特許7558642IP Force 特許公報全文掲載

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試験測定システムの態様に関連するノイズ・フィルタ及びノイズ低減方法に関し、特に、試験測定システムにおいてノイズと周波数の減衰を制御するためのノイズ・フィルタ及びノイズ低減方法

発明が解決しようとする課題[発明の詳細な説明]から抜粋

しかし、ノイズ・フィルタは、ＤＵＴから受けた信号の形式に加えて、試験測定装置のチャンネル特性によって決まる。個々に合わせた固定ノイズ・フィルタが効果を生むためには、ユーザは、ＤＵＴを試験するのに使用するチャンネルの損失とデータ・レートに最も適合する多数の様々な固定ノイズ・フィルタが手元に必要となろう。これら種々の異なる固定ノイズ・フィルタは、高価であり、ある試験の状況について、どのノイズ・フィルタが必要であるかを把握するのは、困難なことがある。

課題を解決するための手段[発明の詳細な説明]から抜粋

本願で開示されるのは、ＤＵＴから受ける信号から試験測定装置のチャンネルによって加えられるノイズを除去するための、連続的又は段階的可変パッシブ・ノイズ・フィルタである。このノイズ・フィルタは、少なくとも第１スプリット信号及び第２スプリット信号の夫々に信号をスプリットするよう構成されるスプリッタを有していても良い。第１パスは、第１スプリット信号を受けると共に、可変減衰器や可変遅延ラインを有し、こ・・・　続きを知財ポータルサイト IP Force にログインして見る

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この特許公報に記載されている図面[図面の簡単な説明]から抜粋

【図1】 図１は、本発明のある実施形態による、可変減衰器や可変遅延ラインを有するノイズ・フィルタの例示的なブロック図を示す。
【図2】 図２は、本発明の別の実施形態による、可変減衰器や可変遅延ラインを有するノイズ・フィルタの別の例示的なブロック図を示す。
【図3】 図３は、本発明の別の実施形態による、入力信号を高周波数帯域信号と低周波数帯域信号にスプリットするマルチプレクサを有し、更に、可変減衰器や可変遅延ラインも有するノイズ・フィルタの別の例示的なブロック図を示す。
【図4】 図４は、本発明の別の実施形態による、ポジティブ及びネガティブ信号のクロス結合処理を用いる差動信号用のノイズ・フィルタの別の例示的なブロック図を示す。
【図5】 図５は、本発明の別の実施形態による、クロス結合処理のない差動信号用のノイズ・フィルタの別の例示的なブロック図を示す。
【図6】 図６は、本発明の別の実施形態による、ポジティブ入力信号及びネガティブ入力信号を高周波数帯域信号と低周波数帯域信号にスプリットするマルチプレクサを有する差動信号用のノイズ・フィルタの別の例示的なブロック図を示す。

代表図 図1本件の代表的な図

１００ ノイズ・フィルタ １０２ 直流（ＤＣ）ブロック １０４ スプリッタ １０６ 固定遅延ライン １０８ 可変減衰器 １１０ 可変遅延ライン １１２ コントローラ １１４ 合成部 １１６ アナログ・デジタル・コンバータ １１８ フィルタ ２００ ノイズ・フィルタ ２０２ 可変減衰器 ２０４ 固定減衰器 ２０６ 単極多投スイッチ ２１０ 可変遅延ライン ２１２ 固定遅延ライン ２１４ 単極多投スイッチ ３００ ノイズ・フィルタ ３０２ マルチプレクサ ３０４ マルチプレクサ ４００ ノイズ・フィルタ ４０２ スプリッタ ４０４ スプリッタ ４０６ 合成部 ４０８ 合成部 ５００ ノイズ・フィルタ ５０２ 合成部 ６００ ノイズ・フィルタ ６０２ マルチプレクサ ６０４ マルチプレクサ ６０６ 合成部 ６０８ 合成部 ６１０ マルチプレクサ

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