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(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-05-01
(45)【発行日】2024-05-13
(54)【発明の名称】ジッタ発生装置
(51)【国際特許分類】
H04L 25/03 20060101AFI20240502BHJP
H04L 25/02 20060101ALI20240502BHJP
【ＦＩ】
H04L25/03 C
H04L25/02 V
【請求項の数】
5
(21)【出願番号】P 2020063223
(22)【出願日】2020-03-31
(65)【公開番号】P2021164039
(43)【公開日】2021-10-11
【審査請求日】2023-02-01
(73)【特許権者】
【識別番号】000004352
【氏名又は名称】日本放送協会
(74)【代理人】
【識別番号】100121119
【弁理士】
【氏名又は名称】花村 泰伸
(72)【発明者】
【氏名】中村 友洋
【審査官】北村 智彦
(56)【参考文献】
【文献】特開２０１２－０３９５６７（ＪＰ，Ａ）
【文献】米国特許出願公開第２００９／０３０４０５４（ＵＳ，Ａ１）
【文献】米国特許出願公開第２０１４／００９８８４３（ＵＳ，Ａ１）
【文献】特開２００９－０４２２３１（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２００５－１８１３２５（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２００９－２３９３６１（ＪＰ，Ａ）
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｈ０４Ｌ ２５／０３
Ｈ０４Ｌ ２５／０２
ＩＥＥＥ Ｘｐｌｏｒｅ
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
確定的ジッタが付加された信号を生成して出力するジッタ発生装置において、前記信号に付加される前記確定的ジッタの量をジッタ量とし、前記ジッタ量と複数のジッタパラメータの組み合わせとの間の関係が定義された規則をジッタパラメータ規則として、
ユーザー操作に従い所望の前記ジッタ量を入力し、前記ジッタパラメータ規則を用いて、前記ジッタ量を前記複数のジッタパラメータの組み合わせに変換し、前記複数のジッタパラメータの組み合わせを出力するジッタパラメータ処理部と、
前記ジッタパラメータ処理部により出力された前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる第１のジッタパラメータに基づいて、所定のリップルを有するＤＣ電圧を生成すると共に、クロックを生成する電源及びクロック生成部と、
前記電源及びクロック生成部により生成された前記ＤＣ電圧及び前記クロックに従い動作すると共に、前記ジッタパラメータ処理部により出力された前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる第２のジッタパラメータに基づいて、前記確定的ジッタが付加される前記信号に対してエンファシスフィルタによるフィルタ処理を施し、前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる第３のジッタパラメータに基づいて、前記フィルタ処理が施された前記信号から差動信号を生成する物理媒体接続部と、を備え、
前記物理媒体接続部により生成された前記差動信号を、前記確定的ジッタが付加された前記信号として出力する、ことを特徴とするジッタ発生装置。
【請求項2】
請求項１に記載のジッタ発生装置において、前記ジッタパラメータ処理部がユーザー操作に従い入力する所望の前記ジッタ量を、予め設定されたジッタ量範囲内における最小のジッタ量とし、前記第１のジッタパラメータをスイッチング周波数とし、前記第２のジッタパラメータを前記エンファシスフィルタのゲインとし、前記第３のジッタパラメータを前記差動信号の振幅値として、前記物理媒体接続部により生成された前記差動信号を、前記最小のジッタ量の前記確定的ジッタが付加された前記信号として出力する、ことを特徴とするジッタ発生装置。
【請求項3】
請求項１に記載のジッタ発生装置において、さらに、分配部及び処理表示部を備え、
前記分配部は、
前記確定的ジッタが付加された前記信号を分配して前記処理表示部に出力すると共に、ジッタ耐性を測定する被測定機器に出力し、
前記処理表示部は、
前記確定的ジッタが付加された前記信号に基づいて、ＣＲＣエラー回数及びＢＥＲを求め、前記ジッタパラメータ処理部により順次変化する前記ジッタ量が入力された場合に、順次変化する前記ジッタ量毎に、前記ジッタ量に対応する前記複数のジッタパラメータの組み合わせのうちの一部または全部、前記ＣＲＣエラー回数及び前記ＢＥＲを画面表示する、ことを特徴とするジッタ発生装置。
【請求項4】
請求項１に記載のジッタ発生装置において、前記物理媒体接続部の前記エンファシスフィルタをアナログフィルタとし、
前記ジッタパラメータ処理部は、
入力した前記ジッタ量が前記ジッタパラメータ規則に定義されていない場合、前記ジッタパラメータ規則に定義された前記複数のジッタパラメータの組み合わせを用いた内挿または外挿により、前記ジッタ量に対応する前記複数のジッタパラメータの組み合わせを特定し、
前記電源及びクロック生成部は、
前記ジッタパラメータ処理部により特定された前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる前記第１のジッタパラメータに基づいて、前記ＤＣ電圧を生成すると共に、前記クロックを生成し、
前記物理媒体接続部は、
前記ジッタパラメータ処理部により特定された前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる前記第２のジッタパラメータに基づいて、前記フィルタ処理を施し、前記ジッタパラメータ処理部により特定された前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる前記第３のジッタパラメータに基づいて、前記差動信号を生成する、ことを特徴とするジッタ発生装置。
【請求項5】
請求項１に記載のジッタ発生装置において、前記ジッタパラメータ処理部は、
前記ユーザー操作に従い前記ジッタ量を入力すると共に、前記信号に付加される前記確定的ジッタの種類をジッタ種類として入力し、前記ジッタパラメータ規則を用いて、前記ジッタ量を前記複数のジッタパラメータの組み合わせに変換し、
予め設定された区別規則に従い、前記ジッタ種類に応じて、前記複数のジッタパラメータの組み合わせを固定パラメータ及び可変パラメータに区別し、前記固定パラメータを固定値として出力し、予め設定された順次変化規則に従い、前記可変パラメータを時間の変化と共に順次変化する可変値として出力し、
当該ジッタ発生装置は、前記固定パラメータ及び前記可変パラメータに応じて生成された前記差動信号を、前記ジッタ種類の前記確定的ジッタが付加された前記信号として出力する、ことを特徴とするジッタ発生装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、所望のジッタが付加された信号を出力するジッタ発生装置に関する。
【背景技術】
【0002】
従来、放送局で使用されている４Ｋまたは８Ｋ用非圧縮映像インターフェースにおいて、８Ｋ解像度、ＲＧＢ４４４、ハイフレームレート、広色域及び１２ビット階調に対応した映像信号を伝送するために、Ｕ－ＳＤＩ（Ultrahigh-definition Signal/Data Interface）が使用されている（例えば特許文献１を参照）。
【0003】
Ｕ－ＳＤＩに対応したスイッチャー、モニター等の信号処理機器では、ＦＰＧＡ（Field Programmable Gate Array）等の信号処理部品と当該機器外部との間の信号伝送のために、一般に電気／光変換器が用いられる。
【0004】
しかしながら、電気信号は、基板の配線による減衰等の影響を受けるため、機器内部ではジッタが発生する。このジッタの発生が原因となって、信号処理機器は、Ｕ－ＳＤＩに対応した受信特性を満足することができず、映像データ、アンシラリーデータ、タイミング基準コード等が変化してしまう。このため、異なる機器間の信号伝送が不可能となる問題、アイマスクテストに合格しないという問題等が生じる。
【0005】
一般に、Ｕ－ＳＤＩの入力インターフェースを備えた被測定機器のジッタ耐性は、ジッタ量により測定することができる。具体的には、ＢＥＲＴ（Bit Error Rate Tester：ビットエラーレートテスター）等のジッタ源が、ジッタ量を徐々に変化させた信号を被測定機器へ送出することで、ジッタ源と被測定機器との間の信号伝送が不可能となったときのジッタ量が測定される。以下、ジッタ源を「ジッタ発生装置」という。
【0006】
このジッタ量は、例えばジッタ発生装置に備えたエンファシスフィルタのフィルタ係数を操作することにより、変化させることができる（例えば特許文献２，３を参照）。また、ジッタ量は、電気／光変換器に入力される差動信号の振幅値を操作することにより変化させることができる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0007】
【文献】特許第５７４４３３７号公報
【文献】特開２０１２－５００６９号公報
【文献】特開２００９－１８２９６８号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0008】
しかしながら、Ｕ－ＳＤＩ信号の周波数は５ＧＨｚ帯以上であるため、ジッタ発生装置に備えたエンファシスフィルタのフィルタ係数または差動信号の振幅値のみを操作したとしても、基板上の配線の減衰特性により、ジッタ量が十分に変化しないことがある。つまり、従来の手法では、ジッタは、Ｕ－ＳＤＩ信号の１ＵＩ（ユニットインターバル）に対して僅かな量しか変化しないことがあり、被測定機器のジッタ耐性を適切に測定することができないという問題があった。
【0009】
これは、ジッタ発生装置に備えた電気／光変換器の入出力特性、Ｕ－ＳＤＩ信号を生成する構成部（後述する１０Ｇリンク信号生成部１４）等が使用するクロック、当該構成部に供給される電源の電圧特性等が原因である。
【0010】
つまり、従来の手法においてジッタが僅かな量しか変化しないのは、ジッタのコンポーネントの１つである確定的ジッタの量が、差動信号の振幅値、エンファシスフィルタのゲイン、電源のリップル、スイッチング周波数等のパラメータに対して複合的に依存するためである。
【0011】
図１３は、差動信号の振幅値を変化させた場合のジッタ量の測定結果の一例を示す図である。（１）は、ポストエンファシスフィルタのゲインが０ｄＢの場合を示し、（２）は、ポストエンファシスフィルタのゲインが８．５ｄＢの場合を示す。ａはトータルジッタの量Ｔｊ（ｐｓ）、ｂは確定的ジッタの量Ｄｊ（ｐｓ）、ｃはランダムジッタの量Ｒｊ（ｐｓ）をそれぞれ示す。
【0012】
横軸は差動信号の振幅値（ｍＶｐｐ）を示し、縦軸は、トータルジッタの量Ｔｊ（ｐｓ）、確定的ジッタの量Ｄｊ（ｐｓ）及びランダムジッタの量Ｒｊ（ｐｓ）を示す。トータルジッタの量Ｔｊは、確定的ジッタの量Ｄｊと、ランダムジッタの量Ｒｊに所定の係数を乗算したものとの和である。所定の係数は、推定するＢＥＲ（Bit Error Rate：ビットエラーレート）により決定され、ＢＥＲ＝１×１０-12の場合は１４．０６９である。一般に、確定的ジッタは基板の配線設計等により決定され、ランダムジッタは熱雑音等が原因で決定される。
【0013】
図１３（１）（２）から、トータルジッタの量Ｔｊ、確定的ジッタの量Ｄｊ及びランダムジッタの量Ｒｊのそれぞれは、差動信号の振幅値に依存して変化することがわかる。
【0014】
図１４は、ポストエンファシスフィルタのゲインを変化させた場合のジッタ量の測定結果の一例を示す図であり、差動信号の振幅値が４６０ｍＶｐｐの場合を示している。ａはトータルジッタの量Ｔｊ（ｐｓ）、ｂは確定的ジッタの量Ｄｊ（ｐｓ）、ｃはランダムジッタの量Ｒｊ（ｐｓ）をそれぞれ示す。
【0015】
横軸は、ポストエンファシスフィルタのゲイン（ｄＢ）を示し、縦軸は、トータルジッタの量Ｔｊ（ｐｓ）、確定的ジッタの量Ｄｊ（ｐｓ）及びランダムジッタの量Ｒｊ（ｐｓ）を示す。
【0016】
図１４から、トータルジッタの量Ｔｊ、確定的ジッタの量Ｄｊ及びランダムジッタの量Ｒｊのそれぞれは、ポストエンファシスフィルタのゲインに依存して変化することがわかる。
【0017】
また、Ｕ－ＳＤＩの入力インターフェースを備えたピクチャーモニター等の被測定機器についてジッタ耐性試験を実施する場合、従来のＢＥＲＴをジッタ発生装置としてそのまま使用すると、ジッタ耐性を測定することができない。これは、従来のＢＥＲＴがＵ－ＳＤＩに対応していないため、被測定機器は、ＢＥＲＴから送出された信号をＵ－ＳＤＩ信号として認識することができず、ユーザーは、正しく信号伝送されているか否かを視覚的に確認できないからである。
【0018】
このように、従来のジッタ発生装置は、僅かな量の確定的ジッタしか発生させることができないため、ジッタ発生装置として十分に機能していないという問題があった。また、従来のジッタ発生装置は、Ｕ－ＳＤＩに対応した被測定機器のジッタ耐性試験に使用するのが困難であるという問題があった。
【0019】
そこで、本発明は前記課題を解決するためになされたものであり、その目的は、所望の確定的ジッタを付加した信号を生成して出力可能なジッタ発生装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0020】
前記課題を解決するために、請求項１のジッタ発生装置は、確定的ジッタが付加された信号を生成して出力するジッタ発生装置において、前記信号に付加される前記確定的ジッタの量をジッタ量とし、前記ジッタ量と複数のジッタパラメータの組み合わせとの間の関係が定義された規則をジッタパラメータ規則として、ユーザー操作に従い所望の前記ジッタ量を入力し、前記ジッタパラメータ規則を用いて、前記ジッタ量を前記複数のジッタパラメータの組み合わせに変換し、前記複数のジッタパラメータの組み合わせを出力するジッタパラメータ処理部と、前記ジッタパラメータ処理部により出力された前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる第１のジッタパラメータに基づいて、所定のリップルを有するＤＣ電圧を生成すると共に、クロックを生成する電源及びクロック生成部と、前記電源及びクロック生成部により生成された前記ＤＣ電圧及び前記クロックに従い動作すると共に、前記ジッタパラメータ処理部により出力された前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる第２のジッタパラメータに基づいて、前記確定的ジッタが付加される前記信号に対してエンファシスフィルタによるフィルタ処理を施し、前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる第３のジッタパラメータに基づいて、前記フィルタ処理が施された前記信号から差動信号を生成する物理媒体接続部と、を備え、前記物理媒体接続部により生成された前記差動信号を、前記確定的ジッタが付加された前記信号として出力する、ことを特徴とする。
【0021】
また、請求項２のジッタ発生装置は、請求項１に記載のジッタ発生装置において、前記ジッタパラメータ処理部がユーザー操作に従い入力する所望の前記ジッタ量を、予め設定されたジッタ量範囲内における最小のジッタ量とし、前記第１のジッタパラメータをスイッチング周波数とし、前記第２のジッタパラメータを前記エンファシスフィルタのゲインとし、前記第３のジッタパラメータを前記差動信号の振幅値として、前記物理媒体接続部により生成された前記差動信号を、前記最小のジッタ量の前記確定的ジッタが付加された前記信号として出力する、ことを特徴とする。
【0022】
また、請求項３のジッタ発生装置は、請求項１に記載のジッタ発生装置において、さらに、分配部及び処理表示部を備え、前記分配部が、前記確定的ジッタが付加された前記信号を分配して前記処理表示部に出力すると共に、ジッタ耐性を測定する被測定機器に出力し、前記処理表示部が、前記確定的ジッタが付加された前記信号に基づいて、ＣＲＣエラー回数及びＢＥＲを求め、前記ジッタパラメータ処理部により順次変化する前記ジッタ量が入力された場合に、順次変化する前記ジッタ量毎に、前記ジッタ量に対応する前記複数のジッタパラメータの組み合わせのうちの一部または全部、前記ＣＲＣエラー回数及び前記ＢＥＲを画面表示する、ことを特徴とする。
【0023】
また、請求項４のジッタ発生装置は、請求項１に記載のジッタ発生装置において、前記物理媒体接続部の前記エンファシスフィルタをアナログフィルタとし、前記ジッタパラメータ処理部が、入力した前記ジッタ量が前記ジッタパラメータ規則に定義されていない場合、前記ジッタパラメータ規則に定義された前記複数のジッタパラメータの組み合わせを用いた内挿または外挿により、前記ジッタ量に対応する前記複数のジッタパラメータの組み合わせを特定し、前記電源及びクロック生成部が、前記ジッタパラメータ処理部により特定された前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる前記第１のジッタパラメータに基づいて、前記ＤＣ電圧を生成すると共に、前記クロックを生成し、前記物理媒体接続部が、前記ジッタパラメータ処理部により特定された前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる前記第２のジッタパラメータに基づいて、前記フィルタ処理を施し、前記ジッタパラメータ処理部により特定された前記複数のジッタパラメータの組み合わせに含まれる前記第３のジッタパラメータに基づいて、前記差動信号を生成する、ことを特徴とする。
【0024】
また、請求項５のジッタ発生装置は、請求項１に記載のジッタ発生装置において、前記ジッタパラメータ処理部が、前記ユーザー操作に従い前記ジッタ量を入力すると共に、前記信号に付加される前記確定的ジッタの種類をジッタ種類として入力し、前記ジッタパラメータ規則を用いて、前記ジッタ量を前記複数のジッタパラメータの組み合わせに変換し、予め設定された区別規則に従い、前記ジッタ種類に応じて、前記複数のジッタパラメータの組み合わせを固定パラメータ及び可変パラメータに区別し、前記固定パラメータを固定値として出力し、予め設定された順次変化規則に従い、前記可変パラメータを時間の変化と共に順次変化する可変値として出力し、当該ジッタ発生装置が、前記固定パラメータ及び前記可変パラメータに応じて生成された前記差動信号を、前記ジッタ種類の前記確定的ジッタが付加された前記信号として出力する、ことを特徴とする。
【発明の効果】
【0025】
以上のように、本発明によれば、所望の確定的ジッタを付加した信号を生成して出力することができる。
【図面の簡単な説明】
【0026】
【図1】ジッタ発生装置の基本構成例を示すブロック図である。
【図2】ジッタパラメータ処理部の処理例を示すフローチャートである。
【図3】テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４の構成例を示す図である。
【図4】物理媒体接続部の構成例を示すブロック図である。
【図5】実施例１のジッタ発生装置の構成例を示すブロック図である。
【図6】実施例２のジッタ発生装置の構成例を示すブロック図である。
【図7】処理表示部の表示例を示す図である。
【図8】処理表示部の他の表示例を示す図である。
【図9】実施例３のジッタ発生装置の構成例を示すブロック図である。
【図10】実施例４のジッタ発生装置の構成例を示すブロック図である。
【図11】実施例４におけるジッタパラメータ処理部の処理例（周期ジッタの場合）を示すフローチャートである。
【図12】実施例４におけるジッタパラメータ処理部の処理例（基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタの場合）を示すフローチャートである。
【図13】差動信号の振幅値を変化させた場合のジッタ量の測定結果の一例を示す図である。
【図14】ポストエンファシスフィルタのゲインを変化させた場合のジッタ量の測定結果の一例を示す図である。
【発明を実施するための形態】
【0027】
以下、本発明を実施するための形態について図面を用いて詳細に説明する。本発明は、予め設定された規則に従い、所望の確定的ジッタの量からジッタパラメータを求め、ジッタパラメータに基づいて、所望の確定的ジッタを付加した信号を生成することを特徴とする。これにより、所望の確定的ジッタを付加した信号を生成して出力することができる。
【0028】
〔ジッタ発生装置〕
まず、ジッタ発生装置の基本的な構成及び処理について説明する。図１は、ジッタ発生装置の基本構成例を示すブロック図であり、後述する実施例１～４の前提となるものである。
まず、ジッタ発生装置の基本的な構成及び処理について説明する。図１は、ジッタ発生装置の基本構成例を示すブロック図であり、後述する実施例１～４の前提となるものである。
【0029】
このジッタ発生装置１は、ジッタパラメータ処理部１０、電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２、クロック生成部１３、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４、物理媒体接続部１５及び電気／光変換器１６を備えている。電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２及びクロック生成部１３により、電源及びクロック生成部が構成される。ジッタ発生装置１は、確定的ジッタの量Ｊ（以下、「ジッタ量Ｊ」という。）を入力し、ジッタ量Ｊが付加された１０Ｇリンク信号を生成して出力する。
【0030】
ジッタパラメータ処理部１０は、予め設定された２４個のテーブルＴ１，・・・，Ｔ２４を備えている。テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４の詳細については後述する。
【0031】
ジッタパラメータ処理部１０は、ユーザー操作に従い、ユーザーが所望するジッタ量Ｊを入力する。このジッタ量Ｊは、当該ジッタ発生装置１が出力する光の１０Ｇリンク信号に付加される確定的ジッタの量である。
【0032】
ジッタパラメータ処理部１０は、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４を用いて、入力したジッタ量Ｊを、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４に対応した２４系統のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせに変換する。すなわち、ジッタパラメータ処理部１０は、ジッタ量Ｊに対応する系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせを、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４の逆関数Ｊ-1（ｘ1，・・・，ｘn）として求める。ｎはジッタパラメータの数を示し、正の整数である。
【0033】
ここで、テーブルＴ１は、第１系統のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn、１０Ｇリンク信号生成部１４－１、第１系統の電気の１０Ｇリンク信号、及び物理媒体接続部１５における第１系統の構成に対応する。また、テーブルＴ１は、第１系統の差動信号、電気／光変換器１６における第１系統の構成、及び第１系統の光の１０Ｇリンク信号に対応する。
【0034】
同様に、テーブルＴ２，・・・，Ｔ２４は、それぞれ第２，・・・２４系統のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn、１０Ｇリンク信号生成部１４－２，・・・，１４－２４、第２，・・・，２４系統の電気の１０Ｇリンク信号等にそれぞれ対応する。
【0035】
ジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnは、１０Ｇリンク信号に所望のジッタ量Ｊを付加するためのパラメータであり、ジッタ量Ｊ及び系統に応じて異なる値をとる。ジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnのうち、ジッタパラメータｘ1は差動信号の振幅値とする。また、ジッタパラメータｘ2はプリエンファシスフィルタのゲイン、ジッタパラメータｘ3はポストエンファシスフィルタのゲイン、ジッタパラメータｘnはスイッチング周波数とする。
【0036】
ジッタパラメータ処理部１０は、系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn-1を物理媒体接続部１５に出力すると共に、系統毎のジッタパラメータｘnを電源制御部１１に出力する。
【0037】
これにより、系統毎のジッタパラメータｘ1である差動信号の振幅値、ジッタパラメータｘ2であるプリエンファシスフィルタのゲイン及びジッタパラメータｘ3であるポストエンファシスフィルタのゲイン等が物理媒体接続部１５に出力される。
【0038】
また、系統毎のジッタパラメータｘnであるスイッチング周波数が電源制御部１１に出力され、スイッチングレギュレーター１２において後述する所定のリップルを有するＤＣ電圧（直流電圧）が生成される。また、クロック生成部１３においてクロックが生成される。
【0039】
図２は、ジッタパラメータ処理部１０の処理例を示すフローチャートであり、図３は、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４の構成例を示す図である。ジッタパラメータ処理部１０は、ユーザー操作に従い、ジッタ量Ｊを入力する（ステップＳ２０１）。
【0040】
ジッタパラメータ処理部１０は、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４から、ジッタ量Ｊに対応する系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせを読み出す（ステップＳ２０２）。
【0041】
図３を参照して、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４（以下、総称して「テーブルＴ」という。）は、ジッタ量Ｊ（Ｊ1，Ｊ2，・・・）、及び当該ジッタ量Ｊに対応するジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせにより構成される。ジッタパラメータｘ1は、差動信号の振幅値であり、ジッタパラメータｘ2は、プリエンファシスフィルタのゲインであり、ジッタパラメータｘ3は、ポストエンファシスフィルタのゲインである。また、ジッタパラメータｘnは、スイッチング周波数である。
【0042】
テーブルＴは、電気／光変換器１６における系統の個体毎、すなわち第１，・・・，２４の系統毎にユーザーにより予め設定され、ジッタ量Ｊをジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせに変換するための規則が定義されている。つまり、テーブルＴには、ジッタ量Ｊとジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせとの間の関係が定義されている。
【0043】
テーブルＴは、例えば１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４が出力する１０Ｇリンク信号の代わりに疑似ランダム信号（ＰＲＢＳ：Pseudo Random Bit Sequence）を用いて、電気／光変換器１６が出力する光の１０Ｇリンク信号を測定することにより、ジッタ量Ｊとジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせとの間の関係が定義される。
【0044】
ジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせは、テーブルＴについて個別に設定され、また、ジッタ量Ｊに対応して設定される。つまり、同一のジッタ量Ｊに対応するジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせが、系統毎（テーブルＴ毎）に異なることもある。
【0045】
ジッタパラメータ処理部１０により、テーブルＴのそれぞれについて、ジッタ量Ｊに対応するジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせが系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせとして読み出される。
【0046】
尚、ジッタパラメータ処理部１０は、ステップＳ２０２において、テーブルＴに、入力したジッタ量Ｊが設定されていない場合、テーブルＴに設定されているジッタ量Ｊのうち、入力したジッタ量Ｊに最も近い値を特定する。そして、ジッタパラメータ処理部１０は、テーブルＴから、特定した値（ジッタ量Ｊ）に対応するジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを読み出す。
【0047】
また、ジッタパラメータ処理部１０は、ステップＳ２０２において、内挿または外挿により、ジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを求めるようにしてもよい。例えば、ジッタパラメータ処理部１０は、テーブルＴに設定されたジッタ量Ｊ1，Ｊ2，・・・のうち、入力したジッタ量Ｊに近い複数のジッタ量Ｊm，・・を特定する。そして、ジッタパラメータ処理部１０は、テーブルＴから、複数のジッタ量Ｊm，・・に対応するジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnをそれぞれ読み出し、内挿または外挿により、入力したジッタ量Ｊに対応するジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを求める。
【0048】
図２に戻って、ジッタパラメータ処理部１０は、系統毎のジッタパラメータｘ1（差動信号の振幅値），ｘ2（プリエンファシスフィルタのゲイン），ｘ3（ポストエンファシスフィルタのゲイン），・・・，ｘn-1を物理媒体接続部１５に出力する（ステップＳ２０３）。また、ジッタパラメータ処理部１０は、系統毎のジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）を電源制御部１１に出力する（ステップＳ２０４）。
【0049】
図１に戻って、電源制御部１１は、ジッタパラメータ処理部１０から系統毎のジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）を入力する。そして、電源制御部１１は、スイッチングレギュレーター１２が出力するＤＣ電圧及びクロック生成部１３が出力するクロックを制御するために、所定の規則に従い、系統毎のジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）を１系統の電圧（値）に変換する。
【0050】
例えば、電源制御部１１は、系統毎のジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）を平均化し、所定の規則に従い、スイッチング周波数の平均値を１系統の電圧に変換する。電源制御部１１は、変換した電圧をスイッチングレギュレーター１２及びクロック生成部１３に出力する。
【0051】
系統毎のまたは平均化したジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）を１系統の電圧に変換する規則は、電圧からジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）に対応するＤＣ電圧及びクロックが、スイッチングレギュレーター１２及びクロック生成部１３において生成されるように、予め設定される。
【0052】
スイッチングレギュレーター１２は、電源制御部１１から電圧を入力する。そして、スイッチングレギュレーター１２は、既知の手法を用いて、当該電圧に対応するリップルを有するＤＣ電圧を生成し、ＤＣ電圧を１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４、物理媒体接続部１５及び電気／光変換器１６に出力する。
【0053】
これにより、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４、物理媒体接続部１５及び電気／光変換器１６は、ジッタ量Ｊに対応する系統毎のスイッチング周波数が反映されたリップルを有する単一のＤＣ電圧に従って動作することとなる。
【0054】
クロック生成部１３は、電源制御部１１から電圧を入力する。そして、クロック生成部１３は、既知の手法を用いて、当該電圧に対応するクロックを生成し、クロックを１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４及び物理媒体接続部１５に出力する。
【0055】
これにより、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４及び物理媒体接続部１５は、ジッタ量Ｊに対応する系統毎のスイッチング周波数が反映された単一のクロックに従って動作することとなる。
【0056】
１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４（以下、総称して「１０Ｇリンク信号生成部１４」という。）は、スイッチングレギュレーター１２からＤＣ電圧の電源が供給され、クロック生成部１３からクロックを入力し、これらのＤＣ電圧の電源及びクロックに従い動作する。
【0057】
１０Ｇリンク信号生成部１４は、１０Ｇリンク信号である映像信号のフレーム周波数が１２０Ｈｚの場合、２系統の基本ストリームに対し多重化処理を施し、多重化したデータに対しバイト化による整列処理を施す。そして、１０Ｇリンク信号生成部１４は、整列処理後のデータに対して８Ｂ ／１０Ｂ符号化処理を施し、１０Ｇリンク信号を生成する。
【0058】
一方、１０Ｇリンク信号生成部１４は、１０Ｇリンク信号である映像信号のフレーム周波数が６０Ｈｚの場合、４系統の基本ストリームに対し多重化処理を施し、前述と同様の処理を行い、１０Ｇリンク信号を生成する。そして、１０Ｇリンク信号生成部１４は、生成した系統毎の１０Ｇリンク信号を物理媒体接続部１５に出力する。尚、１０Ｇリンク信号生成部１４の処理の詳細については、前述の特許文献１を参照されたい。
【0059】
１０Ｇリンク信号は、Ｕ－ＳＤＩに従った信号として１０Ｇリンク信号生成部１４から物理媒体接続部１５へ出力される。
【0060】
物理媒体接続部１５は、スイッチングレギュレーター１２からＤＣ電圧の電源が供給され、クロック生成部１３からクロックを入力し、これらのＤＣ電圧の電源及びクロックに従い動作する。
【0061】
物理媒体接続部１５は、第１，・・・，２４系統のそれぞれについての構成部を備えている。物理媒体接続部１５は、１０Ｇリンク信号生成部１４から系統毎の１０Ｇリンク信号を入力すると共に、ジッタパラメータ処理部１０から系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn-1を入力する。
【0062】
物理媒体接続部１５は、系統毎に、１０Ｇリンク信号に対してジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn-1に基づいた所定の処理を行うことで、１０Ｇリンク信号にジッタ量Ｊを付加する。そして、物理媒体接続部１５は、系統毎に、ジッタ量Ｊが付加された差動信号を生成し、系統毎の差動信号を電気／光変換器１６に出力する。
【0063】
図４は、物理媒体接続部１５の構成例を示すブロック図である。この物理媒体接続部１５は、第１系統についてエンファシス回路２０－１及び差動信号ドライバ２１－１を備え、第２，・・・，２４系統のそれぞれについても同様の構成をなしている。
【0064】
エンファシス回路２０－１は、スイッチングレギュレーター１２からＤＣ電圧の電源が供給され、クロック生成部１３からクロックを入力し、これらのＤＣ電圧の電源及びクロックに従い動作する。
【0065】
エンファシス回路２０－１は、１０Ｇリンク信号生成部１４－１から第１系統の１０Ｇリンク信号を入力すると共に、ジッタパラメータ処理部１０から第１系統のジッタパラメータｘ2（プリエンファシスフィルタのゲイン），ｘ3（ポストエンファシスフィルタのゲイン）を入力する。
【0066】
エンファシス回路２０－１は、プリエンファシスフィルタにおいて、１０Ｇリンク信号に対しジッタパラメータｘ2（プリエンファシスフィルタのゲイン）を用いたフィルタ処理を行う。また、エンファシス回路２０－１は、ポストエンファシスフィルタにおいて、１０Ｇリンク信号に対しジッタパラメータｘ3（ポストエンファシスフィルタのゲイン）を用いたフィルタ処理を行う。
【0067】
エンファシス回路２０－１は、第１系統のフィルタ処理が施された１０Ｇリンク信号を差動信号ドライバ２１－１に出力する。他の系統についても同様の処理が行われる。
【0068】
差動信号ドライバ２１－１は、スイッチングレギュレーター１２からＤＣ電圧の電源が供給され、クロック生成部１３からクロックを入力し、これらのＤＣ電圧の電源及びクロックに従い動作する。
【0069】
差動信号ドライバ２１－１は、エンファシス回路２０－１からフィルタ処理が施された１０Ｇリンク信号を入力すると共に、ジッタパラメータ処理部１０から第１系統のジッタパラメータｘ1（差動信号の振幅値）を入力する。
【0070】
差動信号ドライバ２１－１は、フィルタ処理が施された１０Ｇリンク信号を用いて、ジッタパラメータｘ1（差動信号の振幅値）の示す振幅値となるように差動信号を生成し、第１系統の差動信号を電気／光変換器１６に出力する。他の系統についても同様の処理が行われる。
【0071】
これにより、ジッタ量Ｊが付加された系統毎の差動信号が物理媒体接続部１５から電気／光変換器１６に出力される。尚、図４においては、他のジッタパラメータｘ4，・・・，ｘn-1を用いた処理は省略してある。
【0072】
図１に戻って、電気／光変換器１６は、スイッチングレギュレーター１２からＤＣ電圧の電源が供給され、ＤＣ電圧の電源に従い動作する。電気／光変換器１６は、第１，・・・，２４系統のそれぞれについての構成部を備えている。電気／光変換器１６は、物理媒体接続部１５から系統毎の差動信号を入力し、系統毎の差動信号の電気信号を系統毎の光信号に変換し、系統毎の光の１０Ｇリンク信号を出力する。
【0073】
これにより、ジッタ発生装置１から、ユーザー操作にて指定されたジッタ量Ｊが付加された系統毎の光の１０Ｇリンク信号が出力される。
【0074】
以上のように、図１に示したジッタ発生装置１によれば、ジッタパラメータ処理部１０は、予め設定されたテーブルＴ１，・・・，Ｔ２４を用いて、ユーザーが所望するジッタ量Ｊを系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせに変換する。
【0075】
電源及びクロック生成部（電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２及びクロック生成部１３）は、系統毎のジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）に基づいて、スイッチング周波数が反映されたリップルを有するＤＣ電圧を生成すると共に、クロックを生成する。
【0076】
物理媒体接続部１５は、電源及びクロック生成部により生成されたＤＣ電圧の電源及びクロックに従い動作する。物理媒体接続部１５は、系統毎に、１０Ｇリンク信号に対してジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn-1に基づいた所定の処理を行う。そして、物理媒体接続部１５は、ジッタ量Ｊを付加した差動信号を生成する。
【0077】
所定の処理は、例えばジッタパラメータｘ2（プリエンファシスフィルタのゲイン）に基づいたプリエンファシスフィルタの処理、ジッタパラメータｘ3（ポストエンファシスフィルタのゲイン）に基づいたポストエンファシスフィルタの処理、ジッタパラメータｘ1（差動信号の振幅値）に基づいた当該振幅値の差動信号を生成する処理である。
【0078】
電気／光変換器１６は、電源及びクロック生成部により生成されたＤＣ電圧の電源に従い動作する。電気／光変換器１６は、系統毎に、差動信号を光の１０Ｇリンク信号に変換し、ジッタ量Ｊが付加された光の１０Ｇリンク信号を出力する。
【0079】
これにより、確定的ジッタの量がユーザーの所望するジッタ量Ｊとなるように、光の１０Ｇリンク信号が生成される。したがって、所望の確定的ジッタを付加した信号を出力することができる。
【0080】
以下、本発明のジッタ発生装置１について、映像の１０Ｇリンク信号にジッタ量Ｊを付加する例として、実施例１～４を挙げて説明する。実施例１は、ジッタ量Ｊが最小となるように差動信号の振幅値等を調整し、最小量の確定的ジッタを付加した１０Ｇリンク信号を出力する例である。
【0081】
実施例２は、ジッタ発生装置１を、被測定機器のジッタ耐性を測定するためのテスト用信号を発生する装置として用いる場合の例である。より詳細には、実施例２は、ジッタ量が順次変化するように差動信号の振幅値等を調整し、順次変化する確定的ジッタを付加した１０Ｇリンク信号を出力する例である。
【0082】
実施例３は、実施例１，２において、プリエンファシスフィルタ及びポストエンファシスフィルタがアナログフィルタとして実装されている場合の例である。実施例４は、特定種類のジッタ（例えば、周期ジッタまたは基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタ）のみを付加した１０Ｇリンク信号を出力する例である。
【0083】
〔実施例１〕
まず、実施例１のジッタ発生装置１について説明する。前述のとおり、実施例１は、ジッタ量Ｊが最小となるように差動信号の振幅値等を調整し、最小量の確定的ジッタを付加した１０Ｇリンク信号を出力する例である。
まず、実施例１のジッタ発生装置１について説明する。前述のとおり、実施例１は、ジッタ量Ｊが最小となるように差動信号の振幅値等を調整し、最小量の確定的ジッタを付加した１０Ｇリンク信号を出力する例である。
【0084】
図５は、実施例１のジッタ発生装置１の構成例を示すブロック図である。このジッタ発生装置１ａは、ジッタパラメータ処理部１０、電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２、クロック生成部１３、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４、物理媒体接続部１５及び電気／光変換器１６を備えている。ジッタ発生装置１ａの構成は、図１に示したジッタ発生装置１と同じであるため、詳細な説明を省略する。
【0085】
ジッタ発生装置１ａのジッタパラメータ処理部１０は、最小のジッタ量Ｊ（ジッタ量Ｊmin）を入力し、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４を用いて、ジッタ量Ｊminを系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnに変換する。ジッタ量Ｊminは、ジッタ量Ｊの取り得る予め設定されたジッタ量範囲において、最小のジッタ量Ｊである。そして、ジッタ量Ｊminが変換されたジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnに基づいて、ＤＣ電圧及びクロックが生成され、差動信号が生成される。
【0086】
これにより、ジッタ発生装置１ａから、ユーザー操作にて指定されたジッタ量Ｊminが付加された系統毎の光の１０Ｇリンク信号が出力される。
【0087】
以上のように、実施例１のジッタ発生装置１ａによれば、確定的ジッタの量がユーザーの所望する最小のジッタ量Ｊ（＝Ｊmin）となるように、光の１０Ｇリンク信号が生成される。したがって、最小量の確定的ジッタを付加した信号を出力することができる。
【0088】
〔実施例２〕
次に、実施例２のジッタ発生装置について説明する。前述のとおり、実施例２は、ジッタ発生装置１を、被測定機器のジッタ耐性を測定するためのテスト用信号を発生する装置として用いる場合の例である。より詳細には、実施例２は、ジッタ量Ｊが順次変化するように差動信号の振幅値等を調整し、順次変化する確定的ジッタを付加した１０Ｇリンク信号を出力する例である。
次に、実施例２のジッタ発生装置について説明する。前述のとおり、実施例２は、ジッタ発生装置１を、被測定機器のジッタ耐性を測定するためのテスト用信号を発生する装置として用いる場合の例である。より詳細には、実施例２は、ジッタ量Ｊが順次変化するように差動信号の振幅値等を調整し、順次変化する確定的ジッタを付加した１０Ｇリンク信号を出力する例である。
【0089】
図６は、実施例２のジッタ発生装置の構成例を示すブロック図である。このジッタ発生装置１ｂは、ジッタパラメータ処理部１０、電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２、クロック生成部１３、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４、物理媒体接続部１５、電気／光変換器１６、分配部１７及び処理表示部１８を備えている。ジッタ発生装置１ｂは、被測定機器３０のジッタ耐性を測定するためのテスト用信号を生成する装置であり、順次変化する確定的ジッタを付加した系統毎の１０Ｇリンク信号を、テスト用信号として被測定機器３０へ出力する。
【0090】
図５に示した実施例１のジッタ発生装置１ａと図６に示す実施例２のジッタ発生装置１ｂとを比較すると、両ジッタ発生装置１ａ，１ｂは、ジッタパラメータ処理部１０、電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２、クロック生成部１３、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４、物理媒体接続部１５及び電気／光変換器１６を備えている点で共通する。
【0091】
一方、ジッタ発生装置１ｂは、ジッタ発生装置１ａの各構成部に加え、さらに分配部１７及び処理表示部１８を備えている点で、ジッタ発生装置１ａと相違する。
【0092】
【0093】
ジッタパラメータ処理部１０は、図５に示した実施例１と同様の処理を行う。実施例２では、ジッタパラメータ処理部１０は、ユーザー操作に従い、順次増加する（時間の経過と共に増加する）ジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）を入力する。Ｊ1＜・・・＜Ｊmである。尚、ジッタパラメータ処理部１０は、ユーザー操作に従い、順次減少するまたは順次変化するジッタ量Ｊを入力するようにしてもよい。
【0094】
ジッタパラメータ処理部１０は、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４を用いて、入力したジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）を系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnにそれぞれ変換する。
【0095】
ジッタパラメータ処理部１０は、ジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）に応じて順次変化する系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn-1を物理媒体接続部１５に出力すると共に、系統毎のジッタパラメータｘnを電源制御部１１に出力する。また、ジッタパラメータ処理部１０は、ジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）に応じて順次変化する系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを処理表示部１８に出力する。
【0096】
これにより、電気／光変換器１６から分配部１７へ、ユーザー操作にて指定されたジッタ量Ｊ（＝Ｊ1）が付加された系統毎の光の１０Ｇリンク信号が出力され、その後、ジッタ量Ｊ（＝Ｊ2）が付加された系統毎の光の１０Ｇリンク信号が出力される。さらに、ジッタ量Ｊ（＝Ｊ3，・・・，Ｊm）が付加された系統毎の光の１０Ｇリンク信号が順次出力される。
【0097】
分配部１７は、電気／光変換器１６からジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）が付加された系統毎の光の１０Ｇリンク信号を順次入力し、これらの光の１０Ｇリンク信号を分配する。そして、分配部１７は、ジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）が付加された系統毎の光の１０Ｇリンク信号を、処理表示部１８及び被測定機器３０に出力する。
【0098】
処理表示部１８は、分配部１７から、ジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）が付加された系統毎の光の１０Ｇリンク信号を順次入力すると共に、ユーザー操作によるジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）を順次入力する。また、処理表示部１８は、ジッタパラメータ処理部１０から、ジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）に応じた系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを順次入力する。
【0099】
処理表示部１８は、ジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）が付加された系統毎の光の１０Ｇリンク信号を電気信号に変換する。そして、処理表示部１８は、系統毎及びジッタ量Ｊ毎に、電気信号に基づいて、ＣＲＣ（Cyclic Redundancy Check：巡回符号冗長検査）エラー回数を求めると共に、ＢＥＲを算出する。ＣＲＣエラー回数を求める手法及びＢＥＲの算出手法は既知であるため、ここでは詳細な説明を省略する。
【0100】
処理表示部１８は、系統毎及びジッタ量Ｊ毎に、ジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnのうちの一部または全部、ＣＲＣエラー回数及びＢＥＲを画面に表示する。
【0101】
図７は、処理表示部１８の表示例を示す図である。図７に示すように、処理表示部１８は、ジッタ量Ｊを画面表示すると共に、ユーザー操作に従い指定された系統について、ジッタパラメータｘ1である差動信号の振幅値、ジッタパラメータｘ2であるプリエンファシスフィルタのゲイン（番号）、ジッタパラメータｘ3であるポストエンファシスフィルタのゲイン（番号）、ジッタパラメータｘnであるスイッチング周波数、ＣＲＣエラー回数及びＢＥＲを画面表示する。
【0102】
プリエンファシスフィルタのゲイン（番号）及びポストエンファシスフィルタのゲイン（番号）は「０」「１」・・・であり、実際のゲイン（ｄＢ）の値に対応する識別番号である。後述する図８においても同様である。
【0103】
図８は、処理表示部１８の他の表示例を示す図である。図８に示すように、処理表示部１８は、横軸をジッタパラメータｘ3であるポストエンファシスフィルタのゲイン（番号）、縦軸をジッタ量Ｊとして、ユーザー操作に従い指定された系統のグラフを画面表示する。また、処理表示部１８は、ユーザー操作に従い、グラフ上のポストエンファシスフィルタのゲイン（番号）及びジッタ量Ｊが指定されると、指定されたポストエンファシスフィルタのゲイン（番号）及びジッタ量Ｊに対応するＣＲＣエラー回数及びＢＥＲを画面表示する。
【0104】
図８には、ユーザー操作に従い、ポストエンファシスフィルタのゲイン（番号）＝５、及びジッタ量Ｊ＝Ｊ1が指定され、これに対応するＣＲＣエラー回数＝０及びＢＥＲ＝１Ｅ-１２が画面表示されている。
【0105】
図６に戻って、分配部１７により分配された光の１０Ｇリンク信号は被測定機器３０へ出力される。例えば被測定機器３０が１０Ｇリンク信号に対応したモニターの場合、被測定機器３０は、光の１０Ｇリンク信号を入力して電気信号に変換し、映像を画面表示する。ここで、ユーザー操作に従ってジッタ量ＪがＪ1からＪmへ順次増加すると、ユーザーは、モニターに表示された映像を目視し、処理表示部１８に表示されたデータを参照することで、映像が表示されなくなったときのジッタ量Ｊiを判断することができる。
【0106】
また、ユーザー操作に従ってジッタ量ＪがＪ1からＪmへ順次増加することで、ユーザーは、処理表示部１８に表示されたデータを参照することにより、例えばＣＲＣエラー回数が所定回以上となったときのジッタ量Ｊiを判断することができる。また、ユーザーは、ＢＥＲが所定値以上となったときのジッタ量Ｊiを判断することができる。
【0107】
以上のように、実施例２のジッタ発生装置１ｂによれば、ジッタパラメータ処理部１０は、ユーザー操作に従い、順次増加するジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）を入力し、ジッタ量Ｊ毎に、実施例１と同様の処理を行う。電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２、クロック生成部１３、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４、物理媒体接続部１５及び電気／光変換器１６は、ジッタ量Ｊ毎に、実施例１と同様の処理を行う。
【0108】
分配部１７は、順次増加するジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）が付加された系統毎の光の１０Ｇリンク信号を分配し、処理表示部１８及び被測定機器３０に出力する。
【0109】
処理表示部１８は、ジッタ量Ｊ（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）が付加された系統毎の光の１０Ｇリンク信号を電気信号に変換し、系統毎及びジッタ量Ｊ毎に、ＣＲＣエラー回数及びＢＥＲを求める。そして、処理表示部１８は、系統毎及びジッタ量Ｊ毎に、ジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn、ＣＲＣエラー回数及びＢＥＲを画面に表示する。
【0110】
これにより、確定的ジッタの量がユーザーの所望するジッタ量Ｊ、すなわち順次変化するジッタ量（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）となるように、光の１０Ｇリンク信号が生成される。そして、ユーザーは、被測定機器３０のモニターに表示された映像を目視し、処理表示部１８に表示されたデータを参照することで、映像が表示されなくなったときのジッタ量Ｊiを判断することができる。また、ユーザーは、ＣＲＣエラー回数及びＢＥＲに対応するジッタ量Ｊiを判断することができる。つまり、ユーザーは、ジッタ量（＝Ｊ1，・・・，Ｊm）に応じた映像、ＣＲＣエラー回数、ＢＥＲ等の指標を目視することができる。
【0111】
したがって、ジッタ発生装置１ｂを、被測定機器３０のジッタ耐性を測定するためのテスト用信号を発生する装置として用いることができる。
【0112】
〔実施例３〕
次に、実施例３のジッタ発生装置について説明する。前述のとおり、実施例３は、実施例１，２において、プリエンファシスフィルタ及びポストエンファシスフィルタがアナログフィルタとして実装されている場合の例である。尚、実施例３のアナログフィルタは、後述する実施例４についても適用がある。
次に、実施例３のジッタ発生装置について説明する。前述のとおり、実施例３は、実施例１，２において、プリエンファシスフィルタ及びポストエンファシスフィルタがアナログフィルタとして実装されている場合の例である。尚、実施例３のアナログフィルタは、後述する実施例４についても適用がある。
【0113】
図９は、実施例３のジッタ発生装置の構成例を示すブロック図である。このジッタ発生装置１ｃは、ジッタパラメータ処理部１０、電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２、クロック生成部１３、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４、物理媒体接続部４０及び電気／光変換器１６を備えている。
【0114】
図５に示した実施例１のジッタ発生装置１ａと図９に示す実施例３のジッタ発生装置１ｃとを比較すると、両ジッタ発生装置１ａ，１ｃは、ジッタパラメータ処理部１０、電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２、クロック生成部１３、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４及び電気／光変換器１６を備えている点で共通する。
【0115】
一方、ジッタ発生装置１ｃは、アナログ回路で構成されたエンファシス回路２０－１等を実装した物理媒体接続部４０を備えている点で、デジタル回路で構成されたエンファシス回路２０－１等を実装した物理媒体接続部１５を備えているジッタ発生装置１ａと相違する。
【0116】
【0117】
ジッタパラメータ処理部１０は、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４を用いて、ユーザーが所望するジッタ量Ｊに対応する系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを求める際に、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４に、入力したジッタ量Ｊが設定されていない場合、内挿または外挿により系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを求める。
【0118】
これにより、ジッタパラメータｘ2であるプリエンファシスフィルタのゲイン及びジッタパラメータｘ3であるポストエンファシスフィルタのゲインを実数値にて求めることができ、これらのゲインは物理媒体接続部４０に出力される。
【0119】
物理媒体接続部４０は、図４に示した物理媒体接続部１５と同様の構成の下で同様の処理を行うが、系統毎のエンファシス回路２０－１等のプリエンファシスフィルタ及びポストエンファシスフィルタはデジタルフィルタではなくアナログフィルタである。
【0120】
プリエンファシスフィルタ及びポストエンファシスフィルタのゲインは実数値で設定することができ、特に、プリエンファシスフィルタ及びポストエンファシスフィルタがオペアンプ等を用いて実装される場合、ゲインを１以上に設定することができる。
【0121】
以上のように、実施例３のジッタ発生装置１ｃによれば、プリエンファシスフィルタ及びポストエンファシスフィルタがアナログフィルタとして実装されている場合に、ジッタパラメータｘ2であるプリエンファシスフィルタのゲイン及びジッタパラメータｘ3であるポストエンファシスフィルタのゲインを実数値にて設定することができる。
【0122】
また、プリエンファシスフィルタ及びポストエンファシスフィルタがアナログフィルタとして実装されている場合も同様に、所望の確定的ジッタを付加した信号を出力することができる。
【0123】
〔実施例４〕
次に、実施例４のジッタ発生装置について説明する。前述のとおり、実施例４は、特定種類のジッタ（例えば、周期ジッタまたは基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタ）のみを付加した１０Ｇリンク信号を出力する例である。
次に、実施例４のジッタ発生装置について説明する。前述のとおり、実施例４は、特定種類のジッタ（例えば、周期ジッタまたは基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタ）のみを付加した１０Ｇリンク信号を出力する例である。
【0124】
図１０は、実施例４のジッタ発生装置の構成例を示すブロック図である。このジッタ発生装置１ｄは、ジッタパラメータ処理部４１、電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２、クロック生成部１３、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４、物理媒体接続部１５、電気／光変換器１６、分配部１７及び処理表示部１８を備えている。ジッタ発生装置１ｄは、被測定機器３０における特定種類のジッタ耐性を測定するためのテスト用信号を生成する装置であり、特定種類のジッタのみを付加した系統毎の１０Ｇリンク信号を、テスト用信号として被測定機器３０へ出力する。
【0125】
図６に示した実施例２のジッタ発生装置１ｂと図１０に示す実施例４のジッタ発生装置１ｄとを比較すると、両ジッタ発生装置１ｂ，１ｄは、電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２、クロック生成部１３、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４、物理媒体接続部１５、電気／光変換器１６、分配部１７及び処理表示部１８を備えている点で共通する。
【0126】
一方、ジッタ発生装置１ｄは、ジッタ発生装置１ｂのジッタパラメータ処理部１０の代わりにジッタパラメータ処理部４１を備えている点で、ジッタ発生装置１ｂと相違する。
【0127】
【0128】
ジッタパラメータ処理部４１は、ジッタパラメータ処理部１０と同様に、予め設定された２４個のテーブルＴ１，・・・，Ｔ２４を備えている。
【0129】
ジッタパラメータ処理部４１は、ユーザー操作に従い、ジッタ量Ｊを入力すると共に、ジッタの種類を入力する。このジッタ量Ｊは、当該ジッタ発生装置１ｄが出力する光の１０Ｇリンク信号に付加される所望の確定的ジッタの量であり、ジッタの種類は、当該ジッタ発生装置１ｄが出力する光の１０Ｇリンク信号に付加される確定的ジッタの種類である。
【0130】
ジッタの種類は、例えば周期ジッタまたは基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタである。周期ジッタは、ジッタパラメータ処理部４１により変換されるスイッチング周波数に応じたスイッチングレギュレーター１２のスイッチング動作が原因で発生する、データに対して無相関のジッタを示す。基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタは、映像信号と相関関係のあるデータ依存性のジッタ（ＤＤＪ：Data Dependent Jitter）の一種であり、ジッタパラメータ処理部４１により変換される差動信号の振幅値、エンファシスフィルタのゲイン等を基準にして、振幅値、エンファシスフィルタのゲイン等を様々に変化させることで得られるジッタである。
【0131】
ジッタの種類として周期ジッタが入力された場合、ジッタ発生装置１ｄから周期ジッタのみを付加した１０Ｇリンク信号が出力され、被測定機器３０の周期ジッタに対する耐性が測定される。また、ジッタの種類として、基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタが入力された場合、ジッタ発生装置１ｄから当該ジッタのみを付加した１０Ｇリンク信号が出力され、被測定機器３０の当該ジッタに対する耐性が測定される。
【0132】
ジッタパラメータ処理部４１は、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４を用いて、入力したジッタ量Ｊを系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnに変換する。
【0133】
ジッタパラメータ処理部４１は、予め設定された規則（区別規則）に従い、ジッタの種類に応じて、ジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを固定パラメータと可変パラメータとに区別する。そして、ジッタパラメータ処理部４１は、系統毎の固定パラメータを固定値として出力すると共に、系統毎の可変パラメータを、予め設定された規則（順次変化規則）に従い、時間の経過と共に順次変化する可変値として出力する。
【0134】
区別規則は、ジッタの種類毎に予め設定されており、順次変化規則は、ジッタの種類及び可変パラメータ毎に予め設定されている。時間の経過と共に順次変化する可変値は、時間の経過と共に増加してもよいし、減少してもよい。
【0135】
これにより、予め設定された区別規則に従い、ジッタの種類に関連するジッタパラメータのみが可変値に区別される。
【0136】
（ジッタの種類：周期ジッタ）
まず、ジッタの種類として周期ジッタが入力された場合の処理について説明する。図１１は、実施例４におけるジッタパラメータ処理部４１の処理例（周期ジッタの場合）を示すフローチャートである。
まず、ジッタの種類として周期ジッタが入力された場合の処理について説明する。図１１は、実施例４におけるジッタパラメータ処理部４１の処理例（周期ジッタの場合）を示すフローチャートである。
【0137】
ジッタパラメータ処理部４１は、ユーザー操作に従い、ジッタ量Ｊを入力すると共に、ジッタの種類として周期ジッタを入力する（ステップＳ１１０１）。そして、ジッタパラメータ処理部４１は、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４から、ジッタ量Ｊに対応する系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを読み出す（ステップＳ１１０２）。
【0138】
ジッタパラメータ処理部４１は、ジッタの種類が周期ジッタである場合の予め設定された区別規則に従い、ジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを、固定パラメータであるジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn-1と可変パラメータであるジッタパラメータｘnとに区別する。
【0139】
これにより、ジッタパラメータｘ1（差動信号の振幅値），ｘ2（プリエンファシスフィルタのゲイン），ｘ3（ポストエンファシスフィルタのゲイン），・・・，ｘn-1は、固定パラメータに区別される。また、ジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）は、可変パラメータに区別される。
【0140】
ジッタパラメータ処理部４１は、系統毎の固定値であるジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn-1を物理媒体接続部１５に出力する（ステップＳ１１０３）。また、ジッタパラメータ処理部４１は、予め設定された順次変化規則に従い、系統毎の可変パラメータであるジッタパラメータｘnを基準にして、時間の経過と共に順次変化する可変値を生成する。そして、ジッタパラメータ処理部４１は、系統毎の可変値であるジッタパラメータｘnを電源制御部１１に出力する（ステップＳ１１０４）。
【0141】
これにより、スイッチング周波数は可変値として電源制御部１１に順次出力され、可変値であるスイッチング周波数に応じて、確定的ジッタの周期が変化する。つまり、分配部１７から処理表示部１８及び被測定機器３０へ、可変のジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）、及び固定のジッタパラメータｘ1等に応じて、確定的ジッタの周期が変化した系統毎の光の１０Ｇリンク信号が出力される。そして、被測定機器３０における周期ジッタのジッタ耐性が測定される。
【0142】
この場合、処理表示部１８は、分配部１７から、確定的ジッタの周期が変化した系統毎の光の１０Ｇリンク信号を順次入力すると共に、ユーザー操作によるジッタ量Ｊ及びジッタの種類を入力する。また、処理表示部１８は、ジッタパラメータ処理部４１から、系統毎の固定値であるジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn-1を入力する。さらに、処理表示部１８は、ジッタパラメータ処理部４１から、時間の経過と共に順次変化する系統毎の可変値であるジッタパラメータｘnを入力する。
【0143】
処理表示部１８は、前述のとおり、ＣＲＣエラー回数を求めると共に、ＢＥＲを算出する。処理表示部１８は、例えばスイッチング周波数毎に、ジッタ量Ｊ及びジッタの種類、並びに系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘn-1、ＣＲＣエラー回数及びＢＥＲを画面表示する。
【0144】
（ジッタの種類：基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタ）
次に、ジッタの種類として、基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタが入力された場合の処理について説明する。図１２は、実施例４におけるジッタパラメータ処理部４１の処理例（基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタの場合）を示すフローチャートである。
次に、ジッタの種類として、基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタが入力された場合の処理について説明する。図１２は、実施例４におけるジッタパラメータ処理部４１の処理例（基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタの場合）を示すフローチャートである。
【0145】
ジッタパラメータ処理部４１は、ユーザー操作に従い、ジッタ量Ｊを入力すると共に、ジッタの種類として、基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタを入力する（ステップＳ１２０１）。そして、ジッタパラメータ処理部４１は、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４から、ジッタ量Ｊに対応する系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを読み出す（ステップＳ１２０２）。
【0146】
ジッタパラメータ処理部４１は、ジッタの種類が基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタである場合の予め設定された区別規則に従い、ジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを、固定パラメータであるジッタパラメータｘ4，・・・，ｘnと、可変パラメータであるジッタパラメータｘ1，ｘ2，ｘ3とに区別する。
【0147】
これにより、ジッタパラメータｘ4，・・・，ｘn（スイッチング周波数）は、固定パラメータに区別される。また、ジッタパラメータｘ1（差動信号の振幅値），ｘ2（プリエンファシスフィルタのゲイン），ｘ3（ポストエンファシスフィルタのゲイン）は、可変パラメータに区別される。
【0148】
ジッタパラメータ処理部４１は、予め設定された順次変化規則に従い、系統毎の可変パラメータであるジッタパラメータｘ1，ｘ2，ｘ3から、時間の経過と共に順次変化する可変値をそれぞれ生成する。そして、ジッタパラメータ処理部４１は、系統毎の可変値であるジッタパラメータｘ1，ｘ2，ｘ3及び固定値であるジッタパラメータｘ4，・・・，ｘn-1を物理媒体接続部１５に出力する（ステップＳ１２０３）。また、ジッタパラメータ処理部４１は、系統毎の固定値であるジッタパラメータｘnを電源制御部１１に出力する（ステップＳ１２０４）。
【0149】
例えば、ジッタパラメータ処理部４１は、可変値であるジッタパラメータｘ1，ｘ2，ｘ3について、最初にジッタパラメータｘ1，ｘ2を固定値とし、ジッタパラメータｘ3を可変値として出力する。ジッタパラメータ処理部４１は、次にジッタパラメータｘ1，ｘ3を固定値とし、ジッタパラメータｘ2を可変値として出力し、そして、ジッタパラメータｘ2，ｘ3を固定値とし、ジッタパラメータｘ1を可変値として出力する。
【0150】
これにより、差動信号の振幅値、プリエンファシスフィルタのゲイン及びポストエンファシスフィルタのゲインは可変値として物理媒体接続部１５に順次出力され、これらの可変値に応じて、基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタが変化する。つまり、分配部１７から処理表示部１８及び被測定機器３０へ、可変のジッタパラメータｘ1（差動信号の振幅値），ｘ2（プリエンファシスフィルタのゲイン），ｘ3（ポストエンファシスフィルタのゲイン）及び固定のｘn（スイッチング周波数）等に応じて、基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタが変化した系統毎の光の１０Ｇリンク信号が出力される。そして、被測定機器３０における基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタのジッタ耐性が測定される。
【0151】
この場合、処理表示部１８は、分配部１７から、基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタが変化した系統毎の光の１０Ｇリンク信号を順次入力すると共に、ユーザー操作によるジッタ量Ｊ及びジッタの種類を入力する。また、処理表示部１８は、ジッタパラメータ処理部４１から、時間の経過と共に順次変化する系統毎の可変値であるジッタパラメータｘ1，ｘ2，ｘ3を入力する。さらに、処理表示部１８は、ジッタパラメータ処理部４１から、系統毎の固定値であるジッタパラメータｘ4，・・・，ｘnを入力する。
【0152】
処理表示部１８は、前述のとおり、ＣＲＣエラー回数を求めると共に、ＢＥＲを算出する。処理表示部１８は、例えば差動信号の振幅値、プリエンファシスフィルタのゲイン及びポストエンファシスフィルタのゲインの組み合わせ毎に、ジッタ量Ｊ及びジッタの種類、並びに系統毎のジッタパラメータｘ4，・・・，ｘn-1、ＣＲＣエラー回数及びＢＥＲを画面表示する。
【0153】
以上のように、実施例４のジッタ発生装置１ｄによれば、ジッタパラメータ処理部４１は、ユーザー操作に従い、ジッタ量Ｊ及びジッタの種類を入力し、実施例１のジッタパラメータ処理部１０と同様に、ジッタ量Ｊを系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnに変換する。そして、ジッタパラメータ処理部４１は、予め設定された規則に従い、ジッタの種類に応じて、ジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnを固定パラメータと可変パラメータとに区別し、系統毎の固定パラメータを固定値として出力すると共に、系統毎の可変パラメータを、時間の経過と共に順次変化する可変値として出力する。
【0154】
電源制御部１１、スイッチングレギュレーター１２、クロック生成部１３、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４、物理媒体接続部１５及び電気／光変換器１６は、実施例１と同様の処理を行う。また、分配部１７及び処理表示部１８は、実施例２と同様の処理を行う。
【0155】
ここで、ジッタの種類が周期ジッタである場合、予め設定された規則に従い、ジッタパラメータｘ1（差動信号の振幅値），ｘ2（プリエンファシスフィルタのゲイン），ｘ3（ポストエンファシスフィルタのゲイン），・・・，ｘn-1が固定パラメータに区別され、ジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）が可変パラメータに区別される。
【0156】
これにより、可変するスイッチング周波数に応じて、確定的ジッタの周期が変化した系統毎の光の１０Ｇリンク信号が出力される。
【0157】
また、ジッタの種類が基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタである場合、予め設定された規則に従い、ジッタパラメータｘ4，・・・，ｘn（スイッチング周波数）が固定パラメータに区別され、ジッタパラメータｘ1（差動信号の振幅値），ｘ2（プリエンファシスフィルタのゲイン），ｘ3（ポストエンファシスフィルタのゲイン）が可変パラメータに区別される。
【0158】
これにより、可変する差動信号の振幅値、プリエンファシスフィルタのゲイン及びポストエンファシスフィルタのゲインに応じて、基板内部の符号間干渉が原因で発生するジッタが変化した系統毎の光の１０Ｇリンク信号が出力される。
【0159】
そして、ユーザーは、被測定機器３０のモニターに表示された映像を目視し、処理表示部１８に表示されたデータを参照することで、特定種類のジッタのみが付加された映像、ＣＲＣエラー回数、ＢＥＲ等の指標を目視することができる。したがって、ジッタ発生装置１ｄを、被測定機器３０における特定種類のジッタ耐性を測定するためのテスト用信号を発生する装置として用いることができ、ジッタ耐性を確定ジッタの種類毎に定量的に測定することができる。
【0160】
以上、実施例１～４を挙げて本発明を説明したが、本発明は前記実施例１～４に限定されるものではなく、その技術思想を逸脱しない範囲で種々変形可能である。
【0161】
（１０Ｇリンク信号以外の信号）
ジッタ発生装置１は、所望の確定的ジッタを１０Ｇリンク信号に付加するようにしたが、所望の確定的ジッタを１０Ｇリンク信号以外の信号（例えば、１２Ｇ－ＳＤＩリンク信号またはＵ－ＳＤＩ以外の規格に適用する信号）に付加するようにしてもよい。また、ジッタ発生装置１は、所望の確定的ジッタを、２４チャンネル未満の１０Ｇリンク信号からなる８Ｋ／１２０ＰのＵ－ＳＤＩ信号、または、１２チャンネル若しくは１２チャンネル未満の１０Ｇリンク信号からなる８Ｋ／６０Ｐ、４Ｋ／１２０Ｐ、４Ｋ／６０ＰのＵ－ＳＤＩ信号に付加するようにしてもよい。
ジッタ発生装置１は、所望の確定的ジッタを１０Ｇリンク信号に付加するようにしたが、所望の確定的ジッタを１０Ｇリンク信号以外の信号（例えば、１２Ｇ－ＳＤＩリンク信号またはＵ－ＳＤＩ以外の規格に適用する信号）に付加するようにしてもよい。また、ジッタ発生装置１は、所望の確定的ジッタを、２４チャンネル未満の１０Ｇリンク信号からなる８Ｋ／１２０ＰのＵ－ＳＤＩ信号、または、１２チャンネル若しくは１２チャンネル未満の１０Ｇリンク信号からなる８Ｋ／６０Ｐ、４Ｋ／１２０Ｐ、４Ｋ／６０ＰのＵ－ＳＤＩ信号に付加するようにしてもよい。
【0162】
（電気／電気変換器）
また、ジッタ発生装置１は、系統毎の差動信号の電気信号を系統毎の光信号に変換する電気／光変換器１６を備えるようにした。これに対し、ジッタ発生装置１は、電気／光変換器１６の代わりに、系統毎の差動信号の電気信号を異なる仕様の電気信号に変換する電気／電気変換器を備えるようにしてもよい。
また、ジッタ発生装置１は、系統毎の差動信号の電気信号を系統毎の光信号に変換する電気／光変換器１６を備えるようにした。これに対し、ジッタ発生装置１は、電気／光変換器１６の代わりに、系統毎の差動信号の電気信号を異なる仕様の電気信号に変換する電気／電気変換器を備えるようにしてもよい。
【0163】
（ジッタパラメータ規則）
また、ジッタ発生装置１のジッタパラメータ処理部１０は、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４を用いて、入力したジッタ量Ｊを系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせに変換するようにした。
また、ジッタ発生装置１のジッタパラメータ処理部１０は、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４を用いて、入力したジッタ量Ｊを系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせに変換するようにした。
【0164】
これに対し、ジッタパラメータ処理部１０は、テーブルＴ１，・・・，Ｔ２４の代わりに、例えば予め設定された関数を用いて、入力したジッタ量Ｊを系統毎のジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせに変換するようにしてもよい。要するに、ジッタパラメータ処理部１０は、ジッタ量Ｊとジッタパラメータｘ1，・・・，ｘnの組み合わせとの間の関係が定義された規則（ジッタパラメータ規則）を用いて、前述の変換を行うようにすればよい。ジッタパラメータ処理部４１についても同様である。
【0165】
（系統毎のＤＣ電圧及びクロック）
また、ジッタ発生装置１の電源制御部１１は、所定の規則に従い、系統毎のジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）を１系統の電圧に変換するようにした。そして、スイッチングレギュレーター１２は、電源制御部１１により変換された電圧に対応するリップルを有するＤＣ電圧を生成し、単一のＤＣ電圧を１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４等に出力する。また、クロック生成部１３は、電源制御部１１により変換された電圧に対応するクロックを生成し、単一のクロックを１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４等に出力する。
また、ジッタ発生装置１の電源制御部１１は、所定の規則に従い、系統毎のジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）を１系統の電圧に変換するようにした。そして、スイッチングレギュレーター１２は、電源制御部１１により変換された電圧に対応するリップルを有するＤＣ電圧を生成し、単一のＤＣ電圧を１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４等に出力する。また、クロック生成部１３は、電源制御部１１により変換された電圧に対応するクロックを生成し、単一のクロックを１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４等に出力する。
【0166】
これに対し、電源制御部１１は、所定の規則に従い、系統毎のジッタパラメータｘn（スイッチング周波数）を、対応する系統毎の電圧に変換し、系統毎の電圧をスイッチングレギュレーター１２及びクロック生成部１３に出力するようにしてもよい。
【0167】
この場合、スイッチングレギュレーター１２は、系統毎の構成部を備える。スイッチングレギュレーター１２は、系統毎のリップルを有するＤＣ電圧を生成し、系統毎のＤＣ電圧を対応する１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４等に出力する。また、クロック生成部１３は、系統毎の構成部を備える。クロック生成部１３は、系統毎のクロックを生成し、系統毎のクロックを対応する１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－２４等に出力する。これにより、系統毎に１０Ｇリンク信号に付加される確定的ジッタの精度を向上させることができる。
【0168】
（１０Ｇリンク信号を入力するジッタ発生装置１）
また、図１等に示したジッタ発生装置１は、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－Ｎを備えるようにしたが、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－Ｎを備えていなくてもよい。この場合、ジッタ発生装置１は、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－Ｎを備えた外部装置から、系統毎の１０Ｇリンク信号を入力し、ジッタ量Ｊが付加された系統毎の１０Ｇリンク信号を生成し、出力する。
また、図１等に示したジッタ発生装置１は、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－Ｎを備えるようにしたが、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－Ｎを備えていなくてもよい。この場合、ジッタ発生装置１は、１０Ｇリンク信号生成部１４－１，・・・，１４－Ｎを備えた外部装置から、系統毎の１０Ｇリンク信号を入力し、ジッタ量Ｊが付加された系統毎の１０Ｇリンク信号を生成し、出力する。
【符号の説明】
【0169】
１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄ ジッタ発生装置
１０，４１ ジッタパラメータ処理部
１１ 電源制御部
１２ スイッチングレギュレーター
１３ クロック生成部
１４－１，・・・，１４－２４ １０Ｇリンク信号生成部
１５，４０ 物理媒体接続部
１６ 電気／光変換器
１７ 分配部
１８ 処理表示部
２０－１ エンファシス回路
２１－１ 差動信号ドライバ
３０ 被測定機器
Ｔ１，・・・，Ｔ２４ テーブル
Ｊ ジッタ量（確定的ジッタの量）
ｘ1，・・・，ｘn ジッタパラメータ
１０，４１ ジッタパラメータ処理部
１１ 電源制御部
１２ スイッチングレギュレーター
１３ クロック生成部
１４－１，・・・，１４－２４ １０Ｇリンク信号生成部
１５，４０ 物理媒体接続部
１６ 電気／光変換器
１７ 分配部
１８ 処理表示部
２０－１ エンファシス回路
２１－１ 差動信号ドライバ
３０ 被測定機器
Ｔ１，・・・，Ｔ２４ テーブル
Ｊ ジッタ量（確定的ジッタの量）
ｘ1，・・・，ｘn ジッタパラメータ
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】