５Ａ…第１保護層、１６…第２保護層、１７…偏光板、１８…第２接着層、２０…検査光学系、２１…光源部、２２…検出部、２３…第１偏光フィルター、２３ａ…第１吸収軸、２４…第２偏光フィルター、２４ａ…第２吸収軸、２５…背面板、２５ａ…背面板の主面。

【図1】

【図2】

【図3】

【図4】

【図5】

【図6】

【図7】

【図8】