【図1】
図1は、本発明の第1の形状測定機を示す正面図である。
【図2】
図2は、本発明の第1の形状測定機の制御系を示すブロック図である。
【図3】
図3は、本発明の第1の形状測定機のアライメント方法を示すフローチャートである。
【図4】
図4は、ジグのアライメント工程を説明するための図である。
【図5】
図5は、母線調整工程を説明するための図である。
【図6】
図6は、直動移動工程を説明するための図である。
【図7】
図7は、直動移動工程の後の母線調整工程を説明するための図である。
【図8】
図8は、検出ストロークの直動移動方向に対する傾きの算出工程を説明するための図である。
【図9】
図9は、変位検出器の回転工程を説明するための図である。
【図10】
図10は、本発明の第2の形状測定機を示す正面図である。
【図11】
図11は、本発明の第2の形状測定機の制御系を示すブロック図である。
【図12】
図12は、カメラによるプローブの撮影位置の一例を示した図である。
【図13】
図13は、各撮影位置におけるカメラの撮影画像の一例を示した説明図である。
【図14】
図14は、第1撮影画像と第3撮影画像との合成画像を示した図である。
【図15】
図15は、第2撮影画像と第4撮影画像との合成画像を示した図である。
【図16】
図16は、本発明の第2の形状測定機のアライメント方法を示すフローチャートである(非接触式)。
【図17】
図17は、プローブアライメント工程を説明するための図である
【図18】
図18は、ジグアライメント工程を説明するための図である。
【図19】
図19は、検出方向の直動移動方向に対する傾きの算出工程を説明するための図である。
【図20】
図20は、変位検出器の回転工程を説明するための図である。
【図21】
図21は、変位検出器の母線調整方向移動工程を説明するための図である。
【図22】
図22は、変形例2に係る自動母線調整を説明するための図である。
【図23】
図23は、変形例3に係る形状測定機のアライメント方法を示すフローチャートである(非接触式)。
【図24】
図24は、検出器駆動機構の回転軸とプローブの軸芯とがずれている場合を示す図である。
【図25】
図25は、自動母線調整工程を説明するための図である。
【図26】
図26は、自動母線調整工程を説明するための図である。
【図27】
図27は、変形例4に係る形状測定機のアライメント方法を示すフローチャートである(非接触式)。
【図28】
図28は、検出器駆動機構の回転軸とプローブの軸芯とがずれている場合を示す図である。
【図29】
図29は、プローブアライメント工程を説明するための図である。
【図30】
図30は、本発明の第2の形状測定機のアライメント方法を示すフローチャートである(接触式)。
【図31】
図31は、接触式のプローブの検出ストロークを説明するための図である。
【図32】
図32は、プローブアライメント工程を説明するための図である。
【図33】
図33は、ジグアライメント工程を説明するための図である。
【図34】
図34は、検出方向の直動移動方向に対する傾きの算出工程を説明するための図である。
【図35】
図35は、変位検出器の回転工程及び母線調整方向移動工程を説明するための図である。
【図36】
図36は、本発明の第3の形状測定機のアライメント方法を示すフローチャートである。
【図37】
図37は、プローブアライメント工程を説明するための図である。
【図38】
図38は、直動移動工程を説明するための図である。
【図39】
図39は、検出方向の直動移動方向に対する傾きの算出工程を説明するための図である。
【図40】
図40は、変位検出器の回転工程を説明するための図である。
【図41】
図41は、ワークの形状とプローブ(接触子)の位置との関係を説明するための図である。
【図42】
図42は、ワークの形状とプローブ(接触子)の位置との関係を説明するための図である。
【図43】
図43は、プローブ(接触子)の移動方向と検出方向との傾きがワークの形状の測定値に与える影響について説明するための図である。