ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテク
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-07-05
(45)【発行日】2024-07-16
(54)【発明の名称】自動分析装置
(51)【国際特許分類】
G01N 35/02 20060101AFI20240708BHJP
【ＦＩ】
G01N35/02 E
【請求項の数】
10
(21)【出願番号】P 2023500761
(86)(22)【出願日】2022-02-08
(86)【国際出願番号】 JP2022004851
(87)【国際公開番号】W WO2022176702
(87)【国際公開日】2022-08-25
【審査請求日】2023-07-26
(31)【優先権主張番号】P 2021026169
(32)【優先日】2021-02-22
(33)【優先権主張国・地域又は機関】JP
(73)【特許権者】
【識別番号】501387839
【氏名又は名称】株式会社日立ハイテク
(74)【代理人】
【識別番号】110000350
【氏名又は名称】ポレール弁理士法人
(72)【発明者】
【氏名】今西 翔太郎
(72)【発明者】
【氏名】高橋 拓也
(72)【発明者】
【氏名】坂田 健士郎
【審査官】野田 華代
(56)【参考文献】
【文献】特開２０１８－４８８２０（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１０－８５０９７（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１６－９０３４５（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１０－１２２１７７（ＪＰ，Ａ）
【文献】特開２０１７－１０６７９１（ＪＰ，Ａ）
(58)【調査した分野】(Int.Cl.，ＤＢ名)
Ｇ０１Ｎ ３５／００－３７／００
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
反応容器内に洗浄液を吐出する吐出ノズルと、前記吐出ノズルへ前記洗浄液を供給する経路に設けられた電磁弁と、
前記洗浄液の液量を検知する液量検知器と、
前記電磁弁を制御する制御部と、を備えた自動分析装置であって、
前記制御部は、
前記電磁弁に対して異なる動作をさせる制御シーケンスを記憶する記憶部と、
異なる前記制御シーケンスの中で、分析時に適用すべきものを判定する判定部と、有し、
洗浄液量の調整時に、前記記憶部に記憶された前記制御シーケンスのうち全部または一部が実行されるとともに、各制御シーケンスに対応した前記洗浄液の液量が前記液量検知器によって検知され、
前記判定部は、検知結果が所定の液量範囲条件を満たす複数の前記制御シーケンスの中で、相対的に尤度の高い前記制御シーケンスを、分析時に適用すべきものと判定する自動分析装置。
【請求項2】
請求項１に記載の自動分析装置において、前記液量検知器は、分注機構に設けられた高さ検知器であって、
前記記憶部には、前記電磁弁の開放時間の異なる前記制御シーケンスが記憶されており、
前記判定部は、検知結果が所定の液面高さ範囲条件を満たす複数の前記制御シーケンスの中で、相対的に尤度の高い前記制御シーケンスを、分析時に適用すべきものとして判定する自動分析装置。
【請求項3】
請求項２に記載の自動分析装置において、相対的に尤度の高い前記制御シーケンスとは、検知結果が液面高さの基準値に最も近い前記制御シーケンスである自動分析装置。
【請求項4】
請求項３に記載の自動分析装置において、洗浄液量の調整時に、記憶部に記憶された前記制御シーケンスのうち一部である少なくとも２つが実行され、
前記判定部は、実行結果に基づき、前記電磁弁の開放時間と前記液面高さとの関係式を算出し、当該関係式から前記液面高さの基準値に最も近い前記制御シーケンスを判定する自動分析装置。
【請求項5】
請求項１に記載の自動分析装置において、分析終了後に、分析結果とともに、分析時に適用した前記制御シーケンスの種類を出力する出力部を、さらに備える自動分析装置。
【請求項6】
請求項２に記載の自動分析装置において、前記制御部は、適用中の前記制御シーケンスが前記液面高さ範囲条件を満たさなくなる時期を予測する予測部を、さらに有し、
洗浄液量の調整時に、記憶部に記憶された前記制御シーケンスのうち少なくとも２つが実行されて、前記電磁弁の開放時間と前記液面高さとの関係式の傾きが算出され、
前記記憶部は、過去の前記傾きを日時情報とともに記憶し、
前記予測部は、前記記憶部に記憶された過去の前記傾きに基づいて傾きの変化を算出し、
算出した傾きの変化から、前記液面高さ範囲条件を満たさなくなる時期を予測する自動分析装置。
【請求項7】
請求項６に記載の自動分析装置において、前記予測部が予測した時期の一定期間前から、洗浄液量の調整を促す通知を出力する出力部を、さらに備える自動分析装置。
【請求項8】
請求項６に記載の自動分析装置において、前記予測部が予測した時期を、次回の調整時期の候補として出力する出力部を、さらに備える自動分析装置。
【請求項9】
請求項２に記載の自動分析装置において、前記制御部は、前記記憶部に記憶されたすべての前記制御シーケンスが前記液面高さ範囲条件を満たさなくなる時期を予測する予測部をさらに有し、
洗浄液量の調整時に、記憶部に記憶された前記制御シーケンスのうち少なくとも２つが実行されて、前記電磁弁の開放時間と前記液面高さとの関係式の傾きが算出され、
前記記憶部は、過去の前記傾きを日時情報とともに記憶し、
前記予測部は、前記記憶部に記憶された過去の前記傾きに基づいて傾きの変化を算出し、
算出した傾きの変化から、前記液面高さ範囲条件を満たさなくなる時期を予測する自動分析装置。
【請求項10】
請求項２に記載の自動分析装置において、前記制御部は、前記電磁弁の異常を診断する診断部をさらに有し、
洗浄液量の調整時に、記憶部に記憶された前記制御シーケンスのうち少なくとも２つが実行されて、前記電磁弁の開放時間と前記液面高さとの関係式の傾きが算出され、
前記記憶部は、過去の前記傾きを日時情報とともに記憶し、
前記診断部は、前記記憶部に記憶された過去の前記傾きに基づいて傾きの変化を算出し、
所定期間内の傾きの変化の平均値が一定以上となった場合に、前記電磁弁に異常が生じたと診断する自動分析装置。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、自動分析装置に関する。
【背景技術】
【0002】
反応容器の洗浄に使用する洗浄液の液量を自動で調整する自動分析装置が知られている。例えば、特許文献１には、「バルブ調整機能８４は、判定機能８２により判定された洗浄機構２３０の状態に関する判定結果に応じて、第１のノズル２５１、第４のノズル２５４、第５のノズル２５５、及び第６のノズル２５６から吐出される洗浄液量を調整する機能である。バルブ調整機能８４が実行されると、制御回路８Ａは、判定機能８２の実行により算出された吸光度変化率に基づいて、例えば第１のノズルから吐出された洗浄液量の増加量又は減少量を算出する。制御回路８Ａは、算出した洗浄液量の増加量又は減少量に基づいて、駆動機構４を制御し、例えば第１のノズル２５１から吐出される洗浄液量が適切な量になるように、三方電磁弁２７１の開放時間を調整する。」という記載がある（段落００８４）。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【文献】特開２０１８－４８８２０号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
特許文献１では、調整した洗浄液量が所定の範囲条件を満たしていれば調整処理を終了する。そのため、液量が当該範囲条件の上限下限付近に調整された場合でも、液量がその範囲条件内であれば調整は完了してしまう。そうすると、調整して間もなく再調整が必要となり、オペレータの手間やコストがかかってしまう課題がある。また、洗浄液量を調整するために、頻繁に分析を止めなければいけなくなる課題も生じる。
【0005】
本発明は、このような課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、反応容器の洗浄液量の調整頻度を抑制した自動分析装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】
【0006】
前記課題を解決するために、本発明は、反応容器内に洗浄液を吐出する吐出ノズルと、前記吐出ノズルへ前記洗浄液を供給する経路に設けられた電磁弁と、前記洗浄液の液量を検知する液量検知器と、前記電磁弁を制御する制御部と、を備えた自動分析装置であって、前記制御部は、前記電磁弁に対して異なる動作をさせる制御シーケンスを記憶する記憶部と、異なる前記制御シーケンスの中で、分析時に適用すべきものを判定する判定部と、有し、洗浄液量の調整時に、前記記憶部に記憶された前記制御シーケンスのうち全部または一部が実行されるとともに、各制御シーケンスに対応した前記洗浄液の液量が前記液量検知器によって検知され、前記判定部は、検知結果が所定の液量範囲条件を満たす複数の前記制御シーケンスの中で、相対的に尤度の高い前記制御シーケンスを、分析時に適用すべきものと判定するものである。
【発明の効果】
【0007】
本発明によれば、反応容器の洗浄液量の調整頻度を抑制した自動分析装置を提供できる。前記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施形態の説明により明らかにされる。
【図面の簡単な説明】
【0008】
【図1】実施形態に係る自動分析装置の全体構成図。
【図2】反応容器を洗浄するための構成と、洗浄液の液量を調整するための構成と、を併せて示した図。
【図3】実施例１に係る液面高さ調整の手順を示したフローチャート。
【図4】全ての制御シーケンスが実行されてデータが更新されたことを示すデータテーブル。
【図5】全ての制御シーケンスの実行結果として、電磁弁開放時間と液面高さを示したグラフ。
【図6】実施例２に係る液面高さ調整の手順を示したフローチャート。
【図7】一部の制御シーケンスが実行されてデータが更新されたことを示すデータテーブル。
【図8】一部の制御シーケンスの実行結果として、電磁弁開放時間と液面高さを示したグラフ。
【図9】実施例３における、選択中の制御シーケンスが、許容範囲条件を満たさなくなる日時を予測する手順を示したフローチャート。
【図10】過去の液量調整ごとの関係式の傾きに関するデータを保持するデータテーブル。
【図11】オペレータが洗浄液量の調整の開始スケジュールを設定する際に表示される画面の例。
【図12】実施例４における、全ての制御シーケンスが、許容範囲条件を満たさなくなる日時を予測する手順を示したフローチャート。
【図13】オペレータに対して洗浄液量の調整が完了した旨を通知する際に表示される画面の例。
【図14】実施例５における、電磁弁の、経年劣化以外の要因による異常を診断部が診断する手順を示したフローチャート。
【図15】分析結果の詳細画面の例。
【発明を実施するための形態】
【0009】
以下、図面を参照しながら、本発明の実施形態に係わる自動分析装置を説明する。図１は、本実施形態に係る生化学自動分析装置の全体構成図である。図１に示すように、自動分析装置は、機構駆動部１０３と、オペレータが操作する操作部１０８と、機構駆動部１０３を制御する制御部１０２と、を備えている。
【0010】
ここで、機構駆動部１０３は、駆動回路１１０と、測定対象を保持する検体容器１１１と、検体容器１１１内の検体を反応容器１１２（反応セル）に分注する検体分注機構１１３と、反応容器１１２に試薬を分注する試薬分注機構１１４と、反応容器１１２内の混合液を攪拌する攪拌機構１１５と、反応容器１１２内の混合液の吸光度を測定する光度計１１６と、測定が完了した反応容器１１２を洗浄する洗浄機構１１７と、反応容器１１２を各機構の動作位置に搬送する反応ディスク１３０と、反応を安定させるために反応系を一定温度に保つ反応槽１１８と、を有する。また、操作部１０８は、キーボードやマウスなどの入力部１１９と、ディスプレイやプリンタなどの出力部１２０と、を備えた端末である。
【0011】
制御部１０２は、ＣＰＵ１０４と、ＣＰＵ１０４によって実行されるプログラムを格納するメモリ１２１と、機構駆動部１０３を制御する手順が定義された制御シーケンス１２４などを記憶する記憶部１０５と、機構駆動部１０３を制御するための入出力であるＩ／Ｏ１０６と、アナログ信号をデジタルに変換して測定データを取り込むＡＤＣ１０７と、操作部１０８と通信するインターフェースであるＩ／Ｆ１０９と、を有する。なお、メモリに格納されるプログラムは、機能ごとに、判定部１２２および予測部１２３として概念的に分けられる。
【0012】
記憶部１０５には、洗浄液吐出のための電磁弁２０５に対して異なる動作をさせる複数の制御シーケンス１２４、具体的には、電磁弁２０５の開放時間の異なる複数の制御シーケンス１２４、が記憶されている。判定部１２２は、異なる制御シーケンス１２４の中で、分析時に適用すべきものを判定するものである。予測部１２３は、適用中（選択中）の制御シーケンス１２４が所定の条件を満たさなくなる時期を予測するものである。
【0013】
自動分析装置では、機構駆動部１０３の駆動回路１１０が、制御部１０２のＩ／Ｏ１０６からの信号によって制御されて、検体分注機構１１３、試薬分注機構１１４、攪拌機構１１５などの各機構を駆動し、反応容器１１２内で検体と試薬を混合する。さらに、自動分析装置では、機構駆動部１０３の光度計１１６が、この混合液について各分析項目に応じた波長で吸光度を測定し、ＡＤＣ１０７によって測定データが取り込まれることにより、検体の分析を行う。例えば、制御部１０２は、測定した吸光度に基づいて検体に含まれる所定成分の濃度を算出し、算出結果を出力部１２０に出力する。なお、吸光度の測定に変えて散乱光の検出またはその他の測定原理により検体の分析を行っても良い。分析に使用された後の使用済みの反応容器１１２は、反応ディスク１３０の近傍に配置された洗浄機構１１７により、混合液を吸引した後、内部を洗浄することで繰り返しの使用を可能にする。
【0014】
図２は、反応容器を洗浄するための構成と、洗浄液の液量を調整するための構成と、を併せて示した図である。図２に示すように、洗浄機構１１７は、洗浄液を吐出する吐出ノズル２０７と、洗浄液を廃棄するための吸引ノズル２０８と、を備える。吐出ノズル２０７には、洗浄液の供給経路として流路２０３が接続されており、流路２０３の上流側には電磁弁２０５およびポンプ２０４が設けられている。電磁弁２０５およびポンプ２０４は制御回路２０６によって制御され、流路２０３を通って洗浄液が吐出ノズル２０７へ送られる。なお、制御回路２０６は、制御部１０２のＣＰＵ１０４によって制御される。
【0015】
洗浄機構１１７は、反応ディスク１３０に配置された反応容器１１２に、吐出ノズル２０７から洗浄液を供給して反応容器１１２の内部を洗浄する。洗浄後の反応容器１１２内の洗浄液は、吸引ノズル２０８で吸引されて反応容器１１２から排出される。
【0016】
高さ検知器２０２は、吐出ノズル２０７が反応容器１１２に供給する洗浄液の高さを検知するものである。本実施形態では、高さ検知器２０２として、試薬分注機構１１４のプローブ２０１に設けられてプローブ２０１への液面の接触を検知する液面検知器を利用するため、新たに高さ検知器を用意する必要がない。また、プローブ２０１には、駆動回路１１０が接続されており、Ｉ／Ｏ１０６を介したＣＰＵからの信号により、駆動回路１１０がプローブ２０１を水平移動させたり上下移動させたりする。したがって、制御部１０２は、反応容器１１２内にプローブ２０１を位置させ、高さ検知器２０２が反応容器１１２内の洗浄液の液面を検知したときのプローブ２０１の移動量を検出することにより、洗浄液の液面高さを算出することができる。
【0017】
なお、本実施形態では、試薬分注機構１１４の高さ検知器２０２を用いた例を挙げるが、液面を検知できる機構を備えていればこれに限らない。例えば、検体分注機構１１３の高さ検知器２０２を用いても良い。また、本実施形態では、高さ検知器２０２として液面検知器を用いた例を挙げるが、他の方法、例えば画像処理により、液面高さを検知することも可能である。
【0018】
反応容器１１２は、繰り返し使用されるため、充分に洗浄する必要がある。例えば、反応容器１１２の所定の高さに達するまでの液量の洗浄液を吐出できれば充分に洗浄できるが、洗浄液の高さが低すぎると洗浄不足となり測定結果に悪影響を及ぼす。また、洗浄液は各種機構の経時変化により吐出量が変化するため、洗浄液の液面高さが所定の高さになるよう各種機構を定期的に調整する必要がある。そこで、本実施形態では、自動分析装置が分析を行っていない、待機状態において、洗浄液量の調整処理（メンテナンス処理）が行われる。例えば、自動分析装置の入力部１１９を用いてオペレータがメンテナンス処理を行うよう指示を出すことで、メンテナンス処理が開始される。以下では、洗浄液の液量の調整方法として、電磁弁２０５の開放時間を変更することでこれを実現する例について説明する。
【実施例1】
【0019】
本実施例は、入力部１１９からの指示を受け、制御部１０２が、記憶部１０５に記憶された、洗浄動作用の複数の制御シーケンス１２４をすべて実行するものである。図３は、実施例１に係る液面高さ調整の手順を示したフローチャートである。
【0020】
まず、制御部１０２は、記憶部１０５に記憶された任意（未実行）の制御シーケンス１２４を選択し（ステップＳ３０１）、選択された制御シーケンス１２４が以下のステップＳ３０７まで実行される。ＣＰＵ１０４が、Ｉ／Ｏ１０６に対して、洗浄機構１１７の吐出ノズル２０７の通常待機位置から洗浄液吐出位置への移動を命令する。駆動回路１１０は、Ｉ／Ｏ１０６からの入力を受けて、吐出ノズル２０７を通常待機位置から洗浄液吐出位置へ移動させる。吐出ノズル２０７が洗浄液吐出位置まで移動した後、ＣＰＵ１０４は、制御回路２０６を介して、ポンプ２０４および電磁弁２０５を制御し、空の反応容器１１２内へ、洗浄液の吐出を開始する（ステップＳ３０２）。洗浄液の吐出停止後に、ＣＰＵ１０４は、Ｉ／Ｏ１０６に対して、吐出ノズル２０７の洗浄液吐出位置から通常待機位置への移動を命令する。駆動回路１１０は、Ｉ／Ｏ１０６からの入力を受けて、吐出ノズル２０７を通常待機位置まで上昇させる。
【0021】
次に、ＣＰＵ１０４は、Ｉ／Ｏ１０６に対して、洗浄液が吐出された反応容器１１２が試薬分注機構１１４のプローブ２０１の分注位置に移動するまで、反応ディスク１３０の回転を命令する。駆動回路１１０は、Ｉ／Ｏ１０６からの入力を受けて、反応容器１１２がプローブ２０１の分注位置まで反応ディスク１３０の回転させる（ステップＳ３０３）。
【0022】
次に、ＣＰＵ１０４は、Ｉ／Ｏ１０６に対して、高さ検知器２０２が液面を検知するまでプローブ２０１の下降を命令する。駆動回路１１０は、Ｉ／Ｏ１０６からの入力を受けて、プローブ２０１を下降させる。制御部１０２は、高さ検知器２０２が液面を検知するまでのプローブ２０１の移動量に基づき、洗浄液の液面高さを導出する（ステップＳ３０４）。
【0023】
次に、制御部１０２は、導出した液面高さを記憶部１０５内の図４に示すデータテーブルに保存する（ステップＳ３０５）。このデータテーブルは、各制御シーケンス１２４について、制御シーケンス１２４に定義されている電磁弁２０５の開放時間と、制御シーケンス１２４を実行した結果得られた液面高さと、制御シーケンス１２４を実行した日時と、分析時の洗浄動作に適用する制御シーケンス１２４であることを示す選定フラグと、を保持する。制御部１０２は、当該データテーブルのうち、実行した制御シーケンス１２４に対応する液面高さと測定日時のデータに関し、前記で導出した液面高さと測定時点の日時に更新する。なお、本実施例では、記憶部１０５が保持する図４に示すデータテーブルにおいて、制御シーケンス１２４のデータの並び順が、電磁弁２０５の開放時間が昇順になる例を挙げているが、制御シーケンス１２４のデータの並び順はこれに限らない。例えば、制御シーケンス１２４のデータの並び順は、電磁弁２０５の開放時間の降順でも良い。
【0024】
次に、ＣＰＵ１０４は、Ｉ／Ｏ１０６に対して、反応容器１１２が洗浄機構１１７の吸引ノズル２０８の吸引位置に移動するまで、反応ディスク１３０の回転を命令する。駆動回路１１０は、Ｉ／Ｏ１０６からの入力を受けて、反応容器１１２が吸引ノズル２０８の吸引位置まで反応ディスク１３０を回転させる（ステップＳ３０６）。
【0025】
次に、制御部１０２は、洗浄機構１１７の吸引ノズル２０８を通常待機位置から洗浄液吐出位置へ移動させる。吐出ノズル２０７が洗浄液吐出位置まで移動した後、制御部１０２は、制御回路２０６を介して、ポンプ２０４を制御し、洗浄液の吸引を開始する（ステップＳ３０７）。洗浄液の吸引停止後に、ＣＰＵ１０４は、Ｉ／Ｏ１０６に対して、吸引ノズル２０８の洗浄液吸引位置から通常待機位置への移動を命令する。駆動回路１１０は、Ｉ／Ｏ１０６からの入力を受けて、吸引ノズル２０８の通常待機位置まで上昇させる。
【0026】
このように、最初に選択された制御シーケンス１２４の実行が完了すると、ステップＳ３０１に戻り、ＳＰＵ１０４が、別（未実行）の制御シーケンス１２４を選択する。以降、新たに選択された制御シーケンス１２４について、前述のステップＳ３０２～ステップＳ３０７と同様の処理が実行される。なお、各制御シーケンス１２４は、パイプライン処理により順次実行されても良い。このパイプライン処理では、例えば、ｎ番目の制御シーケンス１２４が、ステップＳ３０３を実施しているときに、同時にｎ＋１番目の制御シーケンス１２４が、ステップＳ３０２を実行する。
【0027】
そして、データテーブルに保存された全ての制御シーケンス１２４が実行されると、制御部１０２の判定部１２２が、導出した洗浄液の液面高さが所定の許容範囲条件を満たすか否かを判定する。本実施例の記憶部１０５は、液面高さの許容範囲条件として、上限値と下限値を保持しており、さらに、この許容範囲条件の中で、相対的に尤度が高いかどうかを判定するための、液面高さの基準値を保持している。許容範囲条件の上限値と下限値は、オペレータが入力部１１９から設定してもよい。また、本実施例の基準値は、液面高さの上限値と下限値との間の中央値であるが、これに限らない。例えば、電磁弁２０５の径が経年変化によって緩みやすい場合には、当該基準値を中央値よりも許容範囲条件の下限値に近い値に設定されてもよい。また、基準値の代わりに、前述の許容範囲条件よりも狭い基準範囲が設定されてもよい。
【0028】
判定部１２２は、データテーブル内の更新された液面高さの中に、許容範囲条件を満たす液面高さのデータがあるか否かを判定する（ステップＳ３０８）。ここで、許容範囲条件を満たす液面高さのデータが存在しない場合、制御部１０２は、オペレータに対して洗浄液量の調整が不可である旨を、出力部１２０を介して通知する。この場合は、電磁弁２０５の交換が必要なため、オペレータに対する通知内容には、電磁弁２０５の交換を促す旨が含まれる。一方、ステップＳ３０８において、許容範囲条件を満たす液面高さのデータが存在する場合、判定部１２２は、記憶部１０５が保持する液面高さの基準値に対して、相対的に近い液面高さを実現した制御シーケンス１２４を、データテーブルから抽出する。このように、判定部１２２は、許容範囲条件を満たす複数の制御シーケンス１２４の中で、相対的に尤度の高い制御シーケンス１２４を、分析時に適用すべきものと判定し、判定した制御シーケンス１２４の選定フラグをオンに設定する（ステップＳ３０９）。なお、許容範囲条件を満たす液面高さのデータが１つのみの場合は、そのデータに対応する制御シーケンス１２４の選定フラグがオンに設定される。その後、制御部１０２は、オペレータに対して洗浄液量の調整が完了した旨を、出力部１２０を介して通知する。
【0029】
制御部１０２は、選定フラグがオンに設定された制御シーケンス１２４を、オペレーション（分析）中の反応容器１１２の洗浄動作時の制御シーケンス１２４として適用して、洗浄液の吐出を実行する。このため、本実施例の自動分析装置は、反応容器１１２を洗浄する際に、規定の液量液量の吐出を保証し、かつ、洗浄液量の調整頻度を抑制できる。
【0030】
次に、本実施例における洗浄液量の調整方法に関し、図４および図５を用いて、具体的な例で説明する。図４は、全ての制御シーケンス１２４が実行されてデータが更新されたことを示すデータテーブルであり、図５は、全ての制御シーケンス１２４の実行結果として、電磁弁２０５の開放時間と液面高さを示したグラフである。
【0031】
まず、自動分析装置の制御部１０２は、オペレータが入力部１１９で設定したトリガーに基づき、測定を終了した空の反応容器１１２を洗浄する際に用いる制御シーケンス１２４を選定し直すため、メンテナンス処理を開始する。ここで、洗浄液量の調整のために設定されるトリガーとしては、手動で実行させるモードや、オペレータが予め選択した調整間隔または時期に基づいて自動で実行するモード、後述の実施例３で予測した時期に基づいて自動で実行するモード、などがある。記憶部１０５は、図４に示すように、６つの制御シーケンス１２４を保持するものとする。制御部１０２は、これら全ての制御シーケンス１２４を、図３に示すステップＳ３０２～ステップＳ３０７の手順で実行する。図５のグラフは、その結果得られた、制御シーケンス１２４ごとの液面高さを示す。
【0032】
図４および図５に示すように、制御シーケンスＮｏ１は、電磁弁２０５を０．５秒開けるものであり、洗浄液を吐出した結果、液面高さが８．９ｍｍとなった。同様に、制御シーケンスＮｏ２は、電磁弁２０５を０．６秒開けたところ液面高さが９．３ｍｍとなり、制御シーケンスＮｏ３は、電磁弁２０５を０．７秒開けたところ液面高さ９．７ｍｍとなり、制御シーケンスＮｏ４は、電磁弁２０５を０．８秒開けたところ液面高さが１０．１ｍｍとなり、制御シーケンスＮｏ５は、電磁弁２０５を０．９秒開けたところ液面高さが１０．４ｍｍとなり、制御シーケンスＮｏ６は、電磁弁２０５を１．０秒開けたところ液面高さが１０．７ｍｍとなった。
【0033】
ここで、判定部１２２は、前述の図３のステップＳ３０８のように、許容範囲条件を満たす液面高さのデータがあるか否かを判定する。図５に示す通り、許容範囲条件は９．５～１０．５ｍｍであり、かつ、この許容範囲条件を満たす制御シーケンス１２４の実行結果が３つ（制御シーケンスＮｏ３～５）存在するため、図３のステップＳ３０９に進む。
【0034】
ステップＳ３０９では、判定部１２２が、許容範囲条件を満たす３つの制御シーケンス１２４から、前述の基準値に相対的に近い液面高さを実現した制御シーケンス１２４を抽出する。基準値は、下限値９．５ｍｍと上限値１０．５ｍｍの中央値１０．０である。また、制御シーケンスＮｏ３の実行結果は液面高さ９．７ｍｍ、制御シーケンスＮｏ４の実行結果は液面高さ１０．１ｍｍ、制御シーケンスＮｏ３の実行結果は液面高さ１０．４ｍｍであるため、基準値１０．０ｍｍに相対的に近い液面高さを実現するのは、液面高さ１０．１ｍｍを実現した制御シーケンスＮｏ４である。そのため、判定部１２２は、制御シーケンスＮｏ４を、分析時に適用すべき制御シーケンス１２４として判定し、図４のデータテーブルにおいて、制御シーケンスＮｏ４に対応する選定フラグをオン（本実施例では１）に、それ以外の制御シーケンスに対応する選定フラグをオフ（本実施例では０）に設定する。
【0035】
本実施例では、反応容器１１２の容量が既知であるため、液量を調整するために液面高さを調整指標としている。しかし、液面高さから液量を導出し、液量そのものを調整指標としてもよい。この場合、反応容器１１２の底面積と形状が既知であれば、測定した液面高さから液量を算出することができる。
【実施例2】
【0036】
実施例１では、制御部１０２が保持する全ての制御シーケンス１２４を実行してから、基準値に最も近い（相対的に尤度の高い）制御シーケンス１２４を抽出するものであった。実施例２では、実行する制御シーケンス１２４の数が実施例１よりも少なく済むような、より効率的な調整方法を例示する。以下では、実施例１と共通する部分は、適宜説明を省略する。
【0037】
図６は、実施例２に係る液面高さ調整の手順を示したフローチャートである。本実施例の記憶部１０５が保持するデータテーブルには、実施例１のデータに加えて、図７に示す通り、各制御シーケンスに対する実行フラグのデータを保持する。実行フラグは、洗浄液量の調整をする際に、実行した制御シーケンス１２４と実行していない制御シーケンス１２４とを区別するためのものである。これにより、判定部１２２は、実行フラグがオフになっている未実行の制御シーケンス１２４の中から、次に実行すべき制御シーケンス１２４をより効率的に選ぶことができる。なお、実行フラグは、調整を開始する度に、オフ（本実施例では０）に設定されてから、調整が開始される。
【0038】
まず、制御部１０２は、データテーブル内の実行フラグと選定フラグを全てオフに設定する。次に、制御シーケンスＮｏが小さい２つの制御シーケンス１２４が実行される（ステップＳ５０１）。なお、各制御シーケンス１２４には、図３に示すステップＳ３０２～ステップＳ３０７の制御フローが定義されているため、この定義に従って２つの制御シーケンス１２４が実行される。
【0039】
次に、判定部１２２は、２つの制御シーケンス１２４の実行結果に基づき、電磁弁２０５の開放時間と、検知された液面高さとの関係式を算出する（ステップＳ５０２）。さらに、判定部１２２は、ステップＳ５０２で算出した関係式を用いて、記憶部１０５が保持する液面高さの基準値に相対的に近い液面高さを実現すると考えられる電磁弁２０５の開放時間を有する制御シーケンス１２４を、実行フラグがオフの制御シーケンス１２４の中から抽出する（ステップＳ５０３）。制御部１０２は、ステップＳ５０３で抽出された制御シーケンス１２４を実行し（ステップＳ５０４）、その実行結果をデータテーブルに保存するだけでなく、当該制御シーケンス１２４の実行フラグをオンに設定する。
【0040】
次に、判定部１２２は、ステップＳ５０４の実行結果として得られた液面高さが、記憶部１０５が保持する許容範囲条件を満たしているか否かを判定する（ステップＳ５０５）。ステップＳ５０５において、許容範囲条件を満たしていないと判定された場合、判定部１２２は、データテーブルに、実行フラグがオフに設定されている制御シーケンス１２４が存在するか否かを判定する（ステップＳ５０６）。ステップＳ５０６において、実行フラグがオフに設定されている制御シーケンス１２４が存在しない場合、制御部１０２は、オペレータに対して洗浄液量の調整が不可である旨を、出力部１２０を介して通知する。
【0041】
一方、データテーブルに、実行フラグがオフに設定されている制御シーケンス１２４が存在する場合、制御部１０２は、未実行の制御シーケンス１２４を１つ実行する（ステップＳ５０７）。なお、本実施例では、未実行の制御シーケンスのうち、制御シーケンスＮｏが相対的に小さい制御シーケンスを実行する例を挙げるが、実行する制御シーケンス１２４はこれに限らない。制御部１０２は、ステップＳ５０７の実行結果をデータテーブルに保存するだけでなく、当該制御シーケンス１２４の実行フラグをオンに設定する。
【0042】
また、ステップＳ５０５において、ステップＳ５０４の実行結果として得られた液面高さが、記憶部１０５が保持する許容範囲条件を満たしていると判定された場合、判定部１２２は、その実行結果として得られた液面高さが、記憶部１０５が保持する基準値と同じか否かを判定する（ステップＳ５０８）。ここでの判定は、一定の幅を持って同一か否かを判定してもよい。例えば、ステップＳ５０４の実行結果として得られた液面高さが、基準値の±１％の間にある値であった場合には、その液面高さを当該基準値と同じと判定してもよい。
【0043】
ステップＳ５０４の実行結果として得られた液面高さが、記憶部１０５が保持する液面高さの基準値と同じと判定された場合、制御部１０２は、データテーブルに、ステップＳ５０４で実行した制御シーケンス１２４に対応するデータの選定フラグをオンに設定する（ステップＳ５０９）。その後、制御部１０２は、オペレータに対して洗浄液量の調整が完了した旨を、出力部１２０を介して通知する。
【0044】
一方、ステップＳ５０４の実行結果として得られた液面高さが、記憶部１０５が保持する液面高さの基準値と同一でない場合、判定部１２２は、ステップＳ５０４で実行した制御シーケンス１２４よりも基準値に近くなる制御シーケンスがないか確認する。そのために、判定部１２２は、ステップＳ５０２で算出した関係式を用いて、電磁弁２０５の開放時間を、ステップＳ５０４で実行した制御シーケンス１２４で定義されている電磁弁２０５の開放時間よりも長くすれば良いのか、短くすれば良いのかを判定する（ステップＳ５１０）。ステップＳ５１０における判定部１２２の具体的な判定方法は、ステップＳ５０４の実行結果として得られた液面高さが、基準値よりも低い場合は電磁弁２０５の開放時間を長くし、基準値よりも高い場合は電磁弁２０５の開放時間を短くする。
【0045】
次に、判定部１２２は、直前に実行した制御シーケンス１２４の開放時間に相対的に近く、かつ、ステップＳ５１０での判定結果に基づき、次に実行する制御シーケンス１２４を絞り込む。そして、制御部１０２は、判定部１２２が絞り込んだ制御シーケンス１２４を実行する（ステップＳ５１１）。制御部１０２は、ステップＳ５１１の実行結果をデータテーブルに保存するだけでなく、当該制御シーケンス１２４の実行フラグをオンに設定する。
【0046】
判定部１２２は、ステップＳ５１１の実行結果として得られた液面高さが、記憶部１０５が保持する許容範囲条件を満たしているか否かを判定する（ステップＳ５１２）。ステップＳ５１２において、許容範囲条件を満たしていないと判定された場合、判定部１２２は、データテーブルのうち、最後から２番目に実行した制御シーケンス１２４に対応するデータの選定フラグをオンに設定する（ステップＳ５１３）。
【0047】
一方、ステップＳ５１２において、許容範囲条件を満たしていると判定された場合、判定部１２２は、最後から２番目に実行した制御シーケンス１２４から得られた液面高さよりも、最後に実行した制御シーケンス１２４から得られた液面高さの方が、基準値に相対的に近いかどうかを判定する（ステップＳ５１４）。
【0048】
最後に実行した制御シーケンス１２４から得られた液面高さよりも、最後から２番目に実行した制御シーケンス１２４から得られた液面高さの方が、基準値に相対的に近い場合、判定部１２２は、最後から２番目に実行した制御シーケンス１２４に対応する選定フラグをオン（本実施例では１）に、それ以外の制御シーケンスに対応する選定フラグをオフ（本実施例では０）に設定する（ステップＳ５１３）。
【0049】
一方、最後から２番目に実行した制御シーケンス１２４から得られた液面高さよりも、最後に実行した制御シーケンス１２４から得られた液面高さの方が、基準値に相対的に近い場合、判定部１２２は、最後に実行した制御シーケンス１２４に対応する選定フラグをオン（本実施例では１）に、それ以外の制御シーケンスに対応する選定フラグをオフ（本実施例では０）に設定する（ステップＳ５１５）。
【0050】
次に、本実施例における洗浄液量の調整方法に関し、図７および図８を用いて、具体的な例で説明する。図７は、一部（結果としてＮｏ，１，２，４，５）の制御シーケンス１２４が実行されてデータが更新されたことを示すデータテーブルであり、図８は、一部の制御シーケンス１２４の実行結果として、電磁弁２０５の開放時間と液面高さを示したグラフである。
【0051】
自動分析装置の制御部１０２は、オペレータが入力部１１９で設定したトリガーに基づき、測定を終了した空の反応容器１１２を洗浄する際に用いる制御シーケンス１２４を選定しなおすため、メンテナンス処理を開始する。
【0052】
まず、前述の図６のステップＳ５０１で、制御部１０２が、制御シーケンスＮｏ１と制御シーケンスＮｏ２を実行する。図８に示すように、制御シーケンスＮｏ１を実行した結果が１０ｍｍ、制御シーケンスＮｏ２を実行した結果が１３ｍｍである。
【0053】
次に、図６のステップＳ５０２では、判定部１２２が、ステップＳ５０１の実行結果から、電磁弁２０５の開放時間と、制御シーケンス１２４を実行して得られた液面高さとの関係式を算出する。制御シーケンスＮｏ１は、電磁弁２０５の開放時間０．５秒に対して液面高さが１０ｍｍ、制御シーケンスＮｏ２は、電磁弁２０５の開放時間０．６秒に対して液面高さが１３ｍｍなので、当該関係式は、「液面高さ＝３０×電磁弁開放時間－５」となる。
【0054】
次に、判定部１２２が図６のステップＳ５０３を実行する。図８に示すように基準値は２０ｍｍであり、前述の関係式を用いて、この基準値に対応する電磁弁開放時間を判定部１２２が計算すると、約０．８３秒となる。この０．８３秒に相対的に近い電磁弁開放時間が定義されている制御シーケンス１２４は、電磁弁開放時間が０．８秒と定義されている制御シーケンスＮｏ４である。したがって、図６のステップＳ５０４にて、制御シーケンスＮｏ４が実行され、その実行結果として得られた液面高さは１９ｍｍである。
【0055】
次に、図６のステップＳ５０４では、判定部１２２が、図６のステップＳ５０４の実行結果として得られた液面高さ１９ｍｍが許容範囲条件を満たしているか否かを判定する。図８に示す通り、許容範囲条件は１５ｍｍ～２５ｍｍであり、液面高さ１９ｍｍは当該許容範囲条件を満たすため、図６のステップＳ５０８に進む。
【0056】
図６のステップＳ５０８では、判定部１２２が、図６のステップＳ５０４の実行結果として得られた液面高さ１９ｍｍが基準値と同じか否かを判定する。図８に示す通り、基準値は２０ｍｍであり、液面高さ１９ｍｍは当該基準値と同じではないため、判定部１２２は、図６のステップＳ５１０に進む。
【0057】
図６のステップＳ５１０では、判定部１２２が、次に実行する制御シーケンス１２４として、図６のステップＳ５０４で実行した制御シーケンス１２４よりも電磁弁開放時間の長い制御シーケンス１２４とするのか短い制御シーケンス１２４とするのかを判定する。ここで、判定部１２２は、ステップＳ５０４の実行結果として得られた液面高さが、基準値よりも高い場合は、ステップＳ５０４で実行した制御シーケンス１２４よりも電磁弁開放時間の短い制御シーケンス１２４を抽出する。一方、ステップＳ５０４の実行結果として得られた液面高さが、基準値よりも低い場合は、ステップＳ５０４で実行した制御シーケンス１２４よりも電磁弁開放時間の長い制御シーケンス１２４を抽出する。今、ステップＳ５０４を実行結果として得られた液面高さ１９ｍｍは、基準値２０ｍｍよりも低い。よって、判定部１２２は、次に実行する制御シーケンス１２４として、ステップＳ５０４で実行した制御シーケンス１２４よりも電磁弁開放時間の長いものを抽出し、図６のステップＳ５１１に進む。
【0058】
図６のステップＳ５１１では、判定部１２２が、ステップＳ５０４で実行した制御シーケンス１２４の電磁弁開放時間に相対的に近く、かつ、ステップＳ５１０での判定結果を満たすもの、すなわち、ステップＳ５０４で実行した制御シーケンス１２４よりも電磁弁開放時間の長いもの、に絞り込む。ここでは、判定部１２２が、次に実行する制御シーケンス１２４として制御シーケンスＮｏ５に絞り込む。その後、制御部１０２が制御シーケンスＮｏ５を実行し、図６のステップＳ５１２に進む。
【0059】
図６のステップＳ５１２では、判定部１２２が、ステップＳ５１１の実行結果として得られた液面高さが許容範囲条件を満たしているか否かを判定する。図８に示す通り、許容範囲条件は、１５ｍｍ～２５ｍｍである。ステップＳ５１１で制御シーケンスＮｏ５を実行して得られた液面高さ２２ｍｍは、許容範囲条件を満たすため、図６のステップＳ５１４に進む。
【0060】
図６のステップＳ５１４では、判定部１２２が、最後から２番目に実行した制御シーケンス１２４から得られた液面高さよりも、最後に実行した制御シーケンス１２４から得られた液面高さの方が、基準値に相対的に近いか否かを判定する。ここでは、最後から２番目に実行した制御シーケンス１２４（制御シーケンスＮｏ４）から得られた液面高さが１９ｍｍであり、最後に実行した制御シーケンス１２４（制御シーケンスＮｏ５）から得られた液面高さが２２ｍｍである。また、図８に示す通り、基準値は２０ｍｍなので、基準値に相対的に近いのは、最後から２番目に実行した制御シーケンス１２４（制御シーケンスＮｏ４）である。よって、図６のステップＳ５１５に進む。
【0061】
図６のステップＳ５１５では、判定部１２２が、最後から２番目に実行した制御シーケンス１２４（制御シーケンスＮｏ４）を、分析時に適用すべき制御シーケンス１２４として判定し、図７のデータテーブルにおいて、制御シーケンスＮｏ４に対応する選定フラグをオン（本実施例では１）に、それ以外の制御シーケンスに対応する選定フラグをオフ（本実施例では０）に設定する。
【0062】
本実施例では、最初に実行する２つの制御シーケンス１２４として、データテーブルの制御シーケンスＮｏが相対的に小さい２つの制御シーケンス１２４を用いた例を挙げたが、これに限らない。例えば、データテーブルに保持された過去のデータを参照して、液面高さが上限値に近いものと下限値に近いものに対応した制御シーケンス１２４から実行することで、精度の高い関係式が得られる。また、電磁弁２０５の開放時間が最小の制御シーケンス１２４と、電磁弁２０５の開放時間が最大の制御シーケンス１２４と、を最初に実行してもよい。あるいは、関係式を算出するにあたって、３つ以上の制御シーケンス１２４の実行結果を用いることも可能である。さらには、オペレータが入力部１１９を用いて、最初に実行する２つの制御シーケンス１２４を選択できるようにしてもよい、
【実施例3】
【0063】
実施例３では、適用中（選択中）の制御シーケンス１２４が、記憶部１０５が保持する液面高さの許容範囲条件を満たさなくなる日時を、制御部１０２の予測部１２３が予測する方法を例示する。これにより、オペレータは、自動分析装置の利用環境に応じて、洗浄液の液面高さを再調整すべき日時をより正確に知ることができる。
【0064】
図９は、実施例３における、選択中の制御シーケンス１２４が、許容範囲条件を満たさなくなる日時を予測部１２３が予測する手順を示したフローチャートである。本実施例では、前述の実施例１や実施例２のメンテナンス処理が完了し、オペレータに対して洗浄液量の調整処理が完了した旨の通知が出力部１２０に出力される直前に、予測部１２３が予測する例を説明する。しかし、予測するタイミングはこれに限られず、洗浄液量の調整処理とは独立して行われてもよい。
【0065】
予測部１２３は、洗浄液量の調整処理の際に実行された全部または少なくとも２つの制御シーケンス１２４の結果に基づき、電磁弁２０５の開放時間と、検知された液面高さとの関係式を算出し、当該関係式の傾きなどの情報を、記憶部１０５のデータテーブルに保存する（ステップＳ６０１）。図１０は、過去の液量調整ごとの関係式の傾きに関するデータを保持するデータテーブルである。図１０に示すように、このデータテーブルは、例えば、各洗浄液量調整に対して、算出された関係式の傾きと、当該傾きと前回調整時の傾きとの差分値（前回調整時からの傾き変化）と、洗浄液量調整を実行した調整日時と、前回調整日時から当該調整日時までの経過日数と、一日当たりの傾き変化量と、予測日時と、を保持する。また、最初に行われた洗浄液量調整は、当該傾きと前回調整時の傾きとの差分値と、前回調整日時から当該調整日時までの経過日数と、一日当たりの傾き変化量と、予測日時と、のデータは、空欄の状態となる。
【0066】
次に、予測部１２３は、図１０に示すデータテーブルに、２回分以上の洗浄液量調整のデータが存在するか否かを判定する（ステップＳ６０２）。２回分以上の洗浄液量調整のデータが存在しない場合、予測部１２３は、選択中の制御シーケンス１２４が液面高さの許容範囲条件を満たさなくなる日時を予測する処理を終了する。一方、２回分以上の洗浄液量調整のデータが存在する場合、予測部１２３は、図１０に示すデータテーブルに保存された「前回調整時からの傾き変化」の全データを取得して、その平均値を算出し、当該平均値の符号がプラスかマイナスかを算出する（ステップＳ６０３）。なお、平均値を算出するときに用いられるデータは、全データでなく、直近の３つのデータなどであってもよい。
【0067】
次に、予測部１２３は、ステップＳ６０３の算出結果を用いて、現在選択中の制御シーケンス１２４が実現する液面高さが、経年に伴って、許容範囲条件の上限値か下限値のどちらに近づいていくかを予測する（ステップＳ６０４）。具体的には、ステップＳ６０３の算出結果がプラスの場合、電磁弁開放時間と液面高さとの関係式の傾きが、経年に伴って大きくなることを示すため、予測部１２３は、現在選択中の制御シーケンス１２４が実現する液面高さが、上限値に近づいていくと予測する。一方、ステップＳ６０３の算出結果がマイナスの場合、電磁弁開放時間と液面高さとの関係式の傾きが、経年に伴って小さくなることを示すため、予測部１２３は、現在選択中の制御シーケンス１２４が実現する液面高さが、下限値に近づいていくと予測する。
【0068】
次に、予測部１２３は、現在選択中の制御シーケンス１２４が実現する液面高さが、ステップＳ６０４で予測した境界値（上限値または下限値）と同一になる場合における、関係式（限界関係式）の傾きを算出する（ステップＳ６０５）。本実施例では、電磁弁開放時間と液面高さの関係式は、比例関係式に近似するため、予測部１２３は、ステップＳ６０４で予測した境界値から、現在選択中の制御シーケンス１２４に対応する電磁弁開放時間を除することで、限界関係式の傾きを算出できる。
【0069】
次に、予測部１２３は、ステップＳ６０１でデータテーブルに保存した関係式の傾きが、ステップＳ６０５で算出した限界関係式の傾きに至るまでに要する期間を算出する（Ｓ６０６）。具体的には、まず、予測部１２３が、図１０に示すデータテーブルに保存された「一日当たりの傾き変化量」の全データを取得して、その平均値を算出する。なお、平均値を算出するときに用いられるデータは、全データでなく直近の３つのデータなどであってもよい。次に、予測部１２３は、ステップＳ６０５で算出した限界関係式の傾きから、ステップＳ６０１で保存した関係式の傾きを減算する。最後に、予測部１２３は、減算の結果得られた差分を当該平均値で除することで、ステップＳ６０１でデータテーブルに保存した関係式の傾きが、ステップＳ６０５で算出した限界関係式の傾きに至るまでに要する期間が算出できる。
【0070】
次に、予測部１２３は、ステップＳ６０６で得られた期間を現在日時に加算し、その算出結果を、選択中の制御シーケンス１２４が液面高さの許容範囲条件を満たさなくなる予測日時として、データテーブルに保存する（ステップＳ６０７）。
【0071】
次に、制御部１０２は、オペレータに対して洗浄液量の調整が完了した旨を、出力部１２０を介して通知する際に、ステップＳ６０７の予測日時を、図１３の（１）に示すように、次回の調整日時の候補として出力部１２０に合わせて表示する。
【0072】
また、制御部１０２は、オペレータが洗浄液量の調整の開始スケジュールを設定する際に表示する入力部１１９に、ステップＳ６０７の予測日時を図１１の（１）に示すように表示し、オペレータが選択できるようにする。例えば、オペレータが図１１の「Ｍａｎｕａｌ」を選択してＳｅｔボタンを操作した場合、洗浄液量の調整が即時実行される。一方、オペレータが図１１の「Ａｕｔｏ」を選択し、かつ、「Ｒｅｃｏｍｍｅｎｄａｔｉｏｎ」を選択してＳｅｔボタンを操作した場合、ステップＳ６０７の予測日時に洗浄液量の調整が自動的に実行される。また、オペレータが図１１の「Ａｕｔｏ」を選択し、かつ、「Ｒｅｇｕｌａｒ ｉｎｔｅｒｖａｌ」を選択してＳｅｔボタンを操作した場合、オペレータが指定した期間ごとに洗浄液量の調整が自動的に実行される。なお、オペレータが指定した期間に至る前に、ステップＳ６０７の予測日時に至る場合、制御部１０２は、出力部１２０を介して通知してもよい。
【0073】
本実施例では、ステップＳ６０７の予測日時が入力部１１９にそのまま表示されるが、入力部１１９に表示される予測日時はこれに限らない。例えば、制御部１０２は、入力部１１９に、ステップＳ６０７の予測日時から余裕をもって３０日前の日時を表示してもよい。さらに、例えば、制御部１０２は、ステップＳ６０７の予測日時の３０日前から、オペレータに洗浄液量の再調整を促す旨を入力部１１９に表示してもよい。
【0074】
また、洗浄液量の調整は、入力部１１９からオペレータが設定したスケジュールに実施してもよいが、必ずしもオペレータの設定が必要とは限らない。例えば、自動分析装置が、毎分析前などの所定のタイミングで調整を実施してもよい。
【実施例4】
【0075】
実施例４では、自動分析御装置が記憶部１０５に保持する全ての制御シーケンス１２４が、液面高さの許容範囲条件を満たさなくなる日時を、制御部１０２の予測部１２３が予測する方法を例示する。これにより、オペレータは、自動分析装置の利用環境に応じて、電磁弁２０５を交換すべき日時をより正確に知ることができる。
【0076】
図１２は、実施例４における、自動分析御装置が保持する全ての制御シーケンス１２４が、許容範囲条件を満たさなくなる日時を予測部１２３が予測する手順を示したフローチャートである。本実施例では、実施例３と同様に、オペレータに対して洗浄液量の調整処理が完了した旨の通知が出力部１２０に出力される直前に、予測部１２３が予測する例を説明する。しかし、予測するタイミングはこれに限られず、洗浄液量の調整処理とは独立して行われてもよいし、実施例３と合わせて実施してもよい。
【0077】
予測部１２３は、洗浄液量の調整処理の際に実行された全部または少なくとも２つの制御シーケンス１２４の結果に基づき、電磁弁２０５の開放時間と、検知された液面高さとの関係式を算出し、当該関係式の傾きなどの情報を、記憶部１０５のデータテーブルに保存する（ステップＳ９０１）。
【0078】
本実施例のデータテーブルも、実施例３と同様に、各洗浄液量調整に対して、算出された関係式の傾きと、当該傾きと前回調整時の傾きとの差分値（前回調整時からの傾き変化）と、洗浄液量調整を実行した調整日時と、前回調整日時から当該調整日時までの経過日数と、一日当たりの傾き変化量と、予測日時と、を保持する。ただし、本実施例の予測日時は、記憶部１０５に保持された全ての制御シーケンス１２４が許容範囲条件を満たさなくなると予測される日時である。
【0079】
次に、予測部１２３は、データテーブルに、２回分以上の洗浄液量調整のデータが存在するか否かを判定する（ステップＳ９０２）。２回分以上の洗浄液量調整のデータが存在しない場合、予測部１２３は、全ての制御シーケンス１２４が液面高さの許容範囲条件を満たさなくなる日時を予測する処理を終了する。一方、２回分以上の洗浄液量調整のデータが存在する場合、予測部１２３は、データテーブルに保存された「前回調整時からの傾き変化」の全データを取得して、その平均値を算出し、当該平均値の符号がプラスかマイナスかを算出する（ステップＳ９０３）。
【0080】
次に、予測部１２３は、ステップＳ９０３の算出結果を用いて、制御シーケンス１２４が実現する液面高さが、経年に伴って、許容範囲条件の上限値か下限値のどちらに近づいていくかを予測する（ステップＳ９０４）。
【0081】
ステップＳ９０４において、制御シーケンス１２４が実現する液面高さが、経年に伴って、下限値に近づいていくと予測された場合、予測部１２３は、自動分析装置が保持する制御シーケンス１２４の中で、電磁弁２０５の開放時間が相対的に長く定義されている制御シーケンス１２４が、下限値の液面高さを実現するときの、電磁弁開放時間と液面高さの関係式（下限関係式）の傾きを算出する（ステップＳ９０５）。
【0082】
一方、ステップＳ９０４において、制御シーケンス１２４が実現する液面高さが、経年に伴って、上限値に近づいていくと予測された場合、予測部１２３は、自動分析装置が保持する制御シーケンス１２４の中で、電磁弁２０５の開放時間が相対的に短く定義されている制御シーケンス１２４が、上限値の液面高さを実現するときの、電磁弁開放時間と液面高さの関係式（上限関係式）の傾きを算出する（ステップＳ９０６）。
【0083】
次に、予測部１２３は、ステップＳ９０１でデータテーブルに保存した関係式の傾きが、ステップＳ９０５またはステップＳ９０６で算出した下限関係式または上限関係式の傾きに至るまでに要する期間を算出する（ステップＳ９０７）。具体的には、まず、予測部１２３が、データテーブルに保存された「一日当たりの傾き変化量」の全データを取得して、その平均値を算出する。次に、予測部１２３は、ステップＳ９０５またはステップＳ９０６で算出した下限関係式または上限関係式の傾きから、ステップＳ９０１で保存した関係式の傾きを減算する。最後に、予測部１２３は、減算の結果得られた差分を当該平均値で除することで、ステップＳ９０１でデータテーブルに保存した関係式の傾きが、ステップＳ９０５またはステップＳ９０６で算出した下限関係式または上限関係式の傾きに至るまでに要する期間が算出できる。
【0084】
次に、予測部１２３は、ステップＳ９０７で得られた期間を現在日時に加算し、その算出結果を、自動分析御装置が保持する全ての制御シーケンス１２４が液面高さの許容範囲条件を満たさなくなる予測日時として、データテーブルに保存する（ステップＳ９０８）。
【0085】
次に、制御部１０２は、オペレータに対して洗浄液量の調整が完了した旨を、出力部１２０を介して通知する際に、ステップＳ９０８の予測日時を、図１３の（２）に示すように、電磁弁２０５を交換すべき日時として出力部１２０に合わせて表示する。
【実施例5】
【0086】
実施例５では、電磁弁２０５に、経年劣化以外の要因で異常が生じているか否かを制御部１０２の診断部が診断する方法を例示する。経年劣化以外の要因には、例えば、ごみの詰まりなどが考えられる。これにより、オペレータは、電磁弁２０５が故障して使えなくなる前に、電磁弁２０５の異常を検知することができる。
【0087】
図１４は、実施例５における、電磁弁２０５の、経年劣化以外の要因による異常を診断部が診断する手順を示したフローチャートである。本実施例では、オペレータに対して洗浄液量の調整処理が完了した旨の通知が出力部１２０に出力される直前に、診断部が診断する例を説明する。しかし、診断するタイミングはこれに限られず、洗浄液量の調整処理とは独立して行われてもよいし、実施例３や実施例４と合わせて実施してもよい。
【0088】
診断部は、洗浄液量の調整処理の際に実行された全部または少なくとも２つの制御シーケンス１２４の結果に基づき、電磁弁２０５の開放時間と、検知された液面高さとの関係式を算出し、当該関係式の傾きや傾きの変化量などの情報を、記憶部１０５のデータテーブルに保存する（ステップＳ１１０１）。
【0089】
本実施例のデータテーブルは、各洗浄液量調整に対して、算出された関係式の傾きと、当該傾きと前回調整時の傾きとの差分値（前回調整時からの傾き変化）と、洗浄液量調整を実行した調整日時と、前回調整日時から当該調整日時までの経過日数と、一日当たりの傾き変化量と、異常診断結果と、を保持する。
【0090】
次に、診断部は、データテーブルに、２回分以上の洗浄液量調整のデータが存在するか否かを判定する（ステップＳ１１０２）。２回分以上の洗浄液量調整のデータが存在しない場合、診断部は、異常診断の処理を終了する。一方、２回分以上の洗浄液量調整のデータが存在する場合、診断部は、データテーブルに保存された「一日当たりの傾き変化量」の全データを取得して、その平均値を算出する（ステップＳ１１０３）。なお、平均値を算出するときに用いられるデータは、全データでなく、直近の３つのデータなどであってもよい。
【0091】
次に、診断部は、ステップＳ１１０１でデータテーブルに保存した「一日当たりの傾き変化量」と、ステップＳ１１０３で算出した「一日当たりの傾き変化量」の平均値と、比率で乖離の程度を算出する（ステップＳ１１０４）。なお、乖離の程度の算出方法はこれに限られず、例えば、ステップＳ１１０１で保存した「一日当たりの傾き変化量」から、ステップＳ１１０３で算出した平均値を減算し、絶対値で乖離の程度を算出してもよい。
【0092】
次に、診断部は、ステップＳ１１０４で算出した乖離の程度が、記憶部１０５が保持する許容範囲条件に入っているか否かを診断する（ステップＳ１１０５）。本実施例では、記憶部１０５は、ステップＳ１１０５の診断を行う為に、百分率の形式で許容範囲条件を保持しており、診断部は、それを用いて診断を行う。ただし、記憶部１０５が保持する許容範囲条件は、実数の形式で許容範囲条件を保持していてもよい。
【0093】
ステップＳ１１０５において、乖離の程度が許容範囲条件に入っている場合、診断部は、記憶部１０５が保持するデータテーブルにおいて、当該洗浄液量調整に対応する、異常診断結果のデータを、「異常なし」に設定して保存する（ステップＳ１１０６）。一方、ステップＳ１１０５において、乖離の程度が許容範囲条件に入っていない場合、診断部は、記憶部１０５が保持するデータテーブルにおいて、当該洗浄液量調整に対応する、異常診断結果のデータを、「異常あり」に設定して保存する（ステップＳ１１０７）。
【0094】
次に、制御部１０２は、オペレータに対して洗浄液量の調整が完了した旨を、出力部１２０を介して通知する際に、ステップＳ１１０６またはステップＳ１１０７の異常診断結果を、図１３の（３）に示すように、出力部１２０に合わせて表示する。
【実施例6】
【0095】
実施例６では、制御部１０２が、自動分析装置の使用状況に応じて、異なる制御シーケンス１２４を分析に利用する場合に、利用した制御シーケンス１２４と分析結果が記憶部１０５に紐づけて保持される。そして、本実施例の自動分析装置は、分析終了後に、分析結果とともに、分析時に適用した制御シーケンス１２４の種類を出力部１２０にあわせて表示する。これにより、本実施例の自動分析装置は、状況に応じて異なる制御シーケンス１２４を利用する場合にも、トレーサビリティを確保することができる。
【0096】
図１５は、制御部１０２が出力部１２０に出力する、分析結果の詳細画面である。記憶部１０５は、分析中に利用した制御シーケンス１２４を、分析動作ごとに保持しており、制御部１０２は、図１５の（１）に示すように、その対応関係を出力部１２０に出力する。以下では、記憶部１０５が、図７に示すデータテーブルを保持している場合について説明する。まず、分析に使用した反応容器１１２を洗浄する際に、洗浄動作用の制御シーケンスとして図７の制御シーケンスＮｏ４が使用された場合、図１５の（１）「Ｓｅｑｕｅｎｃｅ Ｄｅｔａｉｌｓ」における「Ｗａｓｈｉｎｇ」（洗浄動作）の項目には、制御シーケンスＮｏ４が対応する。ここで、図７のデータテーブルに保持される制御シーケンスは、それぞれ電磁弁２０５の開放時間が異なる。したがって、この対応付けにより、分析中に行われた反応容器１１２への洗浄液の吐出が、どれくらいの長さの電磁弁開放時間で行われたのかが明らかになる。同様に、例えば、「Ｓａｍｐｌｅ Ｄｉｓｐｅｎｓｅ」（検体分注動作）や「Ｒｅａｇｅｎｔ Ｄｉｓｐｅｎｓｅ」（試薬分注動作）では、プローブ２０１の移動量が定義された制御シーケンスを分析結果と紐づけても良いし、吐出量や吸引量が定義された制御シーケンスを分析結果と紐づけても良い。また、「Ｒｅａｃｔｉｏｎ」（反応動作）では、例えば、反応容器１１２の移動量が定義された制御シーケンスを分析結果と紐づけても良い。
【0097】
なお、前述の各実施例では、生化学自動分析装置の例を説明したが、本発明はこれに限定されるものではなく、免疫自動分析装置や凝固自動分析装置などにも適用できる。また、前述の各実施例では、液量検知部として、液面の高さを検知する高さ検知器が用いられたが、他の方法によって洗浄液の液量を検知しても良い。さらに、前述の各実施例では、電磁弁の開放時間を変えることにより液量を調整したが、電磁弁の開度を変えるなど他の方法により液量を調整しても良い。
【符号の説明】
【0098】
１０２…制御部、１０３…機構駆動部、１０４…ＣＰＵ、１０５…記憶部、１０６…Ｉ／Ｏ、１０７…ＡＤＣ、１０８…操作部、１０９…Ｉ／Ｆ、１１０…駆動回路、１１１…検体容器、１１２…反応容器、１１３…検体分注機構、１１４…試薬分注機構、１１５…攪拌機構、１１６…光度計、１１７…洗浄機構、１１８…反応槽、１１９…入力部、１２０…出力部、１２１…メモリ、１２２…判定部、１２３…予測部、１２４…制御シーケンス、１３０…反応ディスク、２０１…プローブ、２０２…高さ検知器、２０３…流路、２０４…ポンプ、２０５…電磁弁、２０６…制御回路、２０７…吐出ノズル、２０８…吸引ノズル
【図1】
【図2】
【図3】
【図4】
【図5】
【図6】
【図7】
【図8】
【図9】
【図10】
【図11】
【図12】
【図13】
【図14】
【図15】