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特許7520868基板処理チャンバ用のリッドアセンブリ装置及び方法
(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-07-12
(45)【発行日】2024-07-23
(54)【発明の名称】基板処理チャンバ用のリッドアセンブリ装置及び方法
(51)【国際特許分類】
   H01L 21/31 20060101AFI20240716BHJP
   C23C 16/455 20060101ALI20240716BHJP
【FI】
H01L21/31 C
C23C16/455
【請求項の数】 7
(21)【出願番号】P 2021554712
(86)(22)【出願日】2020-02-26
(65)【公表番号】
(43)【公表日】2022-05-11
(86)【国際出願番号】 US2020019801
(87)【国際公開番号】W WO2020185401
(87)【国際公開日】2020-09-17
【審査請求日】2023-01-05
(31)【優先権主張番号】201941009365
(32)【優先日】2019-03-11
(33)【優先権主張国・地域又は機関】IN
(73)【特許権者】
【識別番号】390040660
【氏名又は名称】アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド
【氏名又は名称原語表記】APPLIED MATERIALS,INCORPORATED
【住所又は居所原語表記】3050 Bowers Avenue Santa Clara CA 95054 U.S.A.
(74)【代理人】
【識別番号】110002077
【氏名又は名称】園田・小林弁理士法人
(72)【発明者】
【氏名】クマーランクティ, ハニシュ クマール パナバラッピル
(72)【発明者】
【氏名】デサイ, パラシャント エー.
(72)【発明者】
【氏名】ケッドラヤ, ディワカール エヌ.
(72)【発明者】
【氏名】アガルワル, スミット
(72)【発明者】
【氏名】バンガロール, ビジャダラン スリニバサ ムールティー
(72)【発明者】
【氏名】グェン, トゥロン
(72)【発明者】
【氏名】ホアン, ツーピン
【審査官】鈴木 智之
(56)【参考文献】
【文献】特開2014-143101(JP,A)
【文献】特開2002-146538(JP,A)
【文献】特開2012-059866(JP,A)
【文献】特開2016-164994(JP,A)
【文献】特表2012-533890(JP,A)
【文献】特開2013-239707(JP,A)
【文献】特表2014-512458(JP,A)
【文献】特表2013-536590(JP,A)
【文献】特表2013-541182(JP,A)
【文献】特表2011-525299(JP,A)
【文献】米国特許出願公開第2015/0368799(US,A1)
【文献】米国特許出願公開第2013/0052804(US,A1)
【文献】米国特許出願公開第2009/0095222(US,A1)
【文献】米国特許出願公開第2009/0095221(US,A1)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
H01L 21/31
C23C 16/455
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
リッドアセンブリにおいて、
ガスマニホールドであって、
第1のガス経路を画定する、第1のガスを受け取るように構成された第1のガスチャネル、
第2のガス経路を画定する、第2のガスを受け取るように構成された第2のガスチャネルであって、前記第2のガス経路が前記第1のガスチャネルから流体的に隔離されている、第2のガスチャネル、及び
第3のガス経路を画定する、第3のガスを受け取るように構成された第3のガスチャネルであって、前記第3のガス経路が前記第1のガスチャネル及び前記第2のガスチャネルと流体連結している、第3のガスチャネル
を備えた、ガスマニホールド、並びに
前記ガスマニホールドに流体的に結合したシャワーヘッドであって、
前記第2のガスから前記第1のガスを流体的に隔離しつつ、前記第1のガスを受け取るように構成されている1つ以上の第1のガス開口部、及び
前記第1のガス及び前記第3のガスの両方から前記第2のガスを流体的に隔離しつつ、前記第2のガスを受け取るように構成されている1つ以上の第2のガス開口部
を備えた、シャワーヘッド
を備えている、リッドアセンブリ。
【請求項2】
前記1つ以上の第1のガス開口部が、前記シャワーヘッドの1つ以上のボスに配置され、前記1つ以上の第2のガス開口部が、前記1つ以上のボスの周囲又は間に配置される、請求項1に記載のリッドアセンブリ。
【請求項3】
前記シャワーヘッドの前記1つ以上の第1のガス開口部及び前記1つ以上の第2のガス開口部が、前記第3のガスチャネルに流体的に結合される、請求項1に記載のリッドアセンブリ。
【請求項4】
ガスボックスであって、
ガスボックス第3ガスチャネルに結合された中央開口部であって、前記第3のガスチャネルに流体的に結合された、中央開口部、
ガスボックス第1ガスチャネルに結合された第1のガス開口部であって、前記中央開口部の周りに配置され、かつ前記第1のガスチャネルに流体的に結合された、第1のガス開口部、
ガスボックス第2ガスチャネルに結合された第2のガス開口部であって、前記第1のガス開口部の周りに配置され、かつ前記第2のガスチャネルに流体的に結合された、第2のガス開口部
を含む、ガスボックス
をさらに含む、請求項1に記載のリッドアセンブリ。
【請求項5】
前記シャワーヘッドの上面に結合された第1のプレートであって、
前記ガスボックス第1ガスチャネル及び前記ガスボックス第3ガスチャネルに流体的に結合された第1のプレートプレナムであって、前記第1及び第3のガス経路を組み合わせた第4のガス経路を画定する、第1のプレートプレナム、
前記ガスボックス第2ガスチャネルに流体的に結合され、かつ前記第1のプレートプレナムから流体的に隔離された第1プレート第2ガス開口部であって、前記第2のガス経路をさらに画定する、第1プレート第2ガス開口部
を備えた、第1のプレート
をさらに含む、請求項4に記載のリッドアセンブリ。
【請求項6】
前記シャワーヘッドの前記上面に結合され、かつ前記第1のプレートを介して前記ガスボックスと接触した第2のプレートであって、
前記第1のプレートプレナムに流体的に結合された第2のプレートプレナムであって、前記第4のガス経路をさらに画定する、第2のプレートプレナム、
前記第2のプレートプレナムから分離された前記第1プレート第2ガス開口部に流体的に結合された第2プレート第3ガス開口部であって、前記第2のガス経路をさらに画定する、第2プレート第3ガス開口部
を備えた、第2のプレート
をさらに含む、請求項5に記載のリッドアセンブリ。
【請求項7】
前記ガスボックスが、複数の前記第1のガスチャネルを含み、前記複数の第1のガスチャネルが、放射状に延びるスポーク構成で配置される、請求項6に記載のリッドアセンブリ。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本開示は、概して、基板処理チャンバ用のリッドアセンブリ装置及び関連する方法に関する。
【背景技術】
【0002】
反応性ガスは、半導体デバイスの製造によく用いられる。一部の反応性ガスは、チャンバに導入されると、基板又は基板のセクションに材料を堆積する。ある特定のガスは、他のガスよりも容易に及び/又はより速く分解する。例えば、一部のガスは、ある特定の温度において他のガスよりも容易に及び/又はより速く分解しうる。この結果、基板処理動作の非効率性、無駄、汚染、及び信頼性の問題が生じる。例えば、ガスが分解すると、基板処理動作中に半導体上に堆積した高誘電率誘電体に信頼性の問題を引き起こす可能性がある。
【0003】
したがって、基板処理チャンバに効率的かつ確実にガスを送出する装置が必要とされている。
【発明の概要】
【0004】
本開示は、基板処理チャンバのためのリッドアセンブリ装置及び関連する方法に関する。
【0005】
一実装形態では、リッドアセンブリはガスマニホールドを含む。ガスマニホールドは、プロセスガスを受け取るように構成された第1のガスチャネル、ドーピングガスを受け取るように構成された第2のガスチャネル、及び洗浄ガスを受け取るように構成された第3のガスチャネルを含む。リッドアセンブリはまた、シャワーヘッドも含む。シャワーヘッドは、プロセスガスを受け取るように構成されている1つ以上の第1のガス開口部と、ドーピングガスを受け取るように構成されている1つ以上の第2のガス開口部とを含む。
【0006】
本開示の上記の特徴を詳細に理解できるように、その一部が添付の図面に示されている実施形態を参照することにより、上に簡単に要約されている本開示のより詳細な説明を得ることができる。しかしながら、添付の図面は例示的な実装形態を示しているにすぎず、したがって、その範囲を限定するとみなすべきではなく、他の等しく有効な実装形態も許容されうることに留意されたい。
【図面の簡単な説明】
【0007】
図1】本開示の一実装形態による基板処理チャンバの概略図
図2A】本開示の一実装形態によるリッドアセンブリの概略図
図2B】本開示の一実装形態による、図2Aに示されるリッドアセンブリの拡大部分図
図2C】本開示の一実装形態による、図2Bに示されるシャワーヘッドの拡大部分図
図2D】本開示の一実装形態による、図2Aに示されるリッドアセンブリの拡大部分図
図2E】本開示の一実装形態による、図2Dに示されるシャワーヘッドの拡大部分図
図2F】本開示の一実装形態による、図2Aに示されるリッドアセンブリの拡大部分図
図2G】本開示の一実装形態による、図2Aに示されるガスマニホールドの概略的な上面図
図2H】本開示の一実装形態による、図2Aに示されるガスボックスの概略的な上面図
図2I】本開示の一実装形態による、図2Aに示される第1のプレートの概略的な上面図
図2J】本開示の一実装形態による、図2Aに示される第2のプレート及びシャワーヘッドの概略的な上面図
図2K】本開示の一実装形態による、図2Aに示されるシャワーヘッドの概略的な上面図
図2L図2Kに示されるシャワーヘッドの部分拡大図
【発明を実施するための形態】
【0008】
理解を容易にするため、可能な場合には、図面に共通する同一の要素を示すために同一の参照番号が用いられる。一実施形態の要素及び特徴は、さらなる記載がなくとも、他の実施形態に有益に組み込むことができることが想定されている。
【0009】
本開示は、基板処理チャンバ用のリッドアセンブリ装置及び関連する方法に関する。図1は、本開示の一実装形態による基板処理チャンバ104の概略図である。基板処理チャンバ104は、その上にある基板101を支持するためのペデスタル108を含む。
【0010】
基板処理チャンバ104はリッドアセンブリ110を含む。リッドアセンブリ110は、基板処理チャンバ104の処理容積105に前駆体ガス及び洗浄ガスを導入するように構成される。リッドアセンブリ110は、処理容積105にガスを導入するシャワーヘッド106を含む。処理容積105に導入された前駆体ガスは、材料を基板101上に堆積させる目的で、基板101上又はその上方で反応するように構成される。基板101上に堆積された材料は、半導体を製造する目的で、高誘電率誘電体材料を含みうる。プラズマは、基板101への材料の堆積を容易にするために、処理容積105内に生成される。基板処理チャンバ104は、高周波(RF)エネルギー、直流(DC)電圧、及び/又は交流(AC)を基板処理チャンバ104及び/又はその構成要素全体に伝播する、1つ以上のエネルギー源を含む。基板処理チャンバ104は、該基板処理チャンバ104のさまざまな構成要素及び態様の温度を制御する、1つ以上のヒータ及び/又は1つ以上の冷却チャネル、例えばペデスタル108を含む。
【0011】
基板処理チャンバ104は排気開口部109を含む。排気開口部109は、減圧ポンプ133に流体的に接続される。減圧ポンプ133は、基板処理チャンバ104の処理容積105から排気開口部109を通してガスを排出するように構成される。
【0012】
図2Aは、本開示の一実装形態によるリッドアセンブリ210の概略図である。リッドアセンブリ210の1つ以上の特徴、構成要素、及び/又は態様が、図1に示されるリッドアセンブリ110及び/又はシャワーヘッド106に含まれうる。
【0013】
リッドアセンブリ210は、ガスマニホールド201、隔離マニホールド202、ガスボックス203、第1のプレート204、シャワーヘッド206、及び第2のプレート205を含む。ガスマニホールド201は、2つ以上の前駆体ガス源から2つ以上の前駆体ガスを受け取るように構成され、また、1つ以上の洗浄ガス源から1つ以上の洗浄ガスを受け取るように構成される。隔離マニホールド202はガスマニホールド201の下に配置される。隔離マニホールド202は、ガスマニホールド201などの隔離マニホールド202の上の構成要素又は態様を、隔離マニホールド202の下の構成要素又は態様から電気的に絶縁するように構成される。例えば、隔離マニホールドは、処理容積105全体に伝播するRFエネルギー、DC電圧、及び/又はAC電流の1つ以上からガスマニホールド201を電気的に絶縁するように構成される。ガスボックス203は、ガスマニホールド201及び隔離マニホールド202の下に配置される。第1のプレート204はガスボックス203の下に配置される。一例では、第1のプレート204はブロッカプレートである。シャワーヘッド206は第1のプレート204の下に配置される。第2のプレート205は、シャワーヘッド206と第1のプレート204との間に配置される。第2のプレート205は、シャワーヘッド206の内側ショルダ209内に配置される。
【0014】
シャワーヘッド206は、1つ以上の第1のガス開口部211及び1つ以上の第2のガス開口部213を含む。第1のガス開口部211は、第1のガスAを処理容積105(図1に示される)に導入するように構成される。第2のガス開口部213は、第2のガスBを処理容積105に導入するように構成される。第1のガスAは、ガスマニホールド201を通ってリッドアセンブリ210に入り、シャワーヘッド206の第1のガス開口部211を通ってリッドアセンブリ210から出る。第2のガスBは、ガスマニホールド201を通ってリッドアセンブリ210に入り、シャワーヘッド206の第2のガス開口部213を通ってリッドアセンブリ210から出る。
【0015】
例として、第1のガスAはプロセスガスを含む。プロセスガスは、シラン及び/又はジシランのうちの1つ以上を含む。第2のガスBはドーピングガスを含む。ドーピングガスは、ホウ素、ホスフィン、フッ素、ヒ素、及び/又は三フッ化窒素のうちの1つ以上を含む。しかしながら、他のガスも想定されている。
【0016】
リッドアセンブリ210及びシャワーヘッド206は、第1のガスAが第1のガス開口部211を通ってシャワーヘッド206から出るまで、及び第2のガスBが第2のガス開口部213を通ってシャワーヘッド206から出るまで、第1のガスAと第2のガスBとが分離されるように構成される。第1のガスAと第2のガスBとは、第1のガスA及び第2のガスBが処理容積105に到達するまで混合されない。これらの構成により、第1のガスA及び第2のガスBのそれぞれの密度を比較的高くすることが可能であり、その結果、処理容積105内及び処理される基板(基板101など)に隣接する第1のガスA及び第2のガスBの確実な混合がもたらされる。
【0017】
これらの構成はまた、第1のガスA及び第2のガスBの一方が、第1のガスA及び第2のガスBの他方よりも前に又はより速く、完全に又は部分的に分解することの影響を防止又は軽減する。第1のガスAがプロセスガスを含み、第2のガスBがドーピングガスを含む例では、ドーピングガスは、ある特定の温度において、プロセスガスよりも早く又は速く分解しうる。これらの構成は、プロセスガス及びドーピングガスがリッドアセンブリ210のシャワーヘッド206を出るまでプロセスガスとドーピングガスとを別々に保つことによって、プロセスガスと比較して分解するドーピングガスの影響を防止又は軽減する。第1のガスA及び第2のガスBを分離することにより、第1のガスA及び第2のガスBが処理容積105に到達するまで、第1のガスAと第2のガスBとの反応を防ぐことができる。例として、基板の表面(図1に示されるシャワーヘッド106に面する基板101の表面など)のすぐ上まで、第1のガスAと第2のガスBとの反応を防ぐことができる。これにより、効率が向上し、無駄が少なくなり、基板への膜の確実な堆積が実現する。
【0018】
リッドアセンブリ210は絶縁体214を含む。絶縁体214は、ガスマニホールド201の中央開口部215、隔離マニホールド202の中央開口部216、及びガスボックス203の中央開口部217に配置される。絶縁体214はセラミックシールドである。一例では、絶縁体214は窒化アルミニウムを含む。絶縁体214は、ガスマニホールド201の内面218、隔離マニホールド202の内面219、及びガスボックス203の内面220への熱の蓄積及び/又はラジカルの蓄積を低減又は防止する。絶縁体214は、図2Fに示される第3のガスチャネル253に対応する開口部289を含む。
【0019】
図2Bは、本開示の一実装形態による、図2Aに示されるリッドアセンブリ210の拡大部分図である。ガスマニホールド201は、該ガスマニホールド201の第1のガスチャネル221を介して第1のガスAを受け取るように構成される。第1のガスチャネル221は、隔離マニホールド202の第1のガスチャネル222に流体的に接続される。隔離マニホールド202は、第1のガスチャネル222を介して第1のガスAを受け取るように構成される。第1のガスチャネル222は、ガスボックス203の第1のガス開口部223に流体的に接続される。ガスボックス203は、第1のガス開口部223を介して第1のガスAを受け取るように構成される。ガスボックス203の第1のガス開口部223は、ガスボックス203の第1のガスチャネル225に流体的に接続される。
【0020】
第1のガスチャネル225は、該第1のガスチャネル225から及び第1のプレート204のプレナム227に第1のガスAを送出するように構成されている1つ以上の第1のガス開口部226(6つ示されている)を含む。プレナム227は、第1のプレート204の凹部228及びガスボックス203によって画定される。凹部228は、第1のプレート204の第1の表面230を画定する。第1のプレートはまた、第2の表面231も含む。第1のプレート204は、第1のプレート204の第1の表面230から第2の表面231まで延びる1つ以上の第1のガス開口部229を含む。第1のガス開口部229は、第1のプレート204の第2の表面231と第2のプレート205との間にあるプレナム232に流体的に接続される。第1のガス開口部229は、プレナム227から及び第1のプレート204と第2のプレート205との間のプレナム232に第1のガスAを送出するように構成される。
【0021】
第2のプレート205は、該第2のプレート205の第1の表面234から第2のプレート205の第2の表面235まで延びる1つ以上の第1のガス開口部233を含む。一例では、第1のプレート204の第1のガス開口部229の1つ以上は、ガスボックス203の第1のガスチャネル225の第1のガス開口部226の1つ以上と位置合わせされる。一例では、第1のプレート204の第1のガス開口部229の1つ以上は、第2のプレート205の第1のガス開口部233の1つ以上と位置合わせされる。
【0022】
第2のプレート205の第1のガス開口部233は、プレナム232から及びシャワーヘッド206の第1のガス開口部211に第1のガスAを送出するように構成される。
【0023】
図2Cは、本開示の一実装形態による、図2Bに示されるシャワーヘッド206の拡大部分図である。シャワーヘッド206は、該シャワーヘッド206の第1の表面236から突出する1つ以上のボス240を含む。第1のガス開口部211は、ボス表面237からシャワーヘッド206の第2の表面238まで延びる。第2の表面238は、処理容積105に面しており、それに晒される。ボス240のボス表面237は、第2のプレート205の第2の表面235に接触する。一例では、第2のプレート205の第1のガス開口部233の1つ以上は、シャワーヘッド206の第1のガス開口部211の1つ以上と位置合わせされる。
【0024】
図2B及び2Cに示されるように、ガスマニホールド201の第1のガスチャネル221は、シャワーヘッド206及び処理容積105に流体的に接続される。リッドアセンブリ210は、第1のガス源から及び処理容積105に第1のガスAを送出する。
【0025】
図2Dは、本開示の一実装形態による、図2Aに示されているものとは異なる径方向断面でのリッドアセンブリ210の拡大部分図である。ガスマニホールド201は、第2のガスチャネル241を介して第2のガスBを受け取るように構成される。第2のガスチャネル241は、図2Bに示される第1のガスチャネル221とは分離され、区別される。第2のガスチャネル241は、隔離マニホールド202の第2のガスチャネル242へと第2のガスBを送出するように構成される。第2のガスチャネル242は、隔離マニホールド202の第1のガスチャネル222とは分離され、区別される。第2のガスチャネル242は、ガスマニホールド201の第2のガスチャネル241から及びガスボックス203の第2のガス開口部243に第2のガスBを送出するように構成される。第2のガス開口部243は、ガスボックス203の第2のガスチャネル244に第2のガスBを送出するように構成される。第2のガス開口部243は、ガスボックス203の第1のガス開口部223の径方向外側に配置される。
【0026】
ガスボックス203の第2のガスチャネル244は、図2Bに示される第1のガスチャネル25とは分離され、区別される。第2のガスチャネル244は、1つ以上の第2のガス開口部246を含む。第2のガスチャネル244の第2のガス開口部246は、第1のガスチャネル225の第1のガス開口部226の径方向外側に配置される。第2のガス開口部246は、第2のガスチャネル244から及び第1のプレート204の第2のガス開口部247に第2のガスBを送出するように構成される。第2のガス開口部247は、図2Bに示される第1のガス開口部229の径方向外側に配置される。一例では、第2のガス開口部247は、第2のガスチャネル244の第2のガス開口部246と位置合わせされる。
【0027】
第1のプレート204の第2のガス開口部247は、ガスボックス203から及び第2のプレート205の第2のガス開口部248に第2のガスBを送出するように構成される。一例では、第1のプレート204の第2のガス開口部247は、第2のプレート205の第2のガス開口部248と位置合わせされる。
【0028】
図2Eは、本開示の一実装形態による、図2Dに示されるシャワーヘッド206の部分拡大図である。第2のプレート205の第2のガス開口部248は、第2のプレート205から及びシャワーヘッド206の第2のガスチャネル249に第2のガスBを送出するように構成される。第2のガス開口部248は、第2のプレート205の第1のガス開口部233の径方向外側に配置される。第2のガスチャネル249は、ボス240及び第1の表面236の径方向外側に配置される。壁250は、第1の表面236と第2のガスチャネル249との間に配置される。壁250は、第2のガスチャネル249から及びボス240の周囲及び間に配置された1つ以上の間隙252に第2のガスBを送出するように構成されている1つ以上の壁開口部251を含む。シャワーヘッド206の第2のガス開口部213は、第1の表面236から第2の表面238まで延びる。第2のガス開口部213は、間隙252から及び処理容積105に第2のガスBを送出するように構成される。
【0029】
図2D及び2Eに示されるように、ガスマニホールド201の第2のガスチャネル241は、シャワーヘッド206及び処理容積105に流体的に接続される。リッドアセンブリ210は、第2のガス源から及び処理容積105に第2のガスBを送出する。リッドアセンブリ210は、第1のガスA及び第1のガスBが処理容積105に導入されるまで、第1のガスAの流れを第2のガスBの流れから分離して維持する。例として、ボス240のボス表面237は、第2の表面235に接触し、それに対してシールする。したがって、ボス240は、第1のガス開口部211を通って流れる第1のガスAを、間隙252及び第2のガス開口部213を通って流れる第2のガスBから流体的に分離する。
【0030】
第1のガスAを第2のガスBから分離して維持することにより、リッドアセンブリ210は、基板101(図1に示される)の近くの処理容積105内での第1のガスAと第2のガスBとの混合を促進する。処理容積105内での第1のガスAと第2のガスBとの混合は、基板101上への信頼性が高く効率的な膜堆積を促進する。第1のガスA及び第2のガスBは、処理容積105に入る前には混合されず、一又は第1のガスA又は第2のガスBが第1のガスA又は第2のガスBの他方と比較して分解することの影響を軽減又は排除する。例えば、分解される反応ガスの量を減らすことにより、反応ガスが別の反応ガスと混合して基板上への膜の堆積を促進する密度で処理容積105に到達することを確実にする。
【0031】
図2Fは、本開示の一実装形態による、図2A又は図2Dに示されるものとは異なる径方向位置でのリッドアセンブリ210の部分拡大図である。ガスマニホールド201は、第3のガスチャネル253内に第3のガスCを受け取るように構成される。第3のガスチャネル253は、第1のガスチャネル221及び第2のガスチャネル241とは分離され、区別される。ガスマニホールド201は、第3のガス源から第3のガスCを受け取る。第3のガスCは、第3のガスチャネル253への導入前に、遠隔プラズマ源(RPS)によって活性化することができる洗浄ガスである。一例では、第3のガスCは、1つ以上のキャリア及び/又は洗浄ガス、例えば、アルゴン、三フッ化窒素、及び/又は酸素を含む。
【0032】
第3のガスCはまた、ガスマニホールド201によって、中央開口部215の上にある第3のガス源から中央開口部215に受け取られうる。一例では、第3のガスチャネル253によって受け取られる第3のガスCは、RPSをバイパスし、RPSによって活性化されず、中央開口部215によって受け取られる第3のガスCは、RPSを通過し、RPSによって活性化される。
【0033】
第3のガスチャネル253は、第3のガスCを、ガスマニホールド201の中央開口部215、隔離マニホールド202の中央開口部216、及びガスボックス203の中央開口部217に送出するように構成される。ガスボックス203は、中央開口部217から及びガスボックス203の第3のガスチャネル254に第3のガスCを送出するように構成される。したがって、リッドアセンブリ210は、第3のガスCが、隔離マニホールド202、ガスボックス203の第1のガス開口部223、及びガスボックス203の第2のガス開口部243をバイパスするように構成される。これらの構成は、ガスボックス203の単純な設計を可能にし、また、第3のガスCの大流量がガスマニホールド201の中央開口部215を通って流れることを可能にする。
【0034】
ガスボックス203の第3のガスチャネル254は、第1のガスチャネル225及び第2のガスチャネル244とは分離され、区別される。第3のガスチャネル254は、第2のガスチャネル244から及びガスボックス203と第1のプレート204との間のプレナム227に第3のガスCを送出するように構成されている1つ以上の第1の開口部255を含む。
【0035】
第3のガスチャネル254は、第1の開口部255の径方向外側に配置されている1つ以上の第2の開口部256を含む。第2の開口部256は、第3のガスチャネル254から及び第1のプレート204の第3のガス開口部262に第3のガスCを送出するように構成される。第3のガス開口部262は、第1のプレート204の第2のガス開口部247とは分離され、区別される。一例では、第3のガス開口部262は、第3のガスチャネル254の第2の開口部256の1つ以上と位置合わせされる。
【0036】
第1のガスA、第2のガスB、及び/又は第3のガスCの逆流を防ぐために、1つ以上のパージガスを、リッドアセンブリ210を通して流すことができる。例として、流体(第1のガスAなど)がプレナム227から及び第3のガスチャネル254に流れるのを防ぐために、パージガスを流すことができる。別の例として、流体(第2のガスBなど)が第2のガスチャネル249から及び第3のガス開口部263に流れるのを防ぐために、パージガスを流すことができる。本開示はまた、リッドアセンブリ210が逆流を防止するために1つ以上のバルブを含みうることも想定している。例として、第1の開口部255、第1のガス開口部226、第2のガス開口部246、第3のガス開口部263、及び/又は第3のガス開口部262の各々の1つ以上はバルブを含みうる。一例では、バルブには、チェックバルブ又は他の幾つかのバルブが含まれる。
【0037】
第1のプレート204は、プレナム227から及び1つ以上の第1のガス開口部229に第3のガスCを送出するように構成される。第1のガス開口部229は、プレナム227から及び第1のプレート204と第2のプレート205との間のプレナム232に第3のガスCを送出するように構成される。第2のプレート205の1つ以上の第1のガス開口部233は、プレナム232から及びシャワーヘッド206の第1のガス開口部211に第3のガスCを送出するように構成される。第1のガス開口部211は、処理容積105に第3のガスCを導入するように構成される。
【0038】
第1のプレート204の第3のガス開口部262は、第2のプレート205の第3のガス開口部263に第3のガスCを送出するように構成される。第3のガス開口部263は、第2のプレート205の第2のガス開口部248とは分離され、区別される。第3のガス開口部263は、シャワーヘッド206の第2のガスチャネル249に第3のガスCを送出するように構成される。一例では、第2のプレート205の第3のガス開口部263は、第1のプレート204の第3のガス開口部262と位置合わせされる。
【0039】
シャワーヘッド206は、第2のガスチャネル249から、及び壁250の1つ以上の壁開口部251を通って、及びシャワーヘッド206のボス240の間及び周囲に配置された間隙252に第3のガスCを送出するように構成される。シャワーヘッドは、間隙252から及び1つ以上の第2のガス開口部213を通って処理容積105に第3のガスCを送出するように構成される。
【0040】
したがって、リッドアセンブリ210は、第1のガスA及び第2のガスBが、それぞれ、第1のプレート204、第2のプレート205、及びシャワーヘッド206を通って流れる流路を通じて第3のガスCを送出するように構成される。第3のガスCが洗浄ガスである例では、リッドアセンブリ210は、第1のガスA及び第2のガスBの流路を効果的、効率的、かつ同時に洗浄することができる。リッドアセンブリ210は、処理容積105内で第1のガスA及び第2のガスBを混合する前に、第1のガスA及び第2のガスBの流路を分離して維持することができる。リッドアセンブリ210はまた、第1のガスA及び第2のガスBの流体経路を同時に洗浄することができる。
【0041】
図2Gは、本開示の一実装形態による、図2Aに示されるガスマニホールド201の概略的な上面図である。ガスマニホールド201は、中央開口部215に隣接して配置されたショルダ264を含む。ショルダ264は、図2Aに示される絶縁体214を支持する。第1のガスチャネル221、第2のガスチャネル241、及び第3のガスチャネル253は、分離され、区別され、かつ、ガスマニホールド201内で互いに間隔を置いて配置される。第1のガスチャネル221は、ガスマニホールド201の外面268からガスマニホールド201の底面266に達する。第2のガスチャネル241は、ガスマニホールド201の外面268からガスマニホールド201の底面266に達する。第3のガスチャネル253は、ガスマニホールド201の外面268から内面218に達する。
【0042】
図2Hは、本開示の一実装形態による、図2Aに示されるガスボックス203の概略的な上面図である。ガスボックス203は、分離され、区別される、第1のガスチャネル225、第2のガスチャネル244、及び第3のガスチャネル254を含む。第1のガスチャネル225、第2のガスチャネル244、及び第3のガスチャネル254は、交互の配置で、互いに間隔を置いた関係で配置される。第1のガスチャネル225、第2のガスチャネル244、及び/又は第3のガスチャネル254の各々の1つ以上が、ガスボックス203内の異なる垂直面に配置されうる。図2Fに示される実装形態では、第3のガスチャネル254は、図2Bに示される第1のガスチャネル225及び図2Dに示される第2のガスチャネル244の下に垂直に配置される。本開示はまた、第1のガスチャネル225、第2のガスチャネル244、及び/又は第3のガスチャネル254の各々の1つ以上がガスボックス203内の同じ垂直面に配置されうることを想定している。図2Dに示される実装形態では、第2のガスチャネル244は、第1のガスチャネル225と同じ垂直面に配置される。
【0043】
第1のガスチャネル225はそれぞれ、径方向外向きに延びる線形配置で配置されている1つ以上の第1のガス開口部226を含む。第2のガスチャネル244はそれぞれ、第1のガスチャネル225の第1のガス開口部226の径方向外側に配置されている1つ以上の第2のガス開口部246を含む。第3のガスチャネル254はそれぞれ、径方向外向きに延びる線形配置で配置された、1つ以上の第1の開口部255及び1つ以上の第2の開口部256を含む。第2の開口部256は、第1の開口部255及び第1のガスチャネル225の第1のガス開口部226の径方向外側に配置される。
【0044】
第1のガス開口部223は、ガスボックス203の中央開口部217の周りに円周方向に、かつ、中央開口部217の径方向外側に配置される。第1のガス開口部223は、該第1のガス開口部223から及び第1のガスチャネル225に第1のガスAを送出するように構成されている1つ以上の第1のガスポート267を含む。
【0045】
第2のガス開口部243は、ガスボックス203の第1のガス開口部223の周りに円周方向に、かつ、第1のガス開口部223の径方向外側に配置される。第2のガス開口部243は、該第2のガス開口部243から及び第2のガスチャネル244に第2のガスBを送出するように構成されている1つ以上の第2のガスポート269を含む。
【0046】
第3のガスチャネル254は、ガスボックス203の中央開口部217に対して開かれている。ガスボックス203は、中央開口部217から及び第3のガスチャネル254に第3のガスCを送出するように構成される。
【0047】
図2Iは、本開示の一実装形態による、図2Aに示される第1のプレート204の概略的な上面図である。一例では、第1のプレート204はブロッカプレートである。第1のガス開口部229は、図2Iに示されるように、第1のプレート204上に同心円パターンで配置される。第1のプレート204は、交互の配置で第1のプレート204上に円周方向に配置された、第2のガス開口部247及び第3のガス開口部262を含む。第2のガス開口部247及び第3のガス開口部262は、第1のガス開口部229の径方向外側に配置されている。第2のガス開口部247は楕円形の形状である。第3のガス開口部262及び第1のガス開口部229は円形の形状である。第2のガス開口部247の各々は、ガスボックス203の第2のガスチャネル244の第2のガス開口部246に対応する。第3のガス開口部262の各々は、ガスボックス203の第3のガスチャネル254の第2の開口部256に対応する。第2のガス開口部247及び第3のガス開口部262は、それぞれ、第1のボス298及び第2のボス299に配置される。第1のボス298及び第2のボス299は、第1のプレート204から突出する。第1のプレート204は、内側ショルダ297及び外側ショルダ296を含む。
【0048】
図2Jは、本開示の一実装形態による、図2Aに示される第2のプレート205及びシャワーヘッド206の概略的な上面図である。第2のプレート205は、シャワーヘッド206の内側ショルダ209内に配置される。第1のガス開口部233は、図2Jに示されるように、第2のプレート205上に六角形のパターンで配置される。第2のガス開口部248及び第3のガス開口部263は、交互の配置で第2のプレート205上に円周方向に配置される。第2のガス開口部248及び第3のガス開口部263は、第1のガス開口部233の径方向外側に配置される。第2のガス開口部248は楕円形の形状である。第1のガス開口部233及び第3のガス開口部263は円形の形状である。第2のガス開口部248は、第1のプレート204の第2のガス開口部247に対応する。第3のガス開口部263は、第1のプレート204の第3のガス開口部262に対応する。第2のガス開口部248及び第3のガス開口部263は、それぞれ、第1のボス290及び第2のボス291に配置される。第1のボス290及び第2のボス291は、第2のプレート205から突出する。
【0049】
本開示は、本明細書に開示されるポート、開口部、及び/又はチャネルが円形又は楕円形などのさまざまな形状でありうることを想定している。ポート、開口部、及び/又はチャネルの形状は、第1のガスA、第2のガスB、及び/又は第3のガスCのさまざまな流量を調節するために使用することができ、また、リッドアセンブリ210の構成要素又は特徴間のシールの生成を促進するために使用することができる。例として、第1のプレート204の第2のガス開口部247は、第2のガスBのさまざまな流量に対応するために、図2Iに楕円形の形状で示されている。第2のガス開口部247の楕円形の形状を使用して、第2のガス開口部247の断面積を増加させて、第2のガスBの増加した流量の調節を促進することができる。第2のガス開口部247の楕円形の形状は、第1のボス298が外側ショルダ296と内側ショルダ297との間のシールに干渉することなく、第2のガスBの増加した流量の調節を促進することができる。第2のガス開口部247の楕円形の形状はまた、第2のガスBがプレナム227に流入するのを防ぐなど、ガスボックス203の1つ以上の態様と第1のプレート204の1つ以上の態様との間のシールの生成を促進する。
【0050】
本明細書に開示される開口部、チャネル、及び/又はポートの形状及びサイズは、基板101、基板処理チャンバ104、第1のガスA、第2のガスB、及び/又は第3のガスCのプロセス要件に基づいて変更することができる。
【0051】
図2Kは、本開示の一実装形態による、図2Aに示されるシャワーヘッド206の概略的な上面図である。シャワーヘッド206は、第1のガス開口部211、ボス240、及び第2のガス開口部213の周囲に円周方向に配置された第2のガスチャネル249を含む。第2のガス開口部213は、ボス240の周囲及び間に配置される。第2のガス開口部213は、壁250によって第2のガスチャネル249から分離されている。壁開口部251は、第2のガスBが第2のガスチャネル249から第2のガス開口部213に流れることを可能にする。
【0052】
一例では、ボス240及び第1のガス開口部211は、図2Kに示されるように、シャワーヘッド206上に六角形の配置で配置される。
【0053】
図2Lは、図2Kに示されるシャワーヘッド206の部分拡大図である。ボス240は、該ボス240のそれぞれの中心が互いに距離Lで配置されるような密度で配置される。一例では、距離Lは、約0.0インチから約0.7インチの範囲内、例えば約0.34インチから約0.63インチ、例えば約0.34インチ又は約0.63インチである。
【0054】
本開示は、開口部、ポート、及びチャネルをさまざまな配向及び構成で示しているが、本開示は、他の配向及び/又は構成が可能であることを想定している。例えば、本開示は、本明細書に開示されるプレート、シャワーヘッド、マニホールド、ガスボックス、開口部、ポート、及び/又はチャネルが、さまざまな形状、サイズ、反復回数、長さ、寸法、垂直配向、水平配向、及び/又は角度付き配向を包含することができることを想定している。例として、シャワーヘッド206上の第2のガス開口部213の数を変えることができる。第2のガス開口部213はまた、さまざまな角度で配置することができ、あるいは形状、長さ、及び/又はサイズを変えることができる。
【0055】
本開示はまた、第1のガスA、第2のガスB、及び第3のガスCが、さまざまな指定された温度、圧力、流量、及び/又は分子量で、リッドアセンブリ210を通って及び/又は処理容積105に流れることができることを想定している。
【0056】
本開示の利点には、ガスが処理容積に到達するまでガスを分離して維持すること;基板の上方で反応ガスを混合すること;ガスの高密度での混合;別々の流路を同時に洗浄すること;基板上への材料の確実かつ効率的な堆積;及び、リッドアセンブリへの熱の蓄積及び/又はラジカルの蓄積を低減又は防止することが含まれる。
【0057】
本開示の態様は、処理容積にガスを導入する前にガスを分離するリッドアセンブリ;第1のガスチャネル、第2のガスチャネル、及び第3のガスチャネルを備えたガスマニホールド;ガスボックス;第1のガス開口部、第2のガス開口部、ボス、及び間隙を備えたシャワーヘッド;並びに、絶縁体を含む。
【0058】
本明細書に開示されるこれらの態様の1つ以上を組み合わせることができることが想定されている。さらには、これらの態様の1つ以上が前述の利益の幾つか又はすべてを含むことができることが想定されている。
【0059】
上記は本開示の実施形態を対象とするが、本開示の基本的な範囲から逸脱することなく、本開示の他の実施形態及び更なる実施形態が考案されうる。本開示はまた、本明細書に記載される実施形態の1つ以上の態様を、記載される他の態様の1つ以上に代えて使用することができることも想定されている。本開示の範囲は、次の特許請求の範囲によって決定される。
図1
図2A
図2B
図2C
図2D
図2E
図2F
図2G
図2H
図2I
図2J
図2K
図2L