株式会社東京精密
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■ 2026年 出願公開件数ランキング 第327位 7件
（
2025年：第202位 167件）
■ 2026年 特許取得件数ランキング 第181位 11件
（
2025年：第217位 141件）
（ランキング更新日：2026年1月26日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社東京精密の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7805563 | 塗布状況検出方法及び塗布状況検出装置 | 2026年 1月26日 | |
| 特許 7804870 | 顕微鏡及び半導体製造装置 | 2026年 1月23日 | |
| 特許 7805203 | ウエハの回転保持装置 | 2026年 1月23日 | |
| 特許 7803688 | 面取り研削方法及び面取り研削装置 | 2026年 1月21日 | |
| 特許 7802577 | 加工システム | 2026年 1月20日 | |
| 特許 7802595 | 研磨終点検出装置及びＣＭＰ装置 | 2026年 1月20日 | |
| 特許 7801545 | 表面形状測定装置及び表面形状測定方法 | 2026年 1月19日 | |
| 特許 7801548 | 亀裂進展装置及び亀裂進展方法 | 2026年 1月19日 | |
| 特許 7801679 | 真直度測定装置及び方法 | 2026年 1月19日 | |
| 特許 7798582 | 半導体ウエハ表面の平坦化装置 | 2026年 1月14日 | |
| 特許 7798615 | 形状測定装置 | 2026年 1月14日 |
11 件中 1-11 件を表示
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7805563 7804870 7805203 7803688 7802577 7802595 7801545 7801548 7801679 7798582 7798615
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