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特許 7446008出願番号 特願 2022-511661
粒子の屈折率計測方法
出願人 独立行政法人産業技術総合研究所（識別番号 301021533）
2026年 特許公開件数ランキング 178位 245件（※）
2026年 特許取得件数ランキング 151位 244件（※）
公報発行日 2024年3月8
公報URL https://ipforce.jp/patent-jp-P_B1-7446008 ログイン済みの方はこのURLへ
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※ 共同出願を含む
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技術分野
分散媒中をブラウン運動するような微小な粒子の屈折率を計測する方法
発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋
上述のように、分散媒中の粒子の屈折率を計測するには、式１の左辺と右辺との間の比例係数と、入射レーザ光強度Ｉ０を特定する必要がある。しかしながら、この比例係数は粒子を観察する光学系の開口数、対物レンズの倍率、カメラの感度など、多くの変数に依存し、予め見積もっておくことは困難である。また、空気中であればＩ０はレーザビームプロファイラ等により測定可能であるが、分散媒中では測定が困難である。
課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋
本発明者らは、したような比例係数と入射レーザ光強度Ｉ０とは同一光学系下であればともに不変であることに注目し、これらを既知の屈折率を持つ基準となる粒子（以下、「基準粒子」という。）の散乱光強度Ｉから見積もることに着想した。
この特許の権利範囲[特許請求の範囲]
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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋
【図1】
本発明の実施の形態に係る粒子屈折率計測方法に用いる装置のブロック図である。
【図2】
粒子屈折率計測方法の１つの実施例の手順を示すフロー図である。
【図3】
粒子屈折率計測方法の画像解析工程で用いられる連続画像の模式図である。
【図4】
粒子屈折率計測方法の実施例の画像解析工程における粒子の輝点についての光強度の測定結果を示す累積分布図である。
代表図 図1本件の代表的な図
１ 光学セル
２ レーザ照射部
２Ｌ レーザ光
３ 撮像装置
４ 処理装置
４１ 画像解析部
４２ 粒子情報解析部
４３ データ記憶部
１０１ 粒子
１０２ 分散媒
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