特許7403057IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

半導体装置の製造方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

半導体装置を支持部材から容易に取り外し可能な半導体装置の製造方法を提供することを目的とする。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

半導体装置の製造方法は、半導体装置と、前記半導体装置が配置され、平面視において前記半導体装置の周囲に複数の貫通孔が設けられた第1支持部材と、前記半導体装置と前記第1支持部材とを接着し、平面視において外周部が前記複数の貫通孔よりも外側に位置する接着シートと、を備える第1支持部材付き半導体装置を、支持台の主面と前記第1支持部材を対向させて、前記主面上に配置する工程と、前記主面の法線・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

実施形態によれば、半導体装置を支持部材から容易に取り外し可能な半導体装置の製造方法を提供できる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 第1の第1支持部材付き半導体装置および剥離装置を示す断面図である。
【図2A】 図1の第1支持部材付き半導体装置を示す上面図である。
【図2B】 図2AのII-II線における断面図である。
【図3】 図1の剥離装置における支持台および複数の第1押さえ部材を示す上面図である。
【図4】 図1の第1支持部材付き半導体装置と、剥離装置における支持台および複数の第1押さえ部材と、を示す上面図である。
【図5】 第1の半導体装置の製造方法を示すフローチャートである。
【図6】 図5の工程S5における詳細を示すフローチャートである。
【図7A】 第1の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図7B】 第1の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図8A】 第1の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図8B】 第1の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図9A】 第1の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図9B】 第1の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図10】 第1の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図11A】 第1の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図11B】 第1の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図11C】 第1の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図12】 第1の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図13A】 第2の半導体装置の製造方法を示す断面図である。
【図13B】 第2の半導体装置の製造方法を示す断面図である。

代表図 図1本件の代表的な図

10 :半導体装置 10A :第1支持部材付き半導体装置 10a :面 10p :部分 11 :透光部材 11a、11b:面 11c :凹部 12 :発光素子 12a :半導体構造体 12b、12c:電極 13 :第1光反射部材 14 :第2光反射部材 20 :第1支持部材 20a、20b:面 21 :貫通孔 30 :接着シート 30s :空間 31 :外周部 40 :剥離装置 41 :支持台 41a :主面 41b :穴 41c :開口 41d :流路 42 :第1押さえ部材 42a :第1延伸部 42b :第2延伸部 43 :第2押さえ部材 43a :面 43b :吸引路 44a、44b:可動装置 44a1、44b1:シリンダ 44a2、44b2:ロッド 44a3、44b3:圧力調整部 44s1、44s2、44s3、44s4:空間 45a、45b:流体吸引器 45c :流体供給器 45d :圧力センサ 46 :制御部 47 :吸着パッド 47a :吸引路 48 :シール部材 50 :第2支持部材 60 :枠部材 70 :切削具 C :中心 D1 :法線方向 F1 :第1弾性力 F2 :第2弾性力

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