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株式会社東京精密

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 ■ 2026年 出願公開件数ランキング    第173位 165件 (上昇2025年:第204位 168件)

 ■ 2026年 特許取得件数ランキング    第248位 92件 (下降2025年:第217位 144件)

(ランキング更新日:2026年10月9日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 7932547 シリコンウエハのエッジ品質向上方法 2026年10月 8日
特許 7932277 変位検出方法、変位検出装置、及び、工作機械 2026年10月 8日
特許 7931371 在荷検出装置及び在荷検出方法 2026年10月 7日
特許 7926696 ローリング角度測定装置 2026年 9月30日
特許 7920545 プローバ制御装置及びプローバ制御方法 2026年 9月15日
特許 7918320 加工システム及び方法 2026年 9月 9日
特許 7917977 半導体ウエハの温度制御装置及び半導体ウエハの温度制御方法 2026年 9月 9日
特許 7911675 三次元形状測定装置及びその測定モード切替方法 2026年 8月27日
特許 7911674 三次元形状測定装置及びその参照面位置調整方法 2026年 8月27日
特許 7910959 ダイシング装置及びダイシング装置の制御方法 2026年 8月25日
特許 7909943 測定ヘッド及びそれに用いられる揺動支点部材 2026年 8月24日
特許 7908197 プローバ 2026年 8月19日
特許 7905565 亀裂検出装置 2026年 8月17日
特許 7905570 測定プログラム生成方法及び三次元座標測定機 2026年 8月17日
特許 7905573 検査装置及び検査方法 2026年 8月17日

93 件中 1-15 件を表示

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7932547 7932277 7931371 7926696 7920545 7918320 7917977 7911675 7911674 7910959 7909943 7908197 7905565 7905570 7905573

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