ホーム > 特許ランキング > ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・… > 2024年の特許
※ ログインすれば出願人(ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2024年 出願公開件数ランキング 第2531位 7件 (2023年:第1639位 14件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第1131位 17件 (2023年:第1619位 12件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7587995 | 磁気式エンコーダ | 2024年11月21日 | |
特許 7582849 | 光学式位置測定機構 | 2024年11月13日 | |
特許 7572834 | 光学的な位置測定装置 | 2024年10月24日 | |
特許 7550668 | 走査ユニットおよびこれを搭載したロータリエンコーダ | 2024年 9月13日 | |
特許 7546658 | 位置測定装置 | 2024年 9月 6日 | |
特許 7517880 | 角度測定装置 | 2024年 7月17日 | |
特許 7515296 | 光学式の位置測定装置 | 2024年 7月12日 | |
特許 7514101 | 光源、その製造方法および光源を備える位置測定装置 | 2024年 7月10日 | |
特許 7502887 | 光学式位置測定装置 | 2024年 6月19日 | |
特許 7481864 | 基本体の取付面に、少なくとも長手方向の位置を測定するための測定目盛を有するとともに長手方向に延在する支持体を端側で固定するアッセンブリ | 2024年 5月13日 | |
特許 7475163 | 測定装置 | 2024年 4月26日 | |
特許 7469945 | ワイヤ電極の変位量を検出するセンサ装置 | 2024年 4月17日 | |
特許 7464446 | 角度測定機構および角度測定機構の動作方法 | 2024年 4月 9日 | |
特許 7461120 | 回折光学系のための格子構造及びその製造方法 | 2024年 4月 3日 | |
特許 7440291 | 角度スケールを走査するための走査ユニットおよびこの走査ユニットを備えた角度測定装置 | 2024年 2月28日 |
17 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
7587995 7582849 7572834 7550668 7546658 7517880 7515296 7514101 7502887 7481864 7475163 7469945 7464446 7461120 7440291
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツングの知財の動向チェックに便利です。
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
愛知県名古屋市天白区中平三丁目2702番地 グランドールS 203号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
岐阜県各務原市つつじが丘1丁目111番地 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 コンサルティング
東京都新宿区四谷2-12-5 四谷ISYビル3階 PDI特許商標事務所内 特許・実用新案 訴訟 鑑定 コンサルティング