(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2023-11-29
(45)【発行日】2023-12-07
(54)【発明の名称】測定装置
(51)【国際特許分類】
G01B 5/20 20060101AFI20231130BHJP
G01B 5/28 20060101ALI20231130BHJP
【FI】
G01B5/20 C
G01B5/28 102
(21)【出願番号】P 2020080059
(22)【出願日】2020-04-30
【審査請求日】2023-03-10
(73)【特許権者】
【識別番号】000151494
【氏名又は名称】株式会社東京精密
(74)【代理人】
【識別番号】100083116
【氏名又は名称】松浦 憲三
(74)【代理人】
【識別番号】100170069
【氏名又は名称】大原 一樹
(74)【代理人】
【識別番号】100128635
【氏名又は名称】松村 潔
(74)【代理人】
【識別番号】100140992
【氏名又は名称】松浦 憲政
(72)【発明者】
【氏名】森井 秀樹
(72)【発明者】
【氏名】井上 拓也
【審査官】飯村 悠斗
(56)【参考文献】
【文献】特開2004-069510(JP,A)
【文献】実開平06-069711(JP,U)
【文献】特開2001-021304(JP,A)
【文献】特表平03-503799(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G01B 5/00- 5/30
G01B 21/30-21/32
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
被測定物の表面の測定を行うための触針が設けられており、前記被測定物の表面の形状に応じて揺動中心の回りに揺動可能に取り付けられた触針部と、
前記触針部の揺動による変位を測定するためのスケールと、
前記スケールの目盛りを読み取るためのスケールヘッドと、
前記揺動中心と、スケールヘッドとをつなぐ接続部とを備え、
前記触針部、前記スケール及び前記接続部の熱膨張係数をそれぞれ、α、γ及びδとした場合に、
(α+γ)-1/2α≦δ≦(α+γ)+1/2α
の条件を満たす、測定装置。
【請求項2】
前記触針部及び前記接続部の熱膨張係数が、α=δの条件を満たす、請求項1記載の測定装置。
【請求項3】
前記触針部、前記スケール及び前記接続部の熱膨張係数が、δ=α+γの条件を満たす、請求項1記載の測定装置。
【請求項4】
前記触針部、前記スケール及び前記接続部のうちの少なくとも1つが、熱膨張係数が異なる複数の部材により形成されており、前記条件を満たすように、前記複数の部材の材料及び長さが調整されている、請求項1から3のいずれか1項記載の測定装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は測定装置に係り、特に被測定物の表面の形状、粗さ又は輪郭等を測定するための測定装置に関する。
【背景技術】
【0002】
被測定物の表面の形状、粗さ又は輪郭等を測定するための測定装置が知られている。例えば、特許文献1には、測定アームの先端に突設されたスタイラスを被測定物の測定対象面に当接させて走査し、スタイラスの微小上下動を検出することにより、被測定物の測定対象面の表面性状を測定する表面性状測定装置が開示されている。特許文献1に記載の表面性状測定装置では、測定アームが回転軸を支点として上下方向に揺動(円弧運動)可能に支持されている。そして、測定アームが揺動する方向に沿うスケール目盛りを有するスケールを用いて、測定アームの揺動による回転角を検出するようになっている。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
上記のような測定装置では、環境温度が変化すると、測定アームの長さが熱膨張により変化してしまう。そのため、スタイラスの変位の測定結果が環境温度に起因して変動してしまうという問題があった。
【0005】
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、環境温度が測定結果に及ぼす影響を抑制することができる測定装置を提供することを目的とする。
【課題を解決するための手段】
【0006】
上記課題を解決するために、本発明の第1の態様に係る測定装置は、被測定物の表面の測定を行うための触針が設けられており、被測定物の表面の形状に応じて揺動中心の回りに揺動可能に取り付けられた触針部と、触針部の揺動による変位を測定するためのスケールと、スケールの目盛りを読み取るためのスケールヘッドと、揺動中心と、スケールヘッドとをつなぐ接続部とを備え、触針部、スケール及び接続部の熱膨張係数をそれぞれ、α、γ及びδとした場合に、(α+γ)-1/2α≦δ≦(α+γ)+1/2αの条件を満たす。
【0007】
本発明の第2の態様に係る測定装置は、第1の態様において、触針部及び接続部の熱膨張係数が、α=δの条件を満たす。
【0008】
本発明の第3の態様に係る測定装置は、第1の態様において、触針部、スケール及び接続部の熱膨張係数が、δ=α+γの条件を満たす。
【0009】
本発明の第4の態様に係る測定装置は、第1から第3の態様のいずれかにおいて、触針部、スケール及び接続部のうちの少なくとも1つが、熱膨張係数が異なる複数の部材により形成されており、上記の条件を満たすように、上記の複数の部材の材料及び長さが調整されている。
【発明の効果】
【0010】
本発明によれば、環境温度が測定結果に及ぼす影響を抑制することができる。
【図面の簡単な説明】
【0011】
【
図1】
図1は、本発明の第1の実施形態に係る測定装置を示す図である。
【
図2】
図2は、測定装置の各部の動作を簡略化して示す図である。
【
図3】
図3は、変形例3に係る測定装置を示す図である。
【
図4】
図4は、本発明の第2の実施形態に係る測定装置を示す図である。
【
図5】
図5は、本発明の第3の実施形態に係る測定装置を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0012】
以下、添付図面に従って本発明に係る測定装置の実施の形態について説明する。
【0013】
[第1の実施形態]
(測定装置)
まず、本発明の第1の実施形態に係る測定装置の構成について、
図1を参照して説明する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る測定装置を示す図である。以下の説明では、XY平面を水平面とし、Z方向を垂直方向(鉛直方向)とする3次元直交座標系を用いる。
【0014】
測定装置10は、被測定物Wの表面の形状、粗さ又は輪郭等を測定するための装置である。測定装置10は、コラム(不図示)に取り付けられ、コラムに設けられたアクチュエータ(不図示)により、コラムに対してXYZ方向に移動可能となっている。測定装置10が取り付けられるコラムは、被測定物Wが載置されるテーブル(不図示)に固定されている。
【0015】
図1に示すように、測定装置10は、触針部14、アーム部16、揺動軸20、スケール22、スケールヘッド固定部24及びスケールヘッド26を備える。なお、測定装置10の外装(筐体等)については図示を省略する。
【0016】
触針部14は、アーム部16に対して略一直線状になるように固定されており、触針部14及びアーム部16は、揺動軸20の回りに一体的に揺動可能に取り付けられている。揺動軸20は、XY平面に略平行となるように測定装置10のコラムに対する取付角度が調整されている。以下、触針部14及びアーム部16を揺動部18という。なお、揺動部18の構成は
図1に示した略一直線状の例に限定されるものではなく、例えば、触針部14又はアーム部16がL字状の折れ曲がり部を有し、触針部14とがアーム部16が略平行になるように取り付けられていてもよい。
【0017】
触針部14の先端には、触針12が設けられている。触針12は、図中下方(-Z方向)に伸びている。テーブルに載置された被測定物Wの表面に触針12を所定の圧力で接触させると、接触位置における被測定物Wの表面の高さ及び凹凸に応じて揺動部18が揺動軸20の回りに揺動する。なお、触針部14の構成は
図1に示した例に限定されるものではない。例えば、触針部14の図中上下方向に触針が設けられたT字スタイラス、又は図中下方への触針の突き出し量が
図1に示した例よりも長いL字スタイラスであってもよい。
【0018】
アーム部16の基端部側には、スケール22が取り付けられており、揺動部18の揺動に応じて変位する。スケール22は、直線状のリニアスケール(線形位置スケール)であり、スケール22の長さ方向に沿ってスケール目盛りが形成されている。スケール22は、その長さ方向(変位検出方向)が揺動部18の軸方向(AX方向)に垂直になるように取り付けられている。
【0019】
スケールヘッド26は、揺動部18の揺動に応じてスケール22の変位を読み取る装置である。スケールヘッド26の種類は特に限定されないが、スケールヘッド26としては、例えば、スケール目盛りを読み取るための光電センサ又は撮像素子を備える非接触式のセンサを用いることができる。
【0020】
スケールヘッド固定部24は、スケールヘッド26と、揺動軸20とが固定される部材(例えば、金属製等)である。スケールヘッド固定部24は、揺動軸20の揺動中心20Cとスケールヘッド26とをつなぐ(揺動軸20の揺動中心20Cとスケールヘッド26との間の距離を規定する)部材であり、本発明の接続部の一例である。
【0021】
本実施形態では、触針部14、スケール22及びスケールヘッド固定部24の熱膨張係数(線熱膨張係数)をそれぞれα、γ及びδとした場合に、δ=α+γの条件を満たすように各部材の材料が選定されている(詳細後述)。
【0022】
測定装置10には、制御装置50が接続されており、スケールヘッド26によって読み取られたスケール22の変位は、制御装置50に出力される。制御装置50は、コラムに設けられたアクチュエータを制御して、被測定物Wと測定装置10の触針12とを相対移動させながら、被測定物Wの表面の位置ごとの変位の検出信号を取得する。これにより、被測定物Wの表面の形状、粗さ又は輪郭等を測定することができる。
【0023】
図1に示すように、制御装置50は、制御部52、入力部54及び表示部56を備える。制御装置50としては、例えば、パーソナルコンピュータ又はワークステーション等を用いることができる。
【0024】
制御部52は、制御装置50の各部を制御するためのCPU(Central Processing Unit)、制御装置50等のための制御プログラムが格納されるメモリ(例えば、ROM(Read Only Memory)等)及び各種のデータが格納されるストレージ(例えば、HDD(Hard Disk Drive)等)を備える。制御部52は、入力部54からの操作入力に応じて、制御装置50の各部を制御するための制御信号を出力し、かつ、測定装置10を制御するための制御信号及び測定装置10を移動させるためのアクチュエータ等を制御するための制御信号等を出力する。
【0025】
入力部54は、操作者からの操作入力を受け付けるための装置であり、例えば、キーボード、マウス、タッチパネル等を備える。
【0026】
表示部56は、画像を表示するための装置であり、例えば、LCD(Liquid Crystal Display)である。表示部56には、例えば、制御装置50、測定装置10及びアクチュエータ等の操作のためのGUI(Graphical User Interface)及び被測定物Wの表面の形状、粗さ又は輪郭等の測定結果等が表示される。
【0027】
(環境温度が測定結果に及ぼす影響)
次に、環境温度が測定結果に及ぼす影響を抑制するための構成について、
図2を参照して説明する。
図2は、測定装置の各部の動作を簡略化して示す図である。
【0028】
図2(a)は、揺動部18の軸AXが水平な状態(基準位置θ=0)を示しており、
図2(b)及び
図2(c)は、揺動部18が基準位置から角度θ傾いた状態を示している。そして、
図2(c)は、
図2(b)において揺動部18及びスケールヘッド固定部24が熱膨張した状態を示している。
【0029】
環境温度Tが基準温度T0の場合の触針部14の先端部14E(被測定物Wの表面に接触する触針12の先端位置に対応する位置)から揺動部18の揺動中心20Cまでの距離LをL0、揺動部18の揺動中心20Cからスケールヘッド26までの距離RをR0とする。図中の符号26Pは、スケールヘッド26により読み取られたスケール22上の位置であるスケールヘッド読み取り点である。
【0030】
図2(b)に示すように、揺動部18が基準位置から角度θ傾いてスケール22が符号22Rの位置まで移動した場合、触針部14の先端部14Eの変位x
1と、スケールヘッド26の検出変位y
1は下記の式(1)及び式(2)により表される。
【0031】
x1=L0・sinθ ・・・(1)
y1=R0・sinθ ・・・(2)
式(1)及び式(2)から下記の式(3)が得られる。
【0032】
x
1=(L
0/R
0)y
1 ・・・(3)
図2(c)に示すように、環境温度TがT=T
0+ΔTに変化すると、アーム部16及びスケール22は、それぞれ符号16E及び22Eのようになる。この場合、距離L及びRは、下記の式(4)及び式(5)のように変化する。
【0033】
L=L0(1+αΔT) ・・・(4)
R=R0(1+δΔT) ・・・(5)
このとき、触針部14の先端部14Eの変位xTは、下記の式(6)により表される。
【0034】
xT=L・sinθ=L0・sinθ(1+αΔT) ・・・(6)
一方、スケールヘッド26の空間的な変位ygeoは下記の式(7)により表される。
【0035】
ygeo=R・sinθ=R0・sinθ(1+δΔT) ・・・(7)
スケール22の熱膨張を考慮すると、スケールヘッド26により実際に観測される検出変位yobsは、下記の式(8)により表される。
【0036】
yobs=ygeo/(1+γΔT)
yobs=R0・sinθ(1+δΔT)/(1+γΔT) ・・・(8)
式(3)から、検出変位yobsから表される触針部14の先端部14Eの変位xFは、下記の式(9)により表される。
【0037】
xF=(L0/R0)yobs
xF=L0・sinθ(1+δΔT)/(1+γΔT) ・・・(9)
式(6)及び式(9)から、環境温度TがT=T0+ΔTに変化したことによる触針部14の先端部14Eの変位の真の値xTと計算値xFとの誤差xerrは、下記の式により表される。
【0038】
xerr=xT-xF・・・(10)
xerr=L0・sinθ{(1+αΔT)-(1+δΔT)/(1+γΔT)}
xerr=L0・sinθ(αΔT+γΔT+αγΔT2-δΔT)/(1+γΔT)
α≪1かつγ≪1より、2次の項を無視する近似を適用すると、下記の式(11)が得られる。
【0039】
xerr≒L0・sinθ・ΔT(α+γ-δ)/(1+γΔT) ・・・(11)
よって、δ=α+γの条件を満たす場合に、環境温度Tの変化に起因する触針部14の先端部14Eの変位の真の値xTと計算値xFとの誤差xerrが最小となる。したがって、δ=α+γの条件を満たすようにすることにより、環境温度Tが測定結果に及ぼす影響を抑制することができる。
【0040】
(実施例)
触針部14の材料として、カーボンファイバー(CFRP:Carbon Fiber Reinforced Plastics)、スケール22の材料として鉄、スケールヘッド固定部24の材料としてガラスを用いた場合、熱膨張係数α、γ及びδは、α=3.6×10-6、γ=8.5×10-6、δ=12.1×10-6となる。上記の材料の組み合わせによれば、δ=α+γの条件を満たすことができる。
【0041】
(変形例1)
なお、本実施形態では、触針部14、スケール22及びスケールヘッド固定部24の熱膨張係数α、γ及びδが、δ=α+γの条件を満たすようにしたが、本発明はこれに限定されない。
【0042】
例えば、満たすべき条件をα=δとしてもよい。式(11)においてα=δとすると、環境温度Tの変化に起因する触針部14の先端部14Eの変位の真の値xTと計算値xFとの誤差xerrは、下記の式(12)により表される。
【0043】
xerr=L0・sinθ・γΔT/(1+γΔT) ・・・(12)
一般に、スケール22の材質としては、熱膨張係数γが小さいものを採用することが多いため、α=δとしても、誤差xerrを十分小さい値とすることができる。
【0044】
また、この場合、誤差xerrがスケール22の熱膨張係数γのみに依存する。このため、測定装置10が稼働する環境温度Tを計測するための温度計を設けて、基準温度T0からの温度変化量ΔTを測定し、補正することも可能である。
【0045】
(変形例2)
比較例として、触針部14、スケール22及びスケールヘッド固定部24をすべて同一材質とした場合を想定する。この場合、α=γ=δとなるので、誤差xerr(比較例)は、下記の式(13)により表される。
【0046】
xerr(比較例)=L0・sinθ・ΔTα/(1+γΔT) ・・・(13)
触針部14、スケール22及びスケールヘッド固定部24の熱膨張係数α1、γ1及びδ1を選択した場合に、環境温度Tが測定結果に及ぼす影響の抑制の度合(改善率)をxerr/xerr(比較例)で定義すると、改善率は下記の(14)により表される。
【0047】
改善率=(α+γ-δ)/α ・・・(14)
実用上、環境温度Tの変化に起因する誤差xerrを1/2以下にすることができれば、環境温度Tの変化に対して有意に耐性があるとすることができる。
【0048】
よって、実用上有用な熱膨張係数の条件は、下記の式(15)により表される。
【0049】
|(α+γ-δ)/α|≦1/2 ・・・(15)
式(15)を変形すると、下記の式(16)が得られる。
【0050】
(α+γ)-1/2α≦δ≦(α+γ)+1/2α ・・・(16)
したがって、スケールヘッド固定部24の熱膨張係数δは、(α+γ)を基準として±1/2αの範囲にあれば、実用上、環境温度Tの変化に対して有意に耐性があるとすることができる。
【0051】
(変形例3)
なお、本実施形態では、触針部14、スケール22及びスケールヘッド固定部24をそれぞれ単一の材料からなるものとしたが、それぞれ複数の材料を組み合わせることにより、熱膨張係数α、γ及びδを調整することも可能である。
【0052】
図3は、変形例3に係る測定装置を示す図である。
図3に示す測定装置10-1において、触針部14は、熱膨張係数が異なる3つの材料からなる部材14A、14B及び14Cをつなぎ合わせることにより形成されている。部材14A、14B及び14Cの熱膨張係数をそれぞれα
1、α
2及びα
3、長さをl
1、l
2及びl
3とすると、触針部14全体の熱膨張係数αは、下記の式(17)により表される。
【0053】
α=(α1l1+α2l2+α3l3)/(l1+l2+l3) ・・・(17)
一般に、熱膨張係数は材料に固有の値であり、これを任意の値に調整することは困難である。そこで、複数の材料を組み合わせて、各材料の長さを調整することにより、触針部14、スケール22及びスケールヘッド固定部24の熱膨張係数を任意の値に調整することが可能になる。これにより、δ=α+γの条件を満たす測定装置の作成が容易になる。
【0054】
[第2の実施形態]
図4は、本発明の第2の実施形態に係る測定装置を示す図である。以下の説明において、上記の実施形態と同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。
【0055】
本実施形態に係る測定装置10-2は、触針部14に代えて、測定装置10-2に対して着脱可能な交換式触針30を備えている。
【0056】
交換式触針30は、触針12が設けられる第1部材30Aと、第2部材30Bとを備える。第2部材30Bの基端部は、触針取付基部16Aに取り付け(例えば、係合、嵌合等)可能な形状となっている。本実施形態では、交換式触針30と触針取付基部16Aとを合わせて触針部32とし、触針部32とアーム部16とを合わせて揺動部34とする。
【0057】
第1部材30A及び第2部材30Bの熱膨張係数をそれぞれα1及びα2、長さをl1及びl2とし、触針取付基部16Aの熱膨張係数α3、長さ(図中左端部から揺動軸20の揺動中心20Cとの間の長さ)をl3とする。この場合、変形例3と同様に考えると、交換式触針30と触針取付基部16Aからなる触針部32全体の熱膨張係数αは、下記の式(18)により表される。
【0058】
α=(α1l1+α2l2+α3l3)/(l1+l2+l3) ・・・(18)
したがって、満たすべき条件をδ=α+γとすると、下記の式(19)の条件を満たすようにすればよい。
【0059】
(α1l1+α2l2+α3l3)/(l1+l2+l3)=δ-γ ・・・(19)
また、変形例1のように、満たすべき条件をδ=αとすると、下記の式(20)の条件を満たすようにすればよい。
【0060】
(α1l1+α2l2+α3l3)/(l1+l2+l3)=δ ・・・(20)
本実施形態によれば、変形例3と同様に、交換式触針30を構成する部材の組み合わせ及びその長さにより熱膨張係数αを任意の値に調整することが可能になる。また、本実施形態によれば、交換式触針30のみにより熱膨張係数αを調整することができるので、既存の測定装置(γ及びδが調整されていない測定装置)においても、環境温度Tが測定結果に及ぼす影響を抑制することができる。なお、本実施形態において、変形例2と同様にδにマージンをつけてもよい。
【0061】
なお、本実施形態では、触針取付基部16Aの形状を、式(19)又は式(20)の条件を満たす交換式触針30のみが取り付け可能な形状(例えば、直径、嵌合穴の形状等)にすることが好ましい。これにより、環境温度Tが測定結果に及ぼす影響を抑制するのに適さない交換式触針が測定装置に取り付けられることを防止することができる。
【0062】
[第3の実施形態]
図5は、本発明の第3の実施形態に係る測定装置を示す図である。以下の説明において、上記の実施形態と同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。
【0063】
図5に示す測定装置10-3は、スケールヘッド固定部24に代えて、スケール固定部42を備える。そして、スケールヘッド26がアーム部16に取り付けられており、スケール40がスケール固定部42に取り付けられている。本実施形態では、アーム部16が本発明の接続部に相当する。
【0064】
本実施形態では、触針部14、スケール22及びアーム部16の熱膨張係数(線熱膨張係数)をそれぞれα、γ及びδとした場合に、δ=α+γの条件を満たすようにすることで、環境温度Tが測定結果に及ぼす影響を抑制することができる。
【0065】
なお、変形例1で説明したように、スケール40の材質としては、熱膨張係数γが小さいものを採用することが多いため、α=δとしてもよい。
【0066】
また、変形例2で説明したように、実用上有用な熱膨張係数の条件は、下記の式(21)により表される。
【0067】
(α+γ)-1/2α≦δ≦(α+γ)+1/2α ・・・(21)
(実施例)
触針部14の材料として、カーボンファイバー(CFRP:Carbon Fiber Reinforced Plastics)、スケール40の材料として鉄、アーム部16の材料としてガラスを用いた場合、熱膨張係数α、γ及びδは、α=3.6×10-6、γ=8.5×10-6、δ=12.1×10-6となる。上記の材料の組み合わせによれば、δ=α+γの条件を満たすことができる。
【符号の説明】
【0068】
10、10-1、10-2、10-3…測定装置、12…触針、14…触針部、16…アーム部、18…揺動部、20…揺動軸、22…スケール、24…スケールヘッド固定部、26…スケールヘッド、26P…スケールヘッド読み取り点、30…交換式触針、32…触針部、34…揺動部、40…スケール、42…スケール固定部、50…制御装置、52…制御部、54…入力部、56…表示部