特許7503635IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

関連出願の相互参照 [0001] 本出願は、2020年1月6日に出願された欧州特許出願第20150394.3号及び2020年7月6日に出願された欧州特許出願第20184160.8号及び2020年9月24日に出願された欧州特許出願第20198201.4号の優先権を主張するものである。これらの特許出願はそれぞれ、全体として本明細書に援用される。

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 [0014]例示的な荷電粒子ビーム検査装置を示す概略図である。
【図2】 [0015]図1の例示的な荷電粒子ビーム検査装置の一部である例示的なマルチビーム装置を示す概略図である。
【図3】 [0016]図1の例示的な荷電粒子ビーム検査装置のソース変換ユニットの例示的な構成を示す例示的なマルチビーム装置の概略図である。
【図4】 [0017]ある実施形態による、検査装置の対物レンズの概略断面図である。
【図5】 [0018]図4の対物レンズの底面図である。
【図6】 [0019]図4の対物レンズの変更形態の底面図である。
【図7】 [0020]図4の対物レンズに組み込まれた検出器の拡大概略断面図である。
【図8】 [0021]理論上のトランスインピーダンス増幅器の概略図である。
【図9】 [0022]熱雑音の効果を示すトランスインピーダンス増幅器の概略図である。
【図10】 [0023]図1の例示的な荷電粒子ビーム検査装置の一部であり得る別の例示的なマルチビーム装置を示す概略図である。
【図11】 [0024]ある実施形態による、別の例示的なマルチビーム装置を示す概略図である。
【図12】 [0025]ある実施形態による、別の例示的なマルチビーム装置の概略図である。
【図13】 [0026]ある実施形態による、検査装置の対物レンズの概略断面図である。
【図14】 [0027]図13の対物レンズに組み込まれた検出器ユニットの底面図である。
【図15】 [0028]ある実施形態による、別の例示的なマルチビーム装置を示す概略図である。
【図16】 [0029]検出器が異なる位置にある、図15の装置の対物レンズに組み込まれた検出器の拡大概略断面図である。
【図17】 [0030]図15の装置の対物レンズにおいて使用することができる代替検出器の拡大概略断面図である。

代表図 図1本件の代表的な図

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