特許7478420IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

3次元測定装置及び受光装置

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

非特許文献1に開示されているSPIでは、各々のフォトディテクタの単一画素からなる受光部で出射光全体を受光するために、光波の伝搬方向において4つのフォトディテクタを被測定物体から離し、且つ投影用のレンズと同じ面内でフォトディテクタの受光角度を考慮した間隔で互いに離して配置する必要がある。したがって、非特許文献1に開示されているSPIでは、複数の受光部を配置する全体スペースが拡がるという課題があった。非特許文献2に開示されているSPIでは、照射装置の高速化及び小型化が図られる一方で、2次元イメージングに限られるという課題があった。そのため、所定のパターンで空間変調されるとともに被測定物体の情報を含む光波を受光して被測定物体の3次元イメージングを実現する省スペース型の受光装置及び当該受光装置を備えた3次元測定装置が求められていた。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明に係る3次元測定装置は、被測定物体の照射領域に対して前記照射領域内で所定の変調パターンで空間変調された照射光を照射する照射装置と、前記照射光が照射された前記被測定物体から出射されるとともに前記照射領域における前記被測定物体の情報を含む出射光を受光可能な複数のコアを有する第1マルチコアファイバと、前記2つ以上のコアの各々が受光した前記複数回の出射光の光学情報及び前記複数回の照射光の光学情・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明によれば、被測定物体からの出射波を受光して被測定物体の3次元イメージングを実現し、且つ省スペース型の3次元測定装置及び受光装置を提供できる。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明に係る第1実施形態の3次元測定装置の模式図である。
【図2】 図1に示す3次元測定装置のMCFの入射端面を見たときの側面図である。
【図3】 図1に示す3次元測定装置のMCFの出射端面を見たときの側面図である。
【図4】 図1に示す3次元測定装置のMCFの各コアの位相を示す模式図である。
【図5】 図1に示す3次元測定装置における受光の様子を説明するための模式図である。
【図6】 図1に示す3次元測定装置における受光の様子を説明するための模式図である。
【図7】 本発明に係る第2実施形態の3次元測定装置の模式図である。
【図8】 図7に示す3次元測定装置における受光の様子を説明するための模式図である。
【図9】 本発明に係る第3実施形態の3次元測定装置の模式図である。
【図10】 図9に示す3次元測定装置の空間変調器の変調面を正面視したときの模式図である。
【図11】 図9に示す3次元測定装置おける受光の様子を説明するための模式図である。

代表図 図1本件の代表的な図

201、202、203 3次元測定装置 211、212、213 照射装置 221、222 受光装置

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