技術分野
一般に、イメージングオーバレイ計測に関連し、特に、高調波検出率メトリックを用いる画像ベースの光信号の定量化に関連する。
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
レシピ選択のための現在の方法は、光学コントラストの使用、又は測定品質の異なる側面を測定焦点及び波長の関数として特徴付けるいくつかのメトリックの組み合わせ、のいずれかを使用することに依存している。これらのメトリックは正規化され、単一の融合スコアに結合される。レシピ選択の現在の方法には欠点がある。第1に、単一のスコアに結合されるメトリックの選択は主観的であり、どのメトリックを使用するか、そしてメトリックをどのように重み付けし、正規化するかに関するユーザの決定に依存する。第2に、メトリックが正規化されるため、レシピを区別するためのダイナミックレンジが制限される。これは、スコアの飽和と測定条件の曖昧さをもたらす。その結果、レシピ選択の現在の方法は、低品質又は不安定なレシピの選択を引き起こす場合がある。したがって、で特定されたような以前のアプローチの欠点を解決するためのシステム及び方法を提供することが望ましいであろう。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
計測システムが開示される。1つの実施形態では、システムは計測サブシステムに結合可能なコントローラを含み、コントローラはプログラム命令を実行するように構成された1つ以上のプロセッサを含む。1つの実施形態では、1つ以上のプロセッサは、サンプル上に配置された第1の計測ターゲットの複数の画像信号を計測サブシステムから受信するように構成される。別の実施形態では、1つ以上のプロセッサは、複数の高調波検出・・・ 続きを
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
本開示の多くの利点は、添付の図面を参照することにより、当業者によってよりよく理解され得る。
【図1A】
本開示の1つ以上の実施形態による、高調波検出率に基づくレシピ選択を備える画像ベースの光学計測システムの概念図である。
【図1B】
本開示の1つ以上の実施形態による、画像ベースの光学計測システムのブロック図である。
【図2】
本開示の1つ以上の実施形態による、照明波長及び焦点の関数として表示される高調波検出率メトリックを示す等高線プロットである。
【図3】
本開示の1つ以上の実施形態による、高調波検出率に基づくレシピ選択の方法を示す流れ図である。
【図4】
本開示の1つ以上の実施形態による、高調波検出率メトリックを介したキャリブレーション用に構成された複数の計測サブシステムを含むシステムのブロック図である。
【図5】
本開示の1つ以上の実施形態による、計測サブシステム/ツールを、高調波検出率メトリックを用いて較正する方法を示す流れ図である。
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