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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第424位 15件
(2024年:第540位 53件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第283位 23件
(2024年:第410位 70件)
(ランキング更新日:2025年3月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7647404 | クリーンルーム間の搬送物梱包用の梱包材、梱包方法及び搬送方法 | 2025年 3月18日 | |
特許 7647446 | 窒化物半導体基板及びその製造方法 | 2025年 3月18日 | |
特許 7643250 | 窒化物半導体基板及びその製造方法 | 2025年 3月11日 | |
特許 7643383 | エピタキシャル成長装置 | 2025年 3月11日 | |
特許 7639779 | 受光素子の製造方法 | 2025年 3月 5日 | |
特許 7635741 | シリコンウェーハ用の研磨スラリーの分析方法 | 2025年 2月26日 | |
特許 7635838 | 化合物半導体接合基板の製造方法 | 2025年 2月26日 | |
特許 7629589 | エピタキシャルウェーハの製造方法 | 2025年 2月14日 | |
特許 7629590 | 遮熱部材下端面と原料融液面との間の距離を測定する方法、遮熱部材下端面と原料融液面との間の距離の制御方法、及びシリコン単結晶の製造方法 | 2025年 2月14日 | |
特許 7629154 | シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法 | 2025年 2月13日 | |
特許 7622663 | 膜厚測定装置用の標準サンプル群、その製造方法及び標準サンプル群を用いた膜厚測定装置の管理方法 | 2025年 1月28日 | |
特許 7619321 | 表面金属汚染評価用標準試料の作製方法 | 2025年 1月22日 | |
特許 7619349 | 窒化物半導体層付き単結晶シリコン基板及び窒化物半導体層付き単結晶シリコン基板の製造方法 | 2025年 1月22日 | |
特許 7619464 | 接合型ウェーハの製造方法 | 2025年 1月22日 | |
特許 7618401 | 大口径III族窒化物系エピタキシャル成長用基板とその製造方法 | 2025年 1月21日 |
24 件中 1-15 件を表示
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7647404 7647446 7643250 7643383 7639779 7635741 7635838 7629589 7629590 7629154 7622663 7619321 7619349 7619464 7618401
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3月21日(金) -
3月21日(金) -
3月21日(金) - 石川 金沢市
3月21日(金) -
3月24日(月) -
3月25日(火) - 東京 品川区
3月25日(火) -
3月26日(水) - 東京 港区
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月24日(月) -
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