特許7420525IP Force 特許公報全文掲載

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技術分野

請求項１に記載の位置測定装置および請求項８に記載の位置測定装置を作動する方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明の課題は、位置測定装置の周辺における機械部品の位置を、小さい付加的労力により測定することができる装置を提供することである。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

この課題は請求項１に記載の位置測定装置によって解決される。 このために、位置測定装置において、 シャフトに回動不能に結合可能な目盛キャリアであって、目盛キャリアが組み立てられた状態でシャフトの回転軸線を中心として半径方向に配置された測定目盛を有する目盛キャリアと、 測定目盛を走査することによって位置信号を生成するための走査ユニットと、 位置信号を絶対デジタル位置値として処理す・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明による位置測定装置を示すブロック図である。
【図2】 本発明による位置測定装置の第１の実施形態を示す図である。
【図3】 本発明による位置測定装置の別の実施形態を示す図である。
【図4】 有利な実施形態の走査ユニットのためのキャリア要素を示す図である。
【図5】 図４に示したキャリア要素を備える本発明による位置測定装置を示すブロック図である。
【図6】 有利な実施形態の走査ユニットのための代替的なキャリア要素を示す図である。
【図7】 図６に示したキャリア要素を備える本発明による位置測定装置を示すブロック図である。

代表図 図1本件の代表的な図

５ シャフト １２ 目盛キャリア １３ 測定目盛 １４ 走査ユニット １５，６２，６２．１，６２．２，１６２．１，１６２．２ センサ素子 ２０ 位置処理ユニット ３０ インターフェイスユニット ４０ ケーシング ５０ キャリア要素 ６０，６０．１，６０．２，１６０．１，１６０．２ 第２の走査ユニット ７０，７０．１，７０．２ 機械部品 ７２，７２．１，７２．２，１７２．１，１７２．２ 測定対象 ７６，１７６ 導電性領域 ７８ キャリア要素 ８０，１８０ 評価ユニット １８２ 第１の信号処理ユニット １８４ 第２の信号処理ユニット １００ 後続電子機器 Ｄ１，Ｄ２ 距離 Ｍ 測定値 ＭＳ 測定信号 Ｐ デジタル位置値 ＰＳ 位置信号 Ｔ ピッチ周期 Ｘ 横方向 Ｚ 方向

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