特許7426237IP Force 特許公報全文掲載

ホーム > 特許ランキング > テクトロニクス・インコーポレイテッド > 特許7426237

技術分野

本願は、米国仮出願第６２/５２０,７５５号、発明の名称「拡張現実（AUGMENTED REALITY）に関連する試験測定装置、システム及び方法」、並びに、米国仮出願第６２/５２０,８８２号、発明の名称「装置操作のためのジェスチャ・ベースのインタフェース」、両方共に出願日は２０１７年６月１６日の利益を主張するものであり、これらの内容は、参照することにより、本願に完全に組み入れられる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

知財ポータルサイト IP Force にログインして確認する (無料)

この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１は、開示技術のいくつかの実施形態による拡張現実システムが組み込まれた電子試験測定環境の例を示すブロック図である。
【図2A】 図２Ａは、開示技術のいくつかの実施形態による物理的試験環境の物理的視界の第１の例を示す。
【図2B】 図２Ｂは、開示技術のいくつかの実施形態による拡張画像の第１例を示す。
【図2C】 図２Ｃは、開示技術のいくつかの実施形態による拡張された視界の第１の例を示す。
【図2D】 図２Ｄは、開示技術のいくつかの実施形態による拡張画像の第２の例を示す。
【図2E】 図２Ｅは、開示技術のいくつかの実施形態による拡張された視界の第２の例を示す。
【図2F】 図２Ｆは、開示技術のいくつかの実施形態による拡張された視界の第３の例を示す。
【図3A】 図３Ａは、開示技術のいくつかの実施形態による物理的試験環境の物理的視界の第２の例を示す。
【図3B】 図３Ｂは、開示技術のいくつかの実施形態による拡張された視界の第１の例を示す。
【図3C】 図３Ｃは、開示技術のいくつかの実施形態による拡張された視界の第２の例を示す。
【図3D】 図３Ｄは、開示技術のいくつかの実施形態による拡張された視界の第３の例を示す。
【図3E】 図３Ｅは、開示技術のいくつかの実施形態による拡張された視界の第４例を示す。
【図4】 図４は、開示技術のいくつかの実施形態による電子試験測定システムのためのプロセッサで制御された方法の例を示すフロー図である。
【図5】 図５は、本開示の様々な実施形態によるスミス・チャート図の例を示す。
【図6】 図６は、本開示の様々な実施形態による図５のスミス・チャート図に由来する例示的なデータを示す。
【図7】 図７は、本開示の様々な実施形態による拡張現実（ＡＲ）環境の例を示す。
【図8】 図８は、本開示の様々な実施形態による、ＤＵＴを含む物理的環境上にオシロスコープ前面パネルの仮想操作装置及び波形表示の両方をオーバーレイした例を示す。
【図9】 図９は、本開示の様々な実施形態に従って、ユーザが複雑な測定をより容易に実行できるように、複数の視覚的なヒント（cue）を伴う波形表示を物理的環境上にオーバーレイした例を示す。
【図10】 図１０は、本開示の様々な実施形態によって、ユーザが物理的なＤＵＴを同時に見ながらＣＡＤの設計を参照できるように、関連するＤＵＴの隣にオーバーレイされた設計文書の第１の例を示す。
【図11】 図１１は、本開示の様々な実施形態によって、ユーザが物理的なＤＵＴを同時に見ながらＣＡＤの設計を参照できるように、関連するＤＵＴの隣にオーバーレイされた設計文書の第２の例を示す。
【図12】 図１２は、本開示の様々な実施形態に従って、物理的なＤＵＴを同時に見ながら、試験サイクルにおいてユーザをガイドする（例えば、過去の試験サイクルを再現する）ための仮想オーバーレイの例を示す。
【図13】 図１３は、本開示の様々な実施形態によるＡＲ環境で表示された仮想的なオシロスコープ及び仮想的に無限の画面の例を示す。
【図14】 図１４は、本開示の様々な実施形態によるＤＵＴにオーバーレイされた温度測定値の仮想的な描写の例を示す。
【図15A】 図１５Ａは、様々なアイ・ダイアグラム及び様々なバスタブ・プロットによって、ジッタを示そうとする現在の試みを示す。
【図15B】 図１５Ｂは、様々なアイ・ダイアグラム及び様々なバスタブ・プロットによって、ジッタを示そうとする現在の試みを示す。
【図15C】 図１５Ｃは、様々なアイ・ダイアグラム及び様々なバスタブ・プロットによって、ジッタを示そうとする現在の試みを示す。
【図15D】 図１５Ｄは、様々なアイ・ダイアグラム及び様々なバスタブ・プロットによって、ジッタを示そうとする現在の試みを示す。
【図15E】 図１５Ｅは、様々なアイ・ダイアグラム及び様々なバスタブ・プロットによって、ジッタを示そうとする現在の試みを示す。
【図16A】 図１６Ａは、本開示の様々な実施形態によるＡＲ環境における例示的なジッタ・プロットを示す。
【図16B】 図１６Ｂは、本開示の様々な実施形態によるＡＲ環境における例示的なジッタ・プロットを示す。
【図17】 図１７は、本開示の様々な実施形態による物理的な環境の上にオーバーレイされた複数の試験測定装置からの複数の出力信号の集合の例を示す。
【図18】 図１８は、本開示の様々な実施形態による物理的なＤＵＴ上にオーバーレイされた仮想的な波形の例を示す。
【図19A】 図１９Ａは、本開示の様々な実施形態による遠隔で波形を見る例を示す。
【図19B】 図１９Ｂは、本開示の様々な実施形態による遠隔で波形を見る例を示す。
【図19C】 図１９Ｃは、本開示の様々な実施形態による遠隔で波形を見る例を示す。
【図20】 図２０は、本開示の様々な実施形態による、物理的なＤＵＴを見ながら同時にＤＵＴをプロービングして生成されるＲＦ測定値の仮想的なオーバーレイの例を示す。
【図21A】 図２１Ａは、本開示の様々な実施形態によるＡＲ環境で表示された仮想データの操作（例えば、ジェスチャによる）の例を示す。
【図21B】 図２１Ｂは、本開示の様々な実施形態によるＡＲ環境で表示された仮想データの操作（例えば、ジェスチャによる）の例を示す。
【図21C】 図２１Ｃは、本開示の様々な実施形態によるＡＲ環境で表示された仮想データの操作（例えば、ジェスチャによる）の例を示す。
【図21D】 図２１Ｄは、本開示の様々な実施形態によるＡＲ環境で表示された仮想データの操作（例えば、ジェスチャによる）の例を示す。
【図21E】 図２１Ｅは、本開示の様々な実施形態によるＡＲ環境で表示された仮想データの操作（例えば、ジェスチャによる）の例を示す。
【図21F】 図２１Ｆは、本開示の様々な実施形態によるＡＲ環境で表示された仮想データの操作（例えば、ジェスチャによる）の例を示す。
【図22】 図２２は、本開示の様々な実施形態による高度没入型表示を生じるアナログ／デジタル／ＲＦ波形を表す仮想３次元オブジェクトの例を示す。
【図23】 図２３は、ジェスチャに基づいてインタラクティブに試験測定装置を操作するためのシステムのブロック図である。

代表図 図1本件の代表的な図

全ての図面はログインすると無料で閲覧できます。ログイン・ユーザー登録

［広告欄］

ログインすれば広告は減ります

ログインすれば広告は減ります

Copyright © Science Impact Inc. All Rights Reserved.