特許7392130半導体デバイスの信頼性を高めるためのシステムおよびプロセス

発明の名称　半導体デバイスの信頼性を高めるためのシステムおよびプロセス

出願人　クリー　インコーポレイテッド　（識別番号 592054856）

　　　　特許公開件数ランキング 650 位（12件）（共同出願を含む）

　　　　特許取得件数ランキング 808 位（8件）（共同出願を含む）

公報番号　特許-7392130

公報発行日　2023年12月5

公報URL　https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7392130

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