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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第376位 12件
(2024年:第199位 176件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第190位 23件
(2024年:第228位 146件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7634152 | ワーク分割装置 | 2025年 2月21日 | |
特許 7634600 | 研削装置 | 2025年 2月21日 | |
特許 7627835 | プローバ及びプローブ検査方法 | 2025年 2月 7日 | |
特許 7628162 | 研削装置 | 2025年 2月 7日 | |
特許 7628206 | 研削装置 | 2025年 2月 7日 | |
特許 7625434 | テープ貼付装置 | 2025年 2月 3日 | |
特許 7624585 | 真直度測定装置 | 2025年 1月31日 | |
特許 7624589 | 測定機の校正方法 | 2025年 1月31日 | |
特許 7621536 | 加工装置 | 2025年 1月24日 | |
特許 7617357 | 亀裂進展装置及び亀裂進展方法 | 2025年 1月20日 | |
特許 7617358 | 光検出装置及び方法 | 2025年 1月20日 | |
特許 7617359 | 亀裂進展装置及び亀裂進展方法 | 2025年 1月20日 | |
特許 7617383 | 内面形状測定機の倍率校正方法 | 2025年 1月20日 | |
特許 7617384 | 内面形状測定機、及び内面形状測定機のアライメント方法 | 2025年 1月20日 | |
特許 7617397 | 位置決め方法及び位置決め装置 | 2025年 1月20日 |
23 件中 1-15 件を表示
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7634152 7634600 7627835 7628162 7628206 7625434 7624585 7624589 7621536 7617357 7617358 7617359 7617383 7617384 7617397
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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