特許7533354IP Force 特許公報全文掲載

技術分野

シリコンウェーハの製造方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

のように、エピタキシャル成長の成長用基板等の用途において、反りを有するシリコンウェーハが得られるシリコンウェーハの製造方法が求められていた。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

目的を達成するために、本発明は、ワイヤソー又はバンドソーによりシリコンインゴットを切断して、主表面Aと主表面Bを有するシリコンウェーハを製造するシリコンウェーハの製造方法であって、前記主表面Aを作り出す切断を行う第1の切断工程と、前記主表面Bを作り出す切断を行う第2の切断工程とを有し、前記第1の切断工程における条件と前記第2の切断工程における条件を異なるものとすることにより、前記主表面A・・・ 続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

発明の効果[発明の詳細な説明]から抜粋

本発明のシリコンウェーハの製造方法により、主表面Aと主表面Bとに異なる度合いのダメージを与えることができ、その結果、シリコンウェーハに反りを与えることができる。また、本発明のシリコンウェーハの製造方法では、シリコンウェーハに大きな反りを発生させることができる。このようにして製造されたシリコンウェーハは、例えば、エピタキシャルウェーハの製造において、エピタキシャル成長により発生する反りを打ち消すように用いることにより、エピタキシャルウェーハにおける反りを低減することができる。本発明のシリコンウェーハの製造方法により製造されたシリコンウェーハは反りが例えばBowの絶対値で10μm以上と大きな値とすることができるので、ヘテロエピタキシャル成長を行うような大きな反りを伴う操作を行う場合であっても、反りを打ち消すように本発明の製造方法によって製造したシリコンウェーハを使用することができる。

この特許の権利範囲[特許請求の範囲]

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 本発明のシリコンウェーハの製造方法の一例を示すフロー図である。
【図2】 本発明のシリコンウェーハの製造方法における第1の態様の一例を模式的に示す概略断面図である。
【図3】 本発明のシリコンウェーハの製造方法の別の一例を示すフロー図である。
【図4】 本発明のシリコンウェーハの製造方法における第2の態様の一例を模式的に示す概略断面図である。
【図5】 実施例及び比較例のそれぞれのシリコンウェーハにおける、両主表面間のラマン分光スペクトルのシリコンの1次ピーク位置の差とBowの関係を示すグラフである。

代表図 図1本件の代表的な図

10…シリコンインゴット、 11、12…切断されたシリコンインゴット(ウェーハ列)、 21…第1の切断工程における切断箇所、 22…第2の切断工程における切断箇所、 30…破線部、 31、32…シリコンウェーハ、 41…ビーム、 A…主表面A、 B…主表面B、 50…シリコンインゴット、 51、52、53、54、55…一部が切断されたシリコンインゴット、 61、63、65…第1の切断工程における切断箇所、 62、64…第2の切断工程における切断箇所、 71、72、73、74、75…シリコンウェーハ、 81…固定部材。

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