(19)【発行国】日本国特許庁(JP)
(12)【公報種別】特許公報(B2)
(11)【特許番号】
(24)【登録日】2024-11-05
(45)【発行日】2024-11-13
(54)【発明の名称】変位測定装置
(51)【国際特許分類】
G01D 5/245 20060101AFI20241106BHJP
【FI】
G01D5/245 110W
(21)【出願番号】P 2021018626
(22)【出願日】2021-02-08
【審査請求日】2024-01-16
(73)【特許権者】
【識別番号】000137694
【氏名又は名称】株式会社ミツトヨ
(74)【代理人】
【識別番号】100143720
【氏名又は名称】米田 耕一郎
(72)【発明者】
【氏名】山室 祐貴
【審査官】細見 斉子
(56)【参考文献】
【文献】米国特許出願公開第2019/0360841(US,A1)
【文献】特開2004-163202(JP,A)
【文献】特開2004-053604(JP,A)
【文献】特開2019-190859(JP,A)
【文献】特表2010-532154(JP,A)
【文献】特開平05-288571(JP,A)
(58)【調査した分野】(Int.Cl.,DB名)
G01D 5/00- 5/38
G01B 7/00- 7/34
G01D 7/00- 7/12
G01D 11/00-13/28
(57)【特許請求の範囲】
【請求項1】
スケールと、
スケールに対して相対変位可能かつ所定ギャップをもって対向配置され、スケールに対する相対変位または位置を検出する検出ヘッド部と、を備えた変位測定装置であって、
前記スケールが真空
環境中に配設され、
前記検出ヘッド部は、
真空環境から隔絶して大気環境中に配設さ
れ、
前記検出ヘッド部は、真空環境側と大気環境側とを隔絶する収容ホルダ
の内部に収容されていて、
前記検出ヘッド部と前記スケールとの間の前記ギャップにおいて、前記収容ホルダは、前記検出ヘッド部と前記スケールとの間の検出用信号を通過させる中継手段を有
する
ことを特徴とする変位測定装置。
【請求項2】
請求項1に記載の変位測定装置において、
前記変位測定装置が光電式エンコーダであり、
前記中継手段は、光透過性の窓である
ことを特徴とする変位測定装置。
【請求項3】
請求項2に記載の変位測定装置において、
前記検出ヘッド
部の光学系は、テレセントリック光学系である
ことを特徴とする変位測定装置。
【請求項4】
請求項2または請求項3に記載の変位測定装置において、
前記スケールのパターンは擬似ランダムパターンを有する
ことを特徴とする変位測定装置。
【請求項5】
請求項1から請求項4のいずれかに記載の変位測定装置において、
スケールはガラススケールである
ことを特徴とする変位測定装置。
【請求項6】
請求項1に記載の変位測定装置において、
当該変
位測定装置が静電容量式エンコーダであり、
前記中継手段は、誘電体または分割された導体である
ことを特徴とする変位測定装置。
【請求項7】
請求項1に記載の変位測定装置において、
当該変
位測定装置が電磁誘導式エンコーダであり、
前記中継手段は、磁性体を除く、誘電体または導体である
ことを特徴とする変位測定装置
。
【請求項8】
請求項1に記載の変位測定装置において、
前記収容ホルダの前記スケールに対向する面以外の面が大気環境に繋がる開放側端面になっていて、
当該開放側端面は、気密性を保ちながら当該収容ホルダの内部が大気環境に繋がるように、大気環境に繋がる配管と接続されている
ことを特徴とする変位測定装置
。
【請求項9】
請求項1に記載の変位測定装置において、
前記収容ホルダの前記スケールに対向する面は、前記中継手段を有するとともに、気密性を保持しながら真空環境と大気環境を隔絶するように塞がっており、
前記収容ホルダの前記スケールに対向する面以外の面が大気環境に繋がる開放側端面になっていて、当該開放側端面にフランジ部が設けられており、このフランジ部にシーリング材あるいはコーキング剤を挟み込むようにして気密性を保ちながら当該収容ホルダの内部が大気環境に繋がるように、当該開放側端面は、大気環境に繋がる配管と接続されている
ことを特徴とする変位測定装置
。
【請求項10】
請求項1から請求
項9のいずれかに記載の変位測定装置の設置方法であって、
前記スケールを真空環境中に配設し、
前記検出ヘッド部を、真空環境側と大気環境側とを隔絶する収容ホルダに収容し、
前記検出ヘッド部を収容した収容ホルダのアセンブリを前記スケールに対して所定ギャップをもって対向配置する
ことを特徴とする変位測定装置の設置方法。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【0001】
本発明は、変位測定装置に関する。具体的には、真空環境での使用に対応した変位測定装置に関する。
【背景技術】
【0002】
機械要素の位置制御のための位置検出器としてエンコーダ(変位測定装置)が広く用いられている。位置制御対象となる機械要素が真空環境下に設置される場合にはエンコーダ(変位測定装置)も真空環境で使用されることになる。
【先行技術文献】
【特許文献】
【0003】
【文献】特開2020-193929
【文献】特開2011-59055
【文献】特許第5286584
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【0004】
しかしながら、既存のエンコーダ(変位測定装置)を真空に配設すると次のような問題があった。
エンコーダは必ずしも真空対応の構造になっているわけではないので、エンコーダに使用されている樹脂性部品や接着剤からアウトガスが発生し、これらのガスが真空度に影響する懸念があった。
また仮に、エンコーダの部品(材料)をすべて真空対応に見直すとなると、測定精度を既存のエンコーダと同程度にするには設計の見直し、実証研究が必要であり、これらのコスト、工数、時間の負担が極めて大きい。
【0005】
コストの増大を招来すること無しに既存のエンコーダと同程度の性能を保持できる真空対応の変位測定装置が求められている。
【課題を解決するための手段】
【0006】
本発明の変位測定装置は、
スケールと、
スケールに対して相対変位可能かつ所定ギャップをもって対向配置され、スケールに対する相対変位または位置を検出する検出ヘッド部と、を備えた変位測定装置であって、
前記スケールが真空中に配設され、
前記検出ヘッド部は、大気中側に配設されているとともに、
前記検出ヘッド部は、真空環境側と大気環境側とを隔絶する収容ホルダに収容されていて、
前記検出ヘッド部と前記スケールとの間の前記ギャップにおいて、前記収容ホルダは、前記検出ヘッド部と前記スケールとの間の検出用信号を通過させる中継手段を有する
ことを特徴とする。
【0007】
本発明の一実施形態では、
前記変位測定装置が光電式エンコーダであり、
前記中継手段は、光透過性の窓である
ことが好ましい。
【0008】
本発明の一実施形態では、
前記検出ヘッドの光学系は、テレセントリック光学系である
ことが好ましい。
【0009】
本発明の一実施形態では、
前記スケールのパターンは擬似ランダムパターンを有する
ことが好ましい。
【0010】
本発明の一実施形態では、
スケールはガラススケールである
ことが好ましい。
【0011】
本発明の一実施形態では、
前記変位検出装置が静電容量式エンコーダであり、
前記中継手段は、誘電体または分割された導体である
ことが好ましい。
【0012】
本発明の一実施形態では、
前記変位検出装置が電磁誘導式エンコーダであり、
前記中継手段は、磁性体を除く、誘電体または導体である
ことが好ましい。
【0013】
本発明の変位測定装置の設置方法は、
前記変位測定装置の設置方法であって、
前記スケールを真空環境中に配設し、
前記検出ヘッド部を、真空環境側と大気環境側とを隔絶する収容ホルダに収容し、
前記検出ヘッド部を収容した収容ホルダのアセンブリを前記スケールに対して所定ギャップをもって対向配置する
ことを特徴とする。
【図面の簡単な説明】
【0014】
【
図1】第1実施形態に係る変位測定装置の外観斜視図である。
【
図2】変位測定装置の断面を模式的に表した図である。
【
図4】収容ホルダを下面(底面)側からみた図である。
【発明を実施するための形態】
【0015】
本発明の実施形態を図示するとともに図中の各要素に付した符号を参照して説明する。
(第1実施形態)
図1は、本発明の第1実施形態に係る変位測定装置100の外観斜視図である。
【0016】
本実施形態の変位測定装置100は、真空環境での使用に対応した変位測定装置100である。
なお、変位測定装置100の全体が真空中に配置されるのではなく、スケール200は真空環境に配設される一方、検出ヘッド部300は大気環境に配置される。言い換えると、互いに相対移動する機械要素の一方が真空環境中にあり、機械要素の他方が大気環境中にあるとすると、スケール200は前記機械要素の前記一方に設置され、検出ヘッド部300は前記機械要素の前記他方に設置されている。
これは、検出ヘッド部300には樹脂性部品や接着剤等のガス発生要因が含まれるので、検出ヘッド部300は真空から隔絶して大気環境側に設置することとしたものである。
以下、反射型の光電式エンコーダを例にして本実施形態を説明する。
【0017】
変位測定装置100は、スケール200と、検出ヘッド部300と、収容ホルダ400と、を備える。
【0018】
スケール200は、長手状でかつ偏平薄板状のスケール基板210と、このスケール基板210の測位方向(長手方向)に沿って設けられたスケールパターンと、を有する。
ここでは、スケール基板210はガラス基板である。スケール200は、例えば、複数の板バネ211で押さえるようにして設置される。
【0019】
スケールパターンは、明と暗、すなわち、光反射部と光透過部とが所定の方式で配列されたものである。スケールパターンとして複数(2以上)のトラック221,222が設けられている。ここではスケールパターンのトラック221,222は2つであって、第1スケールパターントラック221は擬似ランダムパターンである。
【0020】
擬似ランダムパターンは、所定の長さ区間を抽出したとき、その区間のパターンが測定範囲内で1箇所にしかなく、したがって、パターンマッチングによってその区間がスケール200のどこにあるかが決定できるようになっている。つまり、第1スケールパターントラック221は絶対位置測定用のトラック221である。そして、擬似ランダムパターンは、冗長性を持たせるように検出ヘッド部300の読み取り範囲を広めにしておけば、パターンの読み取りに多少の誤りがあっても訂正できるなどロバスト性が高い。その一方、パターンマッチングの演算処理にやや時間を要するので応答性はそれほど高くない。
【0021】
第2スケールパターントラック222は、所定のピッチで明暗が繰り返す周期パターンである。第2スケールパターントラック222は、いわゆるインクリメント方式用のトラック222であって、応答性が高い一方、光強度(信号強度)の変化によってパターンの誤検出があると、測定誤差になる。
【0022】
検出ヘッド部300は、スケール200のスケールパターンを読み取ってスケール200に対する相対変位または位置を検出する。
検出ヘッド部300は、スケール200の測位方向(長手方向)に相対変位可能、かつ、スケール200に対して所定のギャップをもって対向配置されている。
図2は、変位測定装置100の断面を模式的に表した図である。
検出ヘッド部300は、光源部と、レンズ光学系(310、320)と、受光部330と、筐体340と、を備える。
【0023】
光源部は、2つの光源(LED)からなり、第1トラック221用の第1光源と、第2トラック222用の第2光源と、が並設される。
なお、
図2中では光源は省略している。光源からの光(検出用信号)をミラー(ハーフミラー)等の反射で向きを変え、レンズ光学系に導入すればよい。
【0024】
レンズ光学系としては、両側テレセントリック光学系が採用されている。
レンズ光学系は、光源部からの光をスケール200に向けて照射する対物レンズユニット310と、スケール200からの反射光を受光部330に向けて集光する結像レンズユニット320と、を有する。
対物レンズユニット310および結像レンズユニット320は、それぞれ、第1トラック221用のレンズと第2トラック222用のレンズとが一体的に並設された構造(レンズアレイ)である。そして、対物レンズユニット310の焦点に光源部(不図示)が配置されている。
【0025】
これにより、光源部から発射された光は対物レンズユニット310を通って平行光としてスケール200に照射される。したがって、検出ヘッド部300とスケール200とのギャップを比較的広くとることができる。
また、エンコーダの設置段階における組み付け誤差の許容値も広くできる。言い換えると、エンコーダを設置する段階において、検出ヘッド部300とスケール200とのギャップが規定値からやや広くなったとしてもある程度の許容範囲内であればよい。また、検出ヘッド部300とスケール200とのギャップ変動の許容値を大きくすることができる。
【0026】
受光部330には光電変換する受光素子が設けられている。受光素子としては、受光素子アレイや(一次元又は二次元)CCD(CMOS)カメラが例として挙げられる。
【0027】
図3は、収容ホルダ400の分解斜視図である。
収容ホルダ400は、検出ヘッド部300を収容し、真空環境側と大気環境側とを隔絶する。
収容ホルダ400は、ホルダフレーム部410と、ホルダベース部450と、を有する。
ホルダフレーム部410は、筒状であって、筒孔420内に検出ヘッド部300を固定的に保持する。ホルダフレーム部410は、全体的には高さがやや低い四角柱の外形に矩形の筒孔420があいている形状である。
【0028】
説明のため
図3を基準に収容ホルダ400の上下方向を定めるとすると、ホルダフレーム部410の上端面側は大気環境に繋がる開放側である。
ホルダフレーム部410の下端面側はホルダベース部450によって気密に閉塞される密閉側である。
【0029】
ホルダフレーム部410の上端面側には平坦なフランジ部411が設けられており、このフランジ部411を利用して、例えば配線引き出し用の配管に接続される。検出ヘッド部300の信号線350もこの配管から引き出される。
フランジ部411には筒孔420を環囲する浅溝412が設けられ、浅溝412にはOリング(シーリング材あるいはコーキング剤)413が挟み込まれる。
【0030】
ホルダフレーム部410の上端面において、筒孔420内に突き出すように検出器保持板(検出器保持部)421が設けられている。
検出器保持板421は、筒孔420の対角位置において2つ設けられている。
検出ヘッド部300がホルダフレーム部410の下方から筒孔420内に差し入れられた後、検出ヘッド部300は固定ネジ422で検出器保持板421に固定される。
【0031】
ホルダベース部450は、ホルダフレーム部410の下端面側に固定ネジ452で固定的に取り付けられる。ホルダベース部450とホルダフレーム部410との間にはOリング(シーリング材あるいはコーキング剤)451が挟み込まれる。固定ネジ452にはガス抜き用の孔が設けられている。
【0032】
ホルダベース部450の上面側には、検出ヘッド部300に対応した凹部が設けられている。
【0033】
そして、ホルダベース部450は、検出ヘッド部300とスケール200との間で光を透過させる窓部(中継手段)460を有する。
図4は収容ホルダ400を下面(底面)側からみた図である。
ホルダベース部450に孔が設けられ、この孔にガラス板461が取り付けられることで気密性を保持しながら光を透過させる窓部460になっている。
ガラス板461には、反射防止膜が設けられていてもよい。
この窓部460を介して、検出ヘッド部300からの光がスケール200に照射され、スケール200からの反射光は窓部460を通って検出ヘッド部300に戻る。
【0034】
このような構成を備える本実施形態の変位測定装置100によれば次の作用効果を奏する。
(1)本実施形態では、スケール200を真空環境中に配置する一方、検出ヘッド部300は真空から隔絶して大気環境中に配置するようにした。これにより、検出ヘッド部300から発生するガスがあったとしても、検出ヘッド部300からのガスは真空度に影響することはない。
【0035】
(2)上記(1)の構成をとるために検出ヘッド部300とスケール200とのギャップが拡大してしまうという問題がある。
この点、本実施形態では、検出ヘッド部300の光学系として両側テレセントリック光学系を採用している。これにより、検出ヘッド部300からスケール200に平行光を照射するようにしたので、検出ヘッド部300とスケール200とのギャップの拡大あるいはギャップの変動がスケール200パターンの読み取り精度に与える影響を小さくすることができる。
【0036】
(3)検出ヘッド部300とスケール200とのギャップが大きくなり、さらに、検出ヘッド部300とスケール200との間に窓部460が介在すると、検出ヘッド部300によるパターン読み取り精度に多少の影響が生じることが懸念される。
この点、本実施形態では、スケール200パターンのトラック221,222を種類が異なる複数列設けることとしている。具体的には、擬似ランダムパターンによるアブソリュート式によってロバスト性を確保するとともに、インクリメント方式によって応答性を確保するようにしている。これにより、本実施形態の真空対応変位測定装置100であっても既存のエンコーダと同程度の性能を保持するようにできる。
【0037】
(変形例)
上記実施形態では光電式エンコーダを例に説明したが、エンコーダの検出原理としては静電容量式あるいは電磁誘導式を採用してもよい。
静電容量式というのは、検出ヘッド部側に送信電極と受信電極とを設け、スケール側に結合電極を設け、検出ヘッド部側の電極(送信電極、受信電極)とスケールの結合電極とのキャパシタンス(電気容量)が検出ヘッド部とスケールとの相対変位に伴って変化することを利用するものである。
この場合、ホルダベース部450に設けられる中継手段としては、誘電体としてもよい。
例えば、ホルダベース部450に孔を設け、その孔に誘電体の薄板を設けるようにしてもよい。
誘電体であれば送信電極の電位(電界、電場)の分布がそのまま誘電体を介してスケール200側に表れるので、誘電体は一枚の板でよい。
【0038】
一方、中継手段として導体を用いることもできるが、この場合は導体を細かく分割しておくことが必要であると考えられる。
例えば、検出ヘッド部側の電極(送信電極、受信電極)とスケールの結合電極との間で広い導体板があると、送信電極の電位の分布がスケールに伝わらないし、送信電極と受信電極とが中継手段としての一枚の導体に共通してカップリングするわけにもいかない。
すなわち、中継手段として導体を用いる場合、送信電極に対応する中継導体と、受信電極に対応する中継導体とは分離していること、また、送信電極に対応する中継導体は、送信電極と同じピッチで分離していること、が必要であると考えられる。
【0039】
電磁誘導式というのは、検出ヘッド部側に送信コイル(励磁コイル)と受信コイル(検出コイル)とを設け、スケール側に結合コイルを設け、検出ヘッド部側のコイル(送信コイル、受信コイル)とスケールの結合コイルとの電磁カップリング(電磁結合による起電流)が検出ヘッド部とスケールとの相対変位に伴って変化することを利用するものである。
この場合、ホルダベース部450に設けられる中継手段としては、磁性体を除けば、誘電体としてもよいし導体としてもよい。
【0040】
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。
上記実施形態では、両側テレセントリック光学系を採用したが、例えば、物体側だけがテレセントリック光学系となる片側テレセントリック光学系としてもよい。
【符号の説明】
【0041】
100 変位測定装置
200 スケール
210 スケール基板
221,222 トラック
300 検出ヘッド部
310 対物レンズユニット
320 結像レンズユニット
330 受光部
340 筐体
400 収容ホルダ
410 ホルダフレーム部
411 フランジ部
412 浅溝
413 Oリング
420 筒孔
421 検出器保持板
450 ホルダベース部
452 固定ネジ
460 窓部
461 ガラス板